CN207352177U - 迈克尔逊干涉仪式的x射线探测器 - Google Patents
迈克尔逊干涉仪式的x射线探测器 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒,所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片;所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔,在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器;所述探测器外壳内部设有分光器件,在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜,分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜反射,另一束由半导体材料片反射,两束光干涉并经第二平面镜反射后,能够被光电探测器接收。本实用新型可以有效避免电磁干扰,并能够对X射线进行高速探测,具有抗干扰能力强,响应速度快,可靠性好等优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学元件装配辅助装置,具体涉及迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器。
背景技术
在等离子体相关实验与实际应用场景中,X射线是重要的诊断工具和探测对象,而有的实验关键过程持续时间仅为几十到几百皮秒,因此对X射线进行高速探测有着重要意义。在实验过程中,传统诊断仪器和设备通常是使用电信号进行诊断,即射线辐射半导体,产生相应的电信号,通过电信号的变化得出X射线的变化进而获取相应的物态信息,诊断过程中容易受到电磁干扰,从而影响诊断结果的准确性。并且,由于以电信号为媒介,现有设备也难以实现对X射线的高速探测。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型提供一种迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,能够有效避免电磁干扰,并且可以对X射线进行高速探测。
其技术方案如下:
一种迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒,所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片,由锥形筒引入的X射线能够辐照到该半导体材料片上;所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔,用于连接探针光光源,在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器;所述探测器外壳内部设有分光器件,在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜,分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜反射,另一束由半导体材料片反射,两束光干涉并经第二平面镜反射后,能够被光电探测器接收。
上述结构利用半导体材料片3受到X射线辐照时的光学特性变化,进行X射线探测诊断,相比传统以电信号为媒介的探测器,能够有效避免电磁干扰,提高诊断结果的准确性,同时,由于使用光来进行诊断,能够满足X射线的高速探测需要。
为保证半导体材料片的反射性能,所述半导体材料片正对分光器件的一侧表面镀有铝。
所述锥形筒内置有可以遮挡可见光,同时透过X射线的遮光板,以避免可见光对探测结果造成影响。
所述半导体材料片经封装后可拆卸地安装在探测器外壳外壁上,这样能够方便半导体材料片的更换。
所述分光器件优选为分光棱镜或分光片,以确保其具有稳定可靠的分光性能。
半导体材料片的材质优选为砷化镓或硅。
有益效果:
采用以上技术方案的迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,可以有效避免电磁干扰,并能够对X射线进行高速探测,具有抗干扰能力强,响应速度快,可靠性好等优点。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型的使用状态参考图。
具体实施方式
以下结合实施例和附图对本实用新型作进一步说明。
如图1所示的迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,包括一大致呈中空长方体结构的探测器外壳1,探测器外壳1采用铝合金,在该探测器外壳1的背面安装有同样为铝合金材质的锥形筒2,该锥形筒2的近端直径大于远端直径,在锥形筒2与探测器外壳1连接位置安装有采用砷化镓或硅制成的半导体材料片3,半导体材料片3经固定封装以卡接或螺钉固定方式可拆卸地安装于探测器外壳1外壁上,其内侧表面镀铝,并显露在探测器外壳1的内部空间中。X射线10经锥形筒2后能够辐照到半导体材料片3上,使半导体材料片3内部原子离化,产生光学非线性效应,改变被其反射的光的相位。
在锥形筒2上开孔,以控制X射线入射量,并且在该锥形筒2内置入有遮光板(图中未示出),能够遮挡可见光,并透过X射线。
在探测器外壳1的正面,也就是远离锥形筒2的一侧外壁上设有用于连接探针光光源的探针光通光孔4,并在探针光通光孔4位置配置有光纤接头9。在该探针光通光孔4一侧安装有光电探测器5,光电探测器5固定在探测器外壳1的内壁上,并设有缆线接头10。
在探测器外壳1内腔底部靠近中间位置固定安装有分光器件6,在该分光器件6左右两侧各安装有一个平面镜,即第一平面镜7和第二平面镜8,其中第一平面镜7位于分光器件6右侧,并直接固定到探测器外壳1内壁上,第二平面镜8位于分光器件6左侧,面向第一平面镜7倾斜设置,其与第一平面镜7之间形成大致为45°的夹角。
由探针光通光孔4引入的探针光经分光器件6分束后,其中一束经第一平面镜7反射作为参考光,另一束经半导体材料片3反射,两束光干涉,再经第二平面镜8反射,最终被光电探测器5接收。为保证良好的分光性能,本实施例中,分光器件6优选采用分光棱镜或分光片。
请参照图2,本实施例中,以球形靶腔11为例,激光束12打在位于球形靶腔11中心的平面靶13上,在腔体球心产生X射线,将本实施例的X射线探测器固定在球形靶腔11边缘的支架上,背面锥形筒2对准平面靶13的方向,光纤接头9连接探针光光源14,探针光可以使用连续或脉冲激光,缆线接头10连接示波器15,接探针光光源14和示波器15均位于探测器外壳1的外侧。
预先调节好第一平面镜7的位置,使由该第一平面镜7和经半导体材料片3反射的两束光光程相等,两束光干涉,再经第二平面镜8反射,信号经光电探测器进入腔体外的示波器中进行分析。
最后需要说明的是,上述描述仅仅为本实用新型的优选实施例,本领域的普通技术人员在本实用新型的启示下,在不违背本实用新型宗旨及权利要求的前提下,可以做出多种类似的表示,这样的变换均落入本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,包括探测器外壳(1)和设置在该探测器外壳(1)一侧外壁上的锥形筒(2),其特征在于:所述探测器外壳(1)在与锥形筒(2)连接位置嵌设有半导体材料片(3),由锥形筒(2)引入的X射线能够辐照到该半导体材料片(3)上;所述探测器外壳(1)正对半导体材料片(3)的一侧外壁上设有探针光通光孔(4),用于连接探针光光源,在该探针光通光孔(4)一侧安装有光电探测器(5);所述探测器外壳(1)内部设有分光器件(6),在该分光器件(6)两侧分别设有第一平面镜(7)和第二平面镜(8),分光器件(6)能够对由探针光通光孔(4)引入的探针光进行分束,其中一束经第一平面镜(7)反射,另一束由半导体材料片(3)反射,两束光干涉并经第二平面镜(8)反射后,能够被光电探测器(5)接收。
2.根据权利要求1所述的迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,其特征在于:所述半导体材料片(3)正对分光器件(6)的一侧表面镀有铝。
3.根据权利要求1所述的迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,其特征在于:所述锥形筒(2)内置有可以遮挡可见光,同时透过X射线的遮光板。
4.根据权利要求1所述的迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,其特征在于:所述半导体材料片(3)经封装后可拆卸地安装在探测器外壳(1)外壁上。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,其特征在于:所述分光器件(6)为分光棱镜或分光片。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的迈克尔逊干涉仪式的X射线探测器,其特征在于:所述半导体材料片(3)的材质为砷化镓或硅。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201721520324.3U CN207352177U (zh) | 2017-11-15 | 2017-11-15 | 迈克尔逊干涉仪式的x射线探测器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201721520324.3U CN207352177U (zh) | 2017-11-15 | 2017-11-15 | 迈克尔逊干涉仪式的x射线探测器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN207352177U true CN207352177U (zh) | 2018-05-11 |
Family
ID=62350373
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201721520324.3U Expired - Fee Related CN207352177U (zh) | 2017-11-15 | 2017-11-15 | 迈克尔逊干涉仪式的x射线探测器 |
Country Status (1)
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CN (1) | CN207352177U (zh) |
Cited By (2)
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CN108089217A (zh) * | 2017-11-15 | 2018-05-29 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 基于迈克尔逊干涉仪的x射线探测器 |
CN108594289A (zh) * | 2018-07-19 | 2018-09-28 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 光纤耦合反射式x射线脉冲探测装置 |
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2017
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