CN208506175U - 一种短路测试装置及短路测试电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种短路测试装置，包括晶闸管、驱动电路以及开关电源，所述晶闸管用于短接被测器件以进行短路测试；所述驱动电路连接至所述晶闸管的门极，所述驱动电路用于提供触发脉冲以导通所述晶闸管；所述开关电源连接至所述驱动电路，所述开关电源用于提供供电电源。本实用新型实施例通过上述设计，可以消除短路测试时的信号干扰，提高测试的准确性，确保短路电流方向，提高短路测试效率。本实用新型还公开了一种短路测试电路，其包括短路测试装置以及被测器件，所述短路测试装置与所述被测器件短接。

Description

一种短路测试装置及短路测试电路

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，尤其涉及一种短路测试装置及短路测试电路。

背景技术

随着科技与能源的发展，人们的日常活动绝大部分都要依赖电来进行，城市的运行均离不开电的支持。因此，在电力系统中，为保证电力的正常输送需要对电力设备进行各项测试。在变频器测试项目中，IGBT模块及单管、电流检测芯片、霍尔元件、驱动光耦等器件都涉及短路测试。现有的短路测试工装是通过控制接触器的吸合来将变频器输出的两相进行短接。然而，接触器吸合时产生的瞬时振动噪声，会对所测试的高频信号产生较大的干扰，严重影响了测试的准确性。且通过接触器工装进行短路测试时，如图1所示，短路电流方向如虚线所示，由于在短路时刻开关管状态的不确定性，导致短路电流通过桥臂方向不确定，使得短路并非发生在被测试的IGBT上，被测试的IGBT并没有驱动信号，这样的测试结果是无效的。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种短路测试装置及短路测试电路，旨在解决短路测试时的噪声影响以及短路电流不确定的问题。

本实用新型实施例提供了一种短路测试装置，其包括：晶闸管，用于短接被测器件以进行短路测试；驱动电路，连接至所述晶闸管的门极，用于提供触发脉冲以导通所述晶闸管；开关电源，连接至所述驱动电路，用于提供供电电源。

进一步地，所述驱动电路包括脉冲单元和转换单元，其中：所述脉冲单元的输入端与所述开关电源连接，所述脉冲单元的输出端与所述转换单元连接，所述脉冲单元用于提供触发脉冲。所述转换单元的输入端与所述脉冲单元连接，所述转换单元的输出端与所述晶闸管的门极连接，所述转换单元用于将所述脉冲单元提供的触发脉冲转换为触发电流以导通所述晶闸管。

进一步地，所述脉冲单元包括驱动芯片、第二电容、第三电容、第四电容、第五电阻、第八电阻以及第五二极管，其中，所述驱动芯片的电源端和复位端均连接至所述开关电源，所述驱动芯片的接地端接地，所述驱动芯片的电源端和接地端之间依次连接有所述第五电阻、所述第八电阻以及所述第三电容，所述驱动芯片的电源端和接地端之间还连接有所述第二电容，所述驱动芯片的放电端和所述第五二极管的阳极均连接至所述第五电阻和所述第八电阻之间，所述驱动芯片的高触发端和低触发端以及所述第五二极管的阴极均连接至所述第八电阻和所述第三电容之间，所述驱动芯片的控制端通过所述第四电容接地，所述驱动芯片的输出端与所述转换单元连接。

进一步地，所述驱动芯片为555定时器，其产生的触发脉冲为固定占空比的方波。

进一步地，所述转换单元包括：隔离变压器、MOS管、第一二极管、第二稳压二极管、第三二极管、第四二极管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第六电阻、第七电阻、第九电阻、以及第一电容，其中，所述隔离变压器的原边依次连接所述第四电阻、所述开关电源、所述第二稳压二极管以及所述第四二极管，所述第三电阻和所述第六电阻均与所述第四电阻并联，所述第二稳压二极管的阳极与所述开关电源连接，所述第二稳压二极管的阴极与所述第四二极管的阴极连接，所述第四二极管的阳极与所述原边连接，所述MOS管的漏极连接至所述第四二极管的阳极与所述原边之间，所述MOS管的栅极经所述第七电阻与所述脉冲单元连接，所述MOS管的源极接地，所述第九电阻的一端连接至所述第七电阻和所述MOS管的栅极之间，所述第九电阻的另一端接地，所述隔离变压器的副边依次连接有所述第一二极管、所述第一电阻以及所述第一电容，所述第一二极管的阳极与所述原边连接，所述第一二极管的阴极与所述第一电阻连接，所述隔离变压器的副边还连接有所述第三二极管，所述第三二极管的阴极连接至所述第一二极管的阴极和所述第一电阻之间，所述第三二极管的阳极与所述副边连接，所述隔离变压器的副边还分别连接有所述第二电阻和所述晶闸管，所述副边与所述晶闸管的门极和阴极连接。

进一步地，还包括散热组件，所述散热组件用于散发所述晶闸管的热量。

进一步地，所述散热组件包括散热器和散热风扇，所述晶闸管固定在所述散热器上，所述散热风扇连接至所述开关电源，用于吹向所述散热器的风道以对所述晶闸管进行散热。

进一步地，所述晶闸管的阳极和阴极与外接端子连接，所述外接端子用于短接所述被测器件。

进一步地，所述晶闸管的型号为MT400。

本实用新型实施例还提供了一种短路测试电路，其包括短路测试装置以及被测器件，所述短路测试装置为上述的所述短路测试装置，所述短路测试装置与所述被测器件短接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型通过驱动电路提供触发脉冲给晶闸管以导通晶闸管，晶闸管短接被测器件进行短路测试，可以消除短路测试时的信号干扰，提高测试的准确性，确保短路电流方向，提高短路测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是接触器工装短路测试的示意图；

图2是本实用新型实施例提供的短路测试装置的示意图；

图3是本实用新型实施例提供的短路测试装置的短路测试示意图；

图4是本实用新型实施例提供的短路测试装置中驱动电路的示意图；

图5是本实用新型实施例提供的短路测试装置中驱动电路的电路图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本实用新型说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本实用新型。如在本实用新型说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

还应当进一步理解，在本实用新型说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

参照图1至图5，本实施例提供的短路测试装置100包括：晶闸管130、驱动电路120以及开关电源110，所述晶闸管130用于短接被测器件以进行短路测试；所述驱动电路120连接至所述晶闸管130的门极，所述驱动电路120用于提供触发脉冲以导通所述晶闸管130；所述开关电源110连接至所述驱动电路120，所述开关电源110用于提供供电电源。通过上述设计，如图3所示，短路电流方向如虚线所示，由于所述晶闸管130的单向导通特性，从而确定了短路电流的方向，使得被测器件能够正常被测试，而不会发生短路电流不确定而导致测试结果无效的现象，从而提高了短路测试的效率。且通过所述晶闸管130来代替接触器，避免了接触器吸合时产生的振动噪声对信号的干扰，提高了测试的准确性。

在一实施例中，例如本实施例中，如图4所示，所述驱动电路120包括脉冲单元121和转换单元122，其中：所述脉冲单元121的输入端与所述开关电源110连接，所述脉冲单元121的输出端与所述转换单元122连接，所述脉冲单元121用于提供触发脉冲。所述转换单元122的输入端与所述脉冲单元121连接，所述转换单元122的输出端与所述晶闸管130的门极连接，所述转换单元122用于将所述脉冲单元121提供的触发脉冲转换为触发电流以导通所述晶闸管130。

在一实施例中，例如本实施例中，所述脉冲单元121包括驱动芯片U1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第五电阻R5、第八电阻R8以及第五二极管D5，其中，所述驱动芯片U1的电源端和复位端均连接至所述开关电源，所述驱动芯片U1的接地端接地，所述驱动芯片U1的电源端和接地端之间依次连接有所述第五电阻R5、所述第八电阻R8以及所述第三电容C3，所述驱动芯片U1的电源端和接地端之间还连接有所述第二电容C2，所述驱动芯片U1的放电端和所述第五二极管D5的阳极均连接至所述第五电阻R5和所述第八电阻R8之间，所述驱动芯片U1的高触发端和低触发端以及所述第五二极管D5的阴极均连接至所述第八电阻R8和所述第三电容C3之间，所述驱动芯片U1的控制端通过所述第四电容C4接地，所述驱动芯片U1的输出端与所述转换单元连接。其中，所述晶闸管130的型号为MT400，所述驱动芯片U1为555定时器，所述驱动芯片U1的1脚为接地端、2脚为低触发端，3脚为输出端，4脚为复位端，5脚为控制端，6脚为高触发端，7脚为放电端，8脚为电源端。所述驱动芯片U1与上述元器件构成了固定占空比的多谐振荡器，其产生的触发脉冲为固定占空比的方波。通过所述驱动芯片U1提供触发脉冲经所述转换单元122给到所述晶闸管130的门极，以保证所述晶闸管130导通的可靠性。

在一实施例中，例如本实施例中，所述转换单元包括：隔离变压器T1、MOS管Q1、第一二极管D1、第二稳压二极管D2、第三二极管D3、第四二极管D4、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第六电阻R6、第七电阻R7、第九电阻R9、以及第一电容C1，其中，所述隔离变压器T1的原边依次连接所述第四电阻R4、所述开关电源、所述第二稳压二极管D2以及所述第四二极管D4，所述第三电阻R3和所述第六电阻R6均与所述第四电阻R4并联，所述第二稳压二极管D2的阳极与所述开关电源连接，所述第二稳压二极管D2的阴极与所述第四二极管D4的阴极连接，所述第四二极管D4的阳极与所述原边连接，所述MOS管Q1的漏极连接至所述第四二极管D4的阳极与所述原边之间，所述MOS管Q1的栅极经所述第七电阻R7与所述脉冲单元连接，所述MOS管Q1的源极接地，所述第九电阻R9的一端连接至所述第七电阻R7和所述MOS管Q1的栅极之间，所述第九电阻R9的另一端接地，所述隔离变压器T1的副边依次连接有第一二极管D1、第一电阻R1以及第一电容C1，所述第一二极管D1的阳极与所述原边连接，所述第一二极管D1的阴极与所述第一电阻R1连接，所述隔离变压器T1的副边还连接有第三二极管D3，所述第三二极管D3的阴极连接至所述第一二极管D1的阴极和所述第一电阻R1之间，所述第三二极管D3的阳极与所述副边连接，所述隔离变压器T1的副边还分别连接有所述第二电阻R2和所述晶闸管130，所述副边与所述晶闸管130的门极和阴极连接。上述元器件构成了所述转换单元122，将所述脉冲单元121产生的触发脉冲即电压信号转换成电流信号形成所述晶闸管130的触发电流以导通所述晶闸管130。

在一实施例中，例如本实施例中，所述短路测试装置100还包括散热组件，由所述开关电源110为散热组件提供供电电源，所述散热组件用于散发所述晶闸管130的热量。具体地，所述散热组件包括散热器和散热风扇，所述晶闸管130固定在所述散热器上，所述散热风扇连接至所述开关电源110，用于吹向所述散热器的风道，以将固定在所述散热器上的所述晶闸管130的热量散去。

在一实施例中，例如本实施例中，所述晶闸管130的阳极和阴极与外接端子连接，所述外接端子用于短接所述被测器件，在短路测试时，通过所述外接端子引出导线短接所述被测器件进行短路测试。

本实用新型实施例所提供的短路测试装置100，通过驱动电路120提供触发脉冲给晶闸管130以导通晶闸管130，晶闸管130短接被测器件进行短路测试，可以消除短路测试时的信号干扰，提高测试的准确性，确保短路电流方向，提高短路测试效率。

本实用新型还提供一种短路测试电路，其包括短路测试装置100以及被测器件140，所述短路测试装置100为上述实施例中的所述短路测试装置100，所述短路测试装置100包括：晶闸管130、驱动电路120以及开关电源110，所述晶闸管130用于短接被测器件以进行短路测试；所述驱动电路120连接至所述晶闸管130的门极，所述驱动电路120用于提供触发脉冲以导通所述晶闸管130；所述开关电源110连接至所述驱动电路120，所述开关电源110用于提供供电电源。所述短路测试装置100与所述被测器件140短接。通过上述设计，如图3所示，由于晶闸管130的单向导通特性，从而确定了短路电流的方向，使得所述被测器件140能够正常被测试，而不会发生短路电流不确定而导致测试结果无效的现象，从而提高了短路测试的效率。且通过晶闸管130来代替接触器，避免了接触器吸合时产生的振动噪声对信号的干扰，提高了测试的准确性。

本实用新型实施例所提供的短路测试电路，通过驱动电路120提供触发脉冲给晶闸管130以导通晶闸管130，晶闸管130短接被测器件140进行短路测试，可以消除短路测试时的信号干扰，提高测试的准确性，确保短路电流方向，提高短路测试效率。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种短路测试装置，其特征在于：包括：

晶闸管，用于短接被测器件以进行短路测试；

驱动电路，连接至所述晶闸管的门极，用于提供触发脉冲以导通所述晶闸管；

开关电源，连接至所述驱动电路，用于提供供电电源。

2.根据权利要求1所述的短路测试装置，其特征在于，所述驱动电路包括脉冲单元和转换单元，其中：

所述脉冲单元的输入端与所述开关电源连接，所述脉冲单元的输出端与所述转换单元连接，所述脉冲单元用于提供触发脉冲,

所述转换单元的输入端与所述脉冲单元连接，所述转换单元的输出端与所述晶闸管的门极连接，所述转换单元用于将所述脉冲单元提供的触发脉冲转换为触发电流以导通所述晶闸管。

3.根据权利要求2所述的短路测试装置，其特征在于，所述脉冲单元包括驱动芯片、第二电容、第三电容、第四电容、第五电阻、第八电阻以及第五二极管，

其中，所述驱动芯片的电源端和复位端均连接至所述开关电源，所述驱动芯片的接地端接地，所述驱动芯片的电源端和接地端之间依次连接有所述第五电阻、所述第八电阻以及所述第三电容，所述驱动芯片的电源端和接地端之间还连接有所述第二电容，所述驱动芯片的放电端和所述第五二极管的阳极均连接至所述第五电阻和所述第八电阻之间，所述驱动芯片的高触发端和低触发端以及所述第五二极管的阴极均连接至所述第八电阻和所述第三电容之间，所述驱动芯片的控制端通过所述第四电容接地，所述驱动芯片的输出端与所述转换单元连接。

4.根据权利要求3所述的短路测试装置，其特征在于，所述驱动芯片为555定时器，其产生的触发脉冲为固定占空比的方波。

5.根据权利要求2所述的短路测试装置，其特征在于，所述转换单元包括：隔离变压器、MOS管、第一二极管、第二稳压二极管、第三二极管、第四二极管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第六电阻、第七电阻、第九电阻、以及第一电容，

其中，所述隔离变压器的原边依次连接所述第四电阻、所述开关电源、所述第二稳压二极管以及所述第四二极管，所述第三电阻和所述第六电阻均与所述第四电阻并联，所述第二稳压二极管的阳极与所述开关电源连接，所述第二稳压二极管的阴极与所述第四二极管的阴极连接，所述第四二极管的阳极与所述原边连接，所述MOS管的漏极连接至所述第四二极管的阳极与所述原边之间，所述MOS管的栅极经所述第七电阻与所述脉冲单元连接，所述MOS管的源极接地，所述第九电阻的一端连接至所述第七电阻和所述MOS管的栅极之间，所述第九电阻的另一端接地，所述隔离变压器的副边依次连接有所述第一二极管、所述第一电阻以及所述第一电容，所述第一二极管的阳极与所述原边连接，所述第一二极管的阴极与所述第一电阻连接，所述隔离变压器的副边还连接有所述第三二极管，所述第三二极管的阴极连接至所述第一二极管的阴极和所述第一电阻之间，所述第三二极管的阳极与所述副边连接，所述隔离变压器的副边还分别连接有所述第二电阻和所述晶闸管，所述副边与所述晶闸管的门极和阴极连接。

6.根据权利要求1所述的短路测试装置，其特征在于，还包括散热组件，所述散热组件用于散发所述晶闸管的热量。

7.根据权利要求6所述的短路测试装置，其特征在于，所述散热组件包括散热器和散热风扇，所述晶闸管固定在所述散热器上，所述散热风扇连接至所述开关电源，用于吹向所述散热器的风道以对所述晶闸管进行散热。

8.根据权利要求1所述的短路测试装置，其特征在于，所述晶闸管的阳极和阴极与外接端子连接，所述外接端子用于短接所述被测器件。

9.根据权利要求1所述的短路测试装置，其特征在于，所述晶闸管的型号为MT400。

10.一种短路测试电路，其特征在于，包括短路测试装置以及被测器件，所述短路测试装置为权利要求1～9任一项所述的短路测试装置，所述短路测试装置与所述被测器件短接。