CN207541099U - 多工位芯片smt测试机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种多工位芯片SMT测试机构，其包括底板、转盘座、转盘、若干测试载具和开盖机构，所述转盘座、开盖机构均固定安装于底板上表面，所述压板通过一安装柄与载板活动连接所述PCB板设置于载板下表面，所述压板一侧具有一缺口部，所述PCB板位于排线座和电接触区之间区域具有一跳线部，所述测试针依次嵌入测试座和测试板的通孔内，此测试针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，所述气缸通过所述安装板安装于底板上表面且位于转盘一侧，所述活动板通过一连接块与气缸的活塞杆固定连接，此活动板用于与测试载具卡扣的按压部接触连接。本实用新型通过核心板的设置，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及器件测试装置，具体涉及一种多工位芯片SMT测试机构。
背景技术
随着人们对信息安全的要求越来越高，传统的数字密码或九宫格密码已不能满足人们对信息安全的要求。生物识别广泛应用于新一代的电子设备，而指纹具有的稳定性和唯一性使得指纹检测识别装置的应用非常广泛。随着指纹识别和移动支付浪潮的到来，电容式指纹芯片迎来了爆发增长，而在对电容式指纹芯片应用的过程中，为了得到良好的图像质量，指纹芯片必须经过测试，以判断指纹芯片是否良好。指纹芯片量产时，考虑到效率问题，需要同时测试整板芯片上的多颗芯片。如何在不影响测试精度的情况下提高测试想效率，成为亟待解决的问题。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种多工位芯片SMT测试机构，该多工位芯片SMT测试机构通过核心板的设置，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。
为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种多工位芯片SMT测试机构，包括底板、转盘座、转盘、若干测试载具和开盖机构，所述转盘座、开盖机构均固定安装于底板上表面，所述转盘可转动的设置于转盘座上方，所述若干测试载具沿周向均匀设置于转盘上表面；
所述测试载具进一步包括PCB板、载板、测试板、测试座和压板，所述压板通过一安装柄与载板活动连接，所述测试座嵌入载板的通孔内，所述测试板安装于载板下表面且位于测试座下方，所述PCB板设置于载板下表面，所述压板一侧具有一缺口部，一卡扣通过一转轴活动安装于压板的缺口部内且卡扣可绕转轴旋转，所述载板一侧且位于卡扣正下方设置有一与卡扣对应的卡接部，所述卡扣进一步包括卡钩部和按压部，所述卡扣的卡钩部用于与卡接部扣接；
所述PCB板一端安装有排线座，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板位于排线座和电接触区之间区域具有一跳线部，所述测试针依次嵌入测试座和测试板的通孔内，此测试针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针下端与所述PCB板的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座电连接，此核心板用于产生和处理检测信号；
所述开盖机构由安装板、气缸和活动板组成，所述气缸通过所述安装板安装于底板上表面且位于转盘一侧，所述活动板通过一连接块与气缸的活塞杆固定连接，此活动板用于与测试载具卡扣的按压部接触连接。
上述技术方案中进一步改进的方案如下：
1. 上述方案中，所述跳线部位于PCB板靠近排线座一侧。
2. 上述方案中，所述转轴两端套装有弹簧。
3. 上述方案中，所述卡钩部位于按压部的中部。
4. 上述方案中，所述若干测试载具的数目为8个。
由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：
1、本实用新型多工位芯片SMT测试机构，其压板一侧具有一缺口部，一卡扣通过一转轴活动安装于压板的缺口部内且卡扣可绕转轴旋转，所述载板一侧且位于卡扣正下方设置有一与卡扣对应的卡接部，所述卡扣进一步包括卡钩部和按压部，所述卡扣的卡钩部用于与卡接部扣接，压板上卡扣的设置灵活方便，便于待测芯片的取放；其次，其开盖机构由安装板、气缸和活动板组成，所述气缸通过所述安装板安装于底板上表面且位于转盘一侧，所述活动板通过一连接块与气缸的活塞杆固定连接，此活动板用于与测试载具卡扣的按压部接触连接，开盖机构与测试载具卡扣的按压部设置，可以自动实现对测试载具压板的打开，大大节约了劳动力，提高工作效率。
2、本实用新型多工位芯片SMT测试机构，其PCB板一端安装有排线座，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板位于排线座和电接触区之间区域具有一跳线部，所述测试针依次嵌入测试座和测试板的通孔内，此测试针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针下端与所述PCB板的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座电连接，此核心板用于产生和处理检测信号，核心板的设置，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。
附图说明
附图1为本实用新型多工位芯片SMT测试机构结构示意图；
附图2为本实用新型多工位芯片SMT测试机构局部结构示意图；
附图3为本实用新型多工位芯片SMT测试机构局部分解示意图；
附图4为本实用新型多工位芯片SMT测试机构的测试载具分解示意图。
以上附图中：1、底板；2、转盘座；3、转盘；4、测试载具；5、开盖机构； 401、PCB板；402、载板；403、测试板；404、测试座；405、压板；411、排线座；412、跳线部；413、缺口部；414、卡扣；415、卡接部；416、卡钩部；417、按压部；418、转轴；501、安装板；502、气缸；503、活动板。
具体实施方式
实施例1：一种多工位芯片SMT测试机构，包括底板1、转盘座2、转盘3、若干测试载具4和开盖机构5，所述转盘座2、开盖机构5均固定安装于底板1上表面，所述转盘3可转动的设置于转盘座2上方，所述若干测试载具4沿周向均匀设置于转盘3上表面；
所述测试载具4进一步包括PCB板401、载板402、测试板403、测试座404和压板405，所述压板405通过一安装柄与载板402活动连接，所述测试座404嵌入载板402的通孔内，所述测试板403安装于载板402下表面且位于测试座404下方，所述PCB板401设置于载板402下表面，所述压板405一侧具有一缺口部413，一卡扣414通过一转轴418活动安装于压板405的缺口部413内且卡扣414可绕转轴418旋转，所述载板402一侧且位于卡扣414正下方设置有一与卡扣414对应的卡接部415，所述卡扣414进一步包括卡钩部416和按压部417，所述卡扣14的卡钩部416用于与卡接部415扣接；
所述PCB板401一端安装有排线座411，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板401位于排线座411和电接触区之间区域具有一跳线部412，一测试针依次嵌入测试座404和测试板403的通孔内，此测试针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针下端与所述PCB板401的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座411电连接，此核心板用于产生和处理检测信号；
所述开盖机构5由安装板501、气缸502和活动板503组成，所述气缸502通过所述安装板501安装于底板1上表面且位于转盘3一侧，所述活动板503通过一连接块与气缸502的活塞杆固定连接，此活动板503用于与测试载具4卡扣414的按压部417接触连接。
上述跳线部412位于PCB板401靠近排线座411一侧；上述转轴418两端套装有弹簧。
实施例2：一种多工位芯片SMT测试机构，包括底板1、转盘座2、转盘3、若干测试载具4和开盖机构5，所述转盘座2、开盖机构5均固定安装于底板1上表面，所述转盘3可转动的设置于转盘座2上方，所述若干测试载具4沿周向均匀设置于转盘3上表面；
所述测试载具4进一步包括PCB板401、载板402、测试板403、测试座404和压板405，所述压板405通过一安装柄与载板402活动连接，所述测试座404嵌入载板402的通孔内，所述测试板403安装于载板402下表面且位于测试座404下方，所述PCB板401设置于载板402下表面，所述压板405一侧具有一缺口部413，一卡扣414通过一转轴418活动安装于压板405的缺口部413内且卡扣414可绕转轴418旋转，所述载板402一侧且位于卡扣414正下方设置有一与卡扣414对应的卡接部415，所述卡扣414进一步包括卡钩部416和按压部417，所述卡扣14的卡钩部416用于与卡接部415扣接；
所述PCB板401一端安装有排线座411，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板401位于排线座411和电接触区之间区域具有一跳线部412，一测试针依次嵌入测试座404和测试板403的通孔内，此测试针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针下端与所述PCB板401的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座411电连接，此核心板用于产生和处理检测信号；
所述开盖机构5由安装板501、气缸502和活动板503组成，所述气缸502通过所述安装板501安装于底板1上表面且位于转盘3一侧，所述活动板503通过一连接块与气缸502的活塞杆固定连接，此活动板503用于与测试载具4卡扣414的按压部417接触连接。
上述卡钩部416位于按压部417的中部；上述若干测试载具4的数目为8个。
采用上述多工位芯片SMT测试机构时，其压板上卡扣的设置灵活方便，便于待测芯片的取放；其次，开盖机构与测试载具卡扣的按压部设置，可以自动实现对测试载具压板的打开，大大节约了劳动力，提高工作效率；再次，核心板的设置，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种多工位芯片SMT测试机构，其特征在于：包括底板（1）、转盘座（2）、转盘（3）、若干测试载具（4）和开盖机构（5），所述转盘座（2）、开盖机构（5）均固定安装于底板（1）上表面，所述转盘（3）可转动的设置于转盘座（2）上方，所述若干测试载具（4）沿周向均匀设置于转盘（3）上表面；
所述测试载具（4）进一步包括PCB板（401）、载板（402）、测试板（403）、测试座（404）和压板（405），所述压板（405）通过一安装柄与载板（402）活动连接，所述测试座（404）嵌入载板（402）的通孔内，所述测试板（403）安装于载板（402）下表面且位于测试座（404）下方，所述PCB板（401）设置于载板（402）下表面，所述压板（405）一侧具有一缺口部（413），一卡扣（414）通过一转轴（418）活动安装于压板（405）的缺口部（413）内且卡扣（414）可绕转轴（418）旋转，所述载板（402）一侧且位于卡扣（414）正下方设置有一与卡扣（414）对应的卡接部（415），所述卡扣（414）进一步包括卡钩部（416）和按压部（417），所述卡扣（414）的卡钩部（416）用于与卡接部（415）扣接；
所述PCB板（401）一端安装有排线座（411），另一端上表面具有电接触区，所述PCB板（401）位于排线座（411）和电接触区之间区域具有一跳线部（412），一测试针依次嵌入测试座（404）和测试板（403）的通孔内，此测试针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，测试针下端与所述PCB板（401）的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座（411）电连接，此核心板用于产生和处理检测信号；
所述开盖机构（5）由安装板（501）、气缸（502）和活动板（503）组成，所述气缸（502）通过所述安装板（501）安装于底板（1）上表面且位于转盘（3）一侧，所述活动板（503）通过一连接块与气缸（502）的活塞杆固定连接，此活动板（503）用于与测试载具（4）卡扣（414）的按压部（417）接触连接。
2.根据权利要求1所述的多工位芯片SMT测试机构，其特征在于：所述跳线部（412）位于PCB板（401）靠近排线座（411）一侧。
3.根据权利要求1所述的多工位芯片SMT测试机构，其特征在于：所述转轴（418）两端套装有弹簧。
4.根据权利要求1所述的多工位芯片SMT测试机构，其特征在于：所述卡钩部（416）位于按压部（417）的中部。
5.根据权利要求1所述的多工位芯片SMT测试机构，其特征在于：所述若干测试载具（4）的数目为8个。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN109375090A (zh) * | 2018-10-10 | 2019-02-22 | 曾繁洪 | 一种芯片检测用测试装置 |
| CN113009320A (zh) * | 2021-03-01 | 2021-06-22 | 深圳市容微精密电子有限公司 | 一种可用于高频测试的光学芯片检测座 |
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