CN208654191U - 用于检测受光二极管的暗箱 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于检测受光二极管的暗箱，包括箱体、设置在所述箱体中的散光板，所述散光板将所述箱体的内部空间分割为第一区和第二区；其中：在所述第一区内设置有用于配合受测二极管的受光二极管座；在所述第二区内设置有用于光源。所述受光二极管座与检测设备电连接；所述箱体具有能够开闭的上盖；所述用于检测受光二极管的暗箱，检测受光二极管时，只需打开箱体的上盖，将受测二极管插入，再盖上上盖即可测试。操作简单，也提高了工作效率。

Description

用于检测受光二极管的暗箱

技术领域

本实用新型涉及二极管检测设备，尤其涉及用于检测发光而二极管暗箱。

背景技术

在受光二极管开发生产过程中，由于每次生产时，发光二级光的产量较大，因此无法检测每个所开发的二极管是否合格、具体的合格率为多少，所以无法知晓二极管产品的品质状况，是否符合客户的要求，是否需要对产品的设计和生产过程进行更改，这些问题，在现有的生产过程中，都没有得到很好的解决，影响品控和生产效率。

实用新型内容

为了克服现有技术的缺陷，本实用新型提出一种用于检测受光二极管的暗箱。

本实用新型所述的一种用于检测受光二极管的暗箱，包括箱体、设置在所述箱体中的散光板，所述散光板将所述箱体的内部空间分割为第一区和第二区；其中：

在所述第一区内设置有用于配合受测二极管的受光二极管座；

在所述第二区内设置有光源。

所述受光二极管座与检测设备电连接；

所述箱体具有能够开闭的上盖。

进一步地，所述受光二极管座为老化座。

进一步地，所述受光二极管座的端部水平设置，使受测二极管能够呈水平状态配合在所述受光二极管座上。

进一步地，所述受光二极管座的端部竖直设置，使受测二极管能够呈竖直状态配合在所述受光二极管座上。

进一步地，所述光源包括发光管座，连接在所述发光管座上的发光管，所述发光管座与供电装置联通。

进一步地，所述供电装置为可调电源。

进一步地，所述发光管座为老化座。

进一步地，所述散光板为亚力克板。

本实用新型所述的用于检测受光二极管的暗箱，检测受光二极管时，只需打开箱体的上盖，将受测二极管插入，再盖上上盖即可测试。操作简单，也提高了工作效率。整个暗箱采用模块化设计，各个零件大部分可通过螺钉安装，简单可靠而且牢固。如后续哪个部件损坏，只需替换掉即可。该暗箱除标准件和散光板外，其余均为电木材质，制造成本低廉，有很好的经济性。

附图说明

当结合附图考虑时，通过参照下面的详细描述，能够更完整更好地理解本实用新型以及容易得知其中许多伴随的优点，但此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定，如图其中：

图1为现有技术用于检测受光二极管的暗箱结构图；

图2为本实用新型所述受光二极管座2的一种实施方式结构示意图；

图3为本实用新型所述受光二极管座2的另一种实施方式结构示意图。

具体实施方式

下面结合说明书附图，对本实用新型所述的用于检测受光二极管的暗箱的具体实施方式进行说明。

如图1所示，本实用新型所述的一种用于检测受光二极管的暗箱，包括箱体1、设置在箱体1中的散光板3，散光板3将箱体1的内部空间分割为第一区和第二区；其中：在第一区内设置有用于配合受测二极管7的受光二极管座 2；在第二区内设置有用于光源，受光二极管座2与检测设备通过导线6连接。箱体1具有能够开闭的上盖(图中未示出)，便于将受测二极管7配合插接在箱体1内的受光二极管座2，及测试完成后的取出操作。

箱体1提供了一个与外界隔离光线的黑暗环境，通过被测受光二极管7感知光源发出的光，形成信号接入设备来评判受光二极管是否合格。

优选地，受光二极管座2为老化座，因测试很频繁，使用老化座能够避免因频繁使用而造成接触不良无法继续使用的问题，间接地降低了测试成本。

如图2所示，优选地，受光二极管座2的端部水平设置，使受测二极管7 能够呈水平状态配合在受光二极管座2上，这种受光二极管座2的设置方式，用于侧面受光的二极管检测。

如图3所示，在另一实施方式中，受光二极管座2的端部竖直设置，使受测二极管7能够呈竖直状态配合在受光二极管座2上，这种受光二极管2的设置方式用于顶部受光的二极管测试。

优选地，光源包括发光管座4，连接在发光管座4上的发光管5，发光管座4与供电装置通过导线连接。供电装置为可调电源。发光管座4为老化座。

所述暗箱的操作过程为：

具体如下：将被测受光二极管7插入受光管老化座2内，盖上箱体1的上盖；打开电源，外接可调电源通过导线给发光管5通电，发光管5点亮，向外散射光线8，光线8打在散光板3上后，散光板3把分散的光线8均匀的分散出去；均匀化的光线8打在受光二极管7上，受光二极管7感知光线8后输出信号，通过受光管老化座2传给导线6，导线6外接检测设备，检测设备根据传入信号来判断该受光二极管是否合格。

如上，对本实用新型的实施例进行了详细地说明，显然，只要实质上没有脱离本实用新型的实用新型点及效果、对本领域的技术人员来说是显而易见的变形，也全部包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种用于检测受光二极管的暗箱，其特征在于，包括箱体(1)、设置在所述箱体(1)中的散光板(3)，所述散光板(3)将所述箱体(1)的内部空间分割为第一区和第二区；其中：

在所述第一区内设置有用于配合受测二极管(7)的受光二极管座(2)；

在所述第二区内设置有光源；

所述受光二极管座(2)与检测设备电连接；

所述箱体(1)具有能够开闭的上盖。

2.根据权利要求1所述的用于检测受光二极管的暗箱，其特征在于，所述受光二极管座(2)为老化座。

3.根据权利要求1或2所述的用于检测受光二极管的暗箱，其特征在于，所述受光二极管座(2)的端部水平设置，使受测二极管(7)能够呈水平状态配合在所述受光二极管座(2)上。

4.根据权利要求1或2所述的用于检测受光二极管的暗箱，其特征在于，所述受光二极管座(2)的端部竖直设置，使受测二极管(7)能够呈竖直状态配合在所述受光二极管座(2)上。

5.根据权利要求1所述的用于检测受光二极管的暗箱，其特征在于，所述光源包括发光管座(4)，连接在所述发光管座(4)上的发光管(5)，所述发光管座(4)与供电装置联通。

6.根据权利要求5所述的用于检测受光二极管的暗箱，其特征在于，所述供电装置为可调电源。

7.根据权利要求6所述的用于检测受光二极管的暗箱，其特征在于，所述发光管座(4)为老化座。

8.根据权利要求1所述的用于检测受光二极管的暗箱，其特征在于，所述散光板(3)为亚力克板。