CN206523483U - 工业硅品质测定装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种工业硅品质测定装置，属于硅产品测定领域，包括：第一支撑板，其上用于放置一反应容器，待测的工业硅样品置于所述反应容器中；支撑架，其设置在所述第一支撑板上方，在所述支撑架上设置有多个第一固定夹，所述每个第一固定夹均用于固定一滴液管，以用于向所述反应容器中添加要和所述工业硅样品反应的液体，其中，所述支撑架以可调节其高度的方式设置；其中，在所述支撑板上设置一第一贯穿孔，所述第一贯穿孔的直径小于所述反应容器的最大直径处，所述反应容器置于所述第一贯穿孔上，且在所述反应容器的底部设置一用以加热所述反应容器的加热器。该装置能够方便地对工业硅中的硅含量进行测量，提高了测量效率。
Description
技术领域
本实用新型属于硅产品测定领域，特别涉及一种工业硅品质测定装置。
背景技术
随着耐火材料行业的发展，其品种越来越多样化，工业硅也是其中的一种。工业硅又称结晶硅或金属硅，是近半个世纪以来的新产品，其主要用途是作为非铁基合金的添加剂，广泛应用于耐火材料及粉末冶金行业中。工业硅是工业提纯的单质硅，真实反映工业硅产品品质的指标是其单质硅含量，工业硅主要用于生产有机硅、制取高纯度的半导体材料以及配置有特殊用途的合金等，因此正确测定硅含量特别重要，但是，现有技术中没有一套现成的装置能够用来测定工业硅的品质。
实用新型内容
为了克服现有技术的不足，本实用新型提供了一种工业硅品质测定装置，该装置能够方便地对工业硅中的硅含量进行测量。
本实用新型提供的技术方案为：
一种工业硅品质测定装置，包括：
第一支撑板，其上用于放置一反应容器，待测的工业硅样品置于所述反应容器中；
支撑架，其设置在所述第一支撑板上方，在所述支撑架上设置有多个第一固定夹，所述每个第一固定夹均用于固定一滴液管，以用于向所述反应容器中添加要和所述工业硅样品反应的液体，其中，所述支撑架以可调节其高度的方式设置；
其中，在所述支撑板上设置一第一贯穿孔，所述第一贯穿孔的直径小于所述反应容器的最大直径处，所述反应容器置于所述第一贯穿孔上，且在所述反应容器的底部设置一用以加热所述反应容器的加热器。
优选的是，所述的工业硅品质测定装置，在所述支撑架上至少设置有四个固定夹，依次用于固定水滴液管，硫酸滴液管，氢氟酸滴液管和硝酸滴液管。
优选的是，所述的工业硅品质测定装置，特所述支撑架以可调节其高度的方式设置，具体设置方式为：所述支撑架包括竖直方向设置的支撑杆和固定在所述支撑杆上的固定环，所述多个固定夹设置在所述固定环上，在所述第一支撑板上设置一第二贯穿孔和第二固定夹，所述第二固定夹设置在所述第二贯穿孔圆周处，所述支撑杆穿过所述第二贯穿孔后用所述第二固定夹进行固定。
优选的是，所述的工业硅品质测定装置，还包括一称量装置，其设置在所述第一支撑板的侧边，用以称量所述反应容器的质量。
优选的是，所述的工业硅品质测定装置，还包括一高温炉和一干燥器。
优选的是，所述的工业硅品质测定装置，还包括一处理器，其与所述称量装置连接，所述称量装置将测得数据传送至所述处理器中，以得到所述工业硅样品中硅的含量。
优选的是，所述的工业硅品质测定装置，在所述支撑板的底面至少设置有三个支撑腿。
优选的是，所述的工业硅品质测定装置，在所述支撑板上还设置一温度传感器，用以测量所述反应容器的温度。
本实用新型至少包括以下有益效果：由于设置了支撑板，支撑架和多个滴液管，在测定过程中，可以方便快捷地进行操作，也提高了测量效率。且由于支撑架是以可调节其高度的方式设置，在操作过程中，可以方便地调节滴液管和反应容器之间的距离。
本实用新型的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本实用新型的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
附图说明
图1为本实用新型所述的工业硅品质测定装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
为使本实用新型技术方案的优点更加清楚，下面结合附图和实施例对本实用新型作详细说明。
如图1所示，本实用新型实施例提供的工业硅品质测定装置，包括：第一支撑板1，其上用于放置一反应容器，待测的工业硅样品置于所述反应容器中；支撑架2，其设置在所述第一支撑板1上方，在所述支撑架2上设置有多个第一固定夹8，所述每个第一固定夹8均用于固定一滴液管3，以用于向所述反应容器中添加要和所述工业硅样品反应的液体，其中，所述支撑架2以可调节其高度的方式设置；其中，在所述支撑板1上设置一第一贯穿孔，所述第一贯穿孔的直径小于所述反应容器的最大直径处，所述反应容器置于所述第一贯穿孔上，且在所述反应容器的底部设置一用以加热所述反应容器的加热器9。还包括一高温炉和一干燥器(图中未画出)。
其中，在所述支撑架2上至少设置有四个固定夹8，依次用于固定水滴液管，硫酸滴液管，氢氟酸滴液管和硝酸滴液管。
具体的，所述支撑架以可调节其高度的方式设置，具体设置方式为：所述支撑架2包括竖直方向设置的支撑杆和固定在所述支撑杆上的固定环，所述多个固定夹设置在所述固定环上，在所述第一支撑板上设置一第二贯穿孔和第二固定夹，所述第二固定夹设置在所述第二贯穿孔圆周处，所述支撑杆穿过所述第二贯穿孔后用所述第二固定夹进行固定。
由于设置了支撑板，支撑架和多个滴液管，在测定过程中，可以方便快捷地进行操作，也提高了测量效率。且由于支撑架是以可调节其高度的方式设置，在操作过程中，可以方便地调节滴液管和反应容器之间的距离。
需要说明的是，加热器具体结构在此不做具体的限定，只要是能够实现本实施例的加热器均可，且加热器固定在所述支撑板的底面。滴液管的设置可以根据实际情况设置，滴液管的流速也可以控制。
在测定过程中，可以称取0.2g的工业硅样品(m)置于已恒重的反应容器(m1)中，反应容器可以为坩埚，然后通过水滴液管加少许水湿润，通过硫酸滴液管加入6滴硫酸，通过氢氟酸滴液管加入8ml氢氟酸，通过硝酸滴液管滴加5ml硝酸，加盖，待反应停止，使用加热器对加热器进行加热，低温加热蒸发至干。然后将反应容器置于850～1000摄氏度的高温炉内灼烧30分钟，取出，稍冷，置于干燥器中，冷却至室温，反复灼烧直至恒重(m2)，通过计算硅的百分比含量公式就能得出工业硅中硅的含量。计算公式如下：
其中，m3为试剂空白和反应容器质量(g)，m4为测定试剂空白用反应容易质量，0.6994为三氧化二铁换算成铁的系数。
本实用新型实施例的另一种优选实施方式为：还包括一称量装置4，其设置在所述第一支撑板1的侧边，用以称量不同情况下所述反应容器的质量。
本实用新型实施例的另一种优选实施方式还可以为：还包括一处理器5，其与所述称量装置4连接，所述称量装置将不同情况下测得数据传送至所述处理器中，处理器自动计算出所述工业硅样品中硅的含量。
进一步的，所述的工业硅品质测定装置，在所述支撑板的底面至少设置有三个支撑腿6。
进一步的，所述的工业硅品质测定装置，在所述支撑板上还设置一温度传感器7，用以测量所述反应容器的温度。
如上所述，通过上述实施例所述的装置，能够快速地测定工业硅中硅的含量。
尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
Claims (8)
1.一种工业硅品质测定装置，其特征在于，包括：
第一支撑板，其上用于放置一反应容器，待测的工业硅样品置于所述反应容器中；
支撑架，其设置在所述第一支撑板上方，在所述支撑架上设置有多个第一固定夹，所述每个第一固定夹均用于固定一滴液管，以用于向所述反应容器中添加要和所述工业硅样品反应的液体，其中，所述支撑架以可调节其高度的方式设置；
其中，在所述支撑板上设置一第一贯穿孔，所述第一贯穿孔的直径小于所述反应容器的最大直径处，所述反应容器置于所述第一贯穿孔上，且在所述反应容器的底部设置一用以加热所述反应容器的加热器。
2.如权利要求1所述的工业硅品质测定装置，其特征在于，在所述支撑架上至少设置有四个固定夹，依次用于固定水滴液管，硫酸滴液管，氢氟酸滴液管和硝酸滴液管。
3.如权利要求2所述的工业硅品质测定装置，其特征在于，所述支撑架以可调节其高度的方式设置，具体设置方式为：所述支撑架包括竖直方向设置的支撑杆和固定在所述支撑杆上的固定环，所述多个固定夹设置在所述固定环上，在所述第一支撑板上设置一第二贯穿孔和第二固定夹，所述第二固定夹设置在所述第二贯穿孔圆周处，所述支撑杆穿过所述第二贯穿孔后用所述第二固定夹进行固定。
4.如权利要求1所述的工业硅品质测定装置，其特征在于，还包括一称量装置，其设置在所述第一支撑板的侧边，用以称量所述反应容器的质量。
5.如权利要求4所述的工业硅品质测定装置，其特征在于，还包括一高温炉和一干燥器。
6.如权利要求5所述的工业硅品质测定装置，其特征在于，还包括一处理器，其与所述称量装置连接，所述称量装置将测得数据传送至所述处理器中，以得到所述工业硅样品中硅的含量。
7.如权利要求1所述的工业硅品质测定装置，其特征在于，在所述支撑板的底面至少设置有三个支撑腿。
8.如权利要求1所述的工业硅品质测定装置，其特征在于，在所述支撑板上还设置一温度传感器，用以测量所述反应容器的温度。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720174274.1U CN206523483U (zh) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | 工业硅品质测定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201720174274.1U CN206523483U (zh) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | 工业硅品质测定装置 |
Publications (1)
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| CN206523483U true CN206523483U (zh) | 2017-09-26 |
Family
ID=59892926
Family Applications (1)
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| CN201720174274.1U Active CN206523483U (zh) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | 工业硅品质测定装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN206523483U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107643281A (zh) * | 2017-09-29 | 2018-01-30 | 通标标准技术服务有限公司 | 工业硅杂质含量测定方法 |
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2017
- 2017-02-24 CN CN201720174274.1U patent/CN206523483U/zh active Active
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