CN207623289U - 光学元件抛光表面质量声发射检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置，它包括基座、设置在基座上的用于安装光学元件的元件定位装置、能够带动光学元件转动的调速电机，光学元件抛光表面质量声发射检测装置还包括设置在光学元件上方的声发射传感器、与声发射传感器相固定连接且用于对光学元件进行切削的抛光头。本实用新型通过合理的设计，构建了一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置，克服了现有实验装置传感器位置固定、信号干扰大、衰减快和易受多普勒效应等缺点。

Description

光学元件抛光表面质量声发射检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置。

背景技术

随着光学技术的快速发展，光学元件在社会生产、国防建设、空间光学等方面得到了广泛应用。光学元件是光学系统中最为关键的基础零件，是光学系统成像质量的主要保证。光学元件的加工质量对其性能的保证具有决定性作用。为保证元件的加工质量，有必要研制实验设备对其加工过程中的表面粗糙度和表面裂纹进行监测。因此，涌现出了一系列的光学元件声发射实验设备。现有的光学元件表面质量声发射检测实验设备的传感器一般都采用固定放置方式，这类实验装置存在诸多不足，主要表现在以下几个方面：(1)声发射信号的采集结果易受到多普勒效应影响；(2)信号传播过程中容易受到环境噪声等干扰；(3)采集的信号易产生衰减，测量精度低。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种结构简单、信号采集更直接的光学元件抛光表面质量声发射检测装置。

为了达到上述目的，本实用新型提供了一种技术方案：光学元件抛光表面质量声发射检测装置，它包括基座、设置在基座上的用于安装光学元件的元件定位装置、能够带动光学元件转动的调速电机，光学元件抛光表面质量声发射检测装置还包括设置在光学元件上方的声发射传感器、与声发射传感器相固定连接且用于对光学元件进行切削的抛光头。

进一步地，抛光头粘接在声发射传感器的绝缘层上。

进一步地，声发射传感器连接在传感器定位装置上，该传感器定位装置固定连接在基座上。

更进一步地，声发射传感器与光学元件之间设置有能够调节声发射传感器对光学元件所施加压力的压力调节机构。

更进一步地，压力调节机构包括与声发射传感器可上下移动地连接的调节螺栓、设置在调节螺栓上的调节螺母、上端抵在调节螺母上且下端抵在声发射传感器上的调节弹簧。

进一步地，基座上固定设置有固定座，元件定位装置能够水平和竖直移动地设置在固定座上。

进一步地，光学元件安装在一安装槽中，该安装槽可旋转地连接在元件定位装置上，安装槽与调速电机的输出轴相连接。

进一步地，调速电机设置在调速电机固定座上，该调速电机固定座连接在基座上。

借由上述方案，本实用新型通过合理的设计，构建了一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置，克服了现有实验装置传感器位置固定、信号干扰大、衰减快和易受多普勒效应等缺点，至少具有以下优点：

(1)光学元件可以通过粘接在声发射传感器上的抛光头直接进行抛光，结构简单可靠；

(2)抛光过程中声发射信号传递直接、路径短、衰减慢，提高了信号的采集精度；

(3)可以通过压力调节弹簧调节压力和调速电机改变转速，使得本实用新型装置能够对多种表面粗糙度和表面裂纹情况进行条件恒定的抛光声发射实验。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

附图1为本实用新型光学元件抛光表面质量声发射检测装置的结构示意图。

图中标号为：

1、基座；2、联轴器；3、传动轴；4、元件定位装置；5、光学元件；6、声发射传感器；7、压力调节机构；71、调节螺栓；72、调节螺母；73、调节弹簧；8、传感器定位装置；9、固定座；10、调速电机固定座；11、调速电机；12、安装槽。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

参照附图1，本实施例中的光学元件抛光表面质量声发射检测装置，光学元件5抛光表面质量声发射检测装置，它包括基座1、设置在基座1上的用于安装光学元件5的元件定位装置4、能够带动光学元件5转动的调速电机11、设置在光学元件5上方的声发射传感器6、与声发射传感器6相固定连接且用于对光学元件5进行切削的抛光头。

在一种更为优选的实施方案中，抛光头粘接在声发射传感器6的绝缘层上。

如附图1所示的声发射传感器6连接在传感器定位装置8上，该传感器定位装置8固定连接在基座1上。

在一种更为优选的实施方案中，声发射传感器6与光学元件5之间设置有能够调节声发射传感器6对光学元件5所施加压力的压力调节机构7。本实施例中，压力调节机构7包括与声发射传感器6可上下相对移动地连接的调节螺栓71、设置在调节螺栓71上的调节螺母72、上端抵在调节螺母72上且下端抵在声发射传感器6上的调节弹簧73，优选地，调节螺栓71连接在传感器定位装置8上。通过旋转调节螺母72使其在调节螺栓71上上下移动，来调节调节弹簧73对声发射传感器6所施加的压力，从而调节声发射传感器6对光学元件5所施加的压力。

本实施例中，基座1上固定设置有固定座9，元件定位装置4能够水平和竖直移动地设置在固定座9上。通过元件定位装置4可在水平面和垂向固定光学元件5，同时保证光学元件5有一个转动自由度，安装光学元件5的中心必须保证与声发射传感器6同轴，保证系统的稳定和精准度。

光学元件5安装在一安装槽12中，该安装槽12可旋转地连接在元件定位装置4上，安装槽12与调速电机11的输出轴相连接。具体地，安装槽12的底部连接有传动轴3，传动轴3与调速电机11的输出轴通过联轴器2相连接。

调速电机11设置在调速电机固定座10上，该调速电机固定座10连接在基座1上。

本光学元件抛光表面质量声发射检测装置的工作原理：

首先将被测的光学元件5放于安装槽12中，安装槽12可旋转地连接于元件定位装置4中，被测的光学元件5可以具有不同的表面质量；然后通过转动调节螺母72来设定压力调节压力调机构7以保持光学元件5抛光过程中的压力；利用变频器来改变调速电机11的输出转速，以模拟不同工况下光学元件5的抛光状态，最后获取不同压力、不同转速下的被测光学元件5的抛光声发射信号。

由于采用上述技术方案，本实用新型光学元件抛光表面质量声发射检测装置，固定组件通过减少前后两块板之间的容积来限制婴幼儿的活动空间，起到固定婴幼儿的效果；防护组件通过一组固定的铅板和可调节的铅板/铅帘配合使用，可根据实际情况来调整照射区域的大小和位置，起到实体屏蔽的效果；定位组件通过上下两个激光灯发射出的激光定位线，确定上下激光线之间的位置，根据激光定位来调节防护组件，缩小或扩大照射区域，使其达到诊断要求并兼顾放射防护要求。本实用新型探索出一种新的针对婴幼儿固定、定位、屏蔽的X射线防护装置，组合屏蔽与立体屏蔽相结合，为临床放射实践中X射线的防护器具提供新的设计思路，为完善国家放射防护法规提供启示。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，并不用于限制本实用新型，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置，它包括基座、设置在所述基座上的用于安装光学元件的元件定位装置、能够带动所述光学元件转动的调速电机，其特征在于：所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置还包括设置在所述光学元件上方的声发射传感器、与所述声发射传感器相固定连接且用于对光学元件进行切削的抛光头。

2.根据权利要求1所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置，其特征在于：所述的抛光头粘接在所述声发射传感器的绝缘层上。

3.根据权利要求1所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置，其特征在于：所述的声发射传感器连接在传感器定位装置上，该传感器定位装置固定连接在所述基座上。

4.根据权利要求3所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置，其特征在于：所述的声发射传感器与光学元件之间设置有能够调节声发射传感器对光学元件所施加压力的压力调节机构。

5.根据权利要求4所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置，其特征在于：所述的压力调节机构包括与所述声发射传感器能够上下相对移动地连接的调节螺栓、设置在所述调节螺栓上的调节螺母、上端抵在所述调节螺母上且下端抵在所述声发射传感器上的调节弹簧。

6.根据权利要求1所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置，其特征在于：所述的基座上固定设置有固定座，所述的元件定位装置能够水平和竖直移动地设置在所述固定座上。

7.根据权利要求1所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置，其特征在于：所述的光学元件安装在一安装槽中，该安装槽可旋转地连接在元件定位装置上，所述的安装槽与所述调速电机的输出轴相连接。

8.根据权利要求1所述的光学元件抛光表面质量声发射检测装置，其特征在于：所述的调速电机设置在调速电机固定座上，该调速电机固定座连接在所述基座上。