CN206556741U - Plc控制无糖食品材料分析天平 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种PLC控制无糖食品材料分析天平,包括底座,所述底座的顶部连接有罩壳,所述底座顶部的中部设有测量座,所述罩壳的内侧设有清理板,所述清理板的外侧套设有清洁片,所述清理板表面的中部开设有通孔,所述罩壳的顶部设有封盖,所述封盖的两侧均设有紧固螺栓,所述封盖的顶部通过合叶连接有封闭门,所述压缩弹簧的底部通过第二连接座与清理板的顶部连接,所述清理板顶部的两侧连接有电动推杆,所述电动推杆的顶部与封盖的底部连接,所述底座的正面设有操作面,所述底座底部的两侧均通过支杆连接有滚轮。本实用新型具备便于对分析天平内部进行清理的优点,解决了清理不方便会降低分析天平实用性的问题。

Description

PLC控制无糖食品材料分析天平
技术领域
本实用新型涉及分析器具技术领域,具体为一种PLC控制无糖食品材料分析天平。
背景技术
分析天平是准确称量一定质量物质的仪器,称量前应检查天平是否正常,是否处于水平位置,吊耳和圈码是否脱落,玻璃框内外是否清洁,分析天平是定量分析工作中不可缺少的重要仪器,一般是指能精确称量到0.0001克的天平。
目前无糖食品材料在分析时会使用到分析天平,现有的分析天平在检测分析无糖食品材料时,天平内难免会粘附一些无糖食品材料,当再次使用分析天平时,需要将分析天平内粘附的无糖食品材料进行清理,现有分析天平一般都只开设有一道门,使得在清理分析天平内时非常的不方便,从而降低了分析天平的实用性。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种PLC控制无糖食品材料分析天平,具备便于对分析天平内部进行清理的优点,解决了清理不方便会降低分析天平实用性的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种PLC控制无糖食品材料分析天平,包括底座,所述底座的顶部连接有罩壳,所述底座顶部的中部设有测量座,所述罩壳的内侧设有清理板,所述清理板的外侧套设有清洁片,所述清洁片的外侧与罩壳的内侧壁活动连接,所述清理板表面的中部开设有通孔,所述罩壳的顶部设有封盖,所述封盖的两侧均设有紧固螺栓,所述紧固螺栓的一侧贯穿封盖并延伸至罩壳的内侧,所述封盖的顶部通过合叶连接有封闭门,所述封盖底部的两侧均连接有第一连接座,所述第一连接座的底部连接有压缩弹簧,所述压缩弹簧的底部通过第二连接座与清理板的顶部连接,所述清理板顶部的两侧连接有电动推杆,所述电动推杆的顶部与封盖的底部连接,所述底座的正面设有操作面,所述底座底部的两侧均通过支杆连接有滚轮。
优选的,所述封闭门的右侧连接有挡块,所述挡块的底部与封盖活动连接。
优选的,所述封闭门顶部的表面连接有拉手。
优选的,所述通孔的直径大于测量座的直径。
优选的,所述电动推杆位于通孔顶部的两侧。
优选的,所述封闭门位于测量座的正上方。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
1、本实用新型通过清理板的使用,使得分析天平的内侧能够通过清理板进行清理,清理板能够将粘附在分析天平内的污渍进行擦拭,从而在分析天平在清理时变得更加方便,提高了分析天平的实用性,通过电动推杆与压缩弹簧的使用,使得电动推杆在进行伸缩时,电动推杆能够通过封盖带动清理板进行上下移动,从而让清理板上的清洁片上下移动对分析天平的内侧进行清洁,压缩弹簧在电动推杆进行伸缩后,压缩弹簧产生的张力能够让清理板在上下移动时更加稳定,从而让清理板来回对分析天平进行清洁,通过封盖与清理板的配合使用,使得清理板在清理完分析天平后,打开封盖能够将清理板从分析天平内取出,从而便于将清理板进行清理,从而让分析天平的清理变得更加方便,从而提高了分析天平的实用性。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型清理板的俯视图;
图3为本实用新型封盖的俯视图。
图中:1底座、2罩壳、3测量座、4清理板、5清洁片、6通孔、7封盖、8紧固螺栓、9合叶、10封闭门、11第一连接座、12压缩弹簧、13第二连接座、14电动推杆、15操作面、16支杆、17滚轮、18挡块、19拉手。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案:一种PLC控制无糖食品材料分析天平,包括底座1,底座1的顶部连接有罩壳2,底座1顶部的中部设有测量座3,罩壳2的内侧设有清理板4,通过清理板4的使用,使得分析天平的内侧能够通过清理板4进行清理,清理板4能够将粘附在分析天平内的污渍进行擦拭,从而在分析天平在清理时变得更加方便,提高了分析天平的实用性,清理板4的外侧套设有清洁片5,清洁片5的外侧与罩壳2的内侧壁活动连接,清理板4表面的中部开设有通孔6,通过通孔6的使用,使得无糖食品材料能够通过封闭门10放到测量座3上,通孔6的直径大于测量座3的直径,罩壳2的顶部设有封盖7,通过封盖7与清理板4的配合使用,使得清理板4在清理完分析天平后,打开封盖7能够将清理板4从分析天平内取出,从而便于将清理板4进行清理,从而让分析天平的清理变得更加方便,从而提高了分析天平的实用性,封盖7的两侧均设有紧固螺栓8,紧固螺栓8的一侧贯穿封盖7并延伸至罩壳2的内侧,封盖7的顶部通过合叶9连接有封闭门10,封闭门10位于测量座3的正上方,封闭门10的右侧连接有挡块18,挡块18的底部与封盖7活动连接,封闭门10顶部的表面连接有拉手19,通过拉手19的使用,使得拉手19能够便于封闭门10打开,封盖7底部的两侧均连接有第一连接座11,第一连接座11的底部连接有压缩弹簧12,压缩弹簧12的底部通过第二连接座13与清理板4的顶部连接,清理板4顶部的两侧连接有电动推杆14,通过电动推杆14与压缩弹簧12的使用,使得电动推杆14在进行伸缩时,电动推杆14能够通过封盖7带动清理板4进行上下移动,从而让清理板4上的清洁片5上下移动对分析天平的内侧进行清洁,压缩弹簧12在电动推杆14进行伸缩后,压缩弹簧12产生的张力能够让清理板4在上下移动时更加稳定,从而让清理板4来回对分析天平进行清洁,电动推杆14位于通孔6顶部的两侧,电动推杆14的顶部与封盖7的底部连接,底座1的正面设有操作面15,底座1底部的两侧均通过支杆16连接有滚轮17,通过滚轮17的使用,使得滚轮17能够带动分析天平进行移动,从而提高了分析天平的实用性。
使用时,启动电动推杆14,电动推杆14和压缩弹簧12带动清理板4进行上下移动,让清理板4上的清洁片5对分析天平的内部进行清洁,清洁后,通过紧固螺栓8打开封盖7,将分析天平内的清理板4取出进行清洁。
综上所述,该PLC控制无糖食品材料分析天平,通过清理板4与封盖7的使用,使得清理板4通过电动推杆14与压缩弹簧12进行来回清洁,能够去除分析天平内的污渍,清洁完后,能够打开封盖7将清理板4取出进行清洗,从而让分析天平在清理时变得更加方便,解决了清理不方便会降低分析天平实用性的问题。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素”。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种PLC控制无糖食品材料分析天平,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部连接有罩壳(2),所述底座(1)顶部的中部设有测量座(3),所述罩壳(2)的内侧设有清理板(4),所述清理板(4)的外侧套设有清洁片(5),所述清洁片(5)的外侧与罩壳(2)的内侧壁活动连接,所述清理板(4)表面的中部开设有通孔(6),所述罩壳(2)的顶部设有封盖(7),所述封盖(7)的两侧均设有紧固螺栓(8),所述紧固螺栓(8)的一侧贯穿封盖(7)并延伸至罩壳(2)的内侧,所述封盖(7)的顶部通过合叶(9)连接有封闭门(10),所述封盖(7)底部的两侧均连接有第一连接座(11),所述第一连接座(11)的底部连接有压缩弹簧(12),所述压缩弹簧(12)的底部通过第二连接座(13)与清理板(4)的顶部连接,所述清理板(4)顶部的两侧连接有电动推杆(14),所述电动推杆(14)的顶部与封盖(7)的底部连接,所述底座(1)的正面设有操作面(15),所述底座(1)底部的两侧均通过支杆(16)连接有滚轮(17)。
2.根据权利要求1所述的PLC控制无糖食品材料分析天平,其特征在于:所述封闭门(10)的右侧连接有挡块(18),所述挡块(18)的底部与封盖(7)活动连接。
3.根据权利要求1所述的PLC控制无糖食品材料分析天平,其特征在于:所述封闭门(10)顶部的表面连接有拉手(19)。
4.根据权利要求1所述的PLC控制无糖食品材料分析天平,其特征在于:所述通孔(6)的直径大于测量座(3)的直径。
5.根据权利要求1所述的PLC控制无糖食品材料分析天平,其特征在于:所述电动推杆(14)位于通孔(6)顶部的两侧。
6.根据权利要求1所述的PLC控制无糖食品材料分析天平,其特征在于:所述封闭门(10)位于测量座(3)的正上方。
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