CN206594084U - 一种成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置,包括从上到下依次设置的对焦单元、变焦单元、摄像机连接承座和摄像机机身,摄像机机身连接在摄像机连接承座上的摄像机接口,摄像机机身通过图像数据连线与显示屏连接。本实用新型的检测装置操作简单、效率高、高准确性且可实现数据化检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置,属于光学元件冷加工技术领域。
背景技术
光学表面疵病在本申请中指的是光学零件(光学镜片)表面呈现的麻点、斑点、擦痕和破边等瑕疵。除镀膜层疵病、长擦痕和破边之外的表面疵病又称一般表面疵病。
现有的检测表面疵病的手段主要为荧光灯反射检查、投影灯投射检查以及放大镜放大检查等,检测难度高,费时费力,并且对检测者的视力造成损伤,容易漏检。
实用新型内容
本实用新型针对现有检测方式存在的以上问题点采用成像和光学放大原理,实现了准确检测,并且大幅提高了工作效率。以可视化高效率的检测装置解决了肉眼很难检测到的光学表面疵病的技术问题。
本实用新型的技术方案为:
一种成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置,包括从上到下依次设置的对焦单元、变焦单元、摄像机连接承座和摄像机机身,摄像机机身连接在摄像机连接承座上的摄像机接口,摄像机机身通过图像数据连线与显示屏连接。
附图说明
为了更容易理解本实用新型的技术方案和有益的技术效果,通过参照在附图中示出的本实用新型的具体实施方式来对本申请进行详细的描述。该附图仅绘出了本申请的典型实施方式,并不构成对本申请的保护范围的限制,其中:
图1是根据本实用新型的一个实施方式的成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置整体结构示意图。
图2是图1中所述检测装置的局部放大图。
这图1-2中标示出的附图标记中:
1:被检查镜片;2:变焦单元;3:摄像机连接承座:4:对焦单元;5:摄像机接口;6:摄像机机身;7:图像数据连线;8:显示屏;9:工作台。
具体实施方式
图1示出了根据本实用新型的一个实施方式的成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置整体结构示意图。置于工作台9上的该检测装置包括从上到下依次设置的对焦单元4、变焦单元2、摄像机连接承座3和摄像机机身6,摄像机机身6连接在摄像机连接承座3上的摄像机接口5,摄像机机,6通过图像数据连线7与显示屏8连接。将被检查镜片1放置于成像单元中,通过成像系统对镜片的两个面(R1, R2)进行对焦检测。因为不同镜片的曲率不同,所以根据镜片的种类,通过调整对焦单元和变焦单元设定最佳检查条件)
对焦单元4可根据镜片大小调整放置面,一次性对焦后,可对此镜片实现批量检测。但操作中出现不确定状况时,可微调对焦单元4进行对焦确认。
本申请的工作原理如下:
通过模拟光学放大成像系统(变焦单元2;摄像机连接承座3:对焦单元4) 的放大成像作用,使镜片表面的疵病进行放大然后在摄像单元(摄像机接口5和摄像机机身6)中实现成像放大,通过聚变焦系统的调节很容易的可找到疵病的成像最佳点,然后设置为检查条件,对生产中的光学镜片表面进行可视化检测。
本实用新型的检测装置操作简单、效率高、高准确性且可实现数据化检测。
本实用新型可以以其他具体的形式进行体现,但并不会脱离本实用新型的保护范围,本实用新型的保护范围仅由所附的权利要求限定。
Claims (1)
1.一种成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置,包括从上到下依次设置的对焦单元、变焦单元、摄像机连接承座和摄像机机身,摄像机机身连接在摄像机连接承座上的摄像机接口,摄像机机身通过图像数据连线与显示屏连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201720171945.9U CN206594084U (zh) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | 一种成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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CN201720171945.9U CN206594084U (zh) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | 一种成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置 |
Publications (1)
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CN206594084U true CN206594084U (zh) | 2017-10-27 |
Family
ID=60125508
Family Applications (1)
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CN201720171945.9U Active CN206594084U (zh) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | 一种成像玻璃制备过程中表面疵病的检测装置 |
Country Status (1)
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CN (1) | CN206594084U (zh) |
-
2017
- 2017-02-24 CN CN201720171945.9U patent/CN206594084U/zh active Active
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Legal Events
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GR01 | Patent grant | ||
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