CN207650162U - 一种相控阵超声检测能力验证试块组 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及无损检测技术，具体涉及一种相控阵超声检测能力验证试块组，其包括YZ‑Ⅰ型、YZ‑Ⅱ型、YZ‑Ⅲ型、YZ‑Ⅳ型和YZ‑Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm。每个试块上根据厚度设置有数个横通孔以及一对刻槽，提高检测的可靠性。

Description

一种相控阵超声检测能力验证试块组

技术领域

本实用新型涉及无损检测技术，具体涉及一种相控阵超声检测能力验证试块组。

背景技术

相控阵超声检测技术作为一种新的无损检测技术在电力行业中的应用尚处于发展阶段，虽有相控阵超声检测工艺标准GB/T 32563-2016《无损检测 超声检测 相控阵超声检测方法》颁布实施，但相控阵超声检测灵敏度怎么调节及其验证还未具体明确。目前，相控阵超声检测能力验证通常是在制作的典型焊接缺陷试块进行验证。但典型焊接试块要求的规格种类多（待检部件规格的管道均需要制作一个），缺陷制作要求严，缺陷尺寸精度高，缺陷位置控制难度大等问题，且制作成本较高、周期长，对不同规格型号的管道，不具有统一使用性。上述搜索发现的相关设计专利，并未有效推广应用。

现有技术中额验证试块存在的客观缺点：

1、目前无正规的常用能力验证试块。

2、目前使用的典型焊接缺陷样管，存在制作种类多、周期长、成本高，工艺要求严，缺陷尺寸控制难度大等难点，同时样管统一性不强。

3、专利号CN201621045864.6的方案用途与本专利相近，但此专利中试块注重的是表面及根部缺陷的检出效果，且由于设计的角度较多，在满足相控阵超声检测工艺的条件下，试块外形将需要制作的特别长，成本太高，现场操作也不方便，同时设计的本方案仅适用于小径管道。

4、CN201620616251.7专利设计是采用一次波对横孔进行检测，能够实现灵敏度校准，此验证方法在相控阵DAC或TCG曲线制作试块上便能完成，无法验证不同位置的缺陷。

发明内容

为了解决上述问题，本实用新型提供了一种样式结构简单、操作方便、经济实用的相控阵超声检测能力验证试块，主要用于验证检测工艺是否满足工作要求及验证扫查灵敏度能否满足最小缺陷检出要求。本设计发明的试块，通过相控阵超声检测技术可直观验证工件根部缺陷、近表面缺陷及内部缺陷进行识别，对聚焦法则和扫查灵敏度设定具有很大参考价值，通过对特殊边界的检测工艺修订完善，以达到最佳检测效果。同时，也可以辅助于检测结果的评定，便于缺陷大小、深度、性质的判断；避免了常规需要制作种类繁多的典型焊接样管进行多次试验的情况，从经济、效率、时间等方面均具有明显优势。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种相控阵超声检测能力验证试块组，包括YZ-Ⅰ型、YZ-Ⅱ型、YZ-Ⅲ型、YZ-Ⅳ型和YZ-Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm；

所述YZ-Ⅰ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度4mm，该YZ-Ⅰ型试块左端设有一个横通孔（1），YZ-Ⅰ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽（2、3）；

所述YZ-Ⅱ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度8mm，该YZ-Ⅱ型试块左端有两个平行的横通孔（7、8），YZ-Ⅱ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽（4、5），两个所述刻槽（4、5）连线的中点位置处设有一个横通孔（6）；

所述YZ-Ⅲ型试块：其长度140mm、宽度30mm、厚度15mm，该YZ-Ⅲ型试块的左端有三个横通孔（12、13、14），其中横通孔（12）圆心与YZ-Ⅲ型试块的左端边缘的距离为58mm，所述横通孔（13）与横通孔（12）的圆心的间距为4mm且均距离YZ-Ⅲ型试块上表面为10mm，所述横通孔（13）和横通孔（14）的圆心连线与垂直中分面的夹角为30°；该YZ-Ⅲ型试块右端的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽（9、10），两个所述刻槽（9、10）连线中点位置设有一上一下两个横通孔（11）；横通孔14距离试块上表面5mm。

所述YZ-Ⅳ型试块：其长度140mm、宽度30mm、试块厚度20mm，该YZ-Ⅳ型试块的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽（15、16），两个所述刻槽（15、16）的连线中点位置设有上下分布的三个横通孔（17）；该YZ-Ⅳ型试块的的左端有四个横通孔（18、19、20、21），其他三个横通孔（19、20、21）的圆心连线与垂直中分面夹角为30°；

所述YZ-Ⅴ型试块：其长度180mm、宽度30mm、试块厚度40mm，YZ-Ⅴ型试块右端的上表面和下表面对称设有有一单边V型坡口刻槽（22、23），所述刻槽（22、23）中点位置设有上下分布的三个横通孔（24）；YZ-Ⅴ型试块左端有四个横通孔（25、26、27、28），其中两个横通孔（25、26）左右分布且圆心共线、另外两个横通孔（27、28）圆心连线相对于水平面倾斜设置且三个横通孔（26、27、28）圆心共线；三个横通孔（26、27、28）的圆心连线与垂直中分面夹角为10°。

上述相控阵超声检测能力验证试块组，所靠左端的横通孔（25）圆心与YZ-Ⅴ型试块右端边缘距离为77mm，述横通孔（1）的直径为2mm，所述横通孔（1）圆心与YZ-Ⅰ型试块左端边缘之间的距离为40mm；所述刻槽（2、3）的坡口角度为45°、深度为1mm，所述刻槽（2、3）的直角边距离与YZ-Ⅰ型试块右端端边缘之间的距离为20mm。

上述相控阵超声检测能力验证试块组，两个所述横通孔（7、8）的圆心距为4mm且与YZ-Ⅱ型试块上表面的距离均为4mm，所述横通孔（7）圆心与YZ-Ⅱ型试块左端边缘之间的距离为38mm；

所述刻槽（4、5）坡口角度均为45°、深度1mm，所述刻槽（4、5）直角边与YZ-Ⅱ型试块右端边缘之间距离为20mm；

所述横通孔（6）圆心与YZ-Ⅱ型试块上表面之间的距离为4mm，所述横通孔（6）圆心与YZ-Ⅱ型试块右端边缘之间距离为20mm。

上述相控阵超声检测能力验证试块组，所述刻槽（9、10）的坡口角度为45°、深度1.5mm，所述刻槽（9、10）直角边与YZ-Ⅲ型试块右端边缘的距离为20mm；两个所述横通孔（11）的圆心距离YZ-Ⅲ型试块上表面之间的距离分别为5mm和10mm，两个所述横通孔（11）的圆心与YZ-Ⅲ型试块右端边缘的距离为20mm。

上述相控阵超声检测能力验证试块组，所述刻槽（15、16）的坡口角度为45°、深度1.5mm，所述刻槽（15、16）直角边距离试块边缘较近一端的距离为20mm；三个上下分布的所述横通孔（17）与该YZ-Ⅳ型试块的上表面距离分别为5mm、10mm和15mm且与该YZ-Ⅳ型试块右端边缘之间的距离为20mm；最左端的横通孔（18）圆心与YZ-Ⅳ型试块的左端边缘之间的距离为58mm；水平的两个横通孔（18、19）的圆心距为4mm且分别距离该YZ-Ⅳ型试块的上表面为15mm。

上述相控阵超声检测能力验证试块组，所述刻槽（22、23）坡口角度为45°、深度1.5mm，所述刻槽（22、23）的直角边与YZ-Ⅴ型试块右端边缘距离为20mm；三个所述的横通孔（24）与YZ-Ⅴ型试块上表面的距离分别为10mm、20mm和30mm，三个上下分布的横通孔（24）的圆心与YZ-Ⅴ型试块右端边缘的距离为20mm；水平位置的两个横通孔（25、26）的圆心距为6mm且分别距离YZ-Ⅴ型试块上表面为30mm；横通孔（27）距离YZ-Ⅴ型试块上表面20mm，横通孔（28）距离YZ-Ⅴ型试块上表面10mm。

上述控阵超声检测能力验证试块组的使用方法，包括如下步骤：

1)被检试样厚度在4-8mm时，选择管径曲率与之相对应的YZ-Ⅰ、YZ-Ⅱ试块，相控阵超声检测仪器调节完成后，按照聚焦法则设定的距离位置将相控阵探头放置在YZ-Ⅰ试块上，分别测定刻槽2、3和横通孔1；

在测量刻槽时，要求二次波或四次波能够检测出上表面刻槽2，三次波能够检测出下表面刻槽3；若不能够发现，需调整检测工艺或增加扫查灵敏度，直到缺陷显示效果与实际尺寸接近为止；

验证完成后，同样方法验证YZ-Ⅱ试块，要求一次波能够检测出下表面刻槽5，二次波能够检测出上表面刻槽4，一次波或二次波能够将中间位置横通孔6检出，检测另一端两气孔时，一次扫查，两横通孔 7、8均能同时检出，在同时满足以上条件下，验证说明满足缺陷检测需求，检测准确可靠。

2)被检试样厚度在8-15mm时，选择管径曲率与之相对应的YZ-Ⅱ、YZ-Ⅲ试块，按照上述方法放在YZ-Ⅱ试块上完成验证后，放置在YZ-Ⅲ试块上，按照类似方法进行验证，要求一次波能够检测出下表面刻槽10和横通孔11中的下部一个，要求二次波能够检测出上表面刻槽9和横通孔11中的上部一个。

完成后验证YZ-Ⅲ试块另一端的横通孔12、13、14，将探头放置在上探头放置面上，分别在两侧进行检测，验证存在倾角的缺陷在声束检测时的影响效果。

3)被检试样厚度在15-20mm时，选择管径曲率与之相对应的YZ-Ⅳ、YZ-Ⅴ试块，按照上述同样的方法，在YZ-Ⅳ和YZ-Ⅴ型试块上分别进行验证。

4)被检试样厚度在20-40mm时，选择管径曲率与之相对应的YZ-Ⅲ、YZ-Ⅳ试块，按照上述同样的方法，在YZ-Ⅲ和YZ-Ⅳ型试块上分别进行验证。

本实用新型的有益效果为：

1、本实用新型能力验证试块具有结构简单，长短合适，结构布局合理，操作方便、便于携带的特点。

2、本实用新型试块同时具有刻槽与横通孔，有别于现有其它用途的试块，且分布在同一水平位置不同深度，可仿真焊缝表面、内部及根部位置缺陷。

3、本实用新型试块根据厚度不同，设置的刻槽与横通孔大小也有所不同。

4、本实用新型试块可进行检测工艺的验证，不同扫查灵敏度条件下最小缺陷检出能力验证。同时，也可以辅助于检测结果的评定，便于缺陷大小、深度、性质的判断。

附图说明

图1和2分别为本实用新型实施例YZ-Ⅰ型平板试块主视和俯视结构示意图；

图3和4分别为本实用新型实施例YZ-Ⅱ型平板试块主视和俯视结构示意图；

图5和6分别为本实用新型实施例YZ-Ⅲ型平板试块主视和俯视结构示意图；

图7和8分别为本实用新型实施例YZ-Ⅳ型平板试块主视和俯视结构示意图；

图9和10分别为本实用新型实施例YZ-Ⅴ型平板试块主视和俯视结构示意图；

图中：1试块YZ-Ⅰ横通孔；2试块YZ-Ⅰ上表面刻槽；3试块YZ-Ⅰ下表面刻槽；

4试块YZ-Ⅱ上表面刻槽；5试块YZ-Ⅱ下表面刻槽；6、7、8试块YZ-Ⅱ横通孔；

9试块YZ-Ⅲ上表面刻槽；10试块YZ-Ⅲ下表面刻槽；11、12、13、14试块YZ-Ⅲ横通孔；

15试块YZ-Ⅳ上表面刻槽；16试块YZ-Ⅳ下表面刻槽；17、18、19、20、21试块YZ-Ⅳ横通孔；

22试块YZ-Ⅴ上表面刻槽；23试块YZ-Ⅴ下表面刻槽；24、25、26、27、28试块YZ-Ⅴ横通孔。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型进一步解释说明。

本实用新型为一种用于管道及平板焊接接头的相控阵超声检测能力验证试块组，本实施例中试块共有五个，其厚度的选择分别为4mm、8mm、15mm、20mm、40mm，每套试块中包含不同弧度的试块，能够与被检工件曲率相吻合，试块的上方为凸面做为探头放置面，曲率与被检管径相近；试块的下方为凹面，与被检管径的内凹弧度相近。

本实用新型的试块能够满足壁厚为4mm～40mm，管径大于等于32mm的管道焊缝及平板焊缝的相控阵超声检测能力验证。

本实施例中所述系列试块为碳钢或P91材质制成，其材质均匀，内部无影响使用的缺陷，具有良好的声学性能；所述系列试块的平行度、垂直度、光洁度和尺寸精度都符合要求。

实施例一

所述能力验证试块YZ-Ⅰ，试块长度100mm、宽度30mm、厚度4mm，试块一端有一φ2横通孔1，圆心距离试块边缘较近一端的距离为40mm；试块另一端上表面有一单边V型坡口刻槽2，坡口角度为45°，刻槽深度1mm，下表面设有同样刻槽3，两刻槽均匀对称分布，刻槽直角边距离试块边缘较近一端的距离为20mm。

实施例二

所述能力验证试块YZ-Ⅱ，试块长度100mm、宽度30mm、厚度8mm，试块一端有两个φ2横通孔7和8，两横通孔圆心间距4mm，分别距离上探头放置面4mm，横通孔7圆心距离试块边缘较近一端距离为38mm；试块另一端上表面有一单边V型坡口刻槽4，坡口角度为45°，刻槽深度1mm，下表面设有同样刻槽5，两刻槽均匀对称分布，刻槽直角边距离试块边缘较近一端的距离为20mm；两刻槽连线中心位置设有一φ2横通孔6，横通孔6圆心距离试块上边缘的距离为4mm，横通孔6圆心距离试块边缘较近一端的距离为20mm。

实施例三

所述能力验证试块YZ-Ⅲ，试块长度140mm、宽度30mm、试块厚度15mm，试块一端上表面有一单边V型坡口刻槽9，坡口角度为45°，刻槽深度1.5mm，下表面设有同样刻槽10，两刻槽均匀对称分布，刻槽直角边距离试块边缘较近一端的距离为20mm；两刻槽连线中心位置设有2个φ2横通孔11，横通孔11的圆心距离试块上表面距离分别为5mm和10mm，2个横通孔11的圆心分别距离试块边缘较近一端的距离为20mm；试块的另一端有3个φ2横通孔，分别为12、13、14，其中横通孔12圆心距离试块边缘较近一端的距离为58mm，横通孔12和13两圆心的间距为4mm，且分别距离试块上表面为10mm，横通孔13和14圆心连线与垂直中分面夹角为30°，横通孔14距离试块上表面5mm。

实施例四

所述能力验证试块YZ-Ⅳ，试块长度140mm、宽度30mm、试块厚度20mm，试块一端上表面有一单边V型坡口刻槽15，坡口角度为45°，刻槽深度1.5mm，下表面设有同样刻槽16，两刻槽均匀对称分布，刻槽直角边距离试块边缘较近一端的距离为20mm；两刻槽连线中心位置设有3个φ2横通孔17，距离试块上表面距离分别为5mm、10mm和15mm，3个横通孔12的圆心分别距离试块边缘较近一端的距离为20mm；试块的另一端有4个φ2横通孔，分别为18、19、20、21，其中横通孔18圆心距离试块边缘较近一端的距离为58mm，横通孔18和19两圆心的间距为4mm，且分别距离试块上表面为15mm，横通孔19、20、21圆心连线与垂直中分面夹角为30°，横通孔20距离试块上表面10mm，横通孔21距离试块上表面5mm。

实施例五

所述能力验证试块YZ-Ⅴ，试块长度180mm、宽度30mm、试块厚度40mm，试块一端上表面有一单边V型坡口刻槽22，坡口角度为45°，刻槽深度1.5mm，下表面设有同样刻槽23，两刻槽均匀对称分布，刻槽直角边距离试块边缘较近一端的距离为20mm；两刻槽连线中心位置设有3个φ3横通孔24，距离试块上表面距离分别为10mm、20mm和30mm，3个横通孔24的圆心分别距离试块边缘较近一端的距离为20mm；试块的另一端有4个φ3横通孔，分别为25、26、27、28，其中横通孔25圆心距离试块边缘较近一端的距离为77mm，横通孔25和26两圆心的间距为6mm，且分别距离试块上表面为30mm，横通孔26、27、28圆心连线与垂直中分面夹角为10°，横通孔27距离试块上表面20mm，横通孔28距离试块上表面10mm。

上述五套试块可进行检测工艺的验证，不同扫查灵敏度条件下最小缺陷检出能力验证。同时，也可以辅助于检测结果的评定，便于缺陷大小、深度、性质的判断。试块以相控阵检测工艺中各关键位置处的厚度为分界点，验证分界点处检测工艺的选择及检测效果。

该试块组的使用方法如下：

1)被检试样厚度在4～8mm时，选择管径曲率与之相对应的YZ-Ⅰ、YZ-Ⅱ试块，相控阵超声检测仪器调节完成后，按照聚焦法则设定的距离位置将相控阵探头放置在YZ-Ⅰ试块上，分别测定刻槽2、3和横通孔1。

在测量刻槽时，要求二次波或四次波能够检测出上表面刻槽2，三次波能够检测出下表面刻槽3；若不能够发现，需调整检测工艺或增加扫查灵敏度，直到缺陷显示效果与实际尺寸接近为止。

验证完成后，同样方法验证YZ-Ⅱ试块，要求一次波能够检测出下表面刻槽5，二次波能够检测出上表面刻槽4，一次波或二次波能够将中间位置横通孔6检出，检测另一端两气孔时，一次扫查，两横通孔 7、8均能同时检出，在同时满足以上条件下，验证说明满足缺陷检测需求，检测准确可靠。

2)被检试样厚度在8-15mm时，选择管径曲率与之相对应的YZ-Ⅱ、YZ-Ⅲ试块，按照上述方法放在YZ-Ⅱ试块上完成验证后，放置在YZ-Ⅲ试块上，按照类似方法进行验证，要求一次波能够检测出下表面刻槽10和横通孔11中的下部一个，要求二次波能够检测出上表面刻槽9和横通孔11中的上部一个。

完成后验证YZ-Ⅲ试块另一端的横通孔12、13、14，将探头放置在上探头放置面上，分别在两侧进行检测，验证存在倾角的缺陷在声束检测时的影响效果。

3)被检试样厚度在15-20mm时，选择管径曲率与之相对应的YZ-Ⅳ、YZ-Ⅴ试块，按照上述同样的方法，在YZ-Ⅳ和YZ-Ⅴ型试块上分别进行验证。

4)被检试样厚度在20-40mm时，选择管径曲率与之相对应的YZ-Ⅲ、YZ-Ⅳ试块，按照上述同样的方法，在YZ-Ⅲ和YZ-Ⅳ型试块上分别进行验证。

根据被检工件厚度，按照以上方法选择相应的验证试块，进行逐一验证，验证并修订检测工艺，确保选择缺陷检测效果最佳方式进行检测。同时，在检测结果评判时，也可根据验证过程中的视图成像，缺陷数据分析等过程进行参考，辅助于检测结果的评定，便于缺陷大小、深度、性质的判断。

Claims (6)

1.一种相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：包括YZ-Ⅰ型、YZ-Ⅱ型、YZ-Ⅲ型、YZ-Ⅳ型和YZ-Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm；

所述YZ-Ⅰ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度4mm，该YZ-Ⅰ型试块左端设有一个横通孔（1），YZ-Ⅰ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽（2、3）；

所述YZ-Ⅱ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度8mm，该YZ-Ⅱ型试块左端有两个平行的横通孔（7、8），YZ-Ⅱ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽（4、5），两个所述刻槽（4、5）连线的中点位置处设有一个横通孔（6）；

所述YZ-Ⅲ型试块：其长度140mm、宽度30mm、厚度15mm，该YZ-Ⅲ型试块的左端有三个横通孔（12、13、14），其中横通孔（12）圆心与YZ-Ⅲ型试块的左端边缘的距离为58mm，所述横通孔（13）与横通孔（12）的圆心的间距为4mm且均距离YZ-Ⅲ型试块上表面为10mm，所述横通孔（13）和横通孔（14）的圆心连线与垂直中分面的夹角为30°；该YZ-Ⅲ型试块右端的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽（9、10），两个所述刻槽（9、10）连线中点位置设有一上一下两个横通孔（11）；横通孔14距离试块上表面5mm，

所述YZ-Ⅳ型试块：其长度140mm、宽度30mm、试块厚度20mm，该YZ-Ⅳ型试块的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽（15、16），两个所述刻槽（15、16）的连线中点位置设有上下分布的三个横通孔（17）；该YZ-Ⅳ型试块的左端有四个横通孔（18、19、20、21），其他三个横通孔（19、20、21）的圆心连线与垂直中分面夹角为30°；

所述YZ-Ⅴ型试块：其长度180mm、宽度30mm、试块厚度40mm，YZ-Ⅴ型试块右端的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽（22、23），所述刻槽（22、23）中点位置设有上下分布的三个横通孔（24）；YZ-Ⅴ型试块左端有四个横通孔（25、26、27、28），其中两个横通孔（25、26）左右分布且圆心共线、另外两个横通孔（27、28）圆心连线相对于水平面倾斜设置且三个横通孔（26、27、28）圆心共线；三个横通孔（26、27、28）的圆心连线与垂直中分面夹角为10°。

2.根据权利要求1所述相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：所靠左端的横通孔（25）圆心与YZ-Ⅴ型试块右端边缘距离为77mm，述横通孔（1）的直径为2mm，所述横通孔（1）圆心与YZ-Ⅰ型试块左端边缘之间的距离为40mm；所述刻槽（2、3）的坡口角度为45°、深度为1mm，所述刻槽（2、3）的直角边距离与YZ-Ⅰ型试块右端端边缘之间的距离为20mm。

3.根据权利要求1所述相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：两个所述横通孔（7、8）的圆心距为4mm且与YZ-Ⅱ型试块上表面的距离均为4mm，所述横通孔（7）圆心与YZ-Ⅱ型试块左端边缘之间的距离为38mm；

所述刻槽（4、5）坡口角度均为45°、深度1mm，所述刻槽（4、5）直角边与YZ-Ⅱ型试块右端边缘之间距离为20mm；

所述横通孔（6）圆心与YZ-Ⅱ型试块上表面之间的距离为4mm，所述横通孔（6）圆心与YZ-Ⅱ型试块右端边缘之间距离为20mm。

4.根据权利要求1所述相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：所述刻槽（9、10）的坡口角度为45°、深度1.5mm，所述刻槽（9、10）直角边与YZ-Ⅲ型试块右端边缘的距离为20mm；两个所述横通孔（11）的圆心距离YZ-Ⅲ型试块上表面之间的距离分别为5mm和10mm，两个所述横通孔（11）的圆心与YZ-Ⅲ型试块右端边缘的距离为20mm。

5.根据权利要求1所述相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：所述刻槽（15、16）的坡口角度为45°、深度1.5mm，所述刻槽（15、16）直角边距离试块边缘较近一端的距离为20mm；三个上下分布的所述横通孔（17）与该YZ-Ⅳ型试块的上表面距离分别为5mm、10mm和15mm且与该YZ-Ⅳ型试块右端边缘之间的距离为20mm；最左端的横通孔（18）圆心与YZ-Ⅳ型试块的左端边缘之间的距离为58mm；水平的两个横通孔（18、19）的圆心距为4mm且分别距离该YZ-Ⅳ型试块的上表面为15mm。

6.根据权利要求1所述相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：所述刻槽（22、23）坡口角度为45°、深度1.5mm，所述刻槽（22、23）的直角边与YZ-Ⅴ型试块右端边缘距离为20mm；三个所述的横通孔（24）与YZ-Ⅴ型试块上表面的距离分别为10mm、20mm和30mm，三个上下分布的横通孔（24）的圆心与YZ-Ⅴ型试块右端边缘的距离为20mm；水平位置的两个横通孔（25、26）的圆心距为6mm且分别距离YZ-Ⅴ型试块上表面为30mm；横通孔（27）距离YZ-Ⅴ型试块上表面20mm，横通孔（28）距离YZ-Ⅴ型试块上表面10mm。