CN206695761U - 利用计算机的齿轮投影式测量装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了利用计算机的齿轮投影式测量装置，涉及齿轮测量装置。包括遮光罩、机座、图像传感器和计算机，机座上边缘有直角形凹槽，圆柱桶形的遮光罩罩在机座上面，遮光罩下周边嵌入于机座的直角形凹槽中；机座上面中心位置竖向设置有转轴，转轴顶部是方轴头，被测齿轮安装于方轴头上；在机座上表面设置有图像传感器；在遮光罩内上部的环形支架上安装有凸透镜，遮光罩顶面下方中心位置安装有光源，光源位于凸透镜焦点位置；遮光罩顶面上方安装接电端头，接电端头连接光源；图像传感器连接图像信号处理器，图像信号处理器连接计算机。本实用新型解决了现有的齿轮测量装置部件尺寸误差和磨损等因素，会降低齿轮测量精度的问题。

Description

利用计算机的齿轮投影式测量装置
技术领域
本实用新型涉及齿轮测量装置，具体涉及一种利用计算机的齿轮投影式测量装置。
背景技术
齿轮在传动过程中，轮齿表面接触而产生相对滑动，致使齿轮产生磨损。由于齿长方向界面不均匀和轴挠曲变形等因素，齿轮磨损量在齿廓上不一致，由于公法线千分尺或滚棒间尺寸主要是针对分度圆上齿厚测量，不能反馈出齿廓其他截面磨损情况。为此，技术人员对齿轮测量方法进行探讨研究，采用打样膏方式测量多个截面，通过计算各截面弦齿厚情况，得出各截面磨损量，从而精确反应齿轮工作状态。但上述测量方法存在误差较大的问题。
中国专利文献CN105823435A公开了一种基于激光位移传感器的齿轮测量装置，该装置采用激光位移传感器，具有测量精度高的优点。但该专利技术测量精度受齿轮工作台回转部件及移动导轨等部件影响，上述部件尺寸误差和磨损等因素，会降低齿轮测量精度。
实用新型内容
本实用新型提供一种利用计算机的齿轮投影式测量装置，本实用新型解决了现有的齿轮测量装置部件尺寸误差和磨损等因素，会降低齿轮测量精度的问题。
为解决上述问题，本实用新型采用如下技术方案：利用计算机的齿轮投影式测量装置，包括遮光罩、机座、图像传感器和计算机，机座上边缘有直角形凹槽，圆柱桶形的遮光罩罩在机座上面，遮光罩下周边嵌入于机座的直角形凹槽中；机座上面中心位置竖向设置有转轴，转轴顶部是方轴头，被测齿轮安装于方轴头上；在机座上表面设置有图像传感器；在遮光罩内上部的环形支架上安装有凸透镜，遮光罩顶面下方中心位置安装有光源，光源位于凸透镜焦点位置；遮光罩顶面上方安装接电端头，接电端头连接光源；图像传感器连接图像信号处理器，图像信号处理器连接计算机。
本实用新型的优点：通过图像传感器将图像信号传递给图像信号处理器，并传递到计算机，计算机将被测齿轮的轮廓与标准的同等齿轮轮廓进行对比并测量磨损数据；本实用新型具有测量精度高，测量速度快的优点。
附图说明
图1是本实用新型结构示意图；
图2是本实用新型电器部件连接图。
图中符号说明：遮光罩1，机座2，凸透镜3，接电端头4，光源5，被测齿轮6，转轴7，方轴头8，图像传感器9，图像信号处理器10，计算机11。
具体实施方式
下面用最佳的实施例对本实用新型做详细的说明。
如图1-2所示，利用计算机的齿轮投影式测量装置，包括遮光罩1、机座2、图像传感器9和计算机11，机座2上边缘有直角形凹槽，圆柱桶形的遮光罩1罩在机座2上面，遮光罩1下周边嵌入于机座2的直角形凹槽中；机座2上面中心位置竖向设置有转轴7，转轴7顶部是方轴头8，被测齿轮6安装于方轴头8上；在机座2上表面设置有图像传感器9；在遮光罩1内上部的环形支架上安装有凸透镜3，遮光罩1顶面下方中心位置安装有光源5，光源5位于凸透镜3焦点位置；遮光罩1顶面上方安装接电端头4，接电端头4连接光源5；图像传感器9连接图像信号处理器10，图像信号处理器10连接计算机11。
使用时，被测齿轮6安装于方轴头8上，将遮光罩1扣在机座2上面，将接电端头4连接电源；光源5发光，光线透过凸透镜3形成平行光线照于被测齿轮6上，被测齿轮6轮廓信息投影于图像传感器9上，图像传感器9将图像信号传递给图像信号处理器10，图像信号处理器10将信息传递到计算机11，计算机11将被测齿轮6的轮廓与标准的同等齿轮轮廓进行对比并测量磨损数据。
本实用新型采用的CCD图像传感器是应用爱因斯坦有关光电效应理论的结果，即光照射到某些物质上，能够引起物质的电性质发生变化。CCD图像传感器采用高感光度的半导体材料，将光线照射导致的电信号变化转换成数字信号，使得其高效存储、编辑、传输都成为可能。
本实用新型采用的图像信号处理器ISP(Image Signal Processing)，主要用来对前端图像传感器输出信号处理的单元，以匹配不同厂商的图象传感器。相机用图像处理器被管道化的图像处理专用引擎可以高速处理图像信号，也搭载了为了实现Auto Exposure/Auto Focus/Auto White Balance评测的专用电路。另外，THine开发的减噪等图像处理模块，能令各个CMOS传感器实现最高画质。
最后应说明的是：显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。

Claims (1)

1.利用计算机的齿轮投影式测量装置，其特征在于，包括遮光罩、机座、图像传感器和计算机，机座上边缘有直角形凹槽，圆柱桶形的遮光罩罩在机座上面，遮光罩下周边嵌入于机座的直角形凹槽中；机座上面中心位置竖向设置有转轴，转轴顶部是方轴头，被测齿轮安装于方轴头上；在机座上表面设置有图像传感器；在遮光罩内上部的环形支架上安装有凸透镜，遮光罩顶面下方中心位置安装有光源，光源位于凸透镜焦点位置；遮光罩顶面上方安装接电端头，接电端头连接光源；图像传感器连接图像信号处理器，图像信号处理器连接计算机。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110793457A (zh) * 2019-10-31 2020-02-14 安徽三弟电子科技有限责任公司 一种强光环境用电子测量仪器结构
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