CN208367096U - 一种电缆阻抗检测电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电缆阻抗检测电路，包括芯片IC1，所述芯片IC1的引脚1连接有电容C的一端、二极管D1的负极和电阻R2的一端，所述芯片IC1的引脚2连接有电容C的另一端、二极管D1的正极和电阻R3的一端，所述芯片IC1的引脚3连接有电阻R1的一端和输入端Vi，所述电阻R3的另一端连接有滑动变阻器Rp的一端，所述电阻R2的另一端连接有二极管D2的正极，所述二极管D2的负极连接有电阻R4的一端和芯片IC2的引脚4，所述芯片IC2的引脚5连接有滑动变阻器Rp的滑动端，所述滑动变阻器Rp的另一端连接有电阻R5的一端。本实用新型结构简单，经济实用，通过滑动变阻器Rp和芯片IC1，方便对电缆的阻抗进行检测。

Description

一种电缆阻抗检测电路

技术领域

本实用新型涉及检测电路技术领域，尤其涉及一种电缆阻抗检测电路。

背景技术

通常是由几根或几组导线(每组至少两根)绞合而成的类似绳索的电缆，每组导线之间相互绝缘，并常围绕着一根中心扭成，整个外面包有高度绝缘的覆盖层，电缆具有内通电，外绝缘的特征，对交流电所起的阻碍作用叫做阻抗，其中电容在电路中对交流电所起的阻碍作用称为容抗,电感在电路中对交流电所起的阻碍作用称为感抗,电容和电感在电路中对交流电引起的阻碍作用总称为电抗，目前的电缆的阻抗不便于进行检测，因此我们提出了一种电缆阻抗检测电路用于解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种电缆阻抗检测电路。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种电缆阻抗检测电路，包括芯片IC1，所述芯片IC1的引脚1连接有电容C的一端、二极管D1的负极和电阻R2的一端，所述芯片IC1的引脚2连接有电容C的另一端、二极管D1的正极和电阻R3的一端，所述芯片IC1的引脚3连接有电阻R1的一端和输入端Vi，所述电阻R3的另一端连接有滑动变阻器Rp的一端，所述电阻R2的另一端连接有二极管D2的正极；

所述二极管D2的负极连接有电阻R4的一端和芯片IC2的引脚4，所述芯片IC2的引脚5连接有滑动变阻器Rp的滑动端，所述滑动变阻器Rp的另一端连接有电阻R5的一端，所述芯片IC2的引脚6连接有电阻R5的另一端和输出端Vo。

优选的，所述输入端Vi的输入电压为交流220伏。

优选的，所述电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4和电阻R5的阻值依次为1KΩ、1KΩ、800Ω、600Ω和400Ω。

优选的，所述电阻R1的另一端接地，电阻R4的另一端接地。

优选的，所述二极管D1和二极管D2的型号均为D71N4003。

优选的，所述电容C的容值为220uF。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、二极管D1、二极管D2、芯片IC1、芯片IC2、电容C和滑动变阻器Rp相配合，电阻R1对输入端Vi的电压进行分压，电阻R4对流向芯片IC2引脚4的电压进行分压，芯片IC1的复位端引脚1为低电平，此时电容C耦合，使得芯片IC2的内阻较大，通过调节滑动变阻器Rp，使得芯片IC1的复位端引脚1为高电平，从而对电缆的阻抗进行检测。

本实用新型结构简单，经济实用，通过滑动变阻器Rp和芯片IC1，方便对电缆的阻抗进行检测。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种电缆阻抗检测电路的电路示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1，一种电缆阻抗检测电路，包括芯片IC1，芯片IC1的引脚1连接有电容C的一端、二极管D1的负极和电阻R2的一端，芯片IC1的引脚2连接有电容C的另一端、二极管D1的正极和电阻R3的一端，芯片IC1的引脚3连接有电阻R1的一端和输入端Vi，电阻R3的另一端连接有滑动变阻器Rp的一端，电阻R2的另一端连接有二极管D2的正极；二极管D2的负极连接有电阻R4的一端和芯片IC2的引脚4，芯片IC2的引脚5连接有滑动变阻器Rp的滑动端，滑动变阻器Rp的另一端连接有电阻R5的一端，芯片IC2的引脚6连接有电阻R5的另一端和输出端Vo，通过电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、二极管D1、二极管D2、芯片IC1、芯片IC2、电容C和滑动变阻器Rp相配合，电阻R1对输入端Vi的电压进行分压，电阻R4对流向芯片IC2引脚4的电压进行分压，芯片IC1的复位端引脚1为低电平，此时电容C耦合，使得芯片IC2的内阻较大，通过调节滑动变阻器Rp，使得芯片IC1的复位端引脚1为高电平，从而对电缆的阻抗进行检测，本实用新型结构简单，经济实用，通过滑动变阻器Rp和芯片IC1，方便对电缆的阻抗进行检测。

本实用新型中，输入端Vi的输入电压为交流220伏，电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4和电阻R5的阻值依次为1KΩ、1KΩ、800Ω、600Ω和400Ω，电阻R1的另一端接地，电阻R4的另一端接地，二极管D1和二极管D2的型号均为D71N4003，电容C的容值为220uF，通过电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、二极管D1、二极管D2、芯片IC1、芯片IC2、电容C和滑动变阻器Rp相配合，电阻R1对输入端Vi的电压进行分压，电阻R4对流向芯片IC2引脚4的电压进行分压，芯片IC1的复位端引脚1为低电平，此时电容C耦合，使得芯片IC2的内阻较大，通过调节滑动变阻器Rp，使得芯片IC1的复位端引脚1为高电平，从而对电缆的阻抗进行检测，本实用新型结构简单，经济实用，通过滑动变阻器Rp和芯片IC1，方便对电缆的阻抗进行检测。

工作原理：使用中，电阻R1对输入端Vi的电压进行分压，电阻R4对流向芯片IC2引脚4的电压进行分压，芯片IC1的复位端引脚1为低电平，此时电容C耦合，使得芯片IC2的内阻较大，通过调节滑动变阻器Rp，使得芯片IC1的复位端引脚1为高电平，从而对电缆的阻抗进行检测。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种电缆阻抗检测电路，包括芯片IC1，其特征在于，所述芯片IC1的引脚1连接有电容C的一端、二极管D1的负极和电阻R2的一端，所述芯片IC1的引脚2连接有电容C的另一端、二极管D1的正极和电阻R3的一端，所述芯片IC1的引脚3连接有电阻R1的一端和输入端Vi，所述电阻R3的另一端连接有滑动变阻器Rp的一端，所述电阻R2的另一端连接有二极管D2的正极；

所述二极管D2的负极连接有电阻R4的一端和芯片IC2的引脚4，所述芯片IC2的引脚5连接有滑动变阻器Rp的滑动端，所述滑动变阻器Rp的另一端连接有电阻R5的一端，所述芯片IC2的引脚6连接有电阻R5的另一端和输出端Vo。

2.根据权利要求1所述的一种电缆阻抗检测电路，其特征在于，所述输入端Vi的输入电压为交流220伏。

3.根据权利要求1所述的一种电缆阻抗检测电路，其特征在于，所述电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4和电阻R5的阻值依次为1KΩ、1KΩ、800Ω、600Ω和400Ω。

4.根据权利要求1所述的一种电缆阻抗检测电路，其特征在于，所述电阻R1的另一端接地，电阻R4的另一端接地。

5.根据权利要求1所述的一种电缆阻抗检测电路，其特征在于，所述二极管D1和二极管D2的型号均为D71N4003。

6.根据权利要求1所述的一种电缆阻抗检测电路，其特征在于，所述电容C的容值为220uF。