CN206990510U - 扫查架 - Google Patents

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李琴燕
邹伟光
佟帅
李新蕾
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Abstract

本实用新型提供一种扫查架,所述扫查架适用于固定探头以扫查待测物,扫查架包括框架、滑动件以及固定件。滑动件包括楔块,楔块可滑动嵌入于框架,楔块用于固定探头以使探头可滑动地安装于框架。固定件设置于框架,固定件可拆卸地固定于待测物以使探头可操作地绕着待测物旋转。

Description

扫查架
技术领域
本实用新型涉及一种扫查架,尤其涉及一种适用于固定探头以扫查待测物的扫查架。
背景技术
在工业无损检测领域,我们常常需要在狭窄的空间内对待检测工件或物体的细微结构例如焊缝、缺陷等进行检测。通过一定的检测手段,我们可以获知工件或者物体的连接是否良好,材质是否符合要求。以管道为例,一般地,我们采用TOFD(超声波衍射时差法)检测仪来检测管道的焊缝的大小、位置等,TOFD检测仪具有探头,TOFD的探头通过一个探头夹具被固定于一个扫查架上,通过移动扫查架来对管道的焊缝进行扫查检测。但是,由于管道的设计和施工进度等原因,许多管道的焊缝无法用常规TOFD检测仪来进行扫查检测,特别是当管道与管道之间间距太小时,常规的扫查架根本无法通过管道之间的间隙,导致部分焊缝无法进行全面的无损检测。另外,有些待检测工件或者物体的形状不规则,结构比较复杂,其某些局部区域为不规则区域,常规的扫查器难以伸入到这些工件或物体的这些不规则的局部区域,因而无法实现对待测工件或者物体进行全面的扫查检测。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种适用于固定检测探头的扫查架,解决现有扫查架无法应用于狭小空间和不规则区域的问题。
为解决上述问题,本实用新型提供一种扫查架,所述扫查架适用于固定探头以扫查待测物,扫查架包括框架和滑动件。滑动件包括楔块,楔块可滑动嵌入于框架,楔块用于固定探头以使探头可滑动地安装于框架。
根据本实用新型一实施例,楔块的数量为两个。
根据本实用新型一实施例,框架的两侧分别具有滑槽,滑动件包括至少两个螺钉,所述至少两个螺钉对应地限制于滑槽,所述至少两个螺钉通过滑槽对应地抵住每一楔块的两个侧壁。
根据本实用新型一实施例,螺钉的数量为四个。
根据本实用新型一实施例,楔块可拆卸地固定于框架。
根据本实用新型一实施例,扫查架包括固定件,固定件设置于框架,固定件可拆卸地固定于待测物以使探头可操作地绕着待测物旋转。
根据本实用新型一实施例,固定件为绑带,固定件的两端可拆卸地固定于框架的两侧。
根据本实用新型一实施例,扫查架包括两个挂耳,两个挂耳设置于框架的两侧,两个挂耳用于固定所述固定件的两端。
根据本实用新型一实施例,框架和挂耳一体成型。
与现有技术相比,本技术方案具有以下优点:
本实用新型通过采用可滑动连接于框架的滑动件来将检测的探头直接安装于框架的滑动区域,省略了现有的扫查架中用于固定探头的探头夹具,因此降低了扫查架的高度,扫查架的体积减小。另外,通过将楔块嵌入在框架内,降低了楔块和框架结合在一起的高度,将扫查架的高度控制最小。因此,本实用新型的扫查架适合应用于狭小的空间内的焊缝、缺陷等微观结构检测,例如检测位置有阻碍物的小空间,管道和管道之间间距较小的区域等。第二,通过滑动所述滑动件即可调节探头的位置,可便于灵活地根据待测物尺寸调节探头间距。
本实用新型通过于设置四个螺钉来对应作用于两个楔块各自的两个侧壁,使得楔块受力平衡,确保楔块在移动过程中位置不发生倾斜或偏移,避免影响探头的检测结果。
本实用新型通过将楔块设置为可拆卸固定于框架,可以便于用户对楔块进行更换。
本实用新型通过设置可拆卸地环绕固定于待测物的固定件,不仅可以将整个扫查架固定于待测物体上,还可以将安装有探头的框架环绕待测物体转动任意角度。因此,利用扫查架既可以针对待测物的某个区域进行检测,也可以对待测物进行360°全方位检测。
附图说明
图1是本实用新型实施例的扫查架的俯视图;
图2是本实用新型实施例的扫查架的侧视图;
图3是本实用新型实施例的扫查架的使用状态示意图。
具体实施方式
以下描述只用于揭露本实用新型以使得本领域技术人员能够实施本实用新型。以下描述中的实施例只作为举例,本领域技术人员可以想到其他显而易见的变形。在以下描述中界定的本实用新型的基本原理可应用于其他实施方案,变形方案,改进方案,等同方案以及其他未背离本实用新型精神和范围的其他方案。
如图1和图2所示,本实用新型提供一种扫查架,扫查架适用于固定检测设备的探头100,以配合检测设备,例如TOFD(超声波衍射时差法)检测仪器,对待测物进行微观结构检测。特别地,所述扫查架非常适合应用于常规扫查架无法通过的狭小空间,例如管道之间间距较小的狭小区域等。扫查架包括框架10和滑动件20。
框架10具有一个滑动区域11,框架10相对的两侧具有滑槽12,即框架 10具有两个滑槽12,两个滑槽12的位置对应。可选地,框架10为铝合金框架。
滑动件20用于固定检测设备的探头100,滑动件20可滑动地连接于框架10,以使探头可滑动地安装于滑动区域11。在使用状态下,探头100被固定于滑动件20,滑动所述滑动件20,探头100随之在框架10的滑动区域11滑动,从而调整探头的位置。
进一步地,滑动件20包括楔块21,楔块21可滑动地嵌入于框架10的中心,楔块21用于固定探头100以使探头可滑动地安装于所述滑动区域11。具体而言,楔块21被嵌入于框架10,框架10的两个滑槽12对应地正对楔块 21的两个侧壁。楔块21可被操作于框架10的滑动区域11自由滑动,从而调整探头100的位置。可选地,楔块21可拆卸地固定于框架10,以便于用户对楔块21进行更换。值得一提的是,当把探头100固定于楔块21时,由于将楔块21嵌入在框架10内,降低了楔块21和框架10结合在一起的高度,将扫查架的高度控制最小。
于本实施例中,楔块21的数量为两个,两个楔块21间隔地设置于框架10。两个楔块21用于对应地固定两个探头100。通过滑动两个楔块21,可调整两个探头100之间的间距。于另一实施例中,楔块21的数量为其他数值,例如一个。
滑动件20还包括至少两个螺钉22,所述至少两个螺钉22对应地限制于两个滑槽12并通过滑槽12抵住楔块21的侧壁,也就是说,所述至少两个螺钉22对应抵住楔块21的两个侧壁。同步地操作楔块21两侧的螺钉22,使得螺钉22沿着滑槽12自由移动,螺钉22带动楔块21于滑动区域11内移动,从而调整固定于楔块21上的探头100的位置。值得一提的是,楔块21的两侧均受到螺钉22的作用力,即所述至少两个螺钉22分别作用于楔块21的两侧,这样使得楔块21在移动时受力更均匀、平衡,确保楔块21在移动时位置发生倾斜或偏移,降低检测时对探头100的影响。
于本实施例中,螺钉22的数量为四个。四个螺钉22对称地限制于框架 10两侧的滑槽12。也就是说,其中两个螺钉22限制于框架10一侧的滑槽12,另外两个螺钉22限制于框架10另一侧的滑槽12。位于框架10同一侧的两个螺钉间隔设置以分别抵住两个楔块21的同一侧侧壁。这样,两个探头间隔地、可滑动地安装于框架10的滑动区域11。通过滑动螺钉22即可分别滑动两个楔块21以调整探头100的位置和两个探头100之间的间距,这样可便于用户根据待测物的位置和大小将探头的位置和间距调整到最佳状态。
于另一实施例中,螺钉22的数量为其他数值,例如两个。于另一实施例中,用其他可滑动连接的元件,例如销轴,来代替螺钉22。
所述扫查架还包括固定件30,固定件30设置于框架10,固定件30用于将扫查架固定于待测物。在使用状态下,固定件30可拆卸地环绕固定于待测物,从而扫查架被安装于待测物上,并且整个扫查架可以待测物为中心沿着待测物的表面旋转。用户绕着待测物旋转扫查架,固定于扫查架上的探头随之绕着待测物360°旋转,实现对待测物进行360°扫查检测。可以理解的是,由于固定件30可拆卸,因此用户可通过将固定件30固定于待测物或者从待测物上拆卸下来的方式灵活地安装扫查架。
于本实施例中,固定件30为具有弹性的绑带,固定件30的两端可拆卸地固定于框架10的两侧。于另一实施例中,固定件30为其他紧固件,例如卡箍等。
进一步地,扫查架包括两个挂耳40,两个挂耳40对应地设置于框架10 的两侧,两个挂耳40用于对应地固定所述固定件30的两端,也就是说,固定件30的两端分别可拆卸地固定于挂耳40上。于本实施中,挂耳40为环形,固定件30的两端分别通过缠绕的方式固定于挂耳40。于另一实施中,挂耳 40为其他形状,例如矩形、三角形等。特别地,挂耳40和框架10一体成型。
如图3所示,在使用扫查架的过程中,首先根据不同的待测物尺寸来计算PCS(两个探头100入射点间距),再根据计算的PCS数值及测量的探头 100的前沿距离调整两个探头100之间的间距,具体而言,滑动所述滑动件20的螺钉22,以使螺钉22带动楔块21于滑动区域11滑动,即可调整固定于楔块21的两个探头100的间距。进一步地,将固定件30环绕固定于待测物的检测位置,从而固定扫查架。具体而言,于本实施例中,将扫查架置于待测物的检测位置,使得探头100垂直于待测区域,将弹性的绑带30穿过挂耳40并环绕待测物绑紧,这样,整个扫查架通过绑带30被绑定于待测物。通过手动地拉动旋转的方式使得扫查架绕着待测物旋转,从而探头100随着转动以对待测物进行扫查检测。值得一提的是,由于扫查架可被操作绕着待测物旋转任意角度,因此本实用新型的扫查架既可以针对待测物的某个区域进行检测,也可以对待测物进行360°全方位检测。
本实用新型的扫查架的优点是,采用滑动件20的楔形块21和螺钉22将探头100直接安装于扫查架,省略了现有技术的扫查架中用于固定探头100 的探头夹具,因此降低了扫查架的高度,扫查架的体积减小。当把探头100 装设于扫查架时,扫查架的高度基本不高于探头100的高度,也即在高度方向上扫查架不会额外占用空间,扫查架的高度控制最小。因此,本实用新型的扫查架适合应用于狭小的空间内的焊缝、缺陷等微观结构检测,例如检测位置有阻碍物的小空间,管道和管道之间间距较小的区域等。
本领域技术人员应当理解,上述描述以及附图中所示的本实用新型的实施例只作为举例,并不限制本实用新型。本实用新型的目的已经完整并有效地实现。本实用新型的功能和结构原理已在实施例中展示和说明,在没有背离所述原理情况下,本实用新型的实施方式可以有任何变形和修改。

Claims (9)

1.一种扫查架,适用于固定探头以扫查待测物,其特征在于,所述扫查架包括:
框架;
滑动件,包括楔块,所述楔块可滑动嵌入于所述框架内,所述楔块用于固定探头以使探头可滑动地安装于所述框架。
2.根据权利要求1所述的扫查架,其特征在于,所述楔块的数量为两个。
3.根据权利要求2所述的扫查架,其特征在于,所述框架的两侧分别具有滑槽,所述滑动件包括至少两个螺钉,所述至少两个螺钉对应地限制于所述滑槽,所述至少两个螺钉通过所述滑槽对应地抵住每一楔块的两个侧壁。
4.根据权利要求3所述的扫查架,其特征在于,所述螺钉的数量为四个。
5.根据权利要求1所述的扫查架,其特征在于,所述楔块可拆卸地固定于所述框架。
6.根据权利要求1所述的扫查架,其特征在于,所述扫查架包括固定件,所述固定件设置于所述框架,所述固定件可拆卸地固定于待测物以使探头可操作地绕着待测物旋转。
7.根据权利要求6所述的扫查架,其特征在于,所述固定件为绑带,所述固定件的两端可拆卸地固定于所述框架的两侧。
8.根据权利要求6所述的扫查架,其特征在于,所述扫查架包括两个挂耳,两个所述挂耳设置于所述框架的两侧,两个所述挂耳用于固定所述固定件的两端。
9.根据权利要求8所述的扫查架,其特征在于,所述框架和所述挂耳一体成型。
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