CN206421002U

CN206421002U - 10kV开关分、合闸时间测试仪

Info

Publication number: CN206421002U
Application number: CN201621108692.2U
Authority: CN
Inventors: 李知城; 曾海润; 王平波
Original assignee: Zhanjiang Power Supply Bureau of Guangdong Power Grid Co Ltd
Current assignee: Zhanjiang Power Supply Bureau of Guangdong Power Grid Co Ltd
Priority date: 2016-10-08
Filing date: 2016-10-08
Publication date: 2017-08-18
Anticipated expiration: 2026-10-08

Abstract

本实用新型涉及一种10kV开关分、合闸时间测试仪，其包括主控芯片，还包括：合闸时间测试电路，连接10kV开关的合闸线圈及所述主控芯片；分闸时间测试电路，连接所述10kV开关的分闸线圈及所述主控芯片；合闸电压采集电路，连接所述10kV开关的合闸线圈及所述主控芯片；分闸电压采集电路，连接所述10kV开关的分闸线圈及所述主控芯片；显示器，连接所述主控芯片。上述10kV开关分、合闸时间测试仪，不仅能测试10kV开关的分闸动作时间、合闸动作时间，还能记录10kV开关合闸线圈的电压变化情况及分闸线圈的电压变化情况并显示，以便检修人员分析线圈状态，从而实现全面检测10kV开关各方面的性能，提升可靠性。

Description

10kV开关分、合闸时间测试仪

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，特别是涉及一种10kV开关分、合闸时间测试仪。

背景技术

在电力系统中，10kV开关作为一种重要的配电设备得到广泛应用。若10kV 开关发生故障，轻则导致上一级开关跳开，扩大停电范围，重则导致开关爆炸，甚至人员伤亡。因此为了保证10kV开关能安全、可靠地运行，需要按时对10kV 开关的性能进行检测。

目前10kV开关的测量仪器存在体积大，质量重，不易携带，加重检修人员的负担的问题。此外，目前的测量仪器仅通过开关辅助节点反馈10kV开关的动作时间，无法获取10kV开关中线圈的电器参数，从而无法全面检测10kV开关各方面的性能。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种10kV开关分、合闸时间测试仪，能够全面检测 10kV开关各方面的性能，提升可靠性。

本实用新型公开了一种10kV开关分、合闸时间测试仪，其包括主控芯片，还包括：

合闸时间测试电路，连接所述主控芯片，还用于连接10kV开关的合闸线圈；

分闸时间测试电路，连接所述主控芯片，还用于连接所述10kV开关的分闸线圈；

合闸电压采集电路，连接所述主控芯片，还用于连接所述10kV开关的合闸线圈；

分闸电压采集电路，连接所述主控芯片，还用于连接所述10kV开关的分闸线圈；

显示器，连接所述主控芯片；

其中，所述主控芯片包括模数转换器及控制器，所述合闸电压采集电路及所述分闸电压采集电路分别通过所述模数转换器连接所述控制器。

作为一种实施方式，所述合闸时间测试电路包括：三极管Q11、继电器K11、电阻R11及接线端子P11，其中：

所述三极管Q11的基极连接所述主控芯片的输出引脚，所述三极管Q11的集电极用于连接正向电源，所述三极管Q11的发射极通过所述继电器K11的线圈接地；

所述接线端子P11的第一引脚和第二引脚分别连接所述继电器K11的开关两端，所述接线端子P11的第一引脚还用于连接所述10kV开关的操作电源KM，所述接线端子P11的第二引脚还连接所述10kV开关的合闸线圈；

所述电阻R11的一端用于连接所述正向电源，所述电阻R11的另一端用于连接所述10kV开关的常开节点及所述主控芯片的输入引脚。

作为一种实施方式，所述分闸时间测试电路包括：三极管Q21、继电器K21、电阻R21及接线端子P21，其中：

所述三极管Q21的基极连接所述主控芯片的输出引脚，所述三极管Q21的集电极用于连接正向电源，所述三极管Q21的发射极通过所述继电器K21的线圈接地；

所述接线端子P21的第一引脚和第二引脚分别连接所述继电器K21的开关两端，所述接线端子P21的第一引脚还用于连接所述10kV开关操作电源KM，所述接线端子P21的第二引脚还连接所述10kV开关的分闸线圈；

所述电阻R21的一端用于连接所述正向电源，所述电阻R21的另一端作为所述合闸电压采集电路的输出端，用于连接所述10kV开关的常闭节点及所述主控芯片的输入引脚。

作为一种实施方式，所述合闸电压采集电路包括：运算放大器A11、电阻 R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17及电阻R18，其中：

所述运算放大器A11的同相输入端依次通过串联的所述电阻R12、所述电阻R13及所述电阻R14连接所述10kV开关的合闸线圈，所述运算放大器A11 的反相输入端通过所述电阻R15连接所述运算放大器A11的输出端，所述运算放大器A11的输出端；

所述电阻R16的一端连接所述电阻R12及所述电阻R13的连接节点，另一端用于接地；

所述电阻R17的一端连接所述运算放大器A11的反相输入端，另一端用于接地；

所述电阻R18的一端连接所述电阻R15与所述运算放大器A11的输出端的连接节点，所述电阻R18的另一端用于连接所述主控芯片的第一采样引脚。

作为一种实施方式，所述分闸电压采集电路包括：运算放大器A21、电阻 R22、电阻R23、电阻R24、电阻R25、电阻R26、电阻R27及电阻R28，其中：

所述运算放大器A21的同相输入端依次通过串联的所述电阻R22、所述电阻R23及所述电阻R24连接所述10kV开关的分闸线圈，所述运算放大器A21 的反相输入端通过所述电阻R25连接所述运算放大器A21的输出端，所述运算放大器A21的输出端；

所述电阻R26的一端连接所述电阻R22及所述电阻R23的连接节点，另一端用于接地；

所述电阻R27的一端连接所述运算放大器A21的反相输入端，另一端用于接地；

所述电阻R28的一端连接所述电阻R25与所述运算放大器A21的输出端的连接节点，所述电阻R28的另一端作为所述分闸电压采集电路的输出端，用于连接所述主控芯片的第二采样引脚。

作为一种实施方式，所述显示器包括显示驱动电路及显示屏，所述显示驱动电路的输入端连接所述主控芯片的显示控制引脚，所述显示驱动电路的输出端连接所述显示屏。

作为一种实施方式，所述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括报警电路，所述报警电路连接所述主控芯片。

作为一种实施方式，所述报警电路包括蜂鸣器LS1、电阻R31及三极管Q31，其中，所述三极管Q31的基极通过所述电阻R31连接所述主控芯片的报警控制引脚，所述三极管Q31的集电极用于连接正向电源，所述三极管Q31的发射极通过所述蜂鸣器LS1接地。

作为一种实施方式，所述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括按键电路，所述按键电路连接所述主控芯片的按键引脚。

作为一种实施方式，所述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括正向电源电路及反向电源电路，所述正向电源电路的输出端分别连接所述合闸时间测试电路、所述分闸时间测试电路、所述合闸电压采集电路、所述分闸电压采集电路及所述显示器；所述反向电源电路的输出端分别连接所述合闸电压采集电路及所述分闸电压采集电路。

上述10kV开关分、合闸时间测试仪，不仅能测试10kV开关的分闸动作时间、合闸动作时间，还能记录10kV开关合闸线圈的电压变化情况及分闸线圈的电压变化情况并显示，以便检修人员分析线圈状态，从而实现全面检测10kV开关各方面的性能，提升可靠性。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪的模块结构示意图；

图2为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中主控芯片的电路图；

图3为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中合闸时间测试电路的电路图；

图4为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中分闸时间测试电路的电路图；

图5为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中合闸电压采集电路的电路图；

图6为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中分闸电压采集电路的电路图；

图7为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中正向电源电路的电路图；

图8为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中反向电源电路的电路图；

图9为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中显示驱动电路的电路图；

图10为本实用新型一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪中报警电路的电路图；

图11为本实用新型一实施例的10kV开关控制回路的示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

本实用新型提供了一种10kV开关分、合闸时间测试仪，用于测量10kV开关的特性参数，例如用于测量10KV控制回路的特性参数；又如用于测量10KV 控制回路的动作时间、线圈电压等特性参数。

请参阅图1，如图1所示，一实施例的10kV开关分、合闸时间测试仪100，包括合闸时间测试电路110、分闸时间测试电路120、合闸电压采集电路130、分闸电压采集电路140、显示器150及主控芯片MCU。其中，所述主控芯片选用市售MCU，例如STC12C56系列芯片，例如，STC12C56_28PIN等。

其中合闸时间测试电路110连接主控芯片MCU，还用于连接10kV开关的合闸线圈。合闸时间测试电路110用于测量10kV开关的合闸动作时间，例如测量10kV开关控制回路的合闸动作时间。

分闸时间测试电路120连接主控芯片MCU，还用于连接10kV开关的分闸线圈。分闸时间测试电路120用于测量10kV开关的分闸动作时间，例如测量 10kV开关控制回路的分闸动作时间。

合闸电压采集电路130，连接主控芯片MCU，还用于连接10kV开关的合闸线圈。合闸电压采集电路130用于在10kV开关控制回路进行合闸操作时采集 10kV开关合闸线圈的电压，例如在10kV开关控制回路进行合闸操作时，实时采集10kV开关合闸线圈的电压，以使主控芯片记录合闸线圈的电压变化情况。

分闸电压采集电路140，连接主控芯片MCU，还用于连接10kV开关的分闸线圈。分闸电压采集电路140用于在10kV开关控制回路进行分闸操作时采集 10kV开关分闸线圈的电压，例如在10kV开关控制回路进行分闸操作时，实时采集10kV开关分闸线圈的电压，以使主控芯片记录分闸线圈的电压变化情况。

显示器150，连接主控芯片MCU，用于显示合闸线圈的电压变化情况及分闸线圈的电压变化情况。显示器150还用于显示10kV开关控制回路的合闸动作时间及分闸动作时间。

其中，主控芯片MCU包括模数转换器及控制器，所述合闸电压采集电路 130及所述分闸电压采集电路140分别通过所述模数转换器连接所述控制器。

具体实施中，合闸电压采集电路130及分闸电压采集电路140分别采集的合闸线圈电压和分闸线圈电压为模拟电压信号，模数转换器将模拟电压信号转换为数字电压信号，并将数字电压信号传递给控制器，控制器对数字电压信号进行处理，并控制显示器150进行显示。

在本实施例中，主控芯片MCU连接合闸时间测试电路110以记录10kV开关控制回路的合闸动作时间，主控芯片MCU连接分闸时间测试电路120以记录 10kV开关控制回路的分闸动作时间，主控芯片MCU连接合闸电压采集电路130 以记录合闸线圈的电压变化情况，主控芯片MCU连接分闸电压采集电路140以记录分闸线圈的电压变化情况，同时，主控芯片MCU还连接显示器150，以控制显示器150对上述合闸动作时间、上述分闸动作时间、上述合闸线圈的电压变化情况及上述分闸线圈的电压变化情况进行显示。例如，主控芯片MCU控制显示器150将上述合闸动作时间及上述分闸动作时间以数值形式进行显示，例如，主控芯片MCU将分、合闸过程中分闸线圈、合闸线圈的电压变化情况转换成数字电压，根据多个数字电压生成电压变化曲线，并控制显示器150对该电压变化曲线进行显示。

在一个实施例中，主控芯片MCU通过集成了模数转换器和控制器的单片机实现。例如，如图2所示，主控芯片MCU采用STC12C56_28PIN单片机，其至少一个引脚通过接线端子P1连接外部触发元件，例如其第四引脚RxD/P3.0、第五引脚TxD/P3.1分别通过接线端子P1连接按键开关。主控芯片MCU的第七引脚XTAL1和第六引脚XTAL2通过晶振Y1互相连接，并且第六引脚XTAL2和第七引脚XTAL1分别通过电容C1和电容C2接地。主控芯片MCU的第三引脚RST为复位引脚，通过电阻R1接地，主控芯片MCU的第二八引脚作为电源引脚，用于连接正向电源，主控芯片MCU的第一四引脚GND作为接地引脚，用于接地。其中，第一八引脚P1.0/ADC0及第一九引脚P1.1/ADC1分别用于连接合闸电压采集电路的输出端及分闸电压采集电路的输出端，合闸线圈电压及分闸线圈电压从第一八引脚P1.0/A DC0及第一九引脚P1.1/ADC1引入，由单片机进行读取和处理。

在一个实施例中，所述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括按键电路，所述按键电路连接所述主控芯片的按键引脚。例如，所述按键电路包括一按键，该按键连接单片机的引脚P3.0，当该按键被按下时，主控芯片与合闸时间测试电路110或分闸时间测试电路120连接的输出引脚输出高电平。

在一个实施例中，如图3所示，合闸时间测试电路110包括：三极管Q11、继电器K11、电阻R11及接线端子P11，其中：三极管Q11的基极作为合闸时间测试电路110的输入端，连接主控芯片的一输出引脚，三极管Q11的集电极用于连接正向电源，三极管Q11的发射极通过继电器K11的线圈接地；接线端子P11的第一引脚和第二引脚分别连接继电器K11的开关两端，接线端子P11 的第一引脚还用于连接10kV开关的操作电源KM，接线端子P11的第二引脚还连接10kV开关的合闸线圈；电阻R11的一端用于连接正向电源，电阻R11的另一端作为合闸时间测试电路110的输出端用于连接10kV开关的常开节点S11 及主控芯片的一输入引脚。

其中，三级管Q11可以为NPN三极管或PNP三极管。以三极管Q11为NPN 三极管为例，当主控芯片MCU的输出引脚输出低电平时，继电器K11不动作， 10kV开关的合闸线圈未接通，10kV开关不动作，S11保持断开，主控芯片MCU 的输入引脚为高电平。当主控芯片MCU的输出引脚输出高电平时，三极管Q11 驱动继电器K11动作，此时，10kV开关的操作电源KM、10kV开关的合闸线圈HQ、接线端子P11与继电器K11的开关形成回路，10kV开关的合闸线圈接通，使得10kV开关的常开节点S11状态发生变化，由断开变为闭合，电阻R11 的另一端由于接地处于低电平，则电阻R11的另一端作为合闸时间测试电路的输出端，向主控芯片MCU的输入引脚输出低电平，主控芯片MCU的输入引脚由高电平变为低电平。主控芯片MCU记录从其输出端输出高电平到其输入端的电平发生变化的时间，即为10kV开关的合闸动作时间。

在一个实施例中，如图4所示，分闸时间测试电路120包括：三极管Q21、继电器K21、电阻R21及接线端子P21，其中，三极管Q21的基极作为分闸时间测试电路120的输入端连接主控芯片的输出引脚，三极管Q21的集电极用于连接正向电源，三极管Q21的发射极通过继电器K21的线圈接地；接线端子P21 的第一引脚和第二引脚分别连接继电器K21的开关两端，接线端子P21的第一引脚还用于连接10kV开关操作电源KM，接线端子P21的第二引脚还连接10kV 开关的分闸线圈；电阻R21的一端用于连接正向电源，电阻R21的另一端作为合闸时间测试电路的输出端，用于连接10kV开关的常闭节点S21及主控芯片 MCU的输入引脚。

其中，三级管Q21可以为NPN三极管或PNP三极管。以三极管Q21为NPN 三极管为例，当主控芯片MCU的输出引脚输出低电平时，继电器K21不动作， 10kV开关的分闸线圈未接通，10kV开关不动作，S21保持闭合，主控芯片MCU 的输入引脚为低电平。当主控芯片MCU的输出引脚输出高电平时，三极管Q21 驱动继电器K21动作，此时，10kV开关的操作电源KM、10kV开关的分闸线圈TQ、接线端子P21与继电器K21的开关形成回路，10kV开关的分闸线圈接通，使得10kV开关的常闭节点S21状态发生变化，由闭合变为断开，由于电阻 R21连接正向电源，其另一端处于高电平，则电阻R21的另一端作为分闸时间测试电路的输出端，向主控芯片MCU的输入引脚输出高电平。主控芯片MCU 记录从其输出端输出高电平到其输入端电平发生变化的时间，即为10kV开关的分闸动作时间。

在一个实施例中，如图5所示，合闸电压采集电路130包括：运算放大器 A11、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17及电阻 R18，其中，运算放大器A11的同相输入端依次通过串联的电阻R12、电阻R13 及电阻R14连接10kV开关的合闸线圈，运算放大器A11的反相输入端通过电阻R15连接运算放大器A11的输出端，运算放大器A11的输出端；电阻R16的一端连接电阻R12及电阻R13的连接节点，另一端用于接地；电阻R17的一端连接运算放大器A11的反相输入端，另一端用于接地；电阻R18的一端连接电阻R15与运算放大器A11的输出端的连接节点，电阻R18的另一端用于连接主控芯片MCU的第一采样引脚，例如连接单片机的第一八引脚P1.0/A DC0或第一九引脚P1.1/ADC1。例如，电阻R12、电阻R15、电阻R17和电阻R18的阻值为10KΩ，电阻R13的阻值为100KΩ，电阻R14的阻值为9KΩ，电阻R16的阻值为1KΩ。

请一并参阅图11，其为10kV开关控制回路的示意图。其中，合闸电压采集电路130采用运算放大器A11搭建的正向放大电路组成，电阻R14引出的节点J2与10kV开关控制回路的107口连接，合闸电压U_i1通过电阻R14、电阻 R13及电阻R12分压后输入运算放大器A11的同相输入端，根据运算放大器“虚断、虚短”的特性，可计算出运算放大器A11的输出端电压为)其中合闸电压U_i1即节点J2的电压。主控芯片MCU记录U_o1的变化情况就可以获取10kV开关合闸过程中的电压变化情况。

在一个实施例中，如图6所示，分闸电压采集电路140包括：运算放大器 A21、电阻R22、电阻R23、电阻R24、电阻R25、电阻R26、电阻R27及电阻 R28，其中，运算放大器A21的同相输入端依次通过串联的电阻R22、电阻R23 及电阻R24连接10kV开关的分闸线圈，运算放大器A21的反相输入端通过电阻R25连接运算放大器A21的输出端，运算放大器A21的输出端；电阻R26的一端连接电阻R22及电阻R23的连接节点，另一端用于接地；电阻R27的一端连接运算放大器A21的反相输入端，另一端用于接地；电阻R28的一端连接电阻R25与运算放大器A21的输出端的连接节点，电阻R28的另一端作为分闸电压采集电路140的输出端，用于连接主控芯片MCU的第二采样引脚，例如连接单片机的第一九引脚P1.1/ADC 1或第一八引脚P1.0/A DC0。例如，电阻R22、电阻R25、电阻R27和电阻R28的阻值为10KΩ，电阻R23的阻值为100KΩ，电阻R24的阻值为9KΩ，电阻R26的阻值为1KΩ。

其中，分闸电压采集电路140采用运算放大器A21搭建的正向放大电路组成，请一并参阅图10，电阻R24引出的节点J1与10kV开关控制回路的137口连接，分闸电压U_i2通过电阻R24、电阻R23及电阻R22分压后输入运算放大器 A21的同相输入端，根据运算放大器“虚断、虚短”的特性，可计算出运算放大器A21的输出端电压为其中为分闸电压U_i2即节点 J1的电压。主控芯片MCU记录U_o2的变化情况就可以获取10kV开关分闸过程中的电压变化情况。

在一个实施例中，合闸电压采集电路130及分闸电压采集电路140中的运算放大器采用双电源运算放大器，则上述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括正向电源电路及反向电源电路，其中正向电源电路的输出端分别连接合闸时间测试电路、分闸时间测试电路、合闸电压采集电路、分闸电压采集电路及显示器；反向电源电路的输出端分别连接合闸电压采集电路及分闸电压采集电路。

在本实施例中，正向电源电路用于提供正向电源电压VCC，反向电源电路用于提供运算放大器A11及运输放大器A21的反向电源电压-VCC。合闸电压采集电路130及分闸电压采集电路140的正向电源输入端分别连接正向电源电路的输出端，合闸电压采集电路130及分闸电压采集电路140的反向电源输入端分别连接反向电源电路的输出端。

例如，如图7所示，正向电源电路160包括电源插座PWR2.5、电压转换芯片VR1、电容C7、电容C8、电容C9、电容C10、发光二极管LED1及电阻R2，其中，电压转换芯片VR1的输入引脚Vin连接电源插座PWR2.5的第二管脚，电压转换芯片VR1的接地引脚用于接地，电压转换芯片VR1的输出引脚Vout 作为正向电源电路160的输出端，输出正向电源电压VCC，电压转换芯片VR1 的输出引脚Vout连接发光二极管LED1的正极。其中，电容C7的一端连接电压转换芯片VR1的输入引脚Vin，另一端接地；电容C8与电容C7并联；电容 C10的一端连接电压转换芯片VR1的输出引脚Vout，另一端接地；电容C9与电容C10并联；电阻R2一端连接发光二极管LED1的负极，另一端接地。

具体实施中，电压转换芯片VR1将外部电源电压转换为正向电源电压VCC，电容C7、电容C8、电容C9、电容C10用于滤波。例如，为了加强滤波效果，电容C7及电容C8中一个采用小电容，另一个采用电解电容，例如，电容C8 为0.1μF的小电容，电容C7为100μF的电解电容。又如，为了加强滤波效果，电容C9及电容C10中一个采用小电容，另一个采用电解电容，例如，电容C10 为0.1μF的小电容，电容C9为100μF的电解电容。其中，发光二极管LED1 作为指示灯，例如，当正向电源电路160接上外部电源并正常输出正向电源电压VCC时，发光二极管LED1被点亮。

例如，如图8所示，反向电源电路170包括电源管理芯片U1、电容C3、电容C4、电容C5及电容C6，其中电容C4与电容C5并联，其一端连接电源管理芯片U1的V+引脚，另一端接地；电容C6的两端分别连接电源管理芯片U1的 C1+引脚及C2-引脚；电容C3的一端分别连接电源管理芯片U1的输出引脚，另一端接地。其中，电源管理芯片U1的V+引脚用于连接正向电源电路160的输出端，电源管理芯片U1的接地引脚用于接地。电源管理芯片U1将正向电源电压VCC转换为反向电源电压-VCC，并通过输出引脚输出。例如，电源管理芯片U1采用LMC7660IM芯片。电容C3、电容C4及电容C5用于滤波。例如，为了提升滤波效果，电容C3采用47μF的电解电容，电容C4采用1000μF的电解电容，电容C5采用104电容。电容C6采用10μF的电解电容。

在一个实施例中，所述显示器150包括显示驱动电路及显示屏，所述显示驱动电路的输入端连接所述主控芯片的显示控制引脚，所述显示驱动电路的输出端连接所述显示屏。例如，如图9所示，显示驱动电路151包括显示驱动芯片P2、电阻R4及抽头电阻R5，其中显示驱动芯片P2的第一引脚及第二十引脚接地，第二引脚及第十五引脚连接第一输入电源VCC，第三引脚连接电阻R5 的中间抽头，第十七引脚连接主控芯片的复位引脚RST，第十九引脚通过电阻 R4连接第一输入电源VCC，第四引脚至第十四引脚连接主控芯片的显示控制引脚，例如显示驱动芯片P2的第四引脚至第十四引脚分别连接单片机的 P1.3/ADC3引脚、P1.4/ADC4引脚、P1.5/ADC5引脚、P2.0引脚、P2.1引脚、 P2.2引脚、P2.3引脚、P2.4引脚、P2.5引脚、P2.6引脚及P2.7引脚。例如，显示驱动芯片P2采用LCD12864芯片。

在一个实施例中，所述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括报警电路180，所述报警电路180连接所述主控芯片MCU。例如，如图10所示，所述报警电路180包括蜂鸣器LS1、电阻R31及三极管Q31，其中，三极管Q31的基极通过电阻R31连接主控芯片MCU的报警控制引脚，例如连接单片机的P3.7引脚，三极管Q31的集电极用于连接正向电源，三极管Q31的发射极通过蜂鸣器LS1 接地。当单片机的P3.7引脚输出报警信号bell时，蜂鸣器LS1发出蜂鸣报警。

上述10kV开关分、合闸时间测试仪通过按键启动操作，由单片机记录触发和开关变位之间的时间来记录分、合闸时间，通过两个电压采集回路，将分闸、合闸过程中分闸线圈、合闸线圈的电压变化情况转换成数字电压，并通过单片机记录下来，处理后通过液晶显示屏将电压变化曲线显示出来，以便检修人员分析线圈状态。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，包括主控芯片，还包括：

显示器，连接所述主控芯片；

2.如权利要求1所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述合闸时间测试电路包括：三极管Q11、继电器K11、电阻R11及接线端子P11，其中：

所述接线端子P11的第一引脚和第二引脚分别连接所述继电器K11的开关两端，所述接线端子P11的第一引脚还用于连接所述10kV开关的操作电源KM，所述接线端子P11的第二引脚还用于连接所述10kV开关的合闸线圈；

所述电阻R11的一端用于连接所述正向电源，所述电阻R11的另一端连接所述主控芯片的输入引脚，还用于连接所述10kV开关的常开节点。

3.如权利要求1所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述分闸时间测试电路包括：三极管Q21、继电器K21、电阻R21及接线端子P21，其中：

所述接线端子P21的第一引脚和第二引脚分别连接所述继电器K21的开关两端，所述接线端子P21的第一引脚还用于连接所述10kV开关操作电源KM，所述接线端子P21的第二引脚还用于连接所述10kV开关的分闸线圈；

所述电阻R21的一端用于连接所述正向电源，所述电阻R21的另一端作为所述合闸电压采集电路的输出端，连接所述主控芯片的输入引脚，还用于连接所述10kV开关的常闭节点。

4.如权利要求1所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述合闸电压采集电路包括：运算放大器A11、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R17及电阻R18，其中：

所述运算放大器A11的同相输入端依次通过串联的所述电阻R12、所述电阻R13及所述电阻R14连接所述10kV开关的合闸线圈，所述运算放大器A11的反相输入端通过所述电阻R15连接所述运算放大器A11的输出端，所述运算放大器A11的输出端；

所述电阻R18的一端连接所述电阻R15与所述运算放大器A11的输出端的连接节点，所述电阻R18的另一端连接所述主控芯片的第一采样引脚。

5.如权利要求1所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述分闸电压采集电路包括：运算放大器A21、电阻R22、电阻R23、电阻R24、电阻R25、电阻R26、电阻R27及电阻R28，其中：

所述运算放大器A21的同相输入端依次通过串联的所述电阻R22、所述电阻R23及所述电阻R24连接所述10kV开关的分闸线圈，所述运算放大器A21的反相输入端通过所述电阻R25连接所述运算放大器A21的输出端，所述运算放大器A21的输出端；

所述电阻R28的一端连接所述电阻R25与所述运算放大器A21的输出端的连接节点，所述电阻R28的另一端作为所述分闸电压采集电路的输出端，连接所述主控芯片的第二采样引脚。

6.如权利要求1至5中任一项所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述显示器包括显示驱动电路及显示屏，所述显示驱动电路的输入端连接所述主控芯片的显示控制引脚，所述显示驱动电路的输出端连接所述显示屏。

7.如权利要求1至5中任一项所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括报警电路，所述报警电路连接所述主控芯片。

8.如权利要求7所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述报警电路包括蜂鸣器LS1、电阻R31及三极管Q31，其中，所述三极管Q31的基极通过所述电阻R31连接所述主控芯片的报警控制引脚，所述三极管Q31的集电极用于连接正向电源，所述三极管Q31的发射极通过所述蜂鸣器LS1接地。

9.如权利要求1至5中任一项所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括按键电路，所述按键电路连接所述主控芯片的按键引脚。

10.如权利要求1至5中任一项所述10kV开关分、合闸时间测试仪，其特征在于，所述10kV开关分、合闸时间测试仪还包括正向电源电路及反向电源电路，所述正向电源电路的输出端分别连接所述合闸时间测试电路、所述分闸时间测试电路、所述合闸电压采集电路、所述分闸电压采集电路及所述显示器；所述反向电源电路的输出端分别连接所述合闸电压采集电路及所述分闸电压采集电路。