CN206387903U - 一种用于二维扫描式激光测距光路装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于二维扫描式激光测距光路装置，包括透过发射波的高通滤光片或者窄带滤光片，直角棱镜，粘结直角棱镜的塑料底座，直角棱镜定位工装，道威棱镜。使用定位工装和滤光片安装直角棱镜简便，快捷，容易保证同轴度和平行度。道威棱镜反射发射能量检测反馈能量强弱有无，对测距设备运行情况进行实时监控。本实用新型通过将直角棱镜粘结到滤光片上，可以更好地保证平行度，省去了复杂加工工艺，节约成本；使用定位工装构件定位，可以更好的保证发射光束的同轴度，免除了装调的麻烦，提高了生产效率；光路中添加道威棱镜进行反射光能量的检测，实现了设备运行状况的监控。
Description
技术领域
本实用新型属于激光测距技术领域，具体涉及一种用于二维扫描式激光测距光路装置。
背景技术
激光扫描检测技术原理：基于对激光束飞行时间的测量，并按照定义好的时间间隔发出激光脉冲，通过定时器计算发射脉冲和接收脉冲之间的时间间隔来得到与被测物体之间的距离。脉冲激光束经过测距传感器内部的一个旋转反光镜的反射对周围环境形成扇面扫描。目标物体的轮廓曲线由所接收到的一系列脉冲序列来确定。
目前二维激光扫描传感器的光路大多使用同轴发射和接收，发射光在接收透镜中心发射。一种是在接收系统的透镜上机械打孔，将发射光源经光纤引出，但此时要调节发射镜筒的平行度和同轴度，一种是将接收透镜的前端磨平，对棱镜进行粘结，该两种方法均有加工流程复杂，组装过程中平行度和同轴度不易调节的问题。
在激光测距仪外场使用过程中，由于雨雾、发射窗污染和测量距离超出量程的问题，会使接收回波信号变弱甚至无回波接收，发射系统使用的半导体激光器发光受自身寿命、电源、发射电路的影响。使用中如果发生无回波接收，无法判断是外界环境干扰还是设备自身问题。因此解决或者改进上述问题和弊端对激光测距设备的光路设计和优化极为迫切。
实用新型内容
为解决上述技术问题，本实用新型提出一种用于二维扫描式激光测距光路装置，包括：透过发射波的高通滤光片或者窄带滤光片2，直角棱镜1具有斜面镀铝膜，粘结直角棱镜1的塑料底座8，直角棱镜定位工装构件10，道威棱镜3。
进一步的，滤光片2安装在接收系统4前，并固定在带有平面的固定工装构件9上，直角棱镜1和塑料底座8粘结，使用定位工装构件10定位，并粘接在滤光片2上，保证直角棱镜8的同轴度和平行度。
进一步的，塑料底座8的斜面和两个直角面设置有溢胶槽，保证直角棱镜1和塑料底座8在粘结时的平行度。
进一步的，当45度旋转镜6旋转到道威棱镜3时，发射的激光先经过直角棱镜1反射，然后经45度旋转镜6反射，进入道威棱镜3返回，再经45度旋转镜6反射，由接收透镜接收，道威棱镜3反射发射能量，检测反馈能量强弱及有无，对测距设备运行情况进行实时监控。
本实用新型通过将直角棱镜粘结到滤光片上，可以更好地保证平行度，省去了复杂加工工艺，节约成本；使用定位工装构件定位，可以更好的保证发射光束的同轴度，免除了装调的麻烦，提高了生产效率；光路中添加道威棱镜进行反射光能量的检测，实现了设备运行状况的监控。
附图说明
图1是添加直角棱镜的二维扫描式激光测距反射光路图。
图2是安装直角棱镜定位工装结构图。
图3是反射光路直角棱镜安装状态结构图。
图4是添加道威棱镜的二维扫描式激光测距反馈光路图。
附图标记：
1-直角棱镜，2-滤光片，3-道威棱镜，4-接收系统，5-发射系统，6-45°旋转镜，7-障碍物，8-塑料底座，9-固定工装构件，10-定位工装构件。
具体实施方式
本实用新型提出了一种用于二维扫描式激光测距光路装置，使用定位工装构件10将直角棱镜1先和塑料底座8粘结，然后再粘结在滤光片2上，该方法操作简便，不需要复杂的工艺，并且能够保证良好的平行度和同轴度，提高生产效率。通过在光路中添加道威棱镜3可以有效实现设备运行状况实时监控。
光路中的滤光片2安装在图示的接收系统4前，并固定在平整度良好的固定工装构件9上，使用定位工装构件将直角棱镜1和塑料底座8进行粘结，再使用定位工装构件10定位，并粘接在滤光片2上，保证直角棱镜8安装的同轴度和平行度。
具体的，直角棱镜1的斜面镀铝膜，对905nm红外光源进行反射。塑料底座8的斜面和两个直角面挖有四个溢胶槽，保证直角棱镜1和塑料底座8在粘结时的平行度，并尽量不起高度。
当45度旋转镜6旋转到道威棱镜3时，发射的激光先经过直角棱镜1反射，然后经45度旋转镜6反射，进入道威棱镜3返回，再经45度旋转镜6反射，由接收透镜接收。道威棱镜3反射发射能量，检测反馈能量强弱及有无，对测距设备运行情况进行实时监控。
本实用新型通过将直角棱镜粘结到滤光片上，可以更好地保证平行度，省去了复杂加工工艺，节约成本；使用定位工装构件定位，可以更好的保证发射光束的同轴度，免除了装调的麻烦，提高了生产效率；光路中添加道威棱镜进行反射光能量的检测，实现了设备运行状况的监控。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些均属于本实用新型的保护范围。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (1)
1.一种用于二维扫描式激光测距光路装置，其特征在于，包括：透过发射波的高通滤光片或者窄带滤光片，直角棱镜具有斜面镀铝膜，粘结直角棱镜的塑料底座，直角棱镜定位工装构件和道威棱镜；
滤光片安装在接收系统前，并固定在带有平面的固定工装构件上，直角棱镜和塑料底座粘结，使用定位工装构件定位，并粘接在滤光片上，保证直角棱镜的同轴度和平行度；
塑料底座的斜面和两个直角面设置有溢胶槽，保证直角棱镜和塑料底座在粘结时的平行度；
当45度旋转镜旋转到道威棱镜时，发射的激光先经过直角棱镜反射，然后经45度旋转镜反射，进入道威棱镜返回，再经45度旋转镜反射，由接收透镜接收，道威棱镜反射发射能量，检测反馈能量强弱及有无，对测距设备运行情况进行实时监控。
Priority Applications (1)
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| CN201621333106.4U CN206387903U (zh) | 2016-12-07 | 2016-12-07 | 一种用于二维扫描式激光测距光路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201621333106.4U CN206387903U (zh) | 2016-12-07 | 2016-12-07 | 一种用于二维扫描式激光测距光路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN206387903U true CN206387903U (zh) | 2017-08-08 |
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Family Applications (1)
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| CN201621333106.4U Active CN206387903U (zh) | 2016-12-07 | 2016-12-07 | 一种用于二维扫描式激光测距光路装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN206387903U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108693516A (zh) * | 2018-08-20 | 2018-10-23 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法 |
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2016
- 2016-12-07 CN CN201621333106.4U patent/CN206387903U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108693516A (zh) * | 2018-08-20 | 2018-10-23 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法 |
| CN108693516B (zh) * | 2018-08-20 | 2024-02-20 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法 |
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