CN208209508U - 三相四线输入保护电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种三相四线输入保护电路，包括串联于相线中的电子开关，驱动电子开关导通或关断的驱动电路，以及检测相线是否缺相或者零线是否断路的检测电路，其中所述电子开关为三个，分别串联于A、B、C三路给设备供电的相线中，所述驱动电路为三路，每路驱动电路的输出连接对应的电子开关的控制端，所述检测电路为三路，三路检测电路输入端的一端分别连接三路相线A、B、C的一端，另一端都连接到零线N，三路检测电路的输出端依次串联后再与三路驱动电路的输入端依次串联于电源VCC与地之间。本实用新型检测电路结构简单，成本低，检测可靠，三路相线的监测电路的输出串联连接，任何一路缺相，整体无输出，电路工作可靠。
Description
技术领域
本实用新型属于电子电路技术领域，具体涉及一种三相四线输入保护电路。
背景技术
在某些需要采用三相四线方式供电的设备上，如果出现缺相或者零线断路会造成设备损坏或者烧毁。目前，市场上用于的缺相保护设备大多是针对电动机的缺相保护设备，并且电路结构复杂，成本高，不适于三相四线方式供电的设备使用。
实用新型内容
本实用新型需要解决的技术问题是提供一种缺相或者零线断路时直接切断电源供给的三相四线输入保护电路。
为解决上述问题，本实用新型所采取的技术方案是：
一种三相四线输入保护电路，包括串联于相线中的电子开关，驱动电子开关导通或关断的驱动电路，以及检测相线是否缺相或者零线是否断路的检测电路，其中所述电子开关为三个，分别串联于A、B、C三路给设备供电的相线中，所述驱动电路为三路，每路驱动电路的输出连接对应的电子开关的控制端，所述检测电路为三路，三路检测电路输入端的一端分别连接三路相线A、B、C的一端，另一端都连接到零线N，三路检测电路的输出端依次串联后再与三路驱动电路的输入端依次串联于电源VCC与地之间。
进一步的，所述三路检测电路的电路结构相同，其中一路检测电路包括由整流桥A1、电容C1组成的一路整流滤波电路以及电阻R1、光耦IC1组成的一路光耦驱动电路，整流滤波电路的输出经电阻R1限流接入光耦IC1的输入端。
进一步的，所述三路驱动电路的电路结构相同，其中一路包括双向可控硅驱动芯片D1。
进一步的，所述电子开关为双向可控硅。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于：
本实用新型利用光耦检测相线是否缺相，检测电路结构简单，成本低，检测可靠，三路相线的光耦输出串联连接驱动双向可控硅驱动芯片，任何一路缺相，整体无输出，电路工作可靠，三路相线的双向可控硅驱动芯片输入端依次串联，任何一个驱动芯片出现问题，整体电路都无输出，整体电路稳定可靠。
附图说明
图1是本实用新型电路框图；
图2是本实用新型电路原理图。
具体实施方式
下面结合附图对实用新型做进一步详细描述：
如图1所示，本实用新型包括串联于相线中的电子开关，驱动电子开关导通或关断的驱动电路，以及检测相线是否缺相或者零线是否断路的检测电路，其中所述电子开关为三个，分别串联于A、B、C三路给设备供电的相线中，所述驱动电路为三路，每路驱动电路的输出连接对应的电子开关的控制端，所述检测电路为三路，三路检测电路输入端的一端分别连接三路相线A、B、C的一端，另一端都连接到零线N，三路检测电路的输出端依次串联后再与三路驱动电路的输入端依次串联于电源VCC与地之间。
如图2所示，本实用新型的三路检测电路的电路结构相同，其中A相检测电路包括由整流桥A1、电容C1组成的整流滤波电路以及电阻R1、光耦IC1组成的一路光耦驱动电路，整流滤波电路的输出经电阻R1限流接入光耦IC1的输入端。同理，B相检测电路包括由整流桥A2、电容C2组成的整流滤波电路以及电阻R2、光耦IC2组成的一路光耦驱动电路，整流滤波电路的输出经电阻R2限流接入光耦IC2的输入端。C相检测电路包括由整流桥A3、电容C3组成的整流滤波电路以及电阻R3、光耦IC3组成的一路光耦驱动电路，整流滤波电路的输出经电阻R3限流接入光耦IC3的输入端。
三路驱动电路的电路结构也相同，均是由双向可控硅驱动芯片组成，双向可控硅驱动芯片的输出端一端接双向可控硅的控制端，双向可控硅驱动芯片的输出端另一端接电源端(A相、B相或C相)。其中A相驱动电路的双向可控硅驱动芯片为D1，B相驱动电路的双向可控硅驱动芯片为D2，C相驱动电路的双向可控硅驱动芯片为D3；双向可控硅驱动芯片采用MOC3063。
本实用新型的供电主回路的每路相线中串联的电子开关为双向可控硅，其中A相中串联的双向可控硅为Q1，B相中串联的双向可控硅为Q2，C相中串联的双向可控硅为Q3。
工作原理：
当三相四线输入时，三个整流桥A1、A2、A3分别对三路相线进行整流，经电容滤波后，分别使光耦IC1,IC2,IC3初级导通发光，光耦次级导通，进而双向可控硅驱动芯片D1、D2、D3导通，控制双向可控硅Q1、Q2、Q3导通，电源正常输出至后级用电设备。
当三相四线输入产生缺相或者零线断路时，三只光耦IC1、IC2、IC3其中一只或者全部不导通，继而所有的双向可控硅驱动芯片D1、D2、D3关断，控制双向可控硅Q1、Q2、Q3关断，电源无法正常输出至后级用电设备，以此起到保护功能。
Claims (4)
1.一种三相四线输入保护电路，其特征在于：包括串联于相线中的电子开关，驱动电子开关导通或关断的驱动电路，以及检测相线是否缺相或者零线是否断路的检测电路，其中所述电子开关为三个，分别串联于A、B、C三路给设备供电的相线中，所述驱动电路为三路，每路驱动电路的输出连接对应的电子开关的控制端，所述检测电路为三路，三路检测电路输入端的一端分别连接三路相线A、B、C的一端，另一端都连接到零线N，三路检测电路的输出端依次串联后再与三路驱动电路的输入端依次串联于电源VCC与地之间。
2.根据权利要求1所述的三相四线输入保护电路，其特征在于：所述三路检测电路的电路结构相同，其中一路检测电路包括由整流桥A1、电容C1组成的一路整流滤波电路以及电阻R1、光耦IC1组成的一路光耦驱动电路，整流滤波电路的输出经电阻R1限流接入光耦IC1的输入端。
3.根据权利要求1或2所述的三相四线输入保护电路，其特征在于所述三路驱动电路的电路结构相同，其中一路包括双向可控硅驱动芯片D1。
4.根据权利要求3所述的三相四线输入保护电路，其特征在于所述电子开关为双向可控硅。
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2018
- 2018-04-28 CN CN201820637904.9U patent/CN208209508U/zh active Active
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