CN206974520U - 一种大豆物理检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型给出了一种大豆物理检测系统，包括支撑平台、电动筛选机、输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，输送带和电动筛选机均设置在支撑平台上，且电动筛选机位于输送带前方，在电动筛选机的前方设置一第一杂质漏孔，样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，在观察箱前方设置有第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔，质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方及输送带的右侧均相对应设置一自动称重装置。该系统能够自动实现大豆内被拣出的杂质及相关不合格豆粒的称重，并通过统计主机实现各项指标的自动计算，提高了大豆检测效率，降低了检测劳动强度。

Description

一种大豆物理检测系统

技术领域

本实用新型涉及一种大豆物理检测系统。

背景技术

大豆作为一种经济作物，在我国有着广泛的种植面积，大豆的质量决定了其价格与用途，因此质量的正确断定十分重要。大豆质量的物理检验指标主要有完整粒率、杂质含量、损伤粒率、热损伤粒率和色泽等，检验人员在检验大豆时，主要是依据GB/5494的规定进行检验。在检验时，为确定大豆样品的完整粒率、杂质含量、损伤粒率和热损伤粒率，需要检验人员对上述指标所涉及到的杂质及不合格大豆种类进行依次分拣及称重，然后进行数据统计，并通过计算得出相应的大豆指标，在上述检测过程中，检测人员需要进行多次称重操作，导致检验效率低下，且在长时间作业下，给检测人员带来的劳动强度也大，容易导致后期检测人员称重读数存在较大误差，从而影响大豆的质量标定。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种大豆物理检测系统，利用本系统进行大豆抽样检测时，系统能够自动实现大豆内被拣出的杂质及相关不合格豆粒的称重，并通过统计主机实现各项指标的自动计算，不仅提高了大豆检测效率，同时，也降低了检测劳动强度。

本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是：一种大豆物理检测系统，包括支撑平台、电动筛选机、输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，所述输送带通过输送带支架设置在所述支撑平台一侧，所述电动筛选机设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带前方，在所述支撑平台上还设置一位于所述电动筛选机前方的第一杂质漏孔；

所述样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，所述观察箱为一前侧和底部都没有侧板的方形箱体，所述观察箱设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带右侧，在所述观察箱的顶板底平面上设置有检测光源，在所述支撑平台上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔；

所述质量统计装置设置在所述支撑平台上，且位于所述观察箱右侧，所述质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在所述统计主机上设置一显示屏，所述键盘和鼠标与所述统计主机相连接，统计主机控制输送带的开启与关闭；

在所述第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方均相对应设置一所述自动称重装置，在所述输送带支架的右侧设置一所述自动称重装置，所述自动称重装置包括称重斗和称重传感器，所述称重传感器的称重端与所述称重斗的一侧壁相连接，在所述称重斗的下部设置一前端与所述称重斗的内部相吻合的闸板，所述闸板的后端与一电动伸缩杆的活动端头相连接，所述电动伸缩杆通过一支撑板固定在所述称重斗外侧，所述称重传感器、电动伸缩杆与所述统计主机相对应连接。

优选地，该系统还包括第一收集盒、第二收集盒和第三收集盒，所述第一收集盒用于收集位于第一杂质漏孔下方的称重斗内放出的杂质；所述第二收集盒用于收集位于所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔下方相对应的称重斗内放出的杂质；所述第三收集盒设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带左侧下方。

进一步地，在所述分析盘上设置一分隔板，所述分隔板由三个竖板构成，三个所述竖板的末端相互连接在一起，且相邻的两个竖板之间的夹角为120°，在所述分析盘的外边缘上设置有与所述竖板的前端相对应的卡槽。

进一步地，在所述支撑平台上设置一位于所述观察箱内的分析盘固定槽。

进一步地，在所述支撑平台的下底平面上设置一与所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔相配合的第一挡板。

优选地，在所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的一侧分别设置一位于所述支撑平台上的标签。

优选地，在所述输送带的两侧各设置一第二挡板。

优选地，在所述镊子的两个镊头的内侧均设置一橡皮垫。

本实用新型的有益效果是：本实用新型结构简单，操作便利，利用本实用新型中的自动称重装置，可在检测人员依据检测标准将大豆内杂质及不合格的豆类拣出后，实现杂质及相关不合格豆粒的自动称重，称重传感器能够将称重结果传送到统计主机内，统计主机可依据称重信息实现大豆相关指标的计算与显示，上述过程避免了检测人员反复称重与数据计算，从而不仅降低了检测劳动强度，同时也提高了大豆指标计算准确率；在大豆大样进行小样分出时，将分检出大型杂质的剩余大样直接均匀的倒置在输送带上，这样仍存留在大豆大样内的杂质分布比较均匀，从而可保证小样内含有的杂质也较为均匀，继而为大豆指标的精确计算提供保障；在大豆小样进行分析时，通过分隔板可将分析盘内的大豆分割成几个区域，检测人员可分区域依次进行检测，从而可避免检测人员在整个分析盘区域内反复拣拾杂质和不合格豆类，有利于提高分拣效率；利用第一挡板可阻挡被拣出的杂质及不合格豆类掉入到相对应的称重斗内，检测人员在必要的情况下，可再次对位于第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔内的杂质及不合格豆类进行检测，以保证分类的正确性，从而有利于提高检测指标准确度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的部分优选实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的整体结构侧视图；

图3分析盘的第二种具体实施例结构示意图；

图4为镊子的第二种具体实施例结构示意图；

图5图2中A处放大图；

图中：1支撑平台、11第一杂质漏孔、12分析盘固定槽、13第二杂质漏孔、14第三杂质漏孔、15第四杂质漏孔、16第一挡板、17标签、2电动筛选器、3输送带、31输送带支架、32第二挡板、41观察箱、42检测光源、43分析盘、431卡槽、432分隔板、4321竖板、44镊子、441橡皮垫、51统计主机、511显示屏、52鼠标、53键盘、自动称重装置6、61称重斗、62称重传感器、63电动推杆、64支撑板、65闸板、7第一收集盒、71支架、8第三收集盒、9第二收集盒、91支架、101支架、102支架。

具体实施方式

下面将结合具体实施例及附图1-5，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分优选实施例，而不是全部的实施例。本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似变形，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

本实用新型提供了一种大豆物理检测系统(如图1所示)，包括支撑平台1、电动筛选机2、输送带3、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置6，电动筛选机2为本领域内现有产品，其基本组成及工作方式，在本具体实施例内不再做详细描述，所述输送带3通过输送带支架31设置在所述支撑平台1一侧，对于输送带3的具体安装方式及利用驱动电机实现输送带3的运转方式均为本领域内成熟，在此，不再做详细描述。所述电动筛选机2设置在所述支撑平台1上且位于所述输送带3前方，电动筛选机2主要用于对大豆大样进行筛选，具体筛选标注可参照GB/5494规定，在所述支撑平台2上还设置一位于所述电动筛选机2前方的第一杂质漏孔11，第一杂质漏孔11主要用来收集通过电动筛选机2的筛网上拣出的大型杂质及从筛底上收集的其它杂质。

所述样品分析装置包括观察箱41、分析盘43和镊子44，所述观察箱41为一前侧和底部没有侧板的方形箱体，所述观察箱41设置在所述支撑平台1上且位于所述输送带3右侧，在所述观察箱41的顶板底平面上设置有检测光源42，在所述支撑平台1上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14和第四杂质漏孔15，分析盘43主要用来盛放大豆小样，在分析大豆小样样品时，将装有大豆的分析盘43放置在检测光源42下，检测人员通过检测光源42来分拣分析盘内相对应的杂质及不合格的大豆种类，为防止分析盘43被不小心碰触，而发生大豆洒落出去的情况，在此，在所述支撑平台1上设置一位于所述观察箱41内的分析盘固定槽12，在分析时，可将分析盘43放置在分析盘固定槽12内。

所述质量统计装置设置在所述支撑平台1上，且位于所述观察箱41右侧，所述质量统计装置包括统计主机51、键盘53和鼠标52，在所述统计主机51上设置一显示屏511，所述键盘53和鼠标52与所述统计主机51相连接，键盘53用来在统计主机51上输入写产品信息及资料，鼠标52用来操作统计主机51实现相关计算软件运行，统计主机51可控制输送带3的开启与关闭。

在所述第一杂质漏孔11、第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14和第四杂质漏孔15的下方均相对应设置一所述自动称重装置6，在所述输送带支架31的右侧设置一所述自动称重装置6，所述自动称重装置6包括称重斗61和称重传感器62，称重传感器62为悬臂梁式称重传感器，所述称重传感器62的称重端与所述称重斗61的一侧壁相连接，具体实现形式为：在称重斗61的侧壁上固定设置一支板，称重传感器62的称重端通过螺栓与支板固定相连。在所述称重斗61的下部设置一前端与所述称重斗61的内部相吻合的闸板65，所述闸板65的后端与一电动伸缩杆63的活动端头相连接，所述电动伸缩杆63通过一支撑板64固定在所述称重斗61外侧，通过电动伸缩杆63的往复运动，可带动闸板65的来回运动，从而可实现称重斗61的出料口的开启与关闭，在闸板65关闭时，称重传感器62可实现对称重斗61内的物料的称重，所述称重传感器62、电动伸缩杆63与所述统计主机51相对应连接，在小样样品分分析完毕之后，统计主机51可根据各相关称重传感器62传送的质量信息，实现大豆相关指标的自动计算，并通过显示屏511将结果显示出来。

自动称重装置6设置在第一杂质漏孔11下方的具体实施方式为：称重传感器62的固定端与固定设置在支撑平台1下底平面的支架102固定相连，称重斗61的入料口与第一杂质漏孔11相对应，称重传感器62和电动伸缩杆63与统计主机51相连接，统计主机51能够接收称重传感器62的称重信号和控制电动伸缩杆63的运动，此处的称重传感器62主要用来获得大豆大样内的杂质。

自动称重装置6一一设置在第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14及第四杂质漏孔15下方的具体实施方式为：称重传感器62的固定端与固定设置在支撑平台1下底平面的支架101固定相连，三个称重斗61的入料口一一与第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14及第四杂质漏孔15相对应，三个称重传感器62和三个电动伸缩杆63均与统计主机51相连接，统计主机51能够接收三个称重传感器62的称重信号和控制三个电动伸缩杆63的运动，此处的三个称重传感器62一一对应用来获得大豆小样里的杂质、损伤粒(包括未成熟粒、虫蚀粒、病变粒、发芽涨大粒等)和热损伤粒的质量。统计主机51通过获得相应的称重信号，可以迅速计算出大豆样品的完整粒率、杂质含量、损伤粒率和热损伤粒率。

自动称重装置6设置在输送带支架31右侧的具体实施方式为：称重传感器62固定在输送带支架31上，称重传感器62和电动伸缩杆63与统计主机51相连接，在此处，统计主机51实施监测称重传感器62发出的大豆质量，当大豆质量达到设置值时，统计主机51将驱动输送带3的电源断掉，使得输送带3停止输送大豆，从而获得大豆小样质量，同时，统计主机51使得相应的电动伸缩杆63缩回，位于称重斗61内的大豆落入分析盘63内，进一步地，在利用输送带3的运行来获得大豆小样时，为防止大豆从输送带3两侧掉落，在此，在所述输送带3的两侧各设置一第二挡板32。

在检测结束后，为便于收集与第一杂质漏孔11、第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14和第四杂质漏孔15相对应的称重斗61内的杂质或不合格豆类，在此，设计了第一收集盒7和第二收集盒9，第一收集盒7用于收集位于第一杂质漏孔11下方的称重斗61内放出的杂质，第一收集盒7通过支架71固定在称重斗61下方，第二收集盒9用于收集位于所述第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14和第四杂质漏孔15下方相对应的称重斗61内放出的杂质和不合格豆类，第二收集盒9通过支架91固定在支撑平台1上。为便于收集位于输送带3上剩余的大豆样品，在此，设置了第三收集盒8,第三收集盒8设置在所述支撑平台1上，且位于所述输送带3左侧下方，输送带3反向运动，便可将剩余的大豆样品输送带第三收集盒8内。

在分析盘43内分析大豆样品时，为提高分析效率，在此，分析盘43上设置一分隔板432，所述分隔板432由三个竖板4321构成，三个竖板4321的末端相互连接在一起，且相邻的两个竖板4321之间的夹角为120°，在所述分析盘43的外边缘上设置有与所述竖板4321的前端相对应的卡槽431，为便于镊子44将豆粒顺利夹住，在此，镊子44的两个镊头的内侧均设置一橡皮垫441。

为便于对位于第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14和第四杂质漏孔15内的杂质进行再次检测，以提高分拣质量，在此，在所述支撑平台1的下底平面上设置一与所述第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14和第四杂质漏孔15相配合的第一挡板16，第一挡板16的两侧卡置在两个L型支架之间，两个L型支架相对固定设置在支撑平台1的下底平面上，为便于识别第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14和第四杂质漏孔15内杂质种类，在此，在第二杂质漏孔13、第三杂质漏孔14和第四杂质漏孔15的一侧分别设置一位于所述支撑平台1上的标签17，通过标签17可标记相对应的杂质及不合格豆类种类。

本实用新型中，“前”“左”、“右”均是为了方便描述位置关系而采用的相对位置，因此不能作为绝对位置理解为对保护范围的限制。

除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。

以上所述结合附图对本实用新型的优选实施方式和实施例作了详述，但是本实用新型并不局限于上述实施方式和实施例，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种大豆物理检测系统，包括支撑平台和电动筛选机，其特征是，该检测系统还包括输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，所述输送带通过输送带支架设置在所述支撑平台一侧，所述电动筛选机设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带前方，在所述支撑平台上还设置一位于所述电动筛选机前方的第一杂质漏孔；

所述样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，所述观察箱为一前侧和底部都没有侧板的方形箱体，所述观察箱设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带右侧，在所述观察箱的顶板底平面上设置有检测光源，在所述支撑平台上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔；

所述质量统计装置设置在所述支撑平台上，且位于所述观察箱右侧，所述质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在所述统计主机上设置一显示屏，所述键盘和鼠标与所述统计主机相连接，统计主机控制输送带的开启与关闭；

在所述第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方均相对应设置一所述自动称重装置，在所述输送带支架的右侧设置一所述自动称重装置，所述自动称重装置包括称重斗和称重传感器，所述称重传感器的称重端与所述称重斗的一侧壁相连接，在所述称重斗的下部设置一前端与所述称重斗的内部相吻合的闸板，所述闸板的后端与一电动伸缩杆的活动端头相连接，所述电动伸缩杆通过一支撑板固定在所述称重斗外侧，所述称重传感器、电动伸缩杆与所述统计主机相对应连接。

2.根据权利要求1所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，该系统还包括第一收集盒、第二收集盒和第三收集盒，所述第一收集盒用于收集位于第一杂质漏孔下方的称重斗内放出的杂质；所述第二收集盒用于收集位于所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔下方相对应的称重斗内放出的杂质；所述第三收集盒设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带左侧下方。

3.根据权利要求2所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述分析盘上设置一分隔板，所述分隔板由三个竖板构成，三个所述竖板的末端相互连接在一起，且相邻的两个竖板之间的夹角为120°，在所述分析盘的外边缘上设置有与所述竖板的前端相对应的卡槽。

4.根据权利要求3所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述支撑平台上设置一位于所述观察箱内的分析盘固定槽。

5.根据权利要求4所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述支撑平台的下底平面上设置一与所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔相配合的第一挡板。

6.根据权利要求1所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的一侧分别设置一位于所述支撑平台上的标签。

7.根据权利要求1所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述输送带的两侧各设置一第二挡板。

8.根据权利要求1所述的一种大豆物理检测系统，其特征是，在所述镊子的两个镊头的内侧均设置一橡皮垫。