CN208937509U - 一种改造后的芯片抽检机 - Google Patents

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邓海昕
徐晓波
周静涛
龚启洪
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Abstract

本实用新型涉及芯片生产装置领域,具体涉及一种改造后的芯片抽检机。包括两个目镜,其中一个目镜端口配设有发光装置,所述发光装置能够向目镜内照射光线,使得被检测物表面被照亮。芯片抽检机有两个目镜可观察物体,在其中一个目镜中配套设置一个光源,光线向目镜内照射,由于光路是可逆的,增加的光源从芯片正面照射,能够让工作人员清楚的分辨芯片表面的质量,这种改进不仅结构简单,且效果明显,实用性高。

Description

一种改造后的芯片抽检机
技术领域
本实用新型涉及芯片生产装置,特别是一种改造后的芯片抽检机。
背景技术
芯片框架作为承载芯片的基础物件,用于芯片的成架承装和芯片的保护,将芯片焊接与框架上后,需要对芯片的焊接质量进行检查,以保护产品的合格率。由于芯片为高精度的元器件,现有技术研发出了专用的芯片焊片机、芯片焊线机和抽检机,通过芯片抽检机对芯片和铜线的焊接质量进行自动抽检,由于这样抽检芯片的操作效率高、实用性强,得到了较好的应用。
但由于芯片体积很小,在芯片抽检机工作时需要配置相应的显微镜设备将芯片的焊接状况通过屏幕显示出来,好让操作人员清楚地了解到芯片框架的焊接状况,由于显微镜对光线的要求较高,所以在芯片抽检机的显微镜设备镜头下方还设置有灯光设备。
但现有的灯光设备从芯片四周照射,芯片表面的纹路无法看清,因而无法清楚的识别产品质量。
实用新型内容
本实用新型的发明目的在于:针对现有技术存在灯光设备从芯片四周照射,芯片表面的纹路无法看清,因而无法清楚的识别产品质量的问题,提供一种改进后的芯片抽检机,该改造后的芯片抽检机光源从芯片上表面照射,可使工作人员清楚的看到芯片表面,确认芯片的焊接质量。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:
一种改造后的芯片抽检机,包括两个目镜,其中一个目镜端口配设有发光装置,所述发光装置能够向目镜内照射光线,使得被检测物表面被照亮。
芯片抽检机有两个目镜可观察物体,在其中一个目镜中配套设置一个光源,光线向目镜内照射,由于光路是可逆的,增加的光源从芯片正面照射,能够让工作人员清楚的分辨芯片表面的质量,这种改进不仅结构简单,且效果明显,实用性高。
作为本实用新型的优选方案,所述发光装置为白光灯。白光灯可使工作人员观察芯片表面更加清晰,不易混淆。
作为本实用新型的优选方案,所述发光装置设有限位结构,用于防止该发光装置整体滑落到目镜孔洞内。设置限位结构防止发光装置滑落到目镜孔洞内,便于安装和拆卸。
作为本实用新型的优选方案,所述发光装置为圆柱形结构,且与抽检机目镜孔洞匹配。将发光装置设置为与抽检机目镜孔洞匹配的圆柱体结构,可减少光的损失,对芯片表面进行充分照射。
作为本实用新型的优选方案,所述限位结构为设置在圆柱形发光装置尾端的环形凸台。将发光装置安装时,凸台可防止其掉入到目镜孔洞内,安装与拆卸更方便。
综上所述,由于采用了上述技术方案,本实用新型的有益效果是:
芯片抽检机有两个目镜可观察物体,在其中一个目镜中配套设置一个光源,光线向目镜内照射,由于光路是可逆的,增加的光源从芯片正面照射,能够让工作人员清楚的分辨芯片表面的质量,这种改进不仅结构简单,且效果明显,实用性高。
附图说明
图1是本实用新型改进后的芯片抽检机的结构示意图。
图2为图1中发光装置的结构示意图。
图3为原芯片抽检机观察芯片的效果图。
图4为本实用新型改进后的芯片抽检机观察芯片的效果图。
图中标记:1-目镜,2-发光装置,201-环形凸台,3-载物台。
具体实施方式
下面结合附图,对本实用新型作详细的说明。
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
实施例1
如图1和图2所示,本实用新型改进后的芯片抽检机,包括两个目镜1,其中一个目镜1端口配设有发光装置2,所述发光装置2能够向目镜1内照射光线,使得被检测物表面被照亮。
具体的,所述发光装置2为白光灯。白光灯可使工作人员观察芯片表面更加清晰,不易混淆。
综上所述,芯片抽检机有两个目镜可观察物体,在其中一个目镜中配套设置一个光源,光线向目镜内照射,由于光路是可逆的,增加的光源从芯片正面照射,能够让工作人员清楚的分辨芯片表面的质量,这种改进不仅结构简单,且效果明显,实用性高。
实施例2
如图2所示,根据实施例1所述的改进后的芯片抽检机,所述发光装置2设有限位结构,用于防止该发光装置整体滑落到目镜孔洞内。设置限位结构防止发光装置滑落到目镜孔洞内,便于安装和拆卸。
具体的,所述发光装置2为圆柱形结构,且与抽检机目镜孔洞匹配。将发光装置设置为与抽检机目镜孔洞匹配的圆柱体结构,可减少光的损失,对芯片表面进行充分照射。
进一步的,所述限位结构为设置在圆柱形发光装置2尾端的环形凸台201。将发光装置安装时,凸台可防止其掉入到目镜孔洞内,安装与拆卸更方便。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种改造后的芯片抽检机,包括两个目镜,其特征在于,其中一个目镜端口配设有发光装置,所述发光装置能够向目镜内照射光线,使得被检测物表面被照亮。
2.根据权利要求1所述的改造后的芯片抽检机,其特征在于,所述发光装置为白光灯。
3.根据权利要求2所述的改造后的芯片抽检机,其特征在于,所述发光装置设有限位结构,用于防止该发光装置整体滑落到目镜孔洞内。
4.根据权利要求3所述的改造后的芯片抽检机,其特征在于,所述发光装置为圆柱形结构,且与抽检机目镜孔洞匹配。
5.根据权利要求4所述的改造后的芯片抽检机,其特征在于,所述限位结构为设置在圆柱形发光装置尾端的环形凸台。
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