CN206960633U - 一种非接触式检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种非接触式检测装置,包括检测端和被检测端；所述的被检测端上设有检测源，检测源包括磁源；所述检测端上包括磁场强度采集装置、信号预处理装置以及MCU检测电路；所述的磁场采集装置包括型号为AH1887的单极霍尔开关，所述的单极霍尔开关具有接地线、电源连接线、第一输出口和第二输出口，所述第一输出口和第二输出口分别用于感应磁场发生装置中的S极磁通和N极磁通，所述第一输出口和第二输出口得到的信号输出至信号预处理装置；所述的信号预处理装置，用于将第一输出口和第二输出口感知的磁场信号转换为MCU中的电子信号；所述的MCU检测电路输出执行信号。本实用新型的有益效果是实现非线束连接关系的检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置，具体涉及应用于手机、PAD、电子贺卡、悬浮式音箱等产品的非线束连接的非接触式检测装置。
背景技术
在现代的各种产品，集成化和美观化大家越来越放在第一位，使用感受体验更是决定到一个产品的生命周期。而在于有些产品，两者之间的配合检测通过需要线束或其它来连接，会影响到产品的外观、功能和客户的使用体验。可应用于手机、PAD、电子贺卡、悬浮式音箱等产品。
实用新型内容
本实用新型的目的是主要通过非接触式的方式来使得产品之间不需线束连接检测。还可解决传统压触开关检测时，行程的偏差而检测不到的问题。
本实用新型提供一种非接触式检测装置,包括检测端和被检测端；
所述的被检测端上设有检测源，检测源包括磁源；
所述检测端上包括磁场强度采集电路、信号预处理电路以及MCU检测电路；
所述的磁场采集装置包括型号为AH1887的单极霍尔开关，所述的单极霍尔开关具有接地线、电源连接线、第一输出口和第二输出口，所述第一输出口和第二输出口分别用于感应磁场发生装置中的S极磁通和N极磁通，所述第一输出口和第二输出口得到的信号输出至信号预处理电路；
所述的信号预处理装置，用于将第一输出口和第二输出口感知的磁场信号转换，为MCU提供正确的信号；
所述的MCU检测电路输出执行信号。
信号预处理装置主要用于加固信号强度，防止信号失真。
在实用新型中，执行信号用以控制下游的执行机构，执行机构根据产品要求的功能进行执行，例如，对于手机、PAD而言，执行信号为启动手机或PAD的信号，该检测装置检测到信号，执行机构会执行手机或PAD的开机或待机操作，又如对于电子贺卡、悬浮式音箱，执行信号可能为触发音乐启动或停止的信号。在本实用新型中，其发明内容主要针对信号检测及传输，对执行机构的列举并不能限定本实用新型的保护范围，其执行机构根据具体适用条件而定。
本实用新型采用的检测源为磁源，磁场采集装置采用的是可检测单极磁场的霍尔开关，通过这种检测，具有更高的稳定性和准确率，有利于对非接触式的连接装置进行检测。
在一实施例中，所述磁源包括阵列式布置的两个或两个以上的磁体，相邻所述的磁体同极相对。
该排布方式能够形成更为有效的单机磁场。
在另一实施例中，所述的磁源为单一极性的磁性源。
在一实施例中，所述的被检测端上还包括光源，检测端上设有光采集电路，用以采集光源中的光，信号与处理装置将光采集电路中采集到的信号转换为MCU的电子信号。
对光信号进行检测是对于非接触连接检测的一种补充，减少误测的误差。
优选的，所述的光源为阵列式排布的光发生装置组成。
优选的，所述的被检测端与电池连接。
优选的，所述的检测端连接独立电源。
本实用新型的有益效果是：主要解决传统检测方式中因产品使用时间久，行程中而出现检测不到位、检测偏离、传统压触开关因长时间损坏、传统检测方式中点检测误差等引起的检测不良、不到位而使用产品功能不达标、影响外观美等情况。检测方式为隔离的方式，还可节约传统方式中的线束等，节约系统成本。
应理解，在本实用新型范围内中，本实用新型的上述各技术特征和在下文(如实施方式)中具体描述的各技术特征之间都可以互相组合，从而构成新的或优选的技术方案。限于篇幅，在此不再一一累述。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为霍尔开关的结构示意图。
具体实施方式
术语解释
MCU：该产品中的核心部分，用于检测霍尔信号、内部算法处理产品功能、控制执行电路。
磁源：产生检测磁场，该磁源较为不同的是，使用多颗磁铁，采用不同的组合形式而产生，单极性磁场源。
信号预处理电路：把检测到的霍尔信号进行识别、加固信号强度后给到MCU。
一种非接触式检测装置,包括检测端和被检测端；所述的被检测端上设有检测源，检测源包括磁源和光源；所述检测端上包括磁场强度采集电路、光采集电路、信号预处理电路以及MCU检测电路；所述的磁场采集装置包括型号为AH1887的单极霍尔开关，所述的单极霍尔开关具有接地线、电源连接线、第一输出口和第二输出口，所述第一输出口和第二输出口分别用于感应磁场发生装置中的S极磁通和N极磁通，所述第一输出口和第二输出口得到的信号输出至信号预处理电路；所述的信号预处理装置，用于将第一输出口和第二输出口感知的磁场信号转换，为MCU提供正确的信号。光采集电路用以采集光源中的光，信号与处理装置将光采集电路中采集到的信号转换为MCU的电子信号。MCU检测电路输出执行信号。信号预处理装置主要用于加固信号强度，防止信号失真。执行信号用以控制下游的执行机构，执行机构根据产品要求的功能进行执行，例如，对于手机、PAD而言，执行信号为启动手机或PAD的信号，该检测装置检测到信号，执行机构会执行手机或PAD的开机或待机操作，又如对于电子贺卡、悬浮式音箱，执行信号可能为触发音乐启动或停止的信号。在本实用新型中，其发明内容主要针对信号检测及传输，对执行机构的列举并不能限定本实用新型的保护范围，其执行机构根据具体适用条件而定。
本实用新型采用的检测源为磁源，磁场采集装置采用的是可检测单极磁场的霍尔开关，通过这种检测，具有更高的稳定性和准确率，有利于对非接触式的连接装置进行检测。在一实施例中，所述磁源包括阵列式布置的两个或两个以上的磁体，相邻所述的磁体同极相对。该排布方式能够形成更为有效的单机磁场。在另一实施例中，所述的磁源为单一极性的磁性源。
对光信号进行检测是对于非接触连接检测的一种补充，减少误测的误差。光源为阵列式排布的光发生装置组成。被检测端与电池连接。检测端连接独立电源。
如图1-2所述的一种非接触式检测装置，应用于非接触式的产品或机构中，包括检测端和被检测端，所述的被检测端包括检测源，所述的检测源为磁源，磁源为阵列式排布的单极性磁体应用，相邻的磁源同极性磁极相对，即可以为N-S-S-N方式排布或S-N-N-S方式排布，此时，形成同极性的N磁场或者同极性的S极磁场。检测源通过镶嵌等方式固定于物体结构件的可产生磁场强度的本体或可以产生磁场强度物体或产生光纤的物体产品上。所述的检测端设有磁场强度采集电路、信号预处理电路和MCU采集检测电路。检测端和被检测端双方都使用独立电源或电路，或者检测端被检测端单端任何一端使用电源或电路。所述的磁场采集电路包括电源、单极霍尔开关，型号为AH1887，具有两个霍尔效应和双CMOS输出驱动器。在1.8V电源中，总的运行功率降至5uW。足够强度的N极或S极将打开输出。输出将在无磁场下关闭。当激发通量密度(B)大于操作点Bop(s极)时，第一输出口将导通(低)，输出保持，直到B低于释放点Brp(s极)，然后关闭(高)。当磁通密度(B)大于操作点Bop(n极)时，第二输出口将导通(低)，输出保持到B低于释放点Brp(n极)，然后关闭(高)。霍尔开关还设有接地线GND和电源连接线Vdd连接1.8V电源。第一输出口和第二输出口与信号预处理装置电路，信号预处理电路主要用于把霍尔的输出信号与霍尔隔离，使信号不失真、变形，把霍尔信号从检测电路到MCU间做加固转换。MCU处理信号预处理后的霍尔信号后，将其发送至执行装置，做出相应该的比如低功耗功能或产品所需的其它功能。磁场强度采集装置，使磁的检测方式，检测到信号后，把信号给到信号预处理电路。采用阵列式的磁场或磁场发生器，可以解决非接触式信号检测中因产品时间久或抖动或行程中检测源偏离而产生的检测不到的问题。
尤其是针对本申请中，采用同极相对的磁场排列方式，能够形成单极性的较大范围的磁场，比异极磁场具有更大的磁场范围，能够有利于信号检测，具有更高容错率。
该应用在成品或半成品中均在本实用新型公开的保护范围之内。
该产品在带有形成的机械件半成品或成品之中应用，均在本实用新型的保护范围之内。
应当理解的是，以上所述，任何熟悉本领域技术的技术人员在本实用新型公开的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。本实用新型的保护范围以权利要求书的保护范围为准。
Claims (7)
1.一种非接触式检测装置,其特征在于,包括检测端和被检测端；
所述的被检测端上设有检测源，检测源包括磁源；
所述检测端上包括磁场强度采集电路、信号预处理电路以及MCU检测电路；
所述的磁场采集装置包括型号为AH1887的单极霍尔开关，所述的单极霍尔开关具有接地线、电源连接线、第一输出口和第二输出口，所述第一输出口和第二输出口分别用于感应磁场发生装置中的S极磁通和N极磁通，所述第一输出口和第二输出口得到的信号输出至信号预处理电路；
所述的信号预处理装置，用于将第一输出口和第二输出口感知的磁场信号转换，加固信号强度，防止信号失真，为MCU提供正确的信号；
所述的MCU检测电路输出执行信号。
2.根据权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述磁源包括阵列式布置的两个或两个以上的磁体，相邻所述的磁体同极相对。
3.根据权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述的磁源为单一极性的磁性源。
4.根据权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述的被检测端上还包括光源，检测端上设有光采集电路，用以采集光源中的光，信号与处理装置将光采集电路中采集到的信号转换为MCU的电子信号。
5.根据权利要求4所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述的光源为阵列式排布的光发生装置组成。
6.根据权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述的被检测端与电池连接。
7.根据权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述的检测端连接独立电源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720728418.3U CN206960633U (zh) | 2017-06-21 | 2017-06-21 | 一种非接触式检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720728418.3U CN206960633U (zh) | 2017-06-21 | 2017-06-21 | 一种非接触式检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN206960633U true CN206960633U (zh) | 2018-02-02 |
Family
ID=61385823
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201720728418.3U Active CN206960633U (zh) | 2017-06-21 | 2017-06-21 | 一种非接触式检测装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN206960633U (zh) |
-
2017
- 2017-06-21 CN CN201720728418.3U patent/CN206960633U/zh active Active
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