CN206684071U - 一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置，包括双面视觉检测平台、视觉检测设备以及上位机，双面视觉检测平台上设有安装视觉检测设备，视觉检测设备通过信号线与上位机连接，其特征在于，视觉检测设备为双面检测设备，包括PC控制系统、上下依次设置的上成像模组和下成像模组，上成像模组和下成像模组之间设有待检测的大面积透明基片，下成像模组设有一连接器，连接器与PC控制系统通过信号线连接，上成像模组通过信号线与PC控制系统连接。本实用新型从正反两面对基片表面缺陷检测对象中依次分离外形尺寸等部分检测任务，每次针对一项任务进行检测；通过本实用新型能快速、有效地实现基片表面缺陷的智能检测与识别。
Description
技术领域
本实用新型涉及透明基片表面缺陷的检测与识别技术领域，具体涉及一种快速大面积透明基片双面表面缺陷的视觉检测装置。
背景技术
大面积透明基片广泛应用于光学、光通信、激光技术、光学成像与检测等领域，在平面显示屏、微型摄像头、生物医学仪器、先进激光系统中起着重要作用。如平面显示屏领域中大面积透明基片的质量控制是平面显示的关键技术；类似光电产品中每一个都须配备一片基片，国内、国际市场对基片的需求巨大，国内的年需求量就有1，000,000,000片。
对基片的检测包括光谱检测及表面缺陷检测，其中表面缺陷目前普遍采用人工逐片检测的方法，在强光照射下通过显微镜观察作出判断，劳动强度大，误检漏检率高，也无法实现在线检测。
基片表面缺陷检测对象包括外形尺寸、斜切缺陷、干涉色不均缺陷、崩缺陷、划伤缺陷、点缺陷、斑印缺陷。若基片的各类缺陷统一采用一个分类器进行识别，必然导致算法复杂、分类耗时长，难以保证分类正确率。分析基片的各类缺陷，发现它们具有如下特点：斜切缺陷导致外形尺寸不合格；膜色不均缺陷导致基片各区域内的颜色存在明显差别；崩缺陷与划伤缺陷的共同点是缺陷区域狭长，不同点是崩缺陷出现在基片外边缘处、划伤缺陷出现在基片中间区域；点缺陷与斑印缺陷的共同点是缺陷区域为矩形，不同点是点缺陷覆盖面积小、斑印缺陷覆盖面积大，而且不能正反两面进行检测，从而提升了检测失误率。
实用新型内容
本实用新型的目的是为解决上述不足，提供一种快速大面积透明基片双面表面缺陷的视觉检测方法及装置。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：
一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置，包括双面视觉检测平台、视觉检测设备以及上位机，所述双面视觉检测平台上设有视觉检测设备，所述视觉检测设备通过信号线与所述上位机连接，所述视觉检测设备为双面检测设备，包括PC控制系统、上下依次设置的上成像模组和下成像模组，所述上成像模组和下成像模组之间设有待检测的大面积透明基片，所述下成像模组设有一连接器，所述连接器与所述PC控制系统通过信号线连接，所述上成像模组通过信号线与所述PC控制系统连接。
另外，所述上成像模组与所述下成像模组之间设有调节器。
优选地，所述双面视觉检测平台设置有多个定位点，每个定位点设有一个视觉检测设备。
优选地，所述视觉检测设备呈流水线方向排布。
本实用新型在工作时， 先对一种大面积透明基片按照检测精度和镜头范围分成多块区域，然后按区域配置2n套双面视觉检测设备，按照每个定位点的位置定位安装视觉检测设备；拍摄基片图像，对基片图像进行机器视觉检测，提取基片外缘边缘，检测基片外形尺寸及定位，判断多块目标区域的表面缺陷数量平均值之间的标准偏差值是否小于标准偏差阈值，也判断图像中表面缺陷尺寸大小是否超过标准值，提取缺陷区域数量加权值将所述各类型缺陷的数量特征值输入上位机，最终输出基片表面缺陷检测结果。
本实用新型具有如下有益的效果：
本实用新型从基片表面缺陷检测对象中依次分离外形尺寸等部分检测任务，每次针对一项任务进行检测；通过本实用新型能快速、有效地实现基片表面缺陷的智能检测与识别，由于本实用新型能从正反两面对基片进行检测，从而降低了失误率，提高了检测效率。
附图说明
图1为本实用新型的结构图；
图2为本实用新型的双面成像检测设备的结构图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明：
如图1~2所示，一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置，包括双面视觉检测平台1、视觉检测设备2以及上位机3，双面视觉检测平台1上设有视觉检测设备2，视觉检测设备2通过信号线与上位机3连接，双面视觉检测平台设置有多个定位点20，每个定位点设有一个视觉检测设备，且这些视觉检测设备呈流水线方向排布。
其中，视觉检测设备2为双面检测设备，包括PC控制系统21、上下依次设置的上成像模组22和下成像模组23，上成像模组22和下成像模组23之间设有待检测的大面积透明基片4，下成像模组23设有一连接器24，连接器24与PC控制系统21通过信号线连接，上成像模组22通过信号线与PC控制系统21连接。其中上成像模组用于获取正面检测的成像信息，下成像模组23用于获取背面检测的成像信息，另外，上成像模组22与下成像模组23之间设有调节器25，该调节器25用于调节上成像模组22、下成像模组23与待检测的大面积透明基片4之间的距离，从而可以让其成像更为清晰。
本实用新型在工作时， 先对一种大面积透明基片按照检测精度和镜头范围分成多块区域，然后按区域配置2n套双面视觉检测设备，按照每个定位点的位置定位安装视觉检测设备；拍摄基片图像，对基片图像进行机器视觉检测，提取基片外缘边缘，检测基片外形尺寸及定位，判断多块目标区域的表面缺陷数量平均值之间的标准偏差值是否小于标准偏差阈值，也判断图像中表面缺陷尺寸大小是否超过标准值，提取缺陷区域数量加权值将所述各类型缺陷的数量特征值输入上位机，最终输出基片表面缺陷检测结果。
虽然本实用新型所揭露的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本实用新型而采用的实施方式，并非用以限定本实用新型。任何本实用新型所属技术领域内的技术人员，在不脱离本实用新型所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本实用新型的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
Claims (4)
1.一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置，包括双面视觉检测平台、视觉检测设备以及上位机，所述双面视觉检测平台上设有安装视觉检测设备，所述视觉检测设备通过信号线与所述上位机连接，其特征在于，所述视觉检测设备为双面检测设备，包括PC控制系统、上下依次设置的上成像模组和下成像模组，所述上成像模组和下成像模组之间设有待检测的大面积透明基片，所述下成像模组设有一连接器，所述连接器与所述PC控制系统通过信号线连接，所述上成像模组通过信号线与所述PC控制系统连接。
2.根据权利要求1所述的一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置，其特征在于，所述上成像模组与所述下成像模组之间设有调节器。
3.根据权利要求1所述的一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置，其特征在于，所述双面视觉检测平台设置有多个定位点，每个定位点设有一个视觉检测设备。
4.根据权利要求3所述的一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置，其特征在于，所述视觉检测设备呈流水线方向排布。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720416377.4U CN206684071U (zh) | 2017-04-20 | 2017-04-20 | 一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201720416377.4U CN206684071U (zh) | 2017-04-20 | 2017-04-20 | 一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN206684071U true CN206684071U (zh) | 2017-11-28 |
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ID=60403409
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| CN201720416377.4U Active CN206684071U (zh) | 2017-04-20 | 2017-04-20 | 一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测装置 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106872488A (zh) * | 2017-04-20 | 2017-06-20 | 广东振华科技股份有限公司 | 一种快速大面积透明基片双表面缺陷视觉检测方法及装置 |
| CN113945491A (zh) * | 2021-09-01 | 2022-01-18 | 郑州旭飞光电科技有限公司 | 玻璃基板表面颗粒检测系统 |
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2017
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