CN208432693U - 一种射频芯片测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种射频芯片测试装置，包括：电源，为所述芯片测试装置和待测射频芯片提供电能；切换开关，与所述电源串联，用于在高电平与低电平之间进行切换；测试基座，与所述电源和所述切换开关串联，用于安装被测射频芯片；其中，所述切换开关为单刀双掷开关，以便于快速改变接入被测射频芯片中的电平状态。所述电源包括一选择开关以及串联连接的第一电源、第二电源，所述第一电源和第二电源之间设置有一引线，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。所述射频芯片测试装置还包括一信号指示灯，与所述电源和所述切换开关串联，用于指示被测射频芯片的工作状态。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子电路领域，尤其涉及一种测试天线用的射频芯片测试装置。
背景技术
随着手机支持的频段的逐步扩展，对手机天线能够支持的频段要求越来越宽，故现在很多天线采取了利用switch或者tunner相关芯片来扩展天线所支持的频段，从而导致天线调试过程中不可避免的需要对相关芯片提供其所需的电平信号来进行天线的性能调试。传统提供相应电平信号的方法是利用干电池供电，通过焊接等方法实现电路的通断以及高低电平信号之间的切换。但传统为芯片供电的电池加导线焊接的方式使得电池或电池盒体积较大，导线分布分散，很容易对所调试的天线的效率造成不必要的影响，从而导致测试的结果不准确，影响工作人员对天线状况的判断。
实用新型内容
本实用新型旨在为天线工程师在调试上述射频芯片方案过程中提供一种便捷且稳定测试装置，从而能够稳定快捷的对相关芯片进行控制且能够观察到目前的电平信号状态，以期提高天线工程师的工作效率。
为实现上述目的，本实用新型提供以下技术方案：
一种射频芯片测试装置，包括：
电源，为所述射频芯片测试装置和待测射频芯片提供电能；
切换开关，与所述电源串联，用于在高电平与低电平之间进行切换；
测试基座，与所述电源和所述切换开关串联，用于安装被测射频芯片；
其中，所述切换开关为单刀双掷开关，以便于快速切换接入被测射频芯片的电平状态。
在一些具体实施例中，所述电源包括一选择开关以及串联连接的第一电源、第二电源，所述第一电源和第二电源之间设置有一引线，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。
在一些具体实施例中，所述电源包括一第一指示灯，并联设置在第一电源或第二电源两侧，用于显示接入的电源情况。
在一些具体实施例中，所述第一指示灯串联一分压电阻，用于使所述指示灯处于额定电压状态。
在一些具体实施例中，所述电源包括一选择开关以及并联连接的第一电源和第二电源，所述第一电源和第二电源电压不等，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。
在一些具体实施例中，所述电源包括一第二指示灯，与所述第一电源或第二电源串联连接，用于显示接入的电源情况。
在一些具体实施例中，所述指示灯串联一分压电阻，用于使所述指示灯处于额定电压状态。
在一些具体实施例中，所述射频芯片测试装置还包括一信号指示灯，与所述电源和所述切换开关串联，用于指示被测射频芯片的工作状态。
在一些具体实施例中，所述电源为纽扣电池，所述纽扣电池安装在一电源座内，所述电源座与所述检测电路连接。
在一些具体实施例中，所述连接电路集成设置在一PCB电路板上。
通过采用上述技术方案，使其与现有技术相比具有以下有益效果：
(1)本实用新型机构简单，仅包括电源、单刀双掷开关以及一用于安装被测射频芯片的基座，通过波动单刀双掷开关可快速切换被测射频芯片的电平高低。
(2)本方案可集成设置在PCB电路板上，避免导线分布分散，对所调试的天线的效率造成不必要的影响，从而导致测试的结果不准确，影响工作人员对天线状况的判断。
(3)本方案采用纽扣电池，配合纽扣电池基座连接在测试电路中，该系统利用贴片纽扣电池座，所用器件均选择贴片的方式，使得产品一面为平面，且尽可能控制该系统的面积，使得其可以直接贴合在所调试天线的一些不影响天线性能的区域，减少芯片供电系统对天线性能的影响。
(4)电平切换开关使用单刀双掷开关，使得电平信号可以直接再高低电平之间切换，提升系统稳定性以及操作的便捷性，提升工程师调试天线的工作效率
(5)鉴于不同芯片可能存在不同的电压需求，设置了高低电压切换开关，可以提供两种常用的电压以满足多种芯片的调试需求；利用LED灯直观的显示每个触点当下的电压信号，使工程师直观的观察到目前芯片的电平信号，进一步提升工作效率。
附图说明
图1为本实用新型电路图；
图2为电源切换部分结构电路示意图；
图3为多个检测电路切换电平部分电路示意图；
具体实施方式
下面结合具体实施例对本实用新型进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本实用新型，但不以任何形式限制本实用新型。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变化和改进。这些都属于本实用新型的保护范围。
本实用新型提供了一种射频芯片测试装置，包括：电源，为所述射频芯片测试装置和待测射频芯片提供电能；切换开关，与所述电源串联，用于在高电平与低电平之间进行切换；测试基座，与所述电源和所述切换开关串联，用于安装被测射频芯片；其中，所述切换开关为单刀双掷开关，以便于快速切换接入被测射频芯片的电平高低状态。
具体地，请参阅图1至图3，串联设置的第一电源Bat1、第二电源Bat0和单刀双掷开关S‐Main，在第二电源Bat0的两端并联一LED灯和一分压电阻R0，其中，第一电源Bat1、第二电源Bat0可以为相同电源也可以为不同电源，本实施例以两个3V的电源为例，当连接6V接线端时，两个电源处于串联状态，其施加在被测射频芯片两端的电压为6V，第一电源Bat1为LED灯提供电能使其处于点亮状态。
在第一电源Bat1和第二电源Bat0之间有一3V引线端子，当接通该端子时，第一电源Bat1不工作，施加在被测射频芯片两端的电压即为第二电源Bat0的电压，由于LED灯与第二电源Bat0并联，此时LED灯不工作。
根据LED灯的明暗状态判断接入测试电路中的电源电压，能够准确快速的识别电源状态，避免误接烧坏被测射频芯片。
在3V端子和6V之间设置有一单刀双掷开关，可随时选择接入检测电路中的电源电压，能够适用多种射频芯片规格。
进一步的，切换开关为单刀双掷开关，该开关与两个端子连接，两个端子分别是接入检测电路的电源电压，以及地线端子，当单刀双掷开关连接电源电压时，射频芯片处于高电平状态，当连接到地线端子时射频芯片处于低电平状态，通过多次往复切换，工作人员能够对检测到的数据判断射频芯片的情况。
进一步的，切换开关串联一信号指示灯，该指示灯用于指示被测射频芯片的工作状况。
在另一实施例中，所述电源包括一选择开关以及并联连接的第一电源和第二电源，且第一电源和第二电源电压不相等，选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。所述电源包括一第二指示灯，与所述第一电源或第二电源串联连接，用于显示接入的电源情况。所述指示灯串联一分压电阻，用于使所述指示灯处于额定电压状态。
其他内容与上一实施例完全相同，在此不再赘述。
通过采用上述技术方案，使其与现有技术相比具有以下有益效果：
本实用新型机构简单，仅包括电源、单刀双掷开关以及一用于安装被测射频芯片的基座，通过波动单刀双掷开关可快速切换被测射频芯片的电平高低。
本方案可集成设置在PCB电路板上，避免导线分布分散，对所调试的天线的效率造成不必要的影响，从而导致测试的结果不准确，影响工作人员对天线状况的判断。
本方案采用纽扣电池，配合纽扣电池基座连接在测试电路中，该系统利用贴片纽扣电池座，所用器件均选择贴片的方式，使得产品一面为平面，且尽可能控制该系统的面积，使得其可以直接贴合在所调试天线的一些不影响天线性能的区域，减少芯片供电系统对天线性能的影响。
电平切换开关使用单刀双掷开关，使得电平信号可以直接再高低电平之间切换，提升系统稳定性以及操作的便捷性，提升工程师调试天线的工作效率
鉴于不同芯片可能存在不同的电压需求，设置了高低电压切换开关，可以提供两种常用的电压以满足多种芯片的调试需求；利用LED灯直观的显示每个触点当下的电压信号，使工程师直观的观察到目前芯片的电平信号，进一步提升工作效率。
上述中的射频芯片可以是switch或者tunner芯片，但不局限于这两种，本方案采用可调节的电源切换开关目的就是能够适配多种射频芯片，因此凡是电压满足调节的，均可采用本装置进行测试。
以上结合附图对本实用新型的实施方式作了详细说明，但是本实用新型并不限于上述实施方式。即使对本实用新型作出各种变化，倘若这些变化属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则仍落入在本实用新型的保护范围之中。
Claims (10)
1.一种射频芯片测试装置，其特征在于，包括：
电源，为所述射频芯片测试装置和待测射频芯片提供电能；
切换开关，与所述电源串联，用于在高电平与低电平之间进行切换；
测试基座，与所述电源和所述切换开关串联，用于安装被测射频芯片；
其中，所述切换开关为单刀双掷开关，以便于快速切换接入被测射频芯片的电平状态。
2.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述电源包括一选择开关以及串联连接的第一电源、第二电源，所述第一电源和第二电源之间设置有一引线，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。
3.根据权利要求2所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述电源包括一第一指示灯，并联设置在第一电源或第二电源两侧，用于显示接入的电源情况。
4.根据权利要求3所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述第一指示灯串联一分压电阻，用于使所述指示灯处于额定电压状态。
5.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述电源包括一选择开关以及并联连接的第一电源和第二电源，所述第一电源和第二电源电压不等，所述选择开关为单刀双掷开关，用于选择接入测试电路的电源。
6.根据权利要求5所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述电源包括一第二指示灯，与所述第一电源或第二电源串联连接，用于显示接入的电源情况。
7.根据权利要求6所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述指示灯串联一分压电阻，用于使所述指示灯处于额定电压状态。
8.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述射频芯片测试装置还包括一信号指示灯，与所述电源和所述切换开关串联，用于指示被测射频芯片的工作状态。
9.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述电源为纽扣电池，所述纽扣电池安装在一电源座内，所述电源座与所述检测电路连接。
10.根据权利要求1‐9之一所述的一种射频芯片测试装置，其特征在于，所述连接电路集成设置在一PCB电路板上。
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| CN201821050241.7U CN208432693U (zh) | 2018-07-03 | 2018-07-03 | 一种射频芯片测试装置 |
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Publications (1)
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| CN115856588A (zh) * | 2023-02-22 | 2023-03-28 | 长鑫存储技术有限公司 | 芯片测试板及测试方法 |
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