CN207441090U - 一种双缝干涉实验仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种双缝干涉实验仪，包括光源、单缝片、双缝片、遮光筒和观察装置，所述的光源、单缝片、双缝片安装在同一个支架上，构成一个双缝干涉装置，双缝干涉装置与观察装置分别通过连接口安装在遮光筒两端，调试方便、无需底座，可进行移动观察。本实用新型采用半导体光源，所述的双缝干涉装置，可安装在现有的“双缝干涉实验仪”上，便于进行学生分组实验。所述的观察装置，可接摄像头，将干涉图像直接展示在多媒体上，可观察双缝干涉现象和单缝衍射现象，探究影响干涉条纹宽度的因素，便于进行课堂教学。

Description

一种双缝干涉实验仪

技术领域：

本实用新型涉及一种教学仪器，特别是涉及用于中学物理的光的双缝干涉实验演示装置。

背景技术：

在高中物理教学中，光的干涉和衍射既是教学的重点又是教学的难点，目前，中学物理光学教学中进行光的双缝干涉的实验方案有两种：一种是以激光为光源，多数以定性观察为主。另一种是“双缝干涉实验仪”，采用的分立仪器，必须要借助于底座进行实验，将光源，滤色片，单缝双缝遮光筒，测量头安装在光具座上，调试很复杂，实验成功率不高，并且用白光通过滤色片得到单色光，导致光强不足；并且可移动性差，观察不方便，无法观察白光的干涉衍射现象，不利于课堂教学和分组实验。

发明内容：

针对已有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种携带方便、操作简便、适合课堂教学和学生分组实验的光的双缝干涉实验装置。

本实用新型通过如下技术方案实现的：

一种双缝干涉实验仪包括光源、单缝片、双缝片、遮光筒和观察装置。所述的光源、单缝片、双缝片安装在同一个支架上，构成一个双缝干涉装置，双缝干涉装置与观察装置分别通过连接口安装在遮光筒两端，调试方便，无需底座，可手持实验装置进行移动观察。

本实用新型所述的光源是采用半导体光源，光源的颜色可更换的，可探究干涉条纹间距与光的波长的关系。

本实用新型所述的遮光筒长度是可调节的，可探究干涉条纹间距与光屏距离的关系。

本实用新型所述的双缝片可更换的不同间距的，可探究干涉条纹间距与双缝间距的关系。

本实用新型所述的观察装置，可接摄像头，可将干涉衍射图像直接展示在多媒体上，便于进行课堂教学。

本实用新型所述的双缝片可换成单缝，可观察光的单缝衍射现象。

本实用新型所述的双缝干涉装置，可安装在现有的“双缝干涉实验仪”上，便于进行学生分组实验。

本实用新型可进行的相关实验有：观察光的单缝衍射现象(不同缝宽)；观察光的双缝干涉现象(不同双缝间距)；比较单缝衍射与双缝干涉条纹的区别；观察白光的干涉和衍射现象；探究影响双缝干涉条纹宽度的因素；用双缝干涉法测量光的波长。

附图说明：

附图1为本实用新型实整体结构示意图。

附图2为本实用新型中双缝干涉装置的示意图。

附图3为本实用新型中双缝干涉装置利用现有“双缝干涉实验仪”的遮光筒与测量头进行学生分组实验的示意图

具体实施方式：

下面结合实施例和附图进一步详细说明本实用新型，但本实用新型的保护范围并不限于此。

参照图1-3，一种双缝干涉实验仪包括光源1、单缝片2、双缝片3、遮光筒4和观察装置5。

上述的光源1、单缝片2、双缝片3安装在同一个支架上，构成一个双缝干涉装置，避免分立仪器导致的调试困难，实现即装即用，双缝干涉装置与观察装置5分别通过连接口安装在遮光筒4两端，无需底座，进行简单调试即可观察实验现象，还可手持实验装置进行移动观察。

上述的光源1是采用半导体光源，发出的光是频率单一的单色光，不需要滤色片，亮度大，并且更换颜色方便。通过更换光源的颜色，可探究干涉条纹间距与光的颜色(波长)的关系

上述的双缝片3是可更换，通过更换不同间距的的双缝，可探究干涉条纹宽度与双缝间距的关系，也可将双缝换成单缝，观察光的衍射条纹与干涉条纹的区别。

上述的遮光筒4长度是可调节的，通过改变遮光筒长度，可探究干涉条纹间距与光屏距离的关系。

Claims (4)

1.一种双缝干涉实验仪，包括光源、单缝片、双缝片、遮光筒和观察装置，其特征在于：所述的光源、单缝片、双缝片安装在同一个支架上，构成一个双缝干涉装置，双缝干涉装置与观察装置分别安装在遮光筒两端。

2.根据权利要求1所述的一种双缝干涉实验仪，其特征在于：所述的光源是采用半导体光源，光源的颜色是可更换的。

3.根据权利要求1所述的一种双缝干涉实验仪，其特征在于：所述的遮光筒是可伸缩的。

4.根据权利要求1所述的一种双缝干涉实验仪，其特征在于：所述的双缝片是可更换的。