CN208902040U - 一种钻头二元检测设备 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种钻头二元检测设备,其包括基座台;通过丝杆组件安装于基座台的滑动平台,滑动平台通过丝杆组件驱动,在水平横向与纵向往复移动;设置于滑动平台的定位台,定位台定位待检测的钻头;安装于基座台的激光发射装置,激光发射装置通过激光器输出激光束穿过倍频透镜组,出射至待检测的钻头表面;接收由待检测的钻头表面漫反射而出的激光束的信号传感器;以及电性连接信号传感器的图像显现屏。本实用新型通过丝杆组件位移调整,定位台定位稳固钻头,激光反射装置配合信号传感器,激光检测钻头的各项精度,最终由图像显现屏输出,避免以往检测昂贵的麻烦。

Description

一种钻头二元检测设备
技术领域
本实用新型属于钻头技术领域,具体地说,涉及一种钻头二元检测设备。
背景技术
钻头是日常加工生产常常使用到的一种工具,目前在生产完成或者研制新型钻头时,常常需要对其精度检测,即切削刃角度、螺距、表面平滑度等等。但目前的钻头检测多是由大型显微设备观察,机型较大,透镜组放大模糊,成本较高,维修麻烦。缺乏一种简单,方便,定位实用的小成本的检测设备。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型所要解决的技术问题是提供了一种钻头二元检测设备,通过丝杆组件位移调整,定位台定位稳固钻头,激光反射装置配合信号传感器,激光检测钻头的各项精度,最终由图像显现屏输出,避免以往检测昂贵的麻烦。
为了解决上述技术问题,本实用新型公开了一种钻头二元检测设备,其包括基座台;通过丝杆组件安装于基座台的滑动平台,滑动平台通过丝杆组件驱动,在水平横向与纵向往复移动;设置于滑动平台的定位台,定位台定位待检测的钻头;安装于基座台的激光发射装置,激光发射装置通过激光器输出激光束穿过倍频透镜组,出射至待检测的钻头表面;接收由待检测的钻头表面漫反射而出的激光束的信号传感器;以及电性连接信号传感器的图像显现屏。
根据本实用新型一实施方式,其中上述丝杆组件包括滑轨配合的横向平台与纵向平台,滑动平台固定于纵向平台,横向平台通过横向丝杆驱动横向位移,纵向平台通过纵向丝杆驱动纵向位移,且横向丝杆与纵向丝杆一端设置调节手轮。
根据本实用新型一实施方式,其中上述滑动平台上表面粘附承载定位台的橡胶垫。
根据本实用新型一实施方式,其中上述定位台设置为带有V型开口的开关磁铁,待检测的钻头容置于V型开口。
根据本实用新型一实施方式,其中上述定位台至少一侧设置限位块。
根据本实用新型一实施方式,其中上述倍频透镜组包括面向激光器且依次设置的准直透镜、平凸透镜、平凹透镜、平凸透镜、聚焦透镜、偏振分光棱镜、放大镜组、偏振合束器、以及输出滤镜;其中偏振分光棱镜将激光束分为相互垂直的两道激光束,其中一道激光束经过放大镜组的第一倍频晶体与第一反射镜出射至偏振合束器,另一道激光束经过放大镜组的第二反射镜与第二倍频晶体出射至偏振合束器,两道激光束结合。
与现有技术相比,本实用新型可以获得包括以下技术效果:
通过丝杆组件位移调整,定位台定位稳固钻头,激光反射装置配合信号传感器,激光检测钻头的各项精度,最终由图像显现屏输出,避免以往检测昂贵的麻烦。
当然,实施本实用新型的任一产品必不一定需要同时达到以上所述的所有技术效果。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本实用新型的一部分,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1是本实用新型实施例的钻头二元检测设备示意图;
图2是本实用新型实施例的倍频透镜组示意图。
附图标记
基座台10,丝杆组件20,横向平台21,纵向平台22,横向丝杆23,纵向丝杆24,滑动平台30,定位台40,V型开口41,限位块42,激光反射装置50,倍频透镜组60,准直透镜61,平凸透镜62,平凹透镜63,聚焦透镜64,偏振分光棱镜65,放大镜组66,偏振合束器67,输出滤镜68,信号传感器70,图像显现屏80,第一倍频晶体661,第一反射镜662,第二倍频晶体663,第二反射镜664。
具体实施方式
以下将配合附图及实施例来详细说明本实用新型的实施方式,藉此对本实用新型如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
请参考图1,图1是本实用新型实施例的钻头二元检测设备示意图。如图所示,一种钻头二元检测设备包括基座台10;通过丝杆组件20安装于基座台10的滑动平台30,滑动平台30通过丝杆组件20驱动,在水平横向与纵向往复移动;设置于滑动平台30的定位台40,定位台40定位待检测的钻头;安装于基座台10的激光发射装置50,激光发射装置50通过激光器输出激光束穿过倍频透镜组60,出射至待检测的钻头表面;接收由待检测的钻头表面漫反射而出的激光束的信号传感器70;以及电性连接信号传感器70的图像显现屏80。
在本实用新型一实施方式中,基座台10起到主支撑作用,通过丝杆组件20滑移配合滑动平台30,藉以实现滑动平台30在X向与Y向的水平位移。定位台40放置在滑动平台30上,藉以承载待检测的钻头,防止圆轴状的钻头来回滚动,影响检测。激光发射装置50采用激光检测原理,如激光干涉测长、激光测距、激光测振、激光测速、激光散斑测量、激光准直、激光全息、激光扫描、激光跟踪、激光光谱分析等都显示了激光测量的巨大优越性。激光外差干涉是纳米测量的重要技术。激光测量是一种非接触式测量,不影响被测物体的运动,精度高、测量范围大、检测时间短,具有很高的空间分辨率。而信号传感器70接收由待检测的钻头漫反射而出的激光束,最终反馈信息至图像显现屏80,精准测量出切削刃角度、螺距、表面平滑度等等参数。
丝杆组件20包括滑轨配合的横向平台21与纵向平台22,滑动平台30固定于纵向平台22,横向平台21通过横向丝杆23驱动横向位移,纵向平台22通过纵向丝杆24驱动纵向位移,且横向丝杆23与纵向丝杆24一端设置调节手轮。在本实施方式中,横向平台30滑轨配合于基座台10,由固定的横向丝杆23驱动做横向的位移往复,而纵向平台22同理滑轨配合于横向平台30,由固定的纵向丝杆24驱动做纵向的往复移动,两者配合,共同实现横纵,即XY两向的移动,并通过调节手轮微调,结构简单,使用方便,适用于摆放其上的定位台40精准对齐激光发射装置50。
值得一提的是,滑动平台30上表面粘附承载定位台40的橡胶垫,橡胶垫能够增大滑动平台30与定位台40之间的摩擦,保持定位后的稳定性,丝杆组件20驱动位移调整时能够避免定位台40的滑动偏移,使用方便。此外,定位台40设置为带有V型开口41的开关磁铁,待检测的钻头容置于V型开口41。V型开口41夹持待检测的钻头,同时打开开关磁铁,产生吸力,进一步加强稳定,定位准确。
此外,定位台40至少一侧设置限位块42,用以加强限位。
请参考图2,图2是本实用新型实施例的倍频透镜组60示意图。倍频透镜组60包括面向激光器且依次设置的准直透镜61、平凸透镜62、平凹透镜63、平凸透镜62、聚焦透镜64、偏振分光棱镜65、放大镜组66、偏振合束器67、以及输出滤镜68;其中偏振分光棱镜65将激光束分为相互垂直的两道激光束,其中一道激光束经过放大镜组66的第一倍频晶体661与第一反射镜662出射至偏振合束器67,另一道激光束经过放大镜组66的第二反射镜663与第二倍频晶体664出射至偏振合束器67,两道激光束结合。
在本实用新型一实施方式中,准直透镜61将激光器发射的激光束准直变成一束平行光,经过平凸透镜62会聚,平凹透镜63发散,平凸透镜62的再次会聚,多次折射光线,加强成像,然后通过聚焦透镜64聚焦成一束平行光,由偏振分光棱镜65分光成相互垂直的两束激光,偏振分光棱镜64为一种在两个直角玻璃棱镜间交替地镀上高折射率和低折射率的膜层,并胶合而成的一块立方棱镜,其中一束激光平行出射,而另一束激光则垂直出射。具体而言,其中一束激光经过放大镜组66的第一倍频晶体661与第一反射镜662出射至偏振合束器67,而另一束激光经过放大镜组66的第二反射镜663与第二倍频晶体664出射至偏振合束器67,最终两束激光由偏振合束器67整合,放大加强,由输出滤镜68出射,大大提高了激光检测过程中的高效,精准性,输出的图像更为清晰。
上述说明示出并描述了本实用新型的若干优选实施例,但如前所述,应当理解本实用新型并非局限于本文所披露的形式,不应看作是对其他实施例的排除,而可用于各种其他组合、修改和环境,并能够在本文所述实用新型构想范围内,通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本实用新型的精神和范围,则都应在本实用新型所附权利要求的保护范围内。

Claims (6)

1.一种钻头二元检测设备,其特征在于,包括:
基座台;
通过丝杆组件安装于所述基座台的滑动平台,所述滑动平台通过所述丝杆组件驱动,在水平横向与纵向往复移动;
设置于所述滑动平台的定位台,所述定位台定位待检测的钻头;
安装于所述基座台的激光发射装置,所述激光发射装置通过激光器输出激光束穿过倍频透镜组,出射至待检测的钻头表面;
接收由待检测的钻头表面漫反射而出的激光束的信号传感器;以及
电性连接所述信号传感器的图像显现屏。
2.根据权利要求1所述的钻头二元检测设备,其特征在于,其中所述丝杆组件包括滑轨配合的横向平台与纵向平台,所述滑动平台固定于所述纵向平台,所述横向平台通过横向丝杆驱动横向位移,所述纵向平台通过纵向丝杆驱动纵向位移,且所述横向丝杆与所述纵向丝杆一端设置调节手轮。
3.根据权利要求1所述的钻头二元检测设备,其特征在于,其中所述滑动平台上表面粘附承载所述定位台的橡胶垫。
4.根据权利要求1所述的钻头二元检测设备,其特征在于,其中所述定位台设置为带有V型开口的开关磁铁,待检测的钻头容置于所述V型开口。
5.根据权利要求1所述的钻头二元检测设备,其特征在于,其中所述定位台至少一侧设置限位块。
6.根据权利要求1所述的钻头二元检测设备,其特征在于,其中所述倍频透镜组包括面向所述激光器且依次设置的准直透镜、平凸透镜、平凹透镜、平凸透镜、聚焦透镜、偏振分光棱镜、放大镜组、偏振合束器、以及输出滤镜;其中所述偏振分光棱镜将激光束分为相互垂直的两道激光束,其中一道激光束经过所述放大镜组的第一倍频晶体与第一反射镜出射至所述偏振合束器,另一道激光束经过所述放大镜组的第二反射镜与第二倍频晶体出射至所述偏振合束器,两道激光束结合。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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