CN207396436U - 一种碳化硅芯片的合格率检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种碳化硅芯片的合格率检测设备，包括底座、芯片扫描检测设备、检测安装板、放料传送带和芯片卡槽，所述底座的顶部安装有伺服电机，且伺服电机的顶部通过联轴器安装有主动轮，所述放料传送带的上均匀分布有芯片卡槽，所述放料传送带下方的底座上通过电动升降柱安装有透明支撑板，所述检测安装板的顶部安装有探针固定板，所述探针固定板的内部安装有FMSL高频读写板，且FMSL高频读写板的输出端均匀安装有贯穿探针固定板的检测探针。本实用新型相对于传统检测设备，设计合理，操作简单，设置的检测探针以及芯片扫描检测设备可以对芯片进行双重检测，避免漏检的情况，进而提高了检测的质量，同时也提高了合格率检测的质量。
Description
技术领域
本实用新型涉及碳化硅芯片检测技术领域，具体为一种碳化硅芯片的合格率检测设备。
背景技术
随着时代的发展，人们的生活水平不断地提高，人们对于高科技电子设备的使用越来越广泛，现有的电子设备中大多采用碳化硅芯片，作为处理器，因此芯片的质量决定电子设备的使用，在碳化硅芯片的生产过程中，其工序主要包括固晶、焊接、检测、刷胶，其中，检测就是对固晶、焊接完成的芯片进行性能检测，由于生产中的每张待测芯片上具有一定数量的节点，工作人员只能用读卡器挨个对每张待测芯片进行检测，由于一次只能检测一枚芯片，耗时耗力，效率较低，且存在漏检的现象发生，不利于批量生产使用，且检测的方式比较单一不能够彻底检测芯片的合格率，因此有必要对现有技术进行改进，以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种碳化硅芯片的合格率检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种碳化硅芯片的合格率检测设备，包括底座、芯片扫描检测设备、检测安装板、放料传送带和芯片卡槽，所述底座的顶部安装有伺服电机，且伺服电机的顶部通过联轴器安装有主动轮，所述服电机一侧的底座上通过支撑柱安装有从动轮，且主动轮与从动轮上安装有放料传送带，所述放料传送带的上均匀分布有芯片卡槽，所述放料传送带下方的底座上通过电动升降柱安装有透明支撑板，且透明支撑板紧贴放料传送带的下表面，所述伺服电机与支撑柱之间的底座上安装有芯片扫描检测设备，且芯片扫描检测设备的顶部安装有检测板，所述芯片扫描检测设备一侧的底座上安装有电动伸缩柱，且电动伸缩柱的顶部安装有检测安装板，所述检测安装板的顶部安装有探针固定板，所述探针固定板的内部安装有FMSL高频读写板，且FMSL高频读写板的输出端均匀安装有贯穿探针固定板的检测探针。
优选的，所述检测板上表面的中央位置处安装有红外线定位灯。
优选的，所述芯片扫描检测设备的正面安装有检测指标显示器。
优选的，所述透明支撑板上均匀分布有与芯片卡槽配合使用的支撑凸起。
优选的，所述主动轮与从动轮位于同一水平面，且主动轮与从动轮的直径相同。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该碳化硅芯片的合格率检测设备相对于传统检测设备，设计合理，操作简单，设置的检测探针以及芯片扫描检测设备可以对芯片进行双重检测，避免漏检和检测不彻底的情况，进而提高了检测的质量，同时也提高了合格率检测的质量，设置的放料转送带可以对芯片进行批量检测，进而提高了检测的效率，便于厂家生产芯片的批量检测，设置的检测探针可以对芯片进行全方位检测，设置的透明支撑板可以对芯片进行支撑，同时也可以对检测后的芯片进行下料，便于检测工人的操作，节约了人力物力，便于推广使用。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的俯视图。
图中：1-电动升降柱；2-底座；3-伺服电机；4-芯片扫描检测设备；5-检测指标显示器；6-检测板；7-探针固定板；8-FM1702SL高频读写板；9-检测安装板；10-检测探针；11-LPC主控制器；12-透明支撑板；13-放料传送带；14-主动轮；15-从动轮；16-支撑柱；17-支撑凸起；18-芯片卡槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-2，本实用新型提供的一种实施例：一种碳化硅芯片的合格率检测设备，包括底座2、芯片扫描检测设备4、检测安装板9、放料传送带13和芯片卡槽18，底座2的顶部安装有伺服电机3，且伺服电机3的顶部通过联轴器安装有主动轮14，伺服电机3可为IHSS57-36-20伺服电机，伺服电机3一侧的底座2上通过支撑柱16安装有从动轮15，且主动轮14与从动轮15上安装有放料传送带13，主动轮14与从动轮15位于同一水平面，且主动轮14与从动轮15的直径相同，放料传送带13的上均匀分布有芯片卡槽18，芯片卡槽18可以储存芯片，放料传送带13下方的底座2上通过电动升降柱1安装有透明支撑板12，且透明支撑板12紧贴放料传送带13的下表面，透明支撑板12上均匀分布有与芯片卡槽18配合使用的支撑凸起17，支撑凸起17便于芯片的固定，伺服电机3与支撑柱16之间的底座2上安装有芯片扫描检测设备4，且芯片扫描检测设备4的顶部安装有检测板6，芯片扫描检测设备4可以对芯片进行扫描检测，芯片扫描检测设备4的正面安装有检测指标显示器5，检测板6上表面的中央位置处安装有红外线定位灯，芯片扫描检测设备4一侧的底座2上安装有电动伸缩柱11，且电动伸缩柱11的顶部安装有检测安装板9，电动伸缩柱11可以调节检测探针10的高度，检测安装板9的顶部安装有探针固定板7，探针固定板7的内部安装有FM1702SL高频读写板8，且FM1702SL高频读写板8的输出端均匀安装有贯穿探针固定板7的检测探针10。
工作原理：使用时，将芯片放置在放料传送带13的芯片卡槽18内，然后打开伺服电机3通过主动轮15带动放料传送带13进行转动，当芯片转动到芯片扫描检测设备4的上方时，通过检测板6对芯片进行扫描检测，经过扫描检测后的芯片转动到探针固定板7的上方，并通过检测探针10对芯片进行检测，芯片检测后，通过电动升降柱1将透明支撑板12下降到适当高度，对芯片进行下料。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (5)
1.一种碳化硅芯片的合格率检测设备，包括底座(2)、芯片扫描检测设备(4)、检测安装板(9)、放料传送带(13)和芯片卡槽(18)，其特征在于：所述底座(2)的顶部安装有伺服电机(3)，且伺服电机(3)的顶部通过联轴器安装有主动轮(14)，所述服电机(3)一侧的底座(2)上通过支撑柱(16)安装有从动轮(15)，且主动轮(14)与从动轮(15)上安装有放料传送带(13)，所述放料传送带(13)的上均匀分布有芯片卡槽(18)，所述放料传送带(13)下方的底座(2)上通过电动升降柱(1)安装有透明支撑板(12)，且透明支撑板(12)紧贴放料传送带(13)的下表面，所述伺服电机(3)与支撑柱(16)之间的底座(2)上安装有芯片扫描检测设备(4)，且芯片扫描检测设备(4)的顶部安装有检测板(6)，所述芯片扫描检测设备(4)一侧的底座(2)上安装有电动伸缩柱(11)，且电动伸缩柱(11)的顶部安装有检测安装板(9)，所述检测安装板(9)的顶部安装有探针固定板(7)，所述探针固定板(7)的内部安装有FM1702SL高频读写板(8)，且FM1702SL高频读写板(8)的输出端均匀安装有贯穿探针固定板(7)的检测探针(10)。
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片的合格率检测设备，其特征在于：所述检测板(6)上表面的中央位置处安装有红外线定位灯。
3.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片的合格率检测设备，其特征在于：所述芯片扫描检测设备(4)的正面安装有检测指标显示器(5)。
4.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片的合格率检测设备，其特征在于：所述透明支撑板(12)上均匀分布有与芯片卡槽(18)配合使用的支撑凸起(17)。
5.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片的合格率检测设备，其特征在于：所述主动轮(14)与从动轮(15)位于同一水平面，且主动轮(14)与从动轮(15)的直径相同。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN113064056A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-02 | 深圳群芯微电子有限责任公司 | 一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法 |
| CN113253087A (zh) * | 2021-06-18 | 2021-08-13 | 陕西开尔文测控技术有限公司 | 一种碳化硅动态检测设备 |
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