CN207067220U - 一种电阻率测试探针固定装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电阻率测试探针固定装置，涉及探针固定装置领域，其技术方案要点是：包括中空壳体，壳体内设有剪叉机构剪叉机构的枢纽处设有用于固定电阻率测试探针的探针孔；剪叉机构的一端设有用于驱动剪叉机构伸缩的驱动机构。本实用新型采用机械结构固定电阻率测试探针，保证相邻的电阻率测试探针之间间距相等且可调，无需通过复杂计算消除人工误差，测量精准。
Description
技术领域
本实用新型涉及探针固定装置领域，特别涉及一种电阻率测试探针固定装置。
背景技术
目前，专利号为201621237537.0的中国专利公开了一种基于四极法大地土壤电阻率测试装置，包括外壳、探针、数据线，外壳上端面设有显示屏、接孔A、接孔B、接孔C、功能控制按键，内部安装有电导率测试电路板、超声波测距电路板、电池，探针包括金属杆体、与金属杆体上端螺接的信号采集装置，信号采集装置分为下端金属导体、左侧的超声波发生器、右侧的超声波接收器、中间的接孔D，数据线包括线缆E和F、下端的接头D、上端的接头A、接头B、接头C，线缆E有两根分别粘结在线缆F的左右两侧。本实用新型的有益效果是：将超声波测距与土壤电导率测试仪结合在一起，可以准确方便的测量两个探针间的距离，采用四个探针同时采样，提高了数据采集效率。
根据该项专利具体实施方式第二段的描述，四个探针需要人工插入土壤中，然后用超声波测距测量两个探针件的距离，需要用复杂的计算消除人工误差带来的影响。且人工插入探针时，探针往往易倾斜，超声波测距测得的距离往往仅是探针上点与点之间的距离，而非探针的实测距离，测量不精准。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种电阻率测试探针固定装置，其特点采用机械结构固定电阻率测试探针，保证相邻的电阻率测试探针之间间距相等且可调，无需通过复杂计算消除人工误差，测量精准。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种电阻率测试探针固定装置，包括中空壳体，壳体内设有剪叉机构剪叉机构的枢纽处设有用于固定电阻率测试探针的探针孔；剪叉机构的一端设有用于驱动剪叉机构伸缩的驱动机构。
通过上述技术方案，利用剪叉机构等距对称性和运动相似性的特点，任何时候剪叉机构上相邻的两枢纽之间的间距总相等，从而保证相邻电阻率测试探针之间的间距总是相等；驱动机构驱动剪叉结构伸缩，即可调整相邻电阻率测试探针之间的距离。
优选的，驱动机构包括沿壳体宽度方向设置于壳体内并与壳体铰接的螺杆，以及设置于螺杆一端的摇柄；螺杆的一侧设有正牙螺纹，另一侧设有反牙螺纹；剪叉机构与驱动机构连接的一端的其中一根剪叉的端部设有铰接件一，铰接件一与螺杆的正牙螺纹螺纹连接，另一根剪叉的端部设有铰接件二，铰接件二与反牙螺纹螺纹连接。
通过上述技术方案，采用螺纹螺杆连接的方式驱动剪叉伸缩，能够实现剪叉机构伸缩长度的精密调节；人工旋转摇柄，即可调整剪叉机构的长度，从而实现相邻的电子率测试探针之间的间距的变化；当需要扩大相邻的电阻率测试探针的间距时，转动螺杆上的摇柄，使螺杆上的铰接件一和铰接件二彼此靠近，剪叉机构向右侧伸展，剪叉机构的相邻两枢纽间的距离扩大，即相邻的两电阻率测试探针之间的距离扩大。当需要缩小相邻的电阻率测试探针的间距时，转动螺杆上的摇柄，使螺杆上的铰接件一和铰接件二相互远离，剪叉机构向左侧压缩，剪叉机构的相邻两枢纽间的距离减小，即相邻的两电阻率测试探针之间的距离缩小。
优选的，摇柄上设有刻度盘。
通过上述技术方案，利用刻度盘向工作人员反馈螺杆旋转角度信息，工作人员能通过几何计算，获知剪叉机构的相邻两枢纽之间的间距，即相邻的电阻率测试探针之间的间距。
优选的，剪叉机构为四级剪叉机构。
通过上述技术方案，能够利用四个探针同时采样，获得土壤电阻率数据，提高了数据采集的效率。
优选的，壳体顶面和底面沿壳体长度方向均开设有用于容纳电阻率测试探针滑动的滑动口。
通过上述技术方案，使电阻率测试探针能够穿过壳体自由滑动，壳体无须容纳电阻率测试探针，体积小，节省用料。
优选的，滑动口的宽度为电阻率测试探针的直径。
通过上述技术方案，能够在滑动口宽度方向对电阻率测试探针限位，防止电阻率测试探针出现抖动，使电阻率测试探针在测试时更稳定。
优选的，探针孔的直径与电阻率测试探针的直径一致。
通过上述技术方案，使电阻率测试探针在探针孔内固定更紧密，防止电阻率测试探针出现抖动，使电阻率测试探针在测试时更稳定。
优选的，壳体内中空部分的高度为剪叉机构的厚度。
通过上述技术方案，保证剪叉机构在壳体内有支撑，不会上下晃动。
优选的，探针孔内设有绝缘层。
通过上述技术方案，防止电阻率测试探针漏电影响测试结果。
本实用新型的有益效果在于:采用机械结构固定电阻率测试探针，保证相邻的电阻率测试探针之间间距相等且可调，无需通过复杂计算消除人工误差，测量精准；壳体与剪叉机构的尺寸相配合，防止剪叉机构晃动。
附图说明
图1为实施例的结构示意图；
图2为实施例的壳体内部的结构示意图；
图3为实施例的刻度盘的结构示意图。
附图标记：1、壳体；2、电阻率测试探针；3、滑动口；4、剪叉机构；5、枢纽；6、探针孔；7、绝缘层；8、螺杆；9、正牙螺纹；10、反牙螺纹；11、铰接件一；12、铰接件二；14、摇柄；15、刻度盘。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
其中相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“底面”和“顶面”、“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
本实施例公开的一种电阻率测试探针固定装置，如图1所示，电阻率测试探针2穿过壳体1，壳体1的上表面开设有用于容纳电阻率测试探针2滑动的滑动口3，滑动口3的宽度与电阻率测试探针2的直径一致。壳体1的下表面亦开设有滑动口3。
如图2所示，壳体1内部中空，设置有剪叉机构4。壳体1中空部分的高度与剪叉机构4的厚度一致。剪叉机构4为四级剪叉机构4，剪叉机构4的枢纽5处设有用于固定电阻率测试探针2的探针孔6。探针孔6内设有绝缘层7，用于防止电阻率测试探针2漏电导致测量误差。探针孔6的直径与电阻率测试探针2的直径一致，能够紧密固定电阻率测试探针2。剪叉机构4的左端设有螺杆8，螺杆8设置于壳体1内，螺杆8的两端分别于壳体1的前后侧面铰接。螺杆8的一侧设有正牙螺纹9，剪叉机构4左端的其中一根剪叉臂的端部设有与正牙螺纹9螺纹连接的铰接件一11。螺杆8的另一侧设有反牙螺纹10，剪叉机构4左端的另一根剪叉臂的端部设有与反牙螺纹10螺纹连接的铰接件二12。螺杆8的前端设有摇柄14，便于工作人员转动螺杆8。
如图2、3所示，摇柄14上还设有刻度盘15，用于反馈螺杆8旋转角度信息，工作人员能通过几何计算，获知剪叉机构4的相邻两枢纽5之间的间距，即相邻的电阻率测试探针2之间的间距。
本实用新型的使用方式如下：预先设定相邻的电阻率测试探针2的间距，并计算出达到该间距，摇柄14需要转过的角度。将四根电阻率测试探针2插入剪叉机构4的探针孔6内。根据预先计算出的角度，依据刻度盘15上的刻度转动螺杆8。当需要扩大相邻的电阻率测试探针2的间距时，转动螺杆8上的摇柄14，使螺杆8上的铰接件一11和铰接件二12彼此靠近，剪叉机构4向右侧伸展，剪叉机构4的相邻两枢纽5间的距离扩大，即相邻的两电阻率测试探针2之间的距离扩大。当需要缩小相邻的电阻率测试探针2的间距时，转动螺杆8上的摇柄14，使螺杆8上的铰接件一11和铰接件二12相互远离，剪叉机构4向左侧压缩，剪叉机构4的相邻两枢纽5间的距离减小，即相邻的两电阻率测试探针2之间的距离缩小。
以上仅是本实用新型的示范性实施方式，而非用于限制本实用新型的保护范围，本实用新型的保护范围由所附的权利要求确定。
Claims (9)
1.一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：包括中空壳体（1），壳体（1）内设有剪叉机构（4），所述剪叉机构（4）的枢纽（5）处设有用于固定电阻率测试探针（2）的探针孔（6）；所述剪叉机构（4）的一端设有用于驱动剪叉机构（4）伸缩的驱动机构。
2.根据权利要求1所述的一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：所述驱动机构包括沿壳体（1）宽度方向设置于壳体（1）内并与壳体（1）铰接的螺杆（8），以及设置于螺杆（8）一端的摇柄（14）；所述螺杆（8）的一侧设有正牙螺纹（9），另一侧设有反牙螺纹（10）；所述剪叉机构（4）与驱动机构连接的一端的其中一根剪叉的端部设有铰接件一（11），所述铰接件一（11）与螺杆（8）的正牙螺纹（9）螺纹连接，另一根剪叉的端部设有铰接件二（12），所述铰接件二（12）与反牙螺纹（10）螺纹连接。
3.根据权利要求2所述的一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：所述摇柄（14）上设有刻度盘（15）。
4.根据权利要求1所述的一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：所述剪叉机构（4）为四级剪叉机构（4）。
5.根据权利要求1所述的一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：所述壳体（1）顶面和底面沿壳体（1）长度方向均开设有用于容纳电阻率测试探针（2）滑动的滑动口（3）。
6.根据权利要求5所述的一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：所述滑动口（3）的宽度为电阻率测试探针（2）的直径。
7.根据权利要求1所述的一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：所述探针孔（6）的直径与电阻率测试探针（2）的直径一致。
8.根据权利要求1所述的一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：所述壳体（1）内中空部分的高度为剪叉机构（4）的厚度。
9.根据权利要求1所述的一种电阻率测试探针固定装置，其特征是：所述探针孔（6）内设有绝缘层（7）。
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