CN208537601U - 一种探针组件及测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种探针组件，包括基座、探针和推钮，所述基座内部设有空腔，所述基座上设有多个穿孔，所述探针穿过所述穿孔并与所述穿孔间隙配合，所述探针用于所述穿孔内来回运动，所述基座上与所述穿孔所在面垂直的一侧设有多个滑槽，所述滑槽与所述空腔连通，所述推钮设置于所述滑槽内并与所述滑槽滑动配合，所述推钮伸入所述空腔内，所述探针与所述推钮位于所述空腔内的部分固定连接，所述推钮用于带动所述探针伸出和收入所述基座内。利用推钮和探针结合，使探针形成可伸出和收回的结构，可自由调节探针组件伸出的探针数量。本实用新型还公开了一种采用上述探针组件的测试治具。

Description

一种探针组件及测试治具

技术领域

本实用新型涉及屏幕测试治具技术领域，特别是涉及一种探针组件及测试治具。

背景技术

显示行业在开发新产品时，需对导电玻璃上的银路进行测试，确定其为通路或断路。

现有的测试方法多采用万用表进行测试，利用万用表的探针接触导电玻璃上的银路，从而检测器通断，并记录对应测试点的通断情况。当存在大量的待测试件时，需对每个待测试件依次进行测试。

万用表需依次对每个待测试件进行测试，效率较低，需消耗较多的人力，且多次测试记录会增加出错的概率。授权号CN 203759063 U公开了一种探针测试治具，通过在基座上同时设置多根探针，实现了同时对多块小型导电玻璃的测试，但由于其存在多根探针，当只需对单一导电玻璃进行测试时，额外的探针会影响测试工作的进行。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于提出一种既能测试单一导电玻璃又能同时测试多个导电玻璃的探针组件。

一种探针组件，包括基座、探针和推钮，所述基座为中空的壳体结构，所述基座内部设有空腔，所述基座上设有多个穿孔，所述探针穿过所述穿孔并与所述穿孔间隙配合，所述探针用于所述穿孔内来回运动，所述基座上与所述穿孔所在面垂直的一侧设有多个滑槽，所述滑槽与所述空腔连通，所述推钮设置于所述滑槽内并与所述滑槽滑动配合，所述推钮伸入所述空腔内，所述探针与所述推钮位于所述空腔内的部分固定连接，所述推钮用于带动所述探针伸出和收入所述基座内。

根据本实用新型提出的探针组件，利用推钮和探针结合，使探针形成可伸出和收回的结构，当需同时测试多个导电玻璃时，可伸出对应数量的探针，当只需要测试单个导电玻璃时，只需伸出一根探针即可，其余探针不会影响测试。

另外，根据本实用新型提供的探针组件，还可以具有如下附加的技术特征：

进一步地，单个所述推钮连接一根探针。

进一步地，单个所述推钮同时连接多根探针，则单个推钮能同时控制多根探针的伸出和收入。

进一步地，所述推钮与所述空腔内壁接触，防止推钮在运动过程中发生扭曲。

进一步地，所述推钮与所述空腔内壁的接触面设有光滑层或滑轮，降低推钮与空腔内壁的摩擦力，便于推钮的调节。

进一步地，所述推钮与所述空腔内壁的接触面较所述推钮的自动端大，则增大了推钮与空腔内壁的接触面积，起到了支撑作用，降低了推钮与空腔内壁接触端扭曲的几率。

进一步地，所述基座上位于所述推钮两侧分别设有上推板和下推板，所述上推板与所述下推板均与所述滑槽滑动配合，所述上推板和所述下推板分别用于整体推动所有所述推钮下移和上移，则可同时收入或伸出所有的探针，不用依次调节每个推钮。

进一步地，所述上推板和所述下推板均通过滑块与所述滑槽滑动配合，所述滑块位于单个或多个所述滑槽内，当滑块位于多个滑槽内时能增加上推板和下推板的滑动强度，防止发生侧偏或扭转。

进一步地，所述推钮与所述滑槽接触的部分和所述滑块上均设有凸块，所述滑槽对应所述凸块设有凹槽，所述凸块与所述凹槽滑动配合，由于凸块和凹槽的配合，使推钮、上推板和下推板无法脱离基座。

本实用新型的另一个目的在于提出一种采用上述探针组件的测试治具。

本实用新型的有益效果是：利用推钮和探针结合，使探针形成可伸出和收回的结构，可自由调节探针组件伸出的探针数量；推钮两侧分别设有上推板和下推板，可同时收入或伸出所有的探针，不用依次调节每个推钮。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本实用新型第一实施例的探针组件的结构示意图；

图2是图1中探针组件的剖视结构示意图；

图3是图2中推钮与滑槽配合的剖视结构示意图；

图4是图2中推板与滑槽配合的剖视结构示意图；

图中：1-基座，11-穿孔，12-滑槽，13-空腔，14-凹槽，2-探针，3-推钮，31-光滑层，32-凸块，4-上推板，41-滑块，5-下推板。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。附图中给出了本实用新型的若干实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1和图2，本实用新型的第一实施例提出一种探针组件，包括基座1、探针2和推钮3。

所述基座1内部设有空腔13，所述基座1上设有10个穿孔11，在其他实施例中，穿孔11的数量可以根据实际情况选择大于2的任意数量，所述探针2穿过所述穿孔11并与所述穿孔11间隙配合，所述探针2用于所述穿孔11内来回运动；

所述基座1上与所述穿孔11所在面垂直的一侧设有多个滑槽12，所述滑槽12与所述空腔13连通，所述推钮3设置于所述滑槽12内并与所述滑槽12滑动配合，所述推钮3伸入所述空腔13内，所述探针2与所述推钮3位于所述空腔13内的部分固定连接，所述推钮3用于带动所述探针2伸出和收入所述基座1内。

利用推钮3和探针2结合，使探针2形成可伸出和收回的结构，当需同时测试多个导电玻璃时，可伸出对应数量的探针2，当只需要测试单个导电玻璃时，只需伸出一根探针2即可，其余探针不会影响测试。

在本实施例中，单个推钮3连接一根探针2。

在其他实施例，所述推钮3同时连接多根探针2，则单个推钮3能同时控制多根探针2的伸出和收入。

所述推钮3与所述空腔13的内壁接触，防止推钮3在运动过程中发生扭曲。

在本实施例中，所述推钮3与所述空腔13内壁的接触面设有光滑层31，在其他实施例中，光滑层31也可以替换为滑轮(未图示)，降低推钮3与空腔13内壁的摩擦力，便于推钮3的调节。

所述推钮3与所述空腔13内壁的接触面较所述推钮3的自动端大，则增大了推钮3与空腔13内壁的接触面积，起到了支撑作用，降低了推钮3与空腔13内壁接触端扭曲的几率。

所述基座1上位于所述推钮3两侧分别设有上推板4和下推板5，所述上推板4与所述下推板5均与所述滑槽12滑动配合，所述上推板4和所述下推板5分别用于整体推动所有推钮3下移和上移，则可同时收入或伸出所有的探针2，不用依次调节每个推钮3。

所述上推板4和所述下推板5均通过滑块41与所述滑槽12滑动配合，在本实施例中，所述滑块41位于单个滑槽12内，在其他实施例中，任意数量的滑槽12内均可设置滑块41，当滑块41位于多个滑槽41内时能增加上推板4和下推板5的滑动强度，防止发生侧偏或扭转。

请参阅图3和图4，所述推钮3与所述滑槽12接触的部分和所述滑块41上均设有凸块32，所述滑槽12对应所述凸块32设有凹槽14，所述凸块32与所述凹槽14滑动配合，由于凸块32和凹槽14的配合，使推钮3、上推板4和下推板5无法脱离基座。

本实用新型的第二实施例提出一种测试治具，该测试治具至少包括第一实施例中的探针组件，采用该探针组件的测试治具能自由调节探针的数量。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种探针组件，其特征在于，包括基座、探针和推钮，所述基座内部设有空腔，所述基座上设有多个穿孔，所述探针穿过所述穿孔并与所述穿孔间隙配合，所述探针用于在所述穿孔内来回运动，所述基座上与所述穿孔所在面垂直的一侧设有多个滑槽，所述滑槽与所述空腔连通，所述推钮设置于所述滑槽内并与所述滑槽滑动配合，所述推钮伸入所述空腔内，所述探针与所述推钮位于所述空腔内的部分固定连接，所述推钮用于带动所述探针伸出和收入所述基座内。

2.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，单个所述推钮连接一根探针。

3.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，单个所述推钮同时连接多根探针。

4.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述推钮与所述空腔内壁接触。

5.根据权利要求4所述的探针组件，其特征在于，所述推钮与所述空腔内壁的接触面设有光滑层或滑轮。

6.根据权利要求4所述的探针组件，其特征在于，所述推钮与所述空腔内壁的接触面较所述推钮的自动端大。

7.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述基座上位于所述推钮两侧分别设有上推板和下推板，所述上推板与所述下推板均与所述滑槽滑动配合，所述上推板和所述下推板分别用于整体推动所有所述推钮下移和上移。

8.根据权利要求7所述的探针组件，其特征在于，所述上推板和所述下推板均通过滑块与所述滑槽滑动配合，所述滑块位于单个或多个所述滑槽内。

9.根据权利要求8所述的探针组件，其特征在于，所述推钮与所述滑槽接触的部分和所述滑块上均设有凸块，所述滑槽对应所述凸块设有凹槽，所述凸块与所述凹槽滑动配合。

10.一种测试治具，其特征在于，包括权利要求1至9任意一项所述的探针组件。