CN208350894U - 晶振测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种晶振测试装置，属于晶振测试技术领域。该晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，控制模块与电源连接，多个测试板设置在恒温箱中，主控板、电源和频率计置于恒温箱外，每个测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多个晶振安装座，在测试时将晶振放置在晶振安装座中，通过控制模块控制译码器、第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选择器，使测试板上的晶振被通电，并通过频率计进行检测，由于只有测试板在恒温箱中，主控板、电源、频率计均置于恒温箱外，因此避免温度对主控板、电源、频率计的影响，有利于提高测试的准确性。

Description

晶振测试装置

技术领域

本实用新型涉及晶振测试技术领域，特别涉及一种晶振测试装置。

背景技术

晶振即晶体振荡器，是各种通信系统中最基础的元器件，也是系统中的基准时钟，其性能直接影响系统的稳定性、频率特性等

晶振在投入使用前，需要进行测试，检测晶振的频率，确保晶振的性能满足要求。

晶振通常通过晶振测试装置进行测试，为了提高测试的准确性，通常在恒温箱中进行，但是由于整个晶振测试装置都放置在恒温箱中，会对晶振测试装置造成一定的影响，从而影响到测试的准确性。

实用新型内容

为了提高晶振测试的准确性，本实用新型实施例提供了一种晶振测试装置。所述技术方案如下：

本实用新型实施例提供了一种晶振测试装置，所述晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，所述主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，所述控制模块与所述电源连接，所述多个测试板设置在所述恒温箱中，所述主控板、所述电源和所述频率计置于所述恒温箱外，所述多个测试板的结构相同，每个所述测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多组晶振安装座，每组晶振安装座均包括多个晶振安装座，每个所述晶振安装座均具有用于与晶振的供电端、信号输出端、接地端分别对应相连的供电端子、信号输出端子和接地端子，所述电源通过多个继电器分别与所述多个测试板上的所述晶振安装座的供电端子连接，同一所述测试板上的所述晶振安装座的供电端子与同一所述继电器的输出端相连，所述控制模块与所述译码器的输入端连接，所述译码器的多个输出端与所述多个继电器的控制端一一对应连接，每个所述测试板上，所述多个第三多路选择器的多个分支端分别与一组晶振安装座中的所述多个晶振安装座的信号输出端子一一对应连接，所述多个第三多路选择器的主干端分别与所述第二多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述多个测试板上的所述第二多路选择器的主干端分别与所述第一多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述第一多路选择器的主干端与所述频率计连接，所述控制模块分别与所述第一多路选择器、所述第二多路选择器和所述第三多路选择器的控制端连接。

可选地，所述晶振测试装置还包括D/A转换器，所述晶振安装座还包括用于与晶振的压控端连接的压控端子，所述D/A转换器的输入端与所述控制模块连接，所述D/A转换器的输出端与所述压控端子连接。

可选地，所述恒温箱的箱壁上设置有线缆通孔。

可选地，所述晶振安装座包括底座和压板，所述底座上设置有晶振安装槽，所述晶振安装槽的槽底设置有多个通孔，所述供电端子、所述信号输出端子和所述接地端子分别插装在所述多个通孔中，所述压板与所述底座可拆卸连接，且所述压板位于所述晶振安装槽处。

可选地，所述供电端子、所述信号输出端子和所述接地端子与所述晶振安装槽的槽底均连接有弹簧。

可选地，所述晶振测试装置还包括数据存储模块，所述数据存储模块与所述频率计连接。

可选地，所述译码器为三八译码器。

可选地，所述第一多路选择器、所述第二多路选择器、所述第三多路选择器均为8选1选择器。

可选地，所述控制模块包括stc89c51单片机。

可选地，所述频率计为53230A频率计。

本实用新型实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：通过在主控板上设置控制模块、译码器、第一多路选择器，在测试板上设置第二多路选择器、第三多路选择器和晶振安装座，在测试时将晶振放置在晶振安装座中，控制模块通过译码器控制与一个测试板相连的继电器导通，使得该测试板上的晶振被通电，同时控制模块控制第一多路选择器，使该测试板上的第二多路选择器的主干端通过第一多路选择器与频率计导通，控制模块控制该测试板上的第二多路选择器选择性导通，使该测试板上的一个第三多路选择器与第二多路选择器导通，控制模块控制该第三多路选择器选择性导通，这样使一个晶振的信号输出端能够连通到频率计，并通过频率计进行检测，控制模块通过对译码器、第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选择器进行控制，可以对多个测试板上的多个晶振进行逐个测试，由于只有测试板被放置在恒温箱中，主控板、电源、频率计均置于恒温箱外，因此可以避免温度对主控板、电源、频率计的影响，有利于提高测试的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的一种晶振测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的一种晶振安装座的结构示意图；

图3是本实用新型实施例提供的一种恒温箱的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。

图1是本实用新型实施例提供的一种晶振测试装置的结构示意图。如图1所示，该晶振测试装置包括主控板10、电源20、恒温箱30、频率计40和多个测试板50(为了便于说明，图1中仅示出了1个测试板50)。

主控板10上设置有控制模块11、译码器12、第一多路选择器13，控制模块11与电源连接20。多个测试板50设置在恒温箱30中，主控板10、电源20和频率计40置于恒温箱30外。

多个测试板50的结构相同，每个测试板50上均设置有一个第二多路选择器51、多个第三多路选择器52(为了便于说明，图1中仅示出了1个第三多路选择器52)和多组晶振安装座，每组晶振安装座均包括多个晶振安装座。

图2是本实用新型实施例提供的一种晶振安装座的结构示意图，如图2所示，每个晶振安装座53均具有用于与晶振1的供电端、信号输出端、接地端分别对应相连的供电端子533、信号输出端子534和接地端子535。

电源20通过多个继电器分别与多个测试板50上的晶振安装座53的供电端子533连接，同一测试板50上的晶振安装座53的供电端子533与同一继电器的输出端相连。控制模块11与译码器12的输入端连接，译码器12的多个输出端与多个继电器的控制端一一对应连接。

每个测试板50上，多个第三多路选择器52的多个分支端分别与一组晶振安装座53中的多个晶振安装座53的信号输出端子534一一对应连接，多个第三多路选择器52的主干端分别与第二多路选择器51的多个分支端一一对应连接，多个测试板50上的第二多路选择器51的主干端分别与第一多路选择器13的多个分支端一一对应连接，第一多路选择器13的主干端与频率计40连接。控制模块11分别与第一多路选择器13、第二多路选择器51和第三多路选择器52的控制端连接，控制模块11被配置为控制第一多路选择器13、第二多路选择器51和第三多路选择器52选择性导通。

为了便于说明，图1中仅示出了与译码器12的输出端相连的一个继电器，每个测试板50上仅示出了与第二多路选择器51的一个分支端连接的第三多路选择器52。

本实用新型实施例提供通过在主控板上设置控制模块、译码器、第一多路选择器，在测试板上设置第二多路选择器、第三多路选择器和晶振安装座，在测试时将晶振放置在晶振安装座中，控制模块通过译码器控制与一个测试板相连的继电器导通，使得该测试板上的晶振被通电，同时控制模块控制第一多路选择器，使该测试板上的第二多路选择器的主干端通过第一多路选择器与频率计导通，控制模块控制该测试板上的第二多路选择器选择性导通，使该测试板上的一个第三多路选择器与第二多路选择器导通，控制模块控制该第三多路选择器选择性导通，这样使一个晶振的信号输出端能够连接到频率计，并通过频率计进行检测，控制模块通过对译码器、第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选择器进行控制，可以对多个测试板上的晶振进行逐个测试，由于只有测试板被放置在恒温箱中，主控板、电源、频率计均置于恒温箱外，因此可以避免温度对主控板、电源、频率计的影响，有利于提高测试的准确性。

具体实现时，晶振测试装置还可以包括数据存储模块，数据存储模块与频率计40连接，由于晶振1通常是进行批量测试，测试的晶振1数量很多，通过设置数据存储模块，可以将每个晶振1的测试结果进行存储，方便对晶振1进行管理。

数据存储模块可以是计算机60的存储器，计算机60内还可以设置程序对批量测试中的晶振的类型、供电电压、晶振标称值、参考压控电压分别进行记录，同时录入频率计的测试结果，便于工作人员查看和管理。计算机60可以根据晶振的类型、供电电压、晶振标称值、参考压控电压等数据以及频率计的测试结果生成电子档以进行存储，便于工作人员调用。

此外，计算机60还可以与控制模块11连接，以通过计算机对控制模块11进行控制，下达测试指令等。计算机60与控制模块11之间可以通过异步传输标准接口(RS-232)连接。

可选地，控制模块11可以包括单片机，单片机11结构简单，易于控制。本实施例中，控制模块11可以包括stc89c51单片机。stc89c51单片机可以采用12M无源晶振结合stc89c51单片机内部的振荡器为单片机提供时钟信号。

可选地，电源20的输出电压可以包括3.3V、5V和12V三种，实现时可以通过控制模块11采用电磁继电器进行切换，以选择合适的电压输出到晶振1，满足不同的测试要求。

优选地，频率计40可以为53230A频率计，53230A频率计可以进行无间隔采样，即当前数据采样结束时刻即是下一个数据采样开始时刻，从而可以实现频率信号频率稳定度的精确测量，有利于提高测试的准确性。53230A频率计可以通过GPIB(英文：General-PurposeInterface Bus，中文：通用接口总线)接口转USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口与计算机连接。

本实施例中，译码器12为三八译码器，三八译码器是一种常见的译码器，每个测试板50分别对应设置一个继电器，通过三八译码器可以将对应8个测试板50设置的8个继电器选择性地导通，使得该测试板上的晶振与电源20连接，例如在需要对甲测试板上的晶振进行测试时，则三八译码器可以控制对应甲测试板设置的继电器导通。实现简单，制作成本低。

进一步地，第一多路选择器13、第二多路选择器51、第三多路选择器52均为8选1选择器。该晶振测试装置共有8个测试板50、8个第二多路选择器51和64个第三多路选择器52，每个测试板50上设置有一个第二多路选择器51和8个第三多路选择器52，每个8选1选择器具有一个主干端和8个分支端，第一多路选择器13可以在控制模块11的控制下将一个第二多路选择器51的主干端与频率计40连通，而第二多路选择器51则可以在控制模块11的控制下将该第二多路选择器51的一个分支端与主干端连通，从而使频率计40与连接在该分支端的第三多路选择器52的主干端连通，第三多路选择器52可以在控制模块11的控制下，使连接在该第三多路选择器52的一个分支端上的一个晶振1与第三多路选择器52的主干端连通，从而使该晶振1的信号输出端被连接至频率计40，可以被频率计40采集该晶振1的输出信号以进行测试，控制该第三多路选择器52的不同的分支端与主干端导通，就可以对该第三多路选择器52的分支端连接的8个晶振1进行逐个测试，改变第二多路选择器51导通的分支端，就可以对同一测试板50上与不同的第三多路选择器52连接的晶振1进行测试，通过译码器12控制不同的继电器导通，可以对不同的测试板50上的晶振1供电，第一多路选择器13可以将多个测试板50中的一个测试板50上的晶振连接至频率计40。

可选地，该晶振测试装置还可以包括D/A转换器70，晶振安装座53还包括用于与晶振1的压控端连接的压控端子536，D/A转换器70的输入端与控制模块11连接，D/A转换器70的输出端与压控端子536连接。在设置D/A转换器70和压控端子536后，控制模块11可以通过D/A转换器70向晶振1的压控端输入电压，从而可以对压控晶振进行测试。

为了便于说明，图1中仅示出了D/A转换器70与一个晶振1的连接。

如图2所示，晶振安装座53可以包括底座531和压板532，底座531上设置有晶振安装槽531a，晶振安装槽531a的槽底设置有多个通孔531b，供电端子533、信号输出端子534和接地端子535分别插装在多个通孔531b中，压板532与底座531可拆卸连接，且压板532位于晶振安装槽531a处。底座531设置在测试板50上，在将晶振1安装到晶振安装槽531a内后，压板532可以压住晶振1，使晶振1的供电端、信号输出端和接地端可以分别与供电端子533、信号输出端子534和接地端子535接触，方便进行测试。

进一步地，供电端子533、信号输出端子534和接地端子535与晶振安装槽531a的槽底可以均连接有弹簧537，这样在将压板532安装到底座531上后，供电端子533、信号输出端子534和接地端子535可以在弹簧537的弹力下与晶振1保持接触。

实现时，压板532可以通过销钉5321与底座531连接，利用销钉5321插到底座531上后产生的摩擦力对压板532进行固定，拔去销钉5321后就可以移除压板532，操作简单。

图3是本实用新型实施例提供的一种恒温箱的结构示意图，如图3所示，恒温箱30的箱壁上可以设置有线缆通孔30a，连接测试板50与主控板10的线缆可以通过线缆通孔30a穿过恒温箱30的箱壁，方便线缆的布置。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种晶振测试装置，其特征在于，所述晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，所述主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，所述控制模块与所述电源连接，所述多个测试板设置在所述恒温箱中，所述主控板、所述电源和所述频率计置于所述恒温箱外，所述多个测试板的结构相同，每个所述测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多组晶振安装座，每组晶振安装座均包括多个晶振安装座，每个所述晶振安装座均具有用于与晶振的供电端、信号输出端、接地端分别对应相连的供电端子、信号输出端子和接地端子，所述电源通过多个继电器分别与所述多个测试板上的所述晶振安装座的供电端子连接，同一所述测试板上的所述晶振安装座的供电端子与同一所述继电器的输出端相连，所述控制模块与所述译码器的输入端连接，所述译码器的多个输出端与所述多个继电器的控制端一一对应连接，每个所述测试板上，所述多个第三多路选择器的多个分支端分别与一组晶振安装座中的所述多个晶振安装座的信号输出端子一一对应连接，所述多个第三多路选择器的主干端分别与所述第二多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述多个测试板上的所述第二多路选择器的主干端分别与所述第一多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述第一多路选择器的主干端与所述频率计连接，所述控制模块分别与所述第一多路选择器、所述第二多路选择器和所述第三多路选择器的控制端连接。

2.根据权利要求1所述的晶振测试装置，其特征在于，所述晶振测试装置还包括D/A转换器，所述晶振安装座还包括用于与晶振的压控端连接的压控端子，所述D/A转换器的输入端与所述控制模块连接，所述D/A转换器的输出端与所述压控端子连接。

3.根据权利要求1所述的晶振测试装置，其特征在于，所述恒温箱的箱壁上设置有线缆通孔。

4.根据权利要求1所述的晶振测试装置，其特征在于，所述晶振安装座包括底座和压板，所述底座上设置有晶振安装槽，所述晶振安装槽的槽底设置有多个通孔，所述供电端子、所述信号输出端子和所述接地端子分别插装在所述多个通孔中，所述压板与所述底座可拆卸连接，且所述压板位于所述晶振安装槽处。

5.根据权利要求4所述的晶振测试装置，其特征在于，所述供电端子、所述信号输出端子和所述接地端子与所述晶振安装槽的槽底均连接有弹簧。

6.根据权利要求1～5任一项所述的晶振测试装置，其特征在于，所述晶振测试装置还包括数据存储模块，所述数据存储模块与所述频率计连接。

7.根据权利要求1～5任一项所述的晶振测试装置，其特征在于，所述译码器为三八译码器。

8.根据权利要求7所述的晶振测试装置，其特征在于，所述第一多路选择器、所述第二多路选择器、所述第三多路选择器均为8选1选择器。

9.根据权利要求1～5任一项所述的晶振测试装置，其特征在于，所述控制模块包括stc89c51单片机。

10.根据权利要求1～5任一项所述的晶振测试装置，其特征在于，所述频率计为53230A频率计。