CN206709968U - 一种用于评价阵列探测器光响应一致性的测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供了一种用于评价阵列探测器光响应一致性的测试装置，该装置包括点光源系统，光传播空腔，光扩散板，掩模板及探测器安装支架；其中，点光源系统包括发光体、发光点结构，点状扩散型光源通过一定长度的传播空腔照射到光扩散板上，光传播空腔长度达到探测器线度的5倍以上，扩散后的光线可视作均匀面光源，再透过掩模板到达探测器窗口，掩模板用于遮挡不需要的杂散光，探测器安装支架用于安装被测探测器，保证了窗口光通量的一致性，本实用新型具有如下优点：1）采用均匀性的大面积光场取代了可移动光纤，提高了测试效率；2）改变掩模板的设计，该系统还可用于测试PD阵列探测器通道间串扰性能。

Description

一种用于评价阵列探测器光响应一致性的测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种用于评价阵列探测器光响应一致性的测试装置，特别是涉及一种适用于评价PD阵列探测器光响应一致性的装置。
背景技术
现在PD阵列型光探测器广泛应用于热成像、工业CT及安检成像领域。因为生产工艺所限，目前的阵列型光探测器还不能保证每个通道的光响应都完全一致，故此在需要精确成像的领域中，需要对阵列探测器各通道的光响应一致性做评价测量。
目前生产厂家用于评价PD阵列型光探测器的测试装置主要是通过移动同一束光纤至探测器各个通道前来保证各通道接收到的入射光强度一致，然后分别读取该通道的输出信号，最后得到光探测器各通道的光响应一致性。但是该方案的效率过低，测试成本过高，不能用于产品批量测试。
实用新型内容
本实用新型的目的在于解决现有技术通道一致性评价装置效率过低的问题，提高测试效率，降低测试成本。
为了实现上述目的，本实用新型提供了一种用于评价阵列探测器光响应一致性的测试装置，该装置包括点光源系统，光传播空腔，光扩散板，掩模板及探测器安装支架；其中，点光源系统包括发光体、发光点结构，点状扩散型光源通过一定长度的传播空腔照射到光扩散板上，光传播空腔长度达到探测器线度的5倍以上，扩散后的光线可视作均匀面光源，再透过掩模板到达探测器窗口，掩模板用于遮挡不需要的杂散光，探测器安装支架用于安装被测探测器，保证了窗口光通量的一致性。
本实用新型提供了一种经济的PD阵列探测器光响应一致性的测试装置，适用于评价阵列探测器光响应一致性，与现有技术相比，本实用新型具有如下优点：1）采用均匀性的大面积光场取代了可移动光纤，提高了测试效率；2）改变掩模板的设计，该系统还可用于测试PD阵列探测器通道间串扰性能。
附图说明
图1是点光源系统示意图。
图2是本实用新型整体布局示意图。
具体实施方式
下面具体介绍本实用新型的实施方式：如图1所示，点光源系统包括发光体、发光点结构。
如图2所示，本实用新型的一种用于评价阵列探测器光响应一致性的测试装置包括点光源系统，光传播空腔，光扩散板，掩模板及探测安装支架。
如图2所示，点光源系统包括发光体、发光点结构（即反射层及表面磨砂过的出射光半球体），以保证出射光为点状均匀光源，光传播空腔的长度可用于保证光强均匀性,因对于点状均匀光源来说，光强与距光源距离R的平方成反比，故光传播空腔长度达到探测器线度的5倍以上即可满足照射到各通道间的光强差异不超过1%；光扩散板进一步保证了光强均匀性，扩散后的光线可视作均匀面光源；掩模板用于遮挡不需要的杂散光，探测器安装支架用于安装被测探测器，保证了窗口光通量的一致性。
当然，本实用新型还可有其他实施例，在不违背本实用新型实质的前提下，相关技术人员可根据本实用新型做出相应改变或变形，但这些改变和变形都应属于本实用新型权利要求的保护范围。

Claims (1)

1.一种用于评价阵列探测器光响应一致性的测试装置，包括点光源系统、光传播空腔、光扩散板、掩模板及探测器安装支架，其特征在于，所述点光源系统包括发光体、发光点结构，所述点光源系统通过一定长度的传播空腔照射到光扩散板上，所述光传播空腔长度达到探测器线度的5倍以上，扩散后的光线可视作均匀面光源，再透过掩模板到达探测器窗口，所述掩模板用于遮挡不需要的杂散光，保证了窗口光通量的一致性，所述被测探测器安装在探测器安装支架上。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111965623A (zh) * 2020-07-02 2020-11-20 深圳市速腾聚创科技有限公司 探测器检测方法及系统
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