CN207663645U - 一种用于观测普通电子元件性能的教具 - Google Patents

Abstract

实用新型公开了一种用于观测普通电子元件性能的教具，包括安装板，所述安装板上设有多个安装槽，所述安装槽中安装有多个可拆连接且可导电设置的连接座，所述连接座之间通过安装于所述安装槽中的导线连接，多个所述连接座上分别连接有电源装置、开关、用于观测普通电子元件性能的测试模块和电流强度显示装置，且所述电源装置、开关、测试模块和电流强度显示装置为串联设置。本实用新型通过上述设置，将电源装置、开关、测试模块和电流强度显示装置通过连接座与安装板形成可拆连接，且连接座之间均通过导线连接可以形成闭合回路，操作简单，安装方便，有利于教学实践。

Description

一种用于观测普通电子元件性能的教具

技术领域

本实用新型涉及教学用具领域，特别涉及一种用于观测普通电子元件性能的教具。

背景技术

普通电子元件指的是电阻、电容、电感、电位器、变压器、三极管、二极管等，为了方便教学中对学生讲解电压电流等基础知识在不同电子元件上的不同表现，往往鼓励学生进行电路的组装和对不同电子元件电学性能的测试。

现有的对于普通电子元件的性能测量可以直接通过万用表进行测量，但是针对不同的电子元件不仅需要多次调零、校正等操作，还需要电流、电压等各项测试内容分开多次进行，给学生的动手操作带来一定麻烦。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于观测普通电子元件性能的教具，具有操作简单方便，简单明了，便于教学的效果。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种用于观测普通电子元件性能的教具，包括安装板，所述安装板上设有多个安装槽，所述安装槽中安装有多个可拆连接且可导电设置的连接座，所述连接座之间通过安装于所述安装槽中的导线连接，多个所述连接座上分别连接有电源装置、开关、用于观测普通电子元件性能的测试模块和电流强度显示装置，且所述电源装置、开关、测试模块和电流强度显示装置为串联设置。

通过采用上述技术方案，将电源装置、开关、测试模块和电流强度显示装置通过连接座与安装板形成可拆连接，且连接座之间均通过导线连接可以形成闭合回路，操作简单，安装方便，有利于教学实践。

本实用新型的进一步设置为：安装槽上设有多个与所述连接座配合的开口槽，所述连接座通过开口槽与安装槽可拆连接。

通过采用上述技术方案，连接座通过开口槽插接于安装槽中，由于导线安装于安装槽中，因此连接座之间均可实现连接，从而实现电源装置、开关、测试模块和电流强度显示装置之间的连接。

本实用新型的进一步设置为：开口槽的开口处设有封闭槽，所述封闭槽中滑动连接有用于启闭开口槽的封闭板。

通过采用上述技术方案，封闭板滑动插接于封闭槽中，能够实现对开口槽的启闭以及对插接于安装槽中的连接座的固定作用。

本实用新型的进一步设置为：测试模块包括并联设置的两条安装槽，其中一条安装槽设有用于插接电子元件的插板和与之串联的电流表，另一条安装槽上设有电压表。

通过采用上述技术方案，被测量的电子元件插接于插板上时，测试模块即可显示实时的电流和电压，省去了用万能表测试时的校正或调零等步骤，提高测试效率。

本实用新型的进一步设置为：插板上表面设有多个用于不同电子元件插接的插接口，且多个所述差接口均串联设置。

通过采用上述技术方案，多种差接口便于插接不同种类的电子元件，扩大可测量电子元件的种类。

本实用新型的进一步设置为：电源为大小可调的可调电源。

通过采用上述技术方案，调节不同大小的电源，便于进一步观测北侧电子元件的性能及变化。

本实用新型的进一步设置为：电流显示装置为具有电阻的灯具。

通过采用上述技术方案，通过设置灯具，能够直观的观察电流和电压的大小。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：操作简单，安装方便，简化了测试电子元件的步骤，有利于教学实践。

附图说明

图1是本实施例的整体结构示意图；

图2是图1的A处放大图，主要表现有开口槽上设置的封闭槽和封闭板的结构。

图中：1、安装板；2、安装槽；21、开口槽；22、封闭槽；23、封闭板；3、连接座；4、电源装置；5、开关；6、灯具；7、插板；8、电流表；9、电压表。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

实施例：一种用于观测普通电子元件性能的教具，如图1所示，包括安装板1，安装板1上开设有安装槽2，安装槽2中安装用用于通电的导线，安装槽2上开设有多个一侧开口设置连通于外部的开口槽21，开口槽21内滑动连接有可拆的连接座3，连接座3为导电设置且其上分别连接有可调电源、开关5、用于观测普通电子元件性能的测试模块和灯具6，且可调电源、开关5、用于观测普通电子元件性能的测试模块和灯具6均为串联设置。

如图2所示，开口槽21的开口处设有封闭槽22，封闭槽22中滑动连接有用于启闭开口槽21开口的封闭板23。

如图1所示，测试模块包括并联设置的两条安装槽2，其中一条安装槽2设有用于插接电子元件的插板7和与之串联的电流表8，另一条安装槽2上设有电压表9。

本实施例的工作原理为：需要测试电子元件的性能时，将可调电源、开关5、和灯具6分别安装于连接座3上，打开开口槽21并插接于安装槽2内，形成串联设置。再将电流表8和插板7串联后再与电压表9并联组成测试模块，将测试模块串联与可调电源和开关5之间。此时，将被测电子元件插接于插板7上，在接通开关5形成回路，通过电流表8和电压表9可及时测量被测电子元件的电学性能。

Claims (7)

1.一种用于观测普通电子元件性能的教具，其特征在于：包括安装板(1)，所述安装板(1)上设有多个安装槽(2)，所述安装槽(2)中安装有多个可拆连接且可导电设置的连接座(3)，所述连接座(3)之间通过安装于所述安装槽(2)中的导线连接，多个所述连接座(3)上分别连接有电源装置(4)、开关(5)、用于观测普通电子元件性能的测试模块和电流强度显示装置，且所述电源装置(4)、开关(5)、测试模块和电流强度显示装置为串联设置。

2.根据权利要求1所述的一种用于观测普通电子元件性能的教具，其特征在于：所述安装槽(2)上设有多个与所述连接座(3)配合的开口槽(21)，所述连接座(3)通过开口槽(21)与安装槽(2)可拆连接。

3.根据权利要求2所述的一种用于观测普通电子元件性能的教具，其特征在于：所述开口槽(21)的开口处设有封闭槽(22)，所述封闭槽(22)中滑动连接有用于启闭开口槽(21)的封闭板(23)。

4.根据权利要求3所述的一种用于观测普通电子元件性能的教具，其特征在于：所述测试模块包括并联设置的两条安装槽(2)，其中一条安装槽(2)设有用于插接电子元件的插板(7)和与之串联的电流表(8)，另一条安装槽(2)上设有电压表(9)。

5.根据权利要求4所述的一种用于观测普通电子元件性能的教具，其特征在于：所述插板(7)上表面设有多个用于不同电子元件插接的插接口，且多个所述插接口均串联设置。

6.根据权利要求5所述的一种用于观测普通电子元件性能的教具，其特征在于：所述电源装置(4)为大小可调的可调电源。

7.根据权利要求6所述的一种用于观测普通电子元件性能的教具，其特征在于：所述电流强度显示装置为具有电阻的灯具(6)。