CN206479105U - 千分尺 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及到一种千分尺，包括固定套管、微分筒、尺架，设置在尺架上的测砧和测微螺杆，所述测砧圆周壁上向外延伸设置有弹性套，所述弹性套上设置有开口，所述尺架上设置有支杆，所述支杆上背离尺架的一端上设置有弧形吸盘；将待测量物体从弹性套的开口处塞入进弹性套中，而后将塞有待测量物体的弹性套放在设置在支杆上的弧形吸盘上而后旋转旋钮对放置在弧形吸盘上的物体进行测量。

Description

千分尺

技术领域

本实用新型涉及测量领域，特别涉及一种千分尺。

背景技术

螺旋测微器又称千分尺（micrometer）、螺旋测微仪、分厘卡，是比游标卡尺更精密的测量长度的工具，用它测长度可以准确到0.01mm，测量范围为几个厘米，螺杆转动的整圈数由固定套管上间隔0.5mm的刻线去测量，不足一圈的部分由活动套管周边的刻线去测量，最终测量结果需要估读一位小数，由于其良好的精密性，所以常用于房屋建造中各机构精度的检测。

如公告号为“CN205175262U”的中国专利所公开的一种千分尺，它包括固定套筒和微分筒，在固定套筒上设置有周向的零线，这种千分尺够提高精度并且能在一定程度上避免误读；但是操作者在测量一些表面光滑但形状较不规则的物品时，如球体、椭球体等物体时，由于物体表面光滑，在测量时将物体放置在测砧和测微螺杆之间可能会因为物体表面光滑致使物体在测砧和测微螺杆之间滑移错位，致使测量不准确。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种便于测量表面光滑且形状不规则物体的千分尺。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种千分尺，包括固定套管、微分筒、尺架，设置在尺架上的测砧和测微螺杆，所述测砧圆周壁上向外延伸设置有弹性套，所述弹性套上设置有开口，所述尺架上设置有支杆，所述支杆上背离尺架的一端上设置有弧形吸盘。

通过采用上述技术方案，将待测量物体从弹性套的开口处塞入进弹性套中，而后将塞有待测量物体的弹性套放在设置在支杆上的弧形吸盘上而后旋转旋钮对放置在弧形吸盘上的物体进行测量，当待测量物体的底表面较大时候，可将待测量物体的底表面吸附在吸盘上，避免待测量物体掉落。

作为优选，所述弹性套由SEBS条状物经纬编织而成。

通过采用上述技术方案，SEBS是以聚苯乙烯为末端段，以聚丁二烯加氢得到的乙烯-丁烯共聚物为中间弹性嵌段的线性三嵌共聚物，SEBS不含不饱和双键，具有较好的稳定性和耐老化性，其次SEBS还具有高弹性和较强的可塑性，将待测量物体塞在弹性套中，由于SEBS具有较强的弹性，所以可以紧密的包裹在弹性套中中，不需要操作者另外用手扶住待测量工件。

作为优选，所述支杆长度可调节。

通过采用上述技术方案，根据待测量物体的位置和大小调节支杆的高度，当需要测量的物体尺寸较大时，调节支杆的高度，使得放置在弧形吸盘上的物体与测微螺杆、测砧位于同一高度上，便于测量。

作为优选，所述尺架上向下凹陷形成第一凹槽，所述第一凹槽内设置有螺纹，所述支杆螺纹连接在第一凹槽内，所述测砧上侧壁上贴附有第一薄形磁铁，所述弹性套上设置有能与第一薄形磁铁配合的第二薄形磁铁。

通过采用上述技术方案，在第一凹槽内设置螺纹，将支杆螺纹连接在第一凹槽内，实现支杆的可拆卸连接；当测量的物体形状规整不需要使用支杆时，可将支杆从第一凹槽中旋出后拆卸；同样的可将弹力套向背离测砧的方向拉拽，使得第一薄形磁铁和第二薄形磁铁脱离，从而将弹力套从测砧上拆卸，不影响千分尺的使用。

作为优选，所述弹性套背离测砧的一端上连接在测微螺杆上，所述开口设置在弹性套背离尺架的一面。

通过采用上述技术方案，将弹性套的另一端固定在测微螺杆上，使用时将待测量物体从开口处放入弹性套内，而后调节支杆的位置使弧形吸盘拖住待测量物体后进行测量，这样的设置可使操作更为简便，避免物体从开口中滑落。

作为优选，所述尺架上设置沿其长度方向的第二凹槽，所述第二凹槽内滑移连接有滑块，所述支杆铰接在滑块上。

通过采用上述技术方案，将滑块在第二凹槽内滑动至合适的位置处，调节支杆的角度，使得支杆垂直于测微螺杆设置，而后将待测量物体放置在弧形吸盘上进行测量。

作为优选，所述开口设置在弹性套背离测砧的一端。

通过采用上述技术方案，将待测量物体从开口处伸入进弹性套内后，再将待测量物体放置在弧形吸盘上进行测量。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：通过采用上述技术方案，将待测量物体从弹性套的开口处塞入进弹性套中，而后将塞有待测量物体的弹性套放在设置在支杆上的弧形吸盘上而后旋转旋钮对放置在弧形吸盘上的物体进行测量。

附图说明

图1是实施例中整体结构示意图，用于体现个结构之间的位置关系；

图2是实施例中整体结构示意图，用于体现设置在测砧上的弹性套；

图3是实施例1中尺架结构剖视图，用于体现设置在尺架上的第二凹槽；

图4是实施例2中整体结构示意图。

图中，1、套管；2、微分筒；3、尺架；31、测砧；32、测微螺杆；33、第二凹槽；34、滑块；35、第一凹槽；4、弹性套；41、开口；5、支杆；51、弧形吸盘；6、旋钮；71、第一薄形磁铁；72、第二薄形磁铁。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

实施例1：如图1所示，一种千分尺，包括固定套管1、微分筒2、尺架3和旋钮6，尺架3剖面形状为半圆弧，在尺架3的两端分别设置有测砧31和测微螺杆32，测砧31和测微螺杆32相向设置，如图2所示，在测砧31的圆周壁上裹附有一圈第一薄形磁铁71，在弹性套4上设置有一圈第二薄形磁铁72，第一薄形磁铁71和第二薄形磁铁72磁性相反，利用第一薄形磁铁71和第二薄形磁铁72配合将弹性套4固定在测砧31上实现弹性套4的可拆卸连接，在弹性套4背离测砧31的一面上设置有开口41，操作者可从开口41处向弹性套4内放置待测量物体；弹性套4是利用SEBS涂覆后干燥成型，切割成条状物后经纬编织而成的。

如图2和图3所示，在尺架3上表面均匀的设置有第二凹槽33，在第一凹槽35内滑移设置有一个滑块34，滑块34可在第二凹槽33内滑动，在滑块34上设置有一个紧固螺钉，用于将滑块34固定在第二凹槽33内，在滑块34的上表面铰接有一根支杆5，支杆5的长度可以调节，可采用多根子支杆5相互套设形成可伸缩的支杆5，在滑块34表面向下凹陷形成第一凹槽35，第一凹槽35内设置有螺纹，将支杆5铰接端的底部上同样设置有螺纹，将支杆5螺旋进第一凹槽35中，实现支杆5的可拆卸连接，在支杆5远离尺架3的一端安装有一个弧形吸盘51。

使用方法：先将千分尺校准零位，转动旋钮6，使测砧31与测微螺杆32之间的距离大于被测物体，将待测量物体从开口41处放进弹性套4中，并且调节滑块34在第二凹槽33中位置，使得支杆5垂直于待测量物体后，调节支杆5的高度，将待测量物体放置在弧形吸盘51上使得物体上待测量位置恰好位于测砧31和测微螺杆32之间，一周扶住千分尺的尺架，另一只手转动旋钮6，直至测微螺杆32轻微抵接在物体上，读数即可。

实施例2：实施例2的结构与实施例1的结构基本相同，如图4所示，一种千分尺，弹性套4的一端连接在测砧31的圆周壁上，另一端连接在测微螺杆32的圆周壁上，将开口41设置在弹性套4背离尺架3的面上。

使用方法：实施例2的使用方法与实施例1的使用方法基本相同，将待测量物体从开口41放入进弹性套4中后，并调节支杆5的高度和位置，将物体平放在弧形吸盘51上，之后进行测量。

Claims (7)

1.一种千分尺，包括固定套管（1）、微分筒（2）、尺架（3）和旋钮（6），设置在尺架（3）上的测砧（31）和测微螺杆（32），其特征在于：所述测砧（31）圆周壁上向外延伸设置有弹性套（4），所述弹性套（4）上设置有开口（41），所述尺架（3）上设置有支杆（5），所述支杆（5）上背离尺架（3）的一端上设置有弧形吸盘（51）。

2.根据权利要求1所述的一种千分尺，其特征在于：所述弹性套（4）由SEBS条状物经纬编织而成。

3.根据权利要求2所述的一种千分尺，其特征在于：所述支杆（5）长度可调节。

4.根据权利要求3所述的一种千分尺，其特征在于：所述尺架（3）上向下凹陷形成第一凹槽（35），所述第一凹槽（35）内设置有螺纹，所述支杆（5）螺纹连接在第一凹槽（35）内；所述测砧（31）上侧壁上贴附有第一薄形磁铁（71），所述弹性套（4）上设置有能与第一薄形磁铁（71）配合的第二薄形磁铁（72）。

5.根据权利要求4所述的一种千分尺，其特征在于：所述弹性套（4）背离测砧（31）的一端上连接在测微螺杆（32）上，所述开口（41）设置在弹性套（4）背离尺架（3）的一面。

6.根据权利要求1所述的一种千分尺，其特征在于：所述尺架（3）上设置沿其长度方向的第二凹槽（33），所述第二凹槽（33）内滑移连接有滑块（34），所述支杆（5）铰接在滑块（34）上。

7.根据权利要求6所述的一种千分尺，其特征在于：所述开口（41）设置在弹性套（4）背离测砧（31）的一端。