CN207730832U - 熔融玻璃电导率测试用电导池及熔融玻璃电导率测试仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于玻璃测试技术领域，具体公开了一种适用于对各种粘度条件熔融玻璃进行测试且测试精度较高的熔融玻璃电导率测试用电导池，及包括上述电导池的熔融玻璃电导率测试仪。该熔融玻璃电导率测试用电导池通过在坩埚中设置具有环状平台的绝缘套筒，并将电极片设置在环状平台上，利用与上电极棒电连接的电极片及与下电极棒电连接的坩埚作为电导池的接触电极进行测试，几乎不受熔融玻璃粘度的影响，适用于各种粘度条件的熔融玻璃；同时，能够减少阻抗干扰，从而可提高测量精度；而且，在绝缘套筒的内壁上设有溢流槽，其能够对熔融玻璃进行引流，保证了检测过程中熔融玻璃液的高度L和检测面积A不发生变化，进一步提高了测量的精度。

Description

熔融玻璃电导率测试用电导池及熔融玻璃电导率测试仪

技术领域

本实用新型属于玻璃测试技术领域，具体涉及一种熔融玻璃电导率测试用电导池及熔融玻璃电导率测试仪。

背景技术

目前，熔融玻璃电导率的测试主要是利用仪器在低温下进行的，通常测试温度不高于1000℃。现有的熔融玻璃电导率测试仪通常包括样品台、设置在样品台上的刚玉坩埚、设置在刚玉坩埚内的电极，以及炉体、炉温控制系统、数据信号连接系统等。测试过程中，将玻璃样品直接放入刚玉坩埚内，首先需要将待测玻璃在高温条件下融化，然后才能将电极插入熔融的玻璃液面中，只有在玻璃的粘度非常低的条件下才能够将电极插入熔融的玻璃液面。然而，有些玻璃在高温条件下熔融状态的粘度也非常高，这就容易导致电极在插入过程中产生变形，从而使电导常数发生改变，电导率测试误差较大，并且测试范围较小，只能在很高的温度附近进行测试，极大地限制了电导率测试的范围。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种适用于对各种粘度条件熔融玻璃进行测试且测试精度较高的熔融玻璃电导率测试用电导池。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：熔融玻璃电导率测试用电导池，包括坩埚、上电极棒和下电极棒；还包括绝缘套筒和电极片；所述坩埚由导电材料制成，所述下电极棒与坩埚电连接；所述绝缘套筒设置在坩埚内，绝缘套筒的内壁上设有环状平台和溢流槽，所述环状平台下侧的绝缘套筒内壁与坩埚的内底面围成样品槽；所述溢流槽的进入口位于环状平台下侧的绝缘套筒内壁上，溢流槽的流出口位于绝缘套筒上端的开口处；所述电极片设置在环状平台上，并与上电极棒电连接。

进一步的是，所述坩埚包括下埚体和设于下埚体上侧的上埚体，所述下埚体的外径小于上埚体的外径。

进一步的是，所述坩埚由铂金制成。

进一步的是，所述上电极棒、下电极棒和电极片均由铂金制成。

进一步的是，所述绝缘套筒竖直设置在坩埚的内底面上，且绝缘套筒的上端高于坩埚的上端。

进一步的是，所述溢流槽沿绝缘套筒的轴向设置，溢流槽的数量为两条，且两条溢流槽对称设置。

进一步的是，所述绝缘套筒由刚玉制成。

本实用新型还提供了一种熔融玻璃电导率测试仪，其包括任意一种上述的熔融玻璃电导率测试用电导池。

进一步的是，还包括样品台，所述样品台上设有安装孔，所述坩埚的下部设置在安装孔中。

进一步的是，所述样品台由氧化铝陶瓷制成。

本实用新型的有益效果是：通过在坩埚中设置具有环状平台的绝缘套筒，并将电极片设置在环状平台上，利用与上电极棒电连接的电极片及与下电极棒电连接的坩埚作为电导池的接触电极，无需将电极棒插入熔融玻璃液中，几乎不受熔融玻璃粘度的影响，适用于对各种粘度条件熔融玻璃进行测试；同时，所测的电极片与坩埚底面之间的熔融玻璃的电阻为纯电阻，避免了因电极与熔融玻璃直接接触、界面上产生极化现象等原因引起的阻抗干扰，从而可提高测量精度；而且，在绝缘套筒的内壁上设有溢流槽，其能够对膨胀上涌的熔融玻璃进行引流，保证了检测过程中熔融玻璃液的高度L和检测面积A不发生变化，进一步提高了测量的精度。

附图说明

图1是本实用新型中熔融玻璃电导率测试用电导池的实施结构示意图；

图中标记为：样品台100、安装孔110、坩埚200、下埚体210、上埚体220、上电极棒310、下电极棒320、绝缘套筒400、环状平台410、样品槽411、溢流槽420、电极片500。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

如图1所示，熔融玻璃电导率测试用电导池，包括坩埚200、电极棒310和下电极棒320；还包括绝缘套筒400和电极片500；所述坩埚200由导电材料制成，所述下电极棒320与坩埚200电连接；所述绝缘套筒400设置在坩埚200内，绝缘套筒400的内壁上设有环状平台410和溢流槽420，所述环状平台410下侧的绝缘套筒400内壁与坩埚200的内底面围成样品槽411；所述溢流槽420的进入口位于环状平台410下侧的绝缘套筒400内壁上，溢流槽420的流出口位于绝缘套筒400上端的开口处；所述电极片500设置在环状平台410上，并与上电极棒310电连接。

该熔融玻璃电导率测试用电导池通过坩埚200、绝缘套筒400和电极片500形成对封闭系统，利用其进行测试时，将一定量的碎玻璃置于液置于样品槽411中并加热得到熔融玻璃，通过与上电极棒310电连接的电极片500及与下电极棒320电连接的坩埚200作为熔融玻璃电导率测试的接触电极，几乎不受熔融玻璃粘度的影响，而且所测的电极片500与坩埚200底面之间的熔融玻璃的电阻为纯电阻，避免了因电极与熔融玻璃直接接触、界面上产生极化现象等原因引起的阻抗干扰；同时，在绝缘套筒400的内壁上设有溢流槽420，溢流槽420能够对上涌的熔融玻璃进行引流，保证了检测过程中处于样品槽411内的熔融玻璃液的高度L和检测面积A不发生变化，保证测量精度。

其中，坩埚200既作为盛液容器又作为电极的一部分，其通常采用耐高温且耐腐蚀的导电材料制作，优选由铂金制成；坩埚200需要具有足够的厚度，以防止高温变形；为了减小电阻并方便安装连接，通常将下电极棒320设置在坩埚200的外底面上；坩埚200的结构可以为多种，优选为图1所示的结构，即坩埚200包括下埚体210和设于下埚体210上侧的上埚体220，所述下埚体210的外径小于上埚体220的外径；下埚体210的直径较小，这样既能够定位坩埚200，又能够稳定放置坩埚200；上埚体220的直径较大，这样可以方便利用坩埚钳夹取坩埚200，也方便坩埚钳在高温时夹取其内部的绝缘套筒400。

绝缘套筒400通常由耐高温、耐腐蚀且绝缘的材料制成，优选采用刚玉制成，特别是高温刚玉；绝缘套筒400的结构可以为多种，优选为横截面呈圆环形的结构；优选的，将缘套筒400竖直设置在坩埚200的内底面上，且绝缘套筒400的上端高于坩埚200的上端。为了方便导流并提高导流效果，将溢流槽420沿绝缘套筒400的轴向设置；当熔融玻璃的液面升高或向上翻涌时，熔融玻璃就顺着溢流槽420排出，保证检测过程中熔融玻璃的高度L和检测面积A不变，即电导常数不变；同时，这种设计可避免在电极片500上开孔溢流，方便电极片500的清洗。溢流槽420通常可设置两条以上，且多条溢流槽22通常是沿绝缘筒20的内周均匀分布设置的；优选的，溢流槽420的数量为两条，且两条溢流槽420对称设置。

电极片500通常由耐高温、抗腐蚀且导电的材料制成；优选的，所述上电极棒310、下电极棒320和电极片500均由铂金制成。上电极棒310和下电极棒320由于需要分别与电极片500和坩埚200电连接，在高温下使用一段时间很容易粘在一起，使用完毕后又需要将上电极棒310和下电极棒320分离分别对坩埚200和电极片500进行清洗，因此上电极棒310和下电极棒320需要具有足够的强度，避免分离过程中被拉断。为了进一步保证测试结果的准确性，在电极片500上通常施加有一定的压力，以保证电极片500不至于漂浮在熔融玻璃上；通常，电极片500受自身重力和上电极棒310的压力沉降到环形台阶410上。

熔融玻璃电导率测试仪，其包括任意一种上述的熔融玻璃电导率测试用电导池。

具体的，该熔融玻璃电导率测试仪还包括样品台100，所述样品台100上设有安装孔110，所述坩埚200的下部设置在安装孔110中。样品台100作为该熔融玻璃电导率测试仪的支撑载体，其通常采用耐高温且不导电的材料制作，优选由氧化铝陶瓷制成；样品台100的结构可以为多种，例如：方形、圆柱形等等，优选为上段直径较小、下段直径较大的圆柱形台；为了方便对坩埚200进行支撑，一般将安装孔110设置在样品台100的中央部位；安放时，将下埚体210嵌入在安装孔110中，此时上埚体220的外底面与样品台100的上端面相贴。

本实用新型提供的熔融玻璃电导率测试用电导池及熔融玻璃电导率测试仪适用于对各种粘度条件熔融玻璃进行电导率测试，特别是实现各种牌号的玻璃在软化点温度至1600℃范围内电导率的测试，且测试精度较高。

Claims (10)

1.熔融玻璃电导率测试用电导池，包括坩埚(200)、上电极棒(310)和下电极棒(320)；其特征在于：还包括绝缘套筒(400)和电极片(500)；所述坩埚(200)由导电材料制成，所述下电极棒(320)与坩埚(200)电连接；所述绝缘套筒(400)设置在坩埚(200)内，绝缘套筒(400)的内壁上设有环状平台(410)和溢流槽(420)，所述环状平台(410)下侧的绝缘套筒(400)内壁与坩埚(200)的内底面围成样品槽(411)；所述溢流槽(420)的进入口位于环状平台(410)下侧的绝缘套筒(400)内壁上，溢流槽(420)的流出口位于绝缘套筒(400)上端的开口处；所述电极片(500)设置在环状平台(410)上，并与上电极棒(310)电连接。

2.如权利要求1所述的熔融玻璃电导率测试用电导池，其特征在于：所述坩埚(200)包括下埚体(210)和设于下埚体(210)上侧的上埚体(220)，所述下埚体(210)的外径小于上埚体(220)的外径。

3.如权利要求2所述的熔融玻璃电导率测试用电导池，其特征在于：所述坩埚(200)由铂金制成。

4.如权利要求1所述的熔融玻璃电导率测试用电导池，其特征在于：所述上电极棒(310)、下电极棒(320)和电极片(500)均由铂金制成。

5.如权利要求1、2、3或4所述的熔融玻璃电导率测试用电导池，其特征在于：所述绝缘套筒(400)竖直设置在坩埚(200)的内底面上，且绝缘套筒(400)的上端高于坩埚(200)的上端。

6.如权利要求5所述的熔融玻璃电导率测试用电导池，其特征在于：所述溢流槽(420)沿绝缘套筒(400)的轴向设置，溢流槽(420)的数量为两条，且两条溢流槽(420)对称设置。

7.如权利要求5所述的熔融玻璃电导率测试用电导池，其特征在于：所述绝缘套筒(400)由刚玉制成。

8.熔融玻璃电导率测试仪，其特征在于：包括如权利要求1至7中任意一项所述的熔融玻璃电导率测试用电导池。

9.如权利要求8所述的熔融玻璃电导率测试仪，其特征在于：还包括样品台(100)，所述样品台(100)上设有安装孔(110)，所述坩埚(200)的下部设置在安装孔(110)中。

10.如权利要求9所述的熔融玻璃电导率测试仪，其特征在于：所述样品台(100)由氧化铝陶瓷制成。