CN208720938U - 一种光纤余长测量平台 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种光纤余长测量平台，能够使光纤松套管根据其规格不同及成缆放线时所对应不同张力的状态下定长切断，高度模拟成缆工序套管放线时的在线余长状况，提高工艺控制的准确性，包括放线装置和测量装置，放线装置包括管套放线架和放线跳舞轮，松管套从管套盘具放线伸出后经放线跳舞轮送入测量装置，测量装置包括支撑座，支撑座上设置有套管容置槽，松管套沿水平方向送入套管容置槽中，套管容置槽的两端设置有切割刀具，切割刀具分别与同一控制开关电控连接，套管容置槽的后方还设置有固定夹具，在支撑座上平行与套管容置槽设置的测量卡尺，放线跳舞轮上设置有可调砝码装置，可调砝码装置与固定夹具配合调节松管套的张紧力。

Description

一种光纤余长测量平台

技术领域

本实用新型涉及光纤余长测量技术领域，具体涉及一种光纤余长测量平台。

背景技术

光缆是光通信行业的主要传输媒介，而光纤松套管是光缆的重要组成部件，其生产过程中的光纤余长是决定光缆性能的关键数据，该数据不但直接影响光缆的光学传输性能及其使用寿命，同时可通过该数据反过来优化生产工艺，从而生产优质的光缆。

光纤套塑余长指光纤相对松套管的长度差与松套管长度比的百分率。目前测量大部分余长测量采用手工方式或放在传统测试平台上将套管固定恒定张力切割取样测量，这种测量方式受人为拉力大小的影响很大，使测量的参数不够准确，尤其在测量微束管余长及全干套管余长时，无法根据套管规格来设定相应张力取样测试，从而使测量参数与实际成缆上盘后余长参数偏差很大，降低了工艺控制的准确性。

如公开号为CN108195259的中国实用新型专利中公开了一种光纤余长测量装置，其虽然可以实现对光纤余长的测量，其取样时是松套管一端固定在平台上，另一端固定在移动滑块上，对滑块施加张力，而施加张力的范围及方法未说明，只是说施加张力将套管拉直，未能模拟成缆上盘后松套管的余长状态，测量得到的数据不具有代表性，而且其在测量光纤的长度，光纤未抽出，只是描述将滑块一端套管剥除外皮长度为50mm，再通过滑块将光纤拉直，而如何判断光纤被拉直未说明，并未确保光纤已经和测量尺的刻度方向相一致，而且由于松套管内一般有油膏填充，油膏具有一定的粘附性，测量数据准确的值得怀疑。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提供了一种光纤余长测量平台，能够使光纤松套管根据其规格不同及成缆放线时所对应不同张力的状态下定长切断，高度模拟成缆工序套管放线时的在线余长状况，缩小测量余长与实际在线余长的偏差，提高工艺控制的准确性。

其技术方案是这样的：一种光纤余长测量平台，包括顺序设置的放线装置和测量装置，其特征在于：所述放线装置包括管套放线架，所述管套放线架上设有管套盘具，所述管套放线架的前侧设有放线跳舞轮，松管套从所述管套盘具放线伸出后经所述放线跳舞轮送入所述测量装置，所述测量装置包括支撑座，所述支撑座上设置有沿所述支撑座长度方向设置套管容置槽，经所述放线跳舞轮送出的松管套沿水平方向送入所述套管容置槽中，所述套管容置槽的两端分别设置有切割刀具，所述切割刀具分别与同一控制开关电控连接，所述套管容置槽远离所述放线装置的一端的后方还设置有固定夹具，在所述支撑座上平行与所述套管容置槽设置的测量卡尺，所述放线跳舞轮上设置有可调砝码装置，所述可调砝码装置与所述固定夹具配合调节所述松管套的张紧力。

进一步的，所述测量卡尺包括基座和刻度，所述基座上设置有平行于刻度方向设置的挡条，所述挡条与所述基座构成L形槽。

进一步的，在所述支撑座上且位于所述套管容置槽的前侧设置有导向轮，经所述放线跳舞轮送出的松管套沿水平方向经过所述导向轮送入所述套管容置槽中。

进一步的，所述控制开关为气动开关，所述切割刀具为气动切割道具。

本实用新型的光纤余长测量平台具有以下优点：本实用新型的光纤余长测量平台可由调砝码装置与固定夹具配合，针对不同类型的松套管自由组合并施加1-20N的张力，使用方便，可模拟成缆上盘后松套管的余长状态，便于下道工序的工艺控制；光纤松管套从套管盘具上直接取样，减小了切割取样的数据误差；本实用新型的光纤余长测量平台测量松管套长度和光纤长度时，分别将松管套和光纤拉直且将松管套和光纤置于所述挡条与所述基座构成L形槽中，确保测量得到长度准确性，提高工艺控制的准确性。

附图说明

图1为本实用新型的光纤余长测量平台的主视结构示意图；

图2为本实用新型的光纤余长测量平台的俯视结构示意图；

图3为本实用新型的测量卡尺的主视结构示意图；

图4为本实用新型的测量卡尺的俯视结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图，对本实用新型进行进一步说明。

见图1、图2、图3、图4，本实用新型一种光纤余长测量平台，包括顺序设置的放线装置和测量装置，放线装置包括管套放线架1，管套放线架1上设有管套盘具2，管套放线架2的前侧设有放线跳舞轮3，松管套4从管套盘具2放线伸出后经放线跳舞轮3送入测量装置，测量装置包括支撑座5，支撑座5上设置有沿支撑座5长度方向设置套管容置槽6，在支撑座5上且位于套管容置槽6的前侧设置有导向轮7，经放线跳舞轮3送出的松管套4沿水平方向经过导向轮7送入套管容置槽6中，套管容置槽6的两端分别设置有切割刀具8，切割刀具8分别与同一控制开关电控9连接，在本实施例中，控制开关9为气动开关，切割刀具为气动切割道具，套管容置槽6远离放线装置的一端的后方还设置有固定夹具10，在支撑座1上平行与套管容置槽6设置的测量卡尺11，测量卡尺包括基座12和刻度，基座12上设置有平行于刻度方向设置的挡条13，挡条13与基座12构成L形槽，放线跳舞轮3上设置有可调砝码装置14，可调砝码装置14与固定夹具10配合调节松管套4的张紧力。

以下描述采用上述实施例中的光纤余长测量平台测量光纤余长的具体步骤：将测量的松管套通过管套盘具防止到管套放线架上，待测量的松管套经管套放线架放出后，经放线跳舞轮送入套管容置槽，松管套从套管容置槽伸出后通过固定夹具固定，通过调砝码装置与固定夹具配合调节松管套的张紧力，设置成相应成缆工序所需张力，在套管容置槽两端设置分别气动切割刀具，在套管放线端设置气动开关，通过控制开关控制套管容置槽两端的切割刀具同时切割松管套，可满足常规充油套管及干式套管的测量，通过测量卡尺测量切割得到的松管套长度，松管套长度记为L0，再将光纤从切割得到的松管套中抽出，清理光纤上的纤膏，通过测量卡尺测量光纤长度，光纤长度L1，通过以下公式计算光纤余长：余长＝(L1-L0)*100％/L0；在测量松管套长度和光纤长度时，分别将松管套和光纤拉直且将松管套和光纤置于挡条与基座构成L形槽中。

本实用新型的光纤余长测量平台可由调砝码装置与固定夹具配合，针对不同类型的松套管自由组合并施加1-20N的张力，使用方便，可模拟成缆上盘后松套管的余长状态，便于下道工序的工艺控制；光纤松管套从套管盘具上直接取样，减小了切割取样的数据误差；本实用新型的光纤余长测量平台测量松管套长度和光纤长度时，分别将松管套和光纤拉直且将松管套和光纤置于所述挡条与所述基座构成L形槽中，确保测量得到长度准确性，提高工艺控制的准确性，此外本实用新型在测量光纤长度是将光纤从松管套中完全取出，并取出纤膏，进一步确保测量的准确性。

以上实施例仅表达了本实用新型的其中一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (4)

1.一种光纤余长测量平台，包括顺序设置的放线装置和测量装置，其特征在于：所述放线装置包括管套放线架，所述管套放线架上设有管套盘具，所述管套放线架的前侧设有放线跳舞轮，松管套从所述管套盘具放线伸出后经所述放线跳舞轮送入所述测量装置，所述测量装置包括支撑座，所述支撑座上设置有沿所述支撑座长度方向设置套管容置槽，经所述放线跳舞轮送出的松管套沿水平方向送入所述套管容置槽中，所述套管容置槽的两端分别设置有切割刀具，所述切割刀具分别与同一控制开关电控连接，所述套管容置槽远离所述放线装置的一端的后方还设置有固定夹具，在所述支撑座上平行与所述套管容置槽设置的测量卡尺，所述放线跳舞轮上设置有可调砝码装置，所述可调砝码装置与所述固定夹具配合调节所述松管套的张紧力。

2.根据权利要求1所述的一种光纤余长测量平台，其特征在于：所述测量卡尺包括基座和刻度，所述基座上设置有平行于刻度方向设置的挡条，所述挡条与所述基座构成L形槽。

3.根据权利要求2所述的一种光纤余长测量平台，其特征在于：在所述支撑座上且位于所述套管容置槽的前侧设置有导向轮，经所述放线跳舞轮送出的松管套沿水平方向经过所述导向轮送入所述套管容置槽中。

4.根据权利要求2所述的一种光纤余长测量平台，其特征在于：所述控制开关为气动开关，所述切割刀具为气动切割道具。