CN208580396U - 数据清除装置及计算机 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种数据清除装置及计算机，所述数据清除装置应用于计算机的CMOS电路，所述数据清除装置包括：按键模块、断电信号检测模块、断电模块和复位模块；所述断电模块连与CMOS电路的供电端口连接，用于切断或者恢复向所述CMOS电路输送电能；所述断电信号检测模块分别与所述按键模块及所述断电模块连接；本申请实施例提供的数据清除装置能够方便快捷地实现复位和断电操作。

Description

数据清除装置及计算机

技术领域

本申请涉及电子信息技术领域，具体而言，涉及一种数据清除装置及计算机。

背景技术

计算机在使用过程中，可能会因为电网波动、设备频繁上下电等外部干扰而造成CPU内部保存的CMOS参数出现数据错，从而导致设备不能正常运行。

CMOS电路在设备关机状态下是由板卡上的纽扣电池BAT供电以保存信息，一般的故障通过对CMOS电路进行复位即可清除。然而，在遇到一些难以清除的故障时，往往需要先切断CMOS电路的电源(下电操作)才能得到解决。

现有技术中，在清除CMOS电路的故障时，往往是打开机箱后进行操作。例如，复位动作通过板卡预留的跳线帽实现，电路下电操作则需要将纽扣电池BAT拔下。因此，上述清除故障的操作过程十分复杂，需要一定的操作技能以及对应的工具，并且可能因为操作不当对板卡造成损坏。

实用新型内容

为了克服现有技术中的上述不足，本申请的目的在于提供一种数据清除装置，应用于计算机的CMOS电路，所述数据清除装置包括：

按键模块、断电信号检测模块和断电模块；

所述断电模块与CMOS电路的供电端口连接，用于切断或者恢复向所述CMOS电路输送电能；

所述断电信号检测模块分别与所述按键模块及所述断电模块连接，用于在检测到所述按键模块的断电操作信号时，产生控制信号以控制所述断电模块切断向所述CMOS电路输送电能。

可选地，所述数据清除装置还包括供电模块，所述供电模块包括电池以及系统电源，所述电池的输出端与所述系统电源的输出端连接在一起构成供电模块的输出端，所述供电模块的输出端连接CMOS电路的供电端口，用于向所述CMOS电路输出电能。

可选地，所述断电模块包括第一开关元件，所述第一开关元件的控制端与所述断电信号检测模块连接，所述第一开关元件的高电位端连接于所述供电模块和所述CMOS电路的供电端口之间，所述第一开关元件的低电位端连接地线。

可选地，所述断电信号检测模块包括通过高电位端、低电位端与电容并联连接的第二开关元件，所述第二开关元件的高电位端依次连接二极管及供电模块，所述第二开关元件的高电位端与所述第一开关元件的控制端连接；所述第二开关元件的低电位端连接地线，所述第二开关元件的控制端与所述按键模块连接。

可选地，所述数据清除装置还包括复位模块，所述复位模块与所述按键模块连接，并与所述CMOS电路的复位端口连接，用于检测所述按键模块的复位信号并向CMOS电路输出所述复位信号。

可选地，所述数据清除装置还包括隔离模块，所述隔离模块连接在复位模块与所述断电信号检测模块之间，用于隔离断电信号检测模块产生的干扰信号。

可选地，所述数据清除装置还包括下电检测模块，

所述下电检测模块分别与所述断电信号检测模块，与计算机供电端口连接，用于在检测到计算机处于通电状态时，阻断断电信号检测模块产生控制所述断电模块的所述控制信号。

可选地，所述下电检测模块包括第三开关元件，所述第三开关元件的控制端连接所述计算机供电端口，所述第三开关元件的高电位端连接在所述断电信号检测模块与所述断电模块之间，所述第三开关元件的低电位端连接地线。

可选地，所述断电信号检测模块为延时芯片，所述延时芯片分别与所述按键模块及所述断电模块连接。

本申请的另一目的在于提供一种计算机，所述计算机包括计算机主体及如以上任一项所述的数据清除装置。

相对于现有技术而言，本申请实施例具有以下有益效果：

本申请通过设置按键模块来根据用户的操作生成复位信号或者断电操作信号，在按键模块产生复位信号时进行复位操作。通过断电信号检测模块来检测断电操作信号，然后在检测到断电操作信号的情况下产生控制信号控制断电模块，断电模块在控制信号的控制下，切断向CMOS电路输送电能，从而实现复位或者断电操作。本申请实施例能够通过对按键模块的不同操作来实现复位或者断电操作，不需要打开机箱就能够直接进行上述操作，具有方便、快捷的特点。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的数据清除装置的结构框图一；

图2为本申请实施例提供的数据清除装置的结构框图二；

图3为本申请实施例提供的数据清除装置的结构框图三；

图4为本申请实施例提供的数据清除装置的结构框图四；

图5为本申请实施例提供的数据清除装置的具体电路图。

图标：100-数据清除装置；110-供电模块；120-断电模块；130-断电信号检测模块；140-按键模块；150-复位模块；160-下电检测模块；170-延时芯片；180-处理器；210-CMOS电路的供电端口；220-CMOS电路的复位端口。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

请参照图1，图1是本申请实施例提供的数据清除装置100的结构框图，本实施例所述数据清除装置100可以应用于计算机的CMOS电路，以实现对计算机的CMOS电路的复位和断电操作。本实施例所述的数据清除装置100包括按键模块140、断电信号检测模块130和断电模块120。

断电模块120与CMOS电路的供电端口210连接，用于切断或者恢复向CMOS电路输送电能。断电信号检测模块130与按键模块140连接，用于检测按键模块140的断电操作信号，断电信号检测模块130还与断电模块120连接，用于在检测到所述按键模块140的断电操作信号时，产生控制信号以控制所述断电模块120切断向所述CMOS电路输送电能。

请参见图2，本实施例中，还可以包括供电模块110、其中，供电模块110与CMOS电路的供电端口210连接，用于为CMOS电路供电，以保证CMOS电路正常工作状态下的电能供给。

断电模块120连接在供电模块110与CMOS电路的供电端口210之间，用于切断或者恢复供电模块110向CMOS电路输出电能。断电信号检测模块130分别与所述按键模块140及所述断电模块120连接，用于在检测到所述按键模块140的断电操作信号时，产生控制信号以控制所述断电模块120切断供电模块110向所述CMOS电路输出电能。

请参见图5，具体地，供电模块110包括电池BAT和系统电源VDD，电池BAT的输出端和系统电源VDD的输出端连接在一起，共同构成供电模块110的输出端，供电模块110通过供电模块110的输出端与CMOS电路的供电端口210连接。

本实施例中，系统电源VDD与CMOS电路的供电端口210之间设置有二极管D1、电池BAT与CMOS电路的供电端口210之间设置有二极管D2。

系统电源VDD是从计算机系统中采集的、经过处理后用于为CMOS电路供电的电源，当计算机在通电状态时，CMOS电路通过系统电源VDD供电。

请参见图5，在本实施例中，数据清除装置100还可以包括连接在地线与供电模块110之间的电容C1。

当计算机在断电状态时，CMOS电路通过电池BAT供电。

本实施例中，按键模块140用于接收用户的操作，根据用户的操作生成与用户操作相关的信号。用户的操作即用户选择的是复位操作还是断电操作，与用户操作相关的信号是用于表征用户选择复位操作的复位信号或用户选择断电操作的断电操作信号。

所述按键模块140可以包括一个既能用于采集复位信号又能用于采集断电操作信号的按键SW，本实施例中可以根据按键SW被按下时间的长短不同来区分复位信号和断电操作信号，即根据预设时长来区分复位信号和断电操作信号。当按键SW被按下的时长超过预设时长，按键模块140为长按状态，则用户进行的是断电操作，也就是说，按键模块140中的按键SW被长按产生的是断电操作信号，此时执行断电动作。当按键被按下的时长未超过预设时长，按键模块140为短按状态，则用户进行的是复位操作，也就是说，按键模块140中的按键SW被短按产生的是复位信号，此时执行复位动作。

请参见图2，本实施例中，还可以包括复位模块150，复位模块150与按键模块140连接，复位模块150还与CMOS电路的复位端口220连接，在按键模块140产生复位信号时，复位模块150向CMOS电路的复位端口220发送复位信号。

具体地，请参见图5，所述按键SW一端连接地线，一端连接电阻R3，按键连接电阻R3的一端还连接复位模块150。

复位模块150与CMOS电路的复位端口220连接，用于向CMOS电路发送复位信号。

具体地，请参见图5，复位模块150包括依次连接的电阻R2、电容C3，CMOS电路的复位端口220连接在电阻R2和电容C3之间。按键模块140与电阻R3连接的一端还与电阻R2连接电容C3的一端连接。

考虑到在数据清除装置100的使用过程中，数据清除装置100中的各部分电路之间可能会产生相互影响，比如断电信号检测模块130的电信号可能对复位信号产生干扰，故本实施例中，在电路结构中还可以设置隔离模块，用于隔离断电信号检测模块130中的电信号对复位信号造成的干扰。通过设置隔离模块，数据清除装置100在使用过程中复位信号受到的干扰信号大大减小，复位动作的准确性大大提高。

具体地，所述隔离模块可以包括二极管D4。所述二极管D4一端连接在电阻R2与电容C3之间，二极管D4的另一端连接在电阻R3与按键SW之间，用于隔离按键SW一侧的电路工作时产生的电信号给复位模块150复位信号造成不良影响。

断电信号检测模块130与按键模块140连接，用于检测按键模块140的断电操作信号。当按键模块中产生断电操作信号时，断电信号检测模块130便检测出该断电操作信号。

断电信号检测模块130还与断电模块120连接，用于在检测到断电操作信号时控制断电模块120切断供电模块110向CMOS电路输出电能，或者，在未检测到断电操作信号时，控制断电模块120恢复供电模块110向CMOS电路输出电能。

具体地，请参见图5，在一种实施方式中，断电信号检测模块130可以包括通过高电位端、低电位端与电容C2并联连接的第二开关元件，第二开关元件的高电位端依次连接电阻R1、二极管D3及供电模块110，所述第二开关元件的高电位端还与断电信号检测模块130连接。所述第二开关元件的低电位端接地线，所述第二开关元件的控制端与按键模块140连接。断电信号检测模块130中的二极管D3能够保证电流从供电模块110流向第二开关元件。在本实施方式中，第二开关元件可以是场效应管Q2或者三极管等开关元件。

如图3所示，在另一种实施方式中，断电信号检测模块130可以是延时芯片170，所述延时芯片170分别与所述按键模块140及所述断电模块120连接。所述按键模块140可以是按键SW。在该实施方式中，按键模块140按下时，如果按键模块140被按下的时间比延时芯片170的延时时间短，延时芯片170将不能控制断电模块120，这样就可以判断用户进行的是复位动作，从而进行复位操作。当按键被按下的时间超过了延时芯片170的延时时间，延时芯片170便能采集到复位信号，这样，延时芯片170就会产生控制信号，来控制断电模块120切断供电模块110向CMOS电路的电能输出。

本实施方式中，延时芯片170可以根据具体的需求选择具有不同延时时间的延时芯片170。

请参见图4，在另一种实施方式中，断电信号检测模块130可以是处理器180。所述处理器180分别与所述按键模块140及所述断电模块120连接。按键模块140可以是按键SW。在该实施方式中，处理器180能够根据所检测到的按键被按下时间是否超过预设时长来判断是否产生了断电操作信号，当按键模块140的按键被按下，如果按键模块140被按下的时间比预设时长短，处理器180将不能控制断电模块120，这样就可以判断用户进行的是复位动作，从而进行复位操作。当按键被按下的时间超过了预设时长，相当于处理器180采集到断电操作信号，这样，处理器180就会产生控制信号，来控制断电模块120切断供电模块110向CMOS电路的电能输出。

在一种实施方式中，断电模块120可以串联在供电模块110与CMOS电路之间，当断电模块120用于断开供电模块110向CMOS电路的电能输出时，即断电信号检测模块130检测到按键状态为长按状态时，使断电模块120处于断开状态，供电模块110与CMOS电路之间处于断开的状态。当断电模块120用于恢复供电模块110向CMOS电路的电能输出时，断电模块120处于导通状态，从而使得供电模块110与断电模块120之间形成通路。

在另一种实施方式中，数据清除装置100在使用过程中，断电模块120与数据清除装置100外部的CMOS电路并联连接。当断电模块120用于断开供电模块110向CMOS电路的电能输出时，断电模块120处于导通状态，断电模块120使CMOS电路被短路，从而切断供电模块110向CMOS电路的电能输出；当断电模块120用于恢复供电模块110向CMOS电路的电能输出时，断电模块120处于断开状态，从而使得供电模块110与断电模块120之间形成通路，供电模块110能够向CMOS电路输出电能。

具体地，请参见图5，在一种实施方式中，断电模块120可以包括第一开关元件，第一开关元件的控制端与断电信号检测模块130连接，第一开关元件的高电位端连接于所述供电模块110和所述CMOS电路的供电端口210之间，第一开关元件的低电位端连接地线。工作状态下，如果断电信号检测模块130检测到按键模块140为长按状态时，断电信号检测模块130便输出高电平信号到第二开关元件的控制端，第二开关元件导通，从而将供电模块110与地线连接，进而切断供电模块110向CMOS电路的电能输出。所述第二开关元件可以是场效应管Q1或者三级管等。

本实施例中所提到的开关元件均可以是，但不限于，场效应管、三极管等。

请参照图2，由于计算机在实际使用过程中，突然断电会给计算机的板卡造成损坏，因此，本实施例的数据清除装置100还包括下电检测模块160，所述下电检测模块160与计算机供电端口连接，用于检测计算机是否处于通电状态，如果检测到计算机处于通电状态，则阻断断电信号检测模块130产生控制所述断电模块120的控制信号或者阻断断电信号检测模块130产生的控制信号传递到断电模块120控制断电模块120。通过设置下电检测模块160，能够保证在计算机正常工作下，CMOS电路的断电操作不会进行，因此计算机也不会突然断电，从而保证了使用计算机的稳定性，避免突然断电造成计算机板卡损坏以及计算机数据丢失等问题。

本实施例中的所述的计算机供电端口可以是为计算机供电的端口，也可以是计算机正常运行时，计算机电路中有电信号的部位。

所述下电检测模块160可以包括具有电信号检测功能的器件，例如霍尔传感器等。下电检测模块160也可以是电控开关。

具体地，请参见图5，所述下电检测模块160包括第三开关元件，所述第三开关元件的控制端连接计算机供电端，所述第三开关元件的高电位端连接在所述断电信号检测模块与所述断电模块之间，例如，所述第三开关元件的高电位端连接第一开关元件的控制端，所述第三开关元件的低电位端连接地线。所述第三开关元件为场效应管Q3。

本申请实施例的数据清除装置100在应用于计算机时，按键模块140可以设置在机箱外壳上。例如，在机箱外壳上设置安装孔，从而将按键模块140设置在安装孔中。

本申请的实施例还提供了一种计算机，所述计算机包括计算机主体及以上实施例所述的数据清除装置100。计算机主体中设置有CMOS电路，所述数据清除装置100与计算机主体中设置的CMOS电路连接。

综上所述，本申请实施例通过设置按键模块140来根据用户的操作生成复位信号或者断电操作信号，在按键模块140产生复位信号时进行复位操作。通过断电信号检测模块130来检测断电操作信号，然后在检测到断电操作信号的情况下产生控制信号控制断电模块120，断电模块120在控制信号的控制下，切断向CMOS电路输出电能，从而实现复位或者断电操作。本申请实施例能够通过对按键模块140的不同操作来实现复位或者断电操作，不需要打开机箱就能够直接进行上述操作，具有方便、快捷的特点。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的装置。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种数据清除装置，其特征在于，应用于计算机的CMOS电路，所述数据清除装置包括：

按键模块、断电信号检测模块和断电模块；

所述断电模块与CMOS电路的供电端口连接，用于切断或者恢复向所述CMOS电路输送电能；

所述断电信号检测模块分别与所述按键模块及所述断电模块连接，用于在检测到所述按键模块的断电操作信号时，产生控制信号以控制所述断电模块切断向所述CMOS电路输送电能。

2.根据权利要求1所述的数据清除装置，其特征在于，所述数据清除装置还包括供电模块，所述供电模块包括电池以及系统电源，所述电池的输出端与所述系统电源的输出端连接在一起构成供电模块的输出端，所述供电模块的输出端连接CMOS电路的供电端口，用于向所述CMOS电路输出电能。

3.根据权利要求2所述的数据清除装置，其特征在于，所述断电模块包括第一开关元件，所述第一开关元件的控制端与所述断电信号检测模块连接，所述第一开关元件的高电位端连接于所述供电模块和所述CMOS电路的供电端口之间，所述第一开关元件的低电位端连接地线。

4.根据权利要求3所述的数据清除装置，其特征在于，所述断电信号检测模块包括通过高电位端、低电位端与电容并联连接的第二开关元件，所述第二开关元件的高电位端依次连接二极管及供电模块，所述第二开关元件的高电位端与所述第一开关元件的控制端连接；所述第二开关元件的低电位端连接地线，所述第二开关元件的控制端与所述按键模块连接。

5.根据权利要求1所述的数据清除装置，其特征在于，所述数据清除装置还包括复位模块，所述复位模块与所述按键模块连接，并与所述CMOS电路的复位端口连接，用于检测所述按键模块的复位信号并向CMOS电路输出所述复位信号。

6.根据权利要求5所述的数据清除装置，其特征在于，所述数据清除装置还包括隔离模块，所述隔离模块连接在复位模块与断电信号检测模块之间，用于隔离所述断电信号检测模块产生的干扰信号。

7.根据权利要求1所述的数据清除装置，其特征在于，所述数据清除装置还包括下电检测模块，

所述下电检测模块分别与所述断电信号检测模块，与计算机供电端口连接，用于在检测到计算机处于通电状态时，阻断断电信号检测模块产生控制所述断电模块的所述控制信号。

8.根据权利要求7所述的数据清除装置，其特征在于，所述下电检测模块包括第三开关元件，所述第三开关元件的控制端连接所述计算机供电端口，所述第三开关元件的高电位端连接在所述断电信号检测模块与所述断电模块之间，所述第三开关元件的低电位端连接地线。

9.根据权利要求1所述的数据清除装置，其特征在于，所述断电信号检测模块为延时芯片，所述延时芯片分别与所述按键模块及所述断电模块连接。

10.一种计算机，其特征在于，所述计算机包括计算机主体及如权利要求1-9任一项所述的数据清除装置。