CN207215963U - 一种自动老化测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子显示器件技术领域，具体公开了一种自动老化测试装置，包括老化测试架、与老化测试架电连接的控制器以及显示测试过程和测试结果的显示器，还包括安装老化测试架的柜体，所述老化测试架为抽拉式设计，本实用新型实现了在同一个老化测试架上完成对TOP发光器件和BOTTOM发光器件的老化工艺调整，方便OLED器件点亮后的HD、LD、LK等缺陷观测、也能利用手持式CS150测试亮度以及CIE，且线路固定，无需人工进行线路连接，经济实用，体积小，摆放方便。

Description

一种自动老化测试装置

技术领域

本实用新型涉及电子显示器件技术领域，尤其涉及一种自动老化测试装置。

背景技术

OLED(Organic Light Emitting Diode，即有机发光二极管，目前被广泛应用于移动设备上，OLED 具有成本低、全固态、主动发光、亮度高、对比度高、视角宽、响应速度快、厚度薄、低电压直流驱动、功耗低、工作温度范围宽、可实现软屏显示等优点，但是在OLED生产过程中，常常会遇到许多问题和挑战，特别是关于试验线制备出OLED器件后需要做老化测试的技术关键点，现有的老化测试架通常是单一的正负极搭接，验证TOP发光器件时，将器件出光方向朝下，被架子底部遮盖，无法观测像素出光效果，且导线是手动搭接到电源上，经常出现不稳定性，同时也需要工作人员耗费大量时间不停的手动切换开关以及调节电压，由于人为手动性太大以及导线经常拔插转换的缘故，时间久了就会出现短路以及老化架松动等迹象，且当工作人员稍不注意时，也会造成老化工艺不可弥补的损失。

实用新型内容

针对上述技术问题，本实用新型提供了一种能够观测到TOP发光器件和BOTTOM发光器件的出光效果、无需人工进行线路连接、使用方便体积小的自动老化测试装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供的具体方案如下：一种自动老化测试装置，包括老化测试架、与老化测试架电连接的控制器以及显示测试过程和测试结果的显示器，还包括安装老化测试架的柜体，所述老化测试架为抽拉式设计。

优选的，所述老化测试架的上表面设有上架框、下表面设有下架框，通过上架框和下架框将被测器件固定在老化测试架上。

优选的，所述老化测试架的下表面和上架框上设有弹性接触点PIN，实现对TOP发光器件和BOTTOM发光器件两种类型的老化工艺调整。

优选的，所述老化测试架的上表面和下表面均设有弹性接触点PIN，实现对TOP发光器件或BOTTOM发光器件的老化工艺调整，提高测试效率。

优选的，所述上架框和下架框上均设有弹性接触点PIN，实现对TOP发光器件或BOTTOM发光器件的老化工艺调整，提高测试效率。

优选的，所述老化测试架上设有固定上架框和下架框的固定件，防止上架框和下架框脱落，保证测试工作的正常进行。

优选的，所述老化测试架上还设有把手，便于工作人员将老化测试架拉开观测TOP发光器件和BOTTOM发光器件的出光效果。

优选的，所述老化测试架的数量为至少两个，所述老化测试架通过导线连接在一起，可统一控制也可独立控制，根据实际需求进行调整，灵活性强。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：在同一个老化测试架上完成对TOP发光器件和BOTTOM发光器件的老化工艺调整，方便OLED器件点亮后的HD、LD、LK等缺陷的观测、也能利用手持式CS150测试亮度以及CIE，且线路固定，无需人工进行导线连接，经济实用，体积小，摆放方便；老化测试架的数量为至少两个，可根据实际需求进行调整，且可对老化测试架进行统一控制或独立控制，使用灵活性强。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例二的老化测试架结构示意图；

图3为本实用新型实施例三的老化测试架结构示意图；

其中，1为老化测试架；2为柜体；3为上架框；4为下架框；5为弹性接触点PIN；6为把手。

具体实施方式

为了使本领域的技术人员很好的理解本实用新型的技术方案，下面结合附图对本实用新型的技术方案做进一步的阐述。

实施例一：如图1所示，一种自动老化测试装置，包括老化测试架、与老化测试架电连接控制器以及显示测试过程和测试结果的显示器，还包括安装老化测试架的柜体，所述老化测试架为可抽拉式设计，本实施例中被测物为OLED器件，在测试开始时，可通过控制器控制老化测试架所要完成的老化工艺调整，无需在老化测试架上进行线路的切换，控制器与老化测试架通过导线连接，在进行测试时，只需将制备出的OLED器件放置在老化测试架上即可，省去传统老化测试夹具需要手动接线的过程，提高工作效率，通过显示器可查看被测OLED器件的测试结果，实现自动化。

实施例二，如图1、2所示，一种自动老化测试装置，包括老化测试架、与老化测试架电连接的控制器以及显示测试过程和测试结果的显示器，还包括安装老化测试架的柜体，老化测试架为可抽拉式设计安装在柜体内，本实施例中老化测试架的数量为13个，通过导线连接在一起，当然也可以为2个、3个、4个等根据实际需求进行调整，节省占据的空间，老化测试架的上表面设有上架框、下表面设有下架框，通过上架框和下架框将被测器件固定在老化测试架上，在进行测试时，将老化测试架拉开，在老化测试架的上表面和下表面分别放置被测OLED器件，并通过上架框和下架框进行固定，之后将老化测试架放回柜体内，通过控制器控制老化测试架所要完成的老化工艺调整，无需在老化测试架上进行线路的切换，提高工作效率。

实施例三：如图3所示，基于实施例二的基础上，本实施在老化测试架的下表面和上架框上设有弹性接触点PIN，实现对TOP发光器件和BOTTOM发光器件两种类型的老化工艺调整，将制备好的TOP发光器件发光面背向上表面朝上放置，然后将带有弹性接触点PIN的上架框下压，通过固定件将上架框固定在老化测试架上表面，然后再将制备好的BOTTOM发光器件发光面背向下表面朝下放置，将下架框下压，利用固定件将下架框固定在老化测试架下表面，需要说明的是固定件可以为卡扣、夹子或是回形针等，在本实施例中，固定件为夹子，将上架框和下架框夹住固定在老化测试架上，下表面和上架框上设有弹性接触点PIN，由于PIN具有的弹性功能，因此能很好的与OLED器件的正负极接触，实现同时做到各个类型器件的老化工艺调整，且能够观测OLED器件的出光效果等。本实施例中的老化测试架还可以划分为A、B、C、D四个不同的老化工艺调整区域，使得每个抽拉式的老化测试架上都有四个独立的程序控制，可以实现同一片OLED器件上不同的老化工艺调整，当不需要实行A、B、C、D四个区域的划分时，只需在电脑端编写相应程序通过控制器进行控制即可，此处原理为本领域技术人员公知的常识，故不在此赘述，本实施例中亦可对13个老化测试架进行统一程序控制或是独立控制，具体可根据实际测试需求，使用灵活性大，本实施例在老化测试架上还设有把手，使用过程中，可通过把手对老化测试架进行抽拉，操作方便。

实施例四：参考实施例三，本实施例与实施例三的区别点在于，本实施例是在老化测试架的上表面和下表面均设有弹性接触点PIN，实现对TOP发光器件或BOTTOM发光器件的老化工艺调整，即本实施例实现对同一种类型的OLED器件进行老化工艺调整。

实施例五：参考实施例三，本实施例与实施例三的区别点在于，本实施例是在上架框和下架框上均设有弹性接触点，实现对TOP发光器件或BOTTOM发光器件的老化工艺调整，即本实施例实现对同一种类型的OLED器件进行老化工艺调整。

以上所述为本实用新型较佳的实现方式，在不脱离本实用新型构思情况下，进行任何显而易见的变形和替换，均属于本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种自动老化测试装置，包括老化测试架（1）、与老化测试架（1）电连接的控制器以及显示测试过程和测试结果的显示器，其特征在于：还包括安装老化测试架（1）的柜体（2），所述老化测试架（1）为抽拉式设计。

2.根据权利要求1所述的自动老化测试装置，其特征在于：所述老化测试架（1）的上表面设有上架框（3）、下表面设有下架框（4）。

3.根据权利要求2所述的自动老化测试装置，其特征在于：所述老化测试架（1）的下表面和上架框（3）上设有弹性接触点PIN（5）。

4.根据权利要求2所述的自动老化测试装置，其特征在于：所述老化测试架（1）的上表面和下表面均设有弹性接触点PIN（5）。

5.根据权利要求2所述的自动老化测试装置，其特征在于：所述上架框（3）和下架框（4）上均设有弹性接触点PIN（5）。

6.根据权利要求1~5任一项所述的自动老化测试装置，其特征在于：所述老化测试架（1）上设有固定上架框（3）和下架框（4）的固定件。

7.根据权利要求6所述的自动老化测试装置，其特征在于：所述老化测试架（1）上还设有把手（6）。

8.根据权利要求7所述的自动老化测试装置，其特征在于：所述老化测试架（1）的数量为至少两个，所述老化测试架（1）通过导线连接在一起。