CN207866222U - 轨道粗糙度测试仪 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种轨道粗糙度测试仪，其包括壳体、至少两个定位轮、至少两个侧边轮、第一位移计、第二位移计、第三位移计、编码组件和采集卡；定位轮固定设置在壳体的一侧，侧边轮设置在壳体的另一侧；所第一至第三位移计、编码组件和采集卡均设置在壳体的内部；第一至第三位移计和编码组件均与采集卡连接；第一至第三位移计均沿壳体的宽度方向活动设置，第一和第二位移计位于同一条直线上，第三位移计位于另一条与第一和第二位移计所在直线平行的直线上。本申请通过设置能够单独调节的第一至第三位移计，每次能够同时测量光带内的三条线，能够大大地提高测试效率。本申请通过设置定位轮和侧边轮，能够与轨道的侧壁接触更牢靠，提高其运行平稳性。

Description

轨道粗糙度测试仪

技术领域

本申请属于测试设备技术领域，具体涉及一种轨道粗糙度测试仪。

背景技术

随着我国铁路越来越发达，钢轨出现波磨的情况也越来越多。目前，采用现有技术的类似设备只能在钢轨上进行单点测试，当钢轨的波磨光带宽度大于20mm时，需要在波磨光带内以参考面为中心等间距寻找两点，要测试三条线的波磨。测试同一段轨道要进行三次测量，测试效率非常低。

实用新型内容

为至少在一定程度上克服相关技术中存在的问题，本申请提供了一种轨道粗糙度测试仪。

根据本申请实施例的第一方面，提供了一种轨道粗糙度测试仪，其包括壳体、至少两个定位轮、至少两个侧边轮、第一位移计、第二位移计、第三位移计、编码组件和采集卡；所述定位轮固定设置在所述壳体的一侧，所述侧边轮设置在所述壳体的另一侧；所述第一至第三位移计、编码组件和采集卡均设置在所述壳体的内部；所述第一至第三位移计和编码组件均与所述采集卡连接；所述第一至第三位移计均沿所述壳体的宽度方向活动设置。

进一步地，所述侧边轮通过第一调节组件设置在所述壳体的侧壁上；所述第一调节组件包括第一导轨、第一滑块、侧边轮固定板、侧边轮固定块、L型推板、弹簧和手柄；所述第一导轨位于所述壳体的内部，并沿所述壳体的宽度方向设置；所述第一滑块滑动设置在所述第一导轨上；所述侧边轮固定板的一端固定在所述第一滑块上，另一端穿过所述壳体的左侧壁后通过所述侧边轮固定块与所述侧边轮固定连接；所述L型推板中的底板固定在所述侧边轮固定板上，所述L型推板中的侧板与所述弹簧的一端固定连接，所述弹簧的另一端与所述壳体的左侧壁接触；所述手柄穿过所述壳体的右侧壁后与所述L型推板中的侧板连接。

更进一步地，所述第一导轨的一端与所述壳体的左侧壁固定连接，其另一端与所述壳体的右侧壁固定连接；或者所述第一导轨直接固定在所述壳体的底面上。

进一步地，所述第一和第二位移计均通过第二调节组件设置在所述壳体的侧壁上；所述第二调节组件包括第二导轨、第二滑块、第三滑块、第一位移计固定块、第二位移计固定块、第一丝杆、第二丝杆、第一丝杆旋钮和第二丝杆旋钮；所述第二导轨、第二滑块、第三滑块、第一位移计固定块和第二位移计固定块均设置在所述壳体的内部；所述第二导轨沿所述壳体的宽度方向固定设置在所述壳体的底面上；所述第二和第三滑块均滑动设置在所述第二导轨上；

所述第二滑块上固定设置有所述第一位移计固定块，所述第一位移计沿竖直方向固定在所述第一位移计固定块上，所述第一位移计端部的探头依次穿过所述第一位移计固定块和壳体的底部；所述第一丝杆旋钮设置在所述壳体左侧壁的外侧，其与所述第一丝杆的一端连接，所述第一丝杆的另一端穿过所述第一位移计固定块；

所述第三滑块上固定设置有所述第二位移计固定块，所述第二位移计沿竖直方向固定在所述第二位移计固定块上，所述第二位移计端部的探头依次穿过所述第二位移计固定块和壳体的底部；所述第二丝杆旋钮设置在所述壳体右侧壁的外侧，其与所述第二丝杆的一端连接，所述第二丝杆的另一端穿过所述第二位移计固定块；

所述第一丝杆的另一端与所述第二丝杆的另一端之间存在间隔。

进一步地，所述第三位移计均通过第三调节组件设置在所述壳体的侧壁上；所述第三调节组件包括第三导轨、第四滑块、第三位移计固定块、第三丝杆和第三丝杆旋钮；所述第三导轨、第四滑块和第三位移计固定块均设置在所述壳体的内部；所述第三导轨沿所述壳体的宽度方向固定设置在所述壳体的底面上；所述第四滑块滑动设置在所述第三导轨上；

所述第四滑块上固定设置有所述第三位移计固定块，所述第三位移计沿竖直方向固定在所述第三位移计固定块上，所述第三位移计端部的探头依次穿过所述第三位移计固定块和壳体的底部；所述第三丝杆旋钮设置在所述壳体侧壁的外侧，其与所述第三丝杆的一端连接，所述第三丝杆的另一端穿过所述第三位移计固定块。

进一步地，所述编码组件包括编码器和滚动轮，所述滚动轮与编码器的中心轴连接，所述编码器与采集卡连接；所述滚动轮的滚动方向与轨道的延伸方向一致；所述壳体底部对应所述滚动轮的位置开设有第一条形孔。

更进一步地，所述壳体的顶面上对应所述滚动轮顶部的位置设置有第一保护罩。

进一步地，所述壳体的顶面上设置有至少一个把手。

进一步地，所述壳体的侧壁上开设有若干第二条形孔。

进一步地，所述壳体的顶面上对应所述第一至第三位移计顶部区域的位置设置有第二保护罩。

本申请的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本申请通过设置第一至第三位移计，每次能够同时测量光带内的三条线，能够大大地提高测试效率。另外，本申请通过设置定位轮和侧边轮，并能够沿壳体的宽度方向调节侧边轮，能够使本申请轨道粗糙度测试仪与轨道的侧壁接触更牢靠，提高轨道粗糙度测试仪运行的平稳性。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1是本申请一实施例提供的一种轨道粗糙度测试仪的立体结构示意图。

图2是本申请一实施例提供的一种轨道粗糙度测试仪的主视图。

图3是本申请一实施例提供的一种轨道粗糙度测试仪的左视图。

图4是本申请一实施例提供的一种轨道粗糙度测试仪的仰视图。

图5是本申请一实施例提供的一种轨道粗糙度测试仪中第一调节组件的结构示意图。

图6是本申请一实施例提供的一种轨道粗糙度测试仪中第二调节组件的结构示意图。

图7是本申请一实施例提供的一种轨道粗糙度测试仪中第三调节组件的结构示意图。

图中：1-壳体；2-定位轮；3-侧边轮；4-第一位移计；5-第二位移计；6-第三位移计；7-第一调节组件；71-第一导轨；72-第一滑块；73-侧边轮固定板；74-侧边轮固定块；75-L型推板；76-弹簧；77-手柄；8-第二调节组件；81-第二导轨；82-第二滑块；83-第三滑块；84-第一位移计固定块；85-第二位移计固定块；86-第一丝杆；87-第二丝杆；88-第一丝杆旋钮；89-第二丝杆旋钮；9-第三调节组件；91-第三导轨；92-第四滑块；93-第三位移计固定块；94-第三丝杆；95-第三丝杆旋钮；101-第一条形孔；102-第一保护罩；103-把手；104-第二条形孔；105-第二保护罩。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

如图1～4所示，本申请轨道粗糙度测试仪包括壳体1、至少两个定位轮2、至少两个侧边轮3、第一位移计4、第二位移计5、第三位移计6、编码组件和采集卡。其中，定位轮2固定设置在壳体1的一侧，侧边轮3设置在壳体1的另一侧。第一位移计4、第二位移计5、第三位移计6、编码组件和采集卡均设置在壳体1的内部。第一位移计4、第二位移计5、第三位移计6和编码组件均与采集卡连接。第一位移计4、第二位移计5和第三位移计6均沿壳体1的宽度方向活动设置。

在本实施例中，第一位移计4、第二位移计5和第三位移计6的设置方式可以具体为：第一位移计4和第二位移计5位于同一条直线上，第三位移计6位于另一条与第一位移计4和第二位移计5所在直线平行的直线上。

第一位移计4、第二位移计5和第三位移计6的设置方式还可以具体为：第一位移计4所在的直线、第二位移计5所在的直线以及第三位移计6所在的直线两两平行。

本申请轨道粗糙度测试仪使用时，将轨道粗糙度测试仪放置在一条轨道上，轨道粗糙度测试仪的长度方向与轨道的延伸方向一致。两个定位轮2与轨道的一侧壁接触，沿轨道粗糙度测试仪的宽度方向调节侧边轮3，使侧边轮3与轨道的另一侧壁接触。轨道粗糙度测试仪在定位轮2和侧边轮3的共同作用下能够在在轨道上滑动。在滑动的过程中，第一至第三位移计6对轨道竖直方向上的位移进行测量，并将测量到的位移数据发送给采集卡。编码组件对轨道粗糙度测试仪在轨道延伸方向上滑动的距离进行测量，并将测量到的距离数据发送给采集卡。采集卡将采集到的数据传输至外部电脑。外部电脑根据接收到的数据对轨道的波磨情况进行分析判断。

上述实施例中，侧边轮3通过第一调节组件7设置在壳体1的侧壁上。如图5所示，第一调节组件7包括第一导轨71、第一滑块72、侧边轮固定板73、侧边轮固定块74、L型推板75、弹簧76和手柄77。其中，第一导轨71位于壳体1的内部，并沿壳体1的宽度方向设置。第一滑块72滑动设置在第一导轨71上。侧边轮固定板73的一端固定在第一滑块72上，另一端穿过壳体1的左侧壁后通过侧边轮固定块74与侧边轮3固定连接。L型推板75中的底板通过螺丝固定在侧边轮固定板73上，L型推板75中的侧板与弹簧76的一端固定连接，弹簧76的另一端与壳体1的左侧壁接触。手柄77穿过壳体1的右侧壁后与L型推板75中的侧板连接。

通过第一调节组件7沿壳体1的宽度方向调节侧边轮3，使侧边轮3与轨道的侧壁接触。

具体地，第一导轨71的一端与壳体1的左侧壁固定连接，其另一端与壳体1的右侧壁固定连接。第一导轨71还可以直接固定在壳体1的底面上。

具体地，手柄77采用螺丝梅花手柄。壳体1采用优质铝合金型材制成。第一位移计4、第二位移计5和第三位移计6均采用高精度位移计，其测量精度为1um，其测量范围为12mm。

上述实施例中，第一位移计4和第二位移计5均通过第二调节组件8设置在壳体1的侧壁上。如图6所示，第二调节组件8包括第二导轨81、第二滑块82、第三滑块83、第一位移计固定块84、第二位移计固定块85、第一丝杆86、第二丝杆87、第一丝杆旋钮88和第二丝杆旋钮89。其中，第二导轨81、第二滑块82、第三滑块83、第一位移计固定块84和第二位移计固定块85均设置在壳体1的内部。第二导轨81沿壳体1的宽度方向固定设置在壳体1的底面上。第二滑块82和第三滑块83均滑动设置在第二导轨81上。

第二滑块82上固定设置有第一位移计固定块84，第一位移计4沿竖直方向固定在第一位移计固定块84上，第一位移计4端部的探头依次穿过第一位移计固定块84和壳体1的底部，对轨道顶面的波磨情况进行测量。第一丝杆旋钮88设置在壳体1左侧壁的外侧，其与第一丝杆86的一端连接，第一丝杆86的另一端穿过第一位移计固定块84。旋转第一丝杆旋钮88，第一位移计4在第一丝杆86、第一位移计固定块84和第二滑块82的带动下，在第二导轨81上滑动。

第三滑块83上固定设置有第二位移计固定块85，第二位移计5沿竖直方向固定在第二位移计固定块85上，第二位移计5端部的探头依次穿过第二位移计固定块85和壳体1的底部，对轨道顶面的波磨情况进行测量。第二丝杆旋钮89设置在壳体1右侧壁的外侧，其与第二丝杆87的一端连接，第二丝杆87的另一端穿过第二位移计固定块85。旋转第二丝杆旋钮89，第二位移计5在第二丝杆87、第二位移计固定块85和第三滑块83的带动下，在第二导轨81上滑动。

第一丝杆86的另一端与第二丝杆87的另一端之间存在间隔。

上述实施例中，第三位移计6均通过第三调节组件9设置在壳体1的侧壁上。如图7所示，第三调节组件9包括第三导轨91、第四滑块92、第三位移计固定块93、第三丝杆94和第三丝杆旋钮95。其中，第三导轨91、第四滑块92和第三位移计固定块93均设置在壳体1的内部。第三导轨91沿壳体1的宽度方向固定设置在壳体1的底面上。第四滑块92滑动设置在第三导轨91上。

第四滑块92上固定设置有第三位移计固定块93，第三位移计6沿竖直方向固定在第三位移计固定块93上，第三位移计6端部的探头依次穿过第三位移计固定块93和壳体1的底部，对轨道顶面的波磨情况进行测量。第三丝杆旋钮95设置在壳体1侧壁的外侧，其与第三丝杆94的一端连接，第三丝杆94的另一端穿过第三位移计固定块93。旋转第三丝杆旋钮95，第三位移计6在第三丝杆94、第三位移计固定块93和第四滑块92的带动下，在第三导轨91上滑动。

进一步地，第一导轨71、第二导轨81和第三导轨91均两两平行。

上述实施例中，编码组件包括编码器和滚动轮，滚动轮与编码器的中心轴连接，编码器与采集卡连接。滚动轮的滚动方向与轨道的延伸方向一致，如图4所示，壳体1底部对应滚动轮的位置开设有第一条形孔101，便于滚动轮的底部穿过第一条形孔101后与轨道的顶面接触。采集卡中预设滚动轮的周长，滚动轮在轨道上滚动一周，编码器相应地向采集卡发送n个脉冲，采集卡根据最终接收到的脉冲数计算滚动轮在轨道延伸方向上的行进距离，这个距离即轨道粗糙度测试仪在轨道延伸方向上滑动的距离。

进一步地，如图2所示，壳体1的顶面上对应滚动轮顶部的位置设置有第一保护罩102。第一保护罩102用于对滚动轮进行保护。

上述实施例中，为便于在轨道上推动轨道粗糙度测试仪，如图1～3所示，壳体1的顶面上设置有至少一个把手103。具体地，在壳体1顶面的前端和后端分别设置一把手103，这样可以在轨道上沿两个相对的方向推动轨道粗糙度测试仪，方便用户使用。

上述实施例中，如图1和2所示，壳体1的侧壁上开设有若干第二条形孔104，第二条形孔104的设置便于对壳体1内部的各组件进行观察和操作，方便用户对轨道粗糙度测试仪进行维护。

上述实施例中，如图1和2所示，壳体1的顶面上对应第一位移计4顶部、第二位移计5顶部和第三位移计6的顶部区域的位置设置有第二保护罩105。第二保护罩105用于对第一位移计4、第二位移计5和第三位移计6以及各位移计与采集卡的连线进行保护。

采用本申请轨道粗糙度测试仪对轨道的波磨情况进行测试时，能够单独调节第一位移计4、第二位移计5和第三位移计6，每次可以同时测量光带内的三条线，能够大大地提高测试效率。另外，通过设置定位轮2和侧边轮3，并能够沿壳体1的宽度方向调节侧边轮3，能够使本申请轨道粗糙度测试仪与轨道的侧壁接触更牢靠，提高轨道粗糙度测试仪运行的平稳性。

可以理解的是，上述各实施例中相同或相似部分可以相互参考，在一些实施例中未详细说明的内容可以参见其他实施例中相同或相似的内容。

需要说明的是，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指至少两个。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种轨道粗糙度测试仪，其特征在于，它包括壳体、至少两个定位轮、至少两个侧边轮、第一位移计、第二位移计、第三位移计、编码组件和采集卡；所述定位轮固定设置在所述壳体的一侧，所述侧边轮设置在所述壳体的另一侧；所述第一至第三位移计、编码组件和采集卡均设置在所述壳体的内部；所述第一至第三位移计和编码组件均与所述采集卡连接；所述第一至第三位移计均沿所述壳体的宽度方向活动设置。

2.如权利要求1所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述侧边轮通过第一调节组件设置在所述壳体的侧壁上；所述第一调节组件包括第一导轨、第一滑块、侧边轮固定板、侧边轮固定块、L型推板、弹簧和手柄；所述第一导轨位于所述壳体的内部，并沿所述壳体的宽度方向设置；所述第一滑块滑动设置在所述第一导轨上；所述侧边轮固定板的一端固定在所述第一滑块上，另一端穿过所述壳体的左侧壁后通过所述侧边轮固定块与所述侧边轮固定连接；所述L型推板中的底板固定在所述侧边轮固定板上，所述L型推板中的侧板与所述弹簧的一端固定连接，所述弹簧的另一端与所述壳体的左侧壁接触；所述手柄穿过所述壳体的右侧壁后与所述L型推板中的侧板连接。

3.如权利要求2所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述第一导轨的一端与所述壳体的左侧壁固定连接，其另一端与所述壳体的右侧壁固定连接；或者所述第一导轨直接固定在所述壳体的底面上。

4.如权利要求1所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述第一和第二位移计均通过第二调节组件设置在所述壳体的侧壁上；所述第二调节组件包括第二导轨、第二滑块、第三滑块、第一位移计固定块、第二位移计固定块、第一丝杆、第二丝杆、第一丝杆旋钮和第二丝杆旋钮；所述第二导轨、第二滑块、第三滑块、第一位移计固定块和第二位移计固定块均设置在所述壳体的内部；所述第二导轨沿所述壳体的宽度方向固定设置在所述壳体的底面上；所述第二和第三滑块均滑动设置在所述第二导轨上；

所述第二滑块上固定设置有所述第一位移计固定块，所述第一位移计沿竖直方向固定在所述第一位移计固定块上，所述第一位移计端部的探头依次穿过所述第一位移计固定块和壳体的底部；所述第一丝杆旋钮设置在所述壳体左侧壁的外侧，其与所述第一丝杆的一端连接，所述第一丝杆的另一端穿过所述第一位移计固定块；

所述第三滑块上固定设置有所述第二位移计固定块，所述第二位移计沿竖直方向固定在所述第二位移计固定块上，所述第二位移计端部的探头依次穿过所述第二位移计固定块和壳体的底部；所述第二丝杆旋钮设置在所述壳体右侧壁的外侧，其与所述第二丝杆的一端连接，所述第二丝杆的另一端穿过所述第二位移计固定块；

所述第一丝杆的另一端与所述第二丝杆的另一端之间存在间隔。

5.如权利要求1所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述第三位移计均通过第三调节组件设置在所述壳体的侧壁上；所述第三调节组件包括第三导轨、第四滑块、第三位移计固定块、第三丝杆和第三丝杆旋钮；所述第三导轨、第四滑块和第三位移计固定块均设置在所述壳体的内部；所述第三导轨沿所述壳体的宽度方向固定设置在所述壳体的底面上；所述第四滑块滑动设置在所述第三导轨上；

所述第四滑块上固定设置有所述第三位移计固定块，所述第三位移计沿竖直方向固定在所述第三位移计固定块上，所述第三位移计端部的探头依次穿过所述第三位移计固定块和壳体的底部；所述第三丝杆旋钮设置在所述壳体侧壁的外侧，其与所述第三丝杆的一端连接，所述第三丝杆的另一端穿过所述第三位移计固定块。

6.如权利要求1或2或3或4或5所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述编码组件包括编码器和滚动轮，所述滚动轮与编码器的中心轴连接，所述编码器与采集卡连接；所述滚动轮的滚动方向与轨道的延伸方向一致；所述壳体底部对应所述滚动轮的位置开设有第一条形孔。

7.如权利要求6所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述壳体的顶面上对应所述滚动轮顶部的位置设置有第一保护罩。

8.如权利要求1或2或3或4或5所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述壳体的顶面上设置有至少一个把手。

9.如权利要求1或2或3或4或5所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述壳体的侧壁上开设有若干第二条形孔。

10.如权利要求1或2或3或4或5所述的轨道粗糙度测试仪，其特征在于，所述壳体的顶面上对应所述第一至第三位移计顶部区域的位置设置有第二保护罩。