CN206378072U - 测量仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测量仪，包括：底座；滑轨，所述滑轨设在所述底座上；测量机构，所述测量机构设在所述滑轨上且相对于所述滑轨可移动，所述测量机构具有接触探针。根据本实用新型的测量仪，通过在测量仪的底座上设置滑轨，且测量机构可以在滑轨上相对于滑轨移动，由此，测量仪的结构简单、加工方便，其体积小巧、方便携带，在使用测量仪时，只需移动测量机构，以将接触探针移动到测量位置即可。而且，测量仪不仅可用于水平面上工件的测量，而且可用于非水平面上的工件的测量，扩大了测量仪的适用性。

Description

测量仪

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，尤其是涉及一种测量仪。

背景技术

相关技术中，用于测量表面划痕的测量仪在测量过程中需要移动测量仪的底座，由于受所测量工件的上表面的平面度、粗糙度等影响，测量过程中极易产生操作测量误差。而且，这种形式的测量仪仅可用于水平面上工件的测量，稍有偏移便无法精准测量。另外，在可实现性方面，与千分表相连的探针在通过底座的导向孔时，导向孔与探针之间需要保证较高的同轴度要求，同时，探针还需与底座的下表面有较高的垂直度要求。就以上两点来说，加工制作难度极大，其实用性差，可实现性差。此外，上述的测量仪的体积庞大，便携性差。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出一种测量仪，这种测量仪结构简单、加工方便，且测量方便、适用性广。

根据本实用新型的测量仪，包括：底座；滑轨，所述滑轨设在所述底座上；测量机构，所述测量机构设在所述滑轨上且相对于所述滑轨可移动，所述测量机构具有接触探针。

根据本实用新型的测量仪，在测量仪的底座上设置滑轨，且测量机构可以在滑轨上相对于滑轨移动，由此，测量仪的结构简单、加工方便，其体积小巧、方便携带，在使用测量仪时，只需移动测量机构，以将接触探针移动到测量位置即可。而且，测量仪不仅可用于水平面上工件的测量，而且可用于非水平面上的工件的测量，扩大了测量仪的适用性。

另外，根据本实用新型的测量仪还可具有如下附加技术特征：

根据本实用新型的一个实施例，所述测量机构通过安装装置可移动地设在所述滑轨上，所述安装装置包括：滑块，所述滑块上形成有与所述滑轨配合的滑槽，所述滑块的背离所述滑轨的一侧形成有安装槽，其中所述测量机构设在所述安装槽内；压板，所述压板设在所述滑块的背离所述滑轨的一侧以将所述测量机构压紧在所述安装槽内。

根据本实用新型的一个实施例，所述滑槽由所述滑块的邻近所述滑轨的一侧表面向内凹入形成，所述滑块的邻近所述滑轨的一侧表面上设有至少一个压件，所述压件用于将所述滑轨压紧在所述滑槽内。

根据本实用新型的一个实施例，沿垂直于所述滑块的移动方向上的两侧分别设有一个压件，两个所述压件的彼此相对的一端分别朝向彼此的方向延伸至超出所述滑槽的对应侧壁。

根据本实用新型的一个实施例，所述安装槽的横截面形状为多边形。

根据本实用新型的一个实施例，所述接触探针的自由端为锥形结构。

根据本实用新型的一个实施例，所述底座的底部设有至少一个磁吸件。

根据本实用新型的一个实施例，所述磁吸件为磁铁。

根据本实用新型的一个实施例，所述底座包括水平设置的底座本体和分别连接在所述底座本体底部两端的两个支撑座，其中所述滑轨设在所述底座本体上。

根据本实用新型的一个实施例，所述底座本体上形成有沿上下方向贯通的开口，所述滑轨与所述开口相对，所述测量机构穿过所述开口。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本实用新型实施例的测量仪的示意图；

图2是图1中所示的测量仪的主视图；

图3是沿图2中A-A线的剖面图；

图4是图3中B部圈示的放大图；

图5是图1中所示的测量仪的后视图；

图6是图1中所示的测量仪的左视图；

图7是图6中C部圈示的放大图；

图8是图1中所示的测量仪的右视图；

图9是图1中所示的测量仪的俯视图；

图10是沿图9中D-D线的剖面图；

图11是图1中所示的测量仪的仰视图。

附图标记：

100：测量仪；

1：底座；11：底座本体；11a：开口；12：支撑座；

2：滑轨；

3：测量机构；31：接触探针；

4：安装装置；41：滑块；41a：安装槽；41b：滑槽；411：调整件；

42：压板；421：连接件；43：压件；

5：磁吸件；6：压紧块。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下面参考图1-图11描述根据本实用新型实施例的测量仪100。

如图1-图11所示，根据本实用新型实施例的测量仪100，包括底座1、滑轨2和测量机构3。

滑轨2设在底座1上，测量机构3设在滑轨2上，且测量机构3相对于滑轨2可移动，测量机构3具有接触探针31。

例如，如图1-图11所示，滑轨2可以左右延伸地设在底座1上，测量机构3可以由改造后的千分尺构成，测量机构3包括高精度的接触探针31，其中接触探针31可以位于测量机构3的下端，且接触探针31可以随测量机构3在滑轨2上沿着滑轨2的延伸方向移动，通过调节测量机构3，使得接触探针31可以在上下方向上移动，接触探针31与被测量工件的测量位置接触，从而测得测量位置的尺寸。由此，测量仪100的结构简单、加工方便，其体积小巧、方便携带，在使用测量仪100时，无需移动测量仪100的底座1，只需移动测量机构3，以将接触探针31移动到测量位置即可。而且，由于测量机构3与滑轨2之间的夹角是不变的，所以测量仪100不仅可用于水平面上工件的测量，而且可用于非水平面上的工件的测量，扩大了测量仪100的适用性。

具体地，可以将测量仪100置于被测量工件的待测量表面上，使得底座1与被测量工件接触，通过左右移动测量机构3，使得测量机构3的接触探针31移动到被测量工件的测量位置，通过调节测量机构3以调节接触探针31相对于待测量表面的位置，使得接触探针31与测量位置相接触，从而测得测量位置的尺寸。

在本申请下面的描述中，以测量仪100测量水平面上的被测量工件为例进行说明。例如，在测量打刻字体深度的过程中，首先将测量仪100置于被测量工件的上表面上，通过左右移动测量机构3，使得测量机构3下端的接触探针31移动到被测量工件上没有打刻字体的位置，通过旋转测量机构3的上端使接触探针31向下移动，使得接触探针31与上述位置相接触，并读取测量机构3的测量值A；反向旋转测量机构3的上端使接触探针31向上移动，然后左右移动测量机构3使接触探针31移动到打刻字体的刻痕的中间位置，旋转测量机构3的上端使接触探针31与上述刻痕的中间位置相接触，并读取测量机构3的测量值B，从而完成了打刻字体深度的测量，其测量结果为(A-B)。其中，为了保证测量结果的准确性，可以对打刻字体进行多次测量，并取多次测量结果的平均值作为打刻字体的深度。

根据本实用新型实施例的测量仪100，通过在测量仪100的底座1上设置滑轨2，且测量机构3可以在滑轨2上相对于滑轨2移动，由此，测量仪100的结构简单、加工方便。在使用测量仪100时，只需移动测量机构3，以将接触探针31移动到测量位置即可。而且，测量仪100不仅可用于水平面上工件的测量，而且还可以用于非水平面上的工件的测量，扩大了测量仪100的适用性。而且，这种测量仪100的体积可以做得小巧，例如，测量仪100的长宽高(测量仪100长宽高分别为测量仪100的左右方向、前后方向、上下方向的长度)可以分别为128mm、40mm、60mm，从而方便了测量仪100的携带。

在本实用新型的一个实施例中，测量机构3通过安装装置4可移动地设在滑轨2上，安装装置4包括滑块41和压板42，滑块41上形成有与滑轨2配合的滑槽41b，滑块41的背离滑轨2的一侧形成有安装槽41a，其中测量机构3设在安装槽41a内，压板42设在滑块41的背离滑轨2的一侧以将测量机构3压紧在安装槽41a内。

例如，如图1-图4和图9-图11所示，滑槽41b形成在滑块41的一侧(例如，图1中的后侧)，且滑槽41b贯穿滑块41的左端面和右端面，滑轨2可以自左向右穿设在滑槽41b内，以使测量机构3和安装装置4沿滑轨2左右(例如，图1中的左右方向)移动。安装槽41a形成在滑块41的另一侧(例如，图1中的前侧)，且安装槽41a贯穿滑块41的上端面和下端面，测量机构3可以自上向下地穿设在安装槽41a内，压板42设在滑块41的上述另一侧，连接件421穿过压板42以将压板42和滑块41连接，使得压板42将测量机构3固定在安装槽41a内。由此，测量机构3的安装装置4结构简单、工艺可行性高，实现了测量机构3相对于滑轨2可以移动，且保证了测量机构3和安装装置4之间的定位，提高了测量结果的精确度。可以理解的是，滑轨2和滑槽41b的横截面形状可以为圆形、多边形或T形等，只要滑轨2与滑槽41b的横截面形状相适配即可。其中，连接件421可选为十字螺钉或一字螺钉等连接结构。

如图1、图3-图10所示，滑块41的上部可以设有至少一个调整件411，调整件411穿设在滑块41上，且调整件411的下端可以与滑轨2的上端面止抵。通过旋转调整件411可以使调整件411上下移动，从而调节调整件411对滑轨2的作用力。例如，当调整件411向上移动，调整件411对滑轨2的作用力较小或无作用力，此时测量机构3可以相对滑轨2移动；当调整件411向下移动，调整件411对滑轨2的作用力较大时，测量机构3无法相对滑轨2移动。由此，通过设置调整件411，在测量机构3移动到测量位置时，可以实现测量机构3和滑轨2之间的定位，保证了测量机构3与测量位置之间的定位准确，减小了测量误差，提高了测量精度。其中，调整件411可选为调整螺钉等。

在本实用新型的一个具体实施例中，滑槽41b由滑块41的邻近滑轨2的一侧表面向内凹入形成，滑块41的邻近滑轨2的一侧表面上设有至少一个压件43，压件43用于将滑轨2压紧在滑槽41b内。例如，如图1-图5和图9-图11所示，滑槽41b的横截面可以形成为矩形，且滑槽41b由滑块41的后侧表面向内凹入形成，且至少一个压件43设在滑块41的后侧表面上，以将滑轨2固定在滑槽41b内，压件43可以通过十字螺钉或一字螺钉等连接结构连接在滑块41上，从而压件43可以将滑轨2限定在滑槽41b内。由此，在测量机构3左右移动的过程中，滑轨2一直位于滑槽41b内，从而防止了测量机构3脱离滑轨2，保证了测量仪100的可靠性。这里，需要说明的是，方向“内”是指朝向滑块41的中心的方向。

可选地，沿垂直于滑块41的移动方向上的两侧分别设有一个压件43，两个压件43的彼此相对的一端分别朝向彼此的方向延伸至超出滑槽41b的对应侧壁。例如，如图3、图4、图9和图10所示，两个压件43可以上下相对设置，且上方的压件43的下端向下延伸至超出滑槽41b的上侧壁，下方的压件43的上端向上延伸至超出滑槽41b的下侧壁，也就是说，上方的压件43的下端与下方的压件43的上端之间的距离小于滑槽41b的上侧壁和下侧壁之间的距离。由此，压件43可以将滑轨2限定在滑槽41b内，避免滑轨2脱离滑槽41b，从而保证了测量仪100的可靠性，且压件43的结构简单，方便了压件43的加工。

可以理解的是，滑槽41b的横截面形状还可以为T形(图未示出)，即滑槽41b为T形槽，滑轨2可以直接穿设在T形槽内，避免滑轨2脱离滑槽41b。此时，滑块41上可以无需设置压件43，由此，在保证测量仪100的可靠性的前提下，简化了安装装置4的结构，减少了测量仪100的部件。

在本实用新型的一个可选实施例中，如图1、图9和图11所示，安装槽41a的横截面形状为多边形，测量机构3的横截面形状可以为圆形，压板42将测量机构3压紧在安装槽41a内，安装槽41a的多个内壁面对测量机构3产生反作用力，以将测量机构3固定在安装槽41a内，由此，安装槽41a的结构简单，方便了测量机构3与安装装置4的连接。

在本实用新型的一个可选实施例中，如图1-图5和图10所示，接触探针31的自由端为锥形结构。由此，当测量位置为凹槽或孔时，方便了接触探针31与凹槽或孔的底面的接触，从而提高了测量仪100的实用性。

进一步地，接触探针31的下端可以为圆锥形结构，该圆锥形结构的下端的横截面的直径可以为0.2mm、轴向长度可以为1.2±0.02mm，而当前常用的打刻字体由被测量工件的表面凹入形成，其直径通常为0.6mm-1mm、深度为0.2mm-0.6mm，由于接触探针31的下端的横截面的直径小于常用打刻字体的直径，接触探针31可以与打刻字体的底面接触，从而可以准确测得打刻字体的深度。

在本实用新型的进一步实施例中，底座1的底部设有至少一个磁吸件5。例如，如图1、图3、图6、图8、图10和图11所示，当被测量工件为铁磁性材料时，磁吸件5设在底座1的底部，通过磁吸件5与被测量工件之间的磁力将底座1固定在被测量工件上，从而方便了测量仪100与被测量工件之间的定位，消除了测量过程中由于底座1的震动或晃动导致的测量误差，提高了测量结果的准确性，且方便了测量仪100和被测量工件之间的拆装。而且，通过采用磁吸的固定方式，测量仪100不仅可用于水平面上工件的测量，而且还可以用于非水平面(例如，倾斜面、竖直面等)上的工件的测量，扩大了测量仪100的适用性。

具体地，底座1的底部可以形成有至少一个配合孔，磁吸件5适于放置在与其对应的配合孔内，且磁吸件5和配合孔之间可以为间隙配合，例如，此时磁吸件5可以通过连接螺钉等连接在底座1上，由此，完成了磁吸件5与底座1之间的定位。其中，测量仪100置于被测量工件上时，磁吸件5的下端面可以与底座1的下端面平齐，使磁吸件5的下端面和底座1的下端面同时与被测工件的上表面接触；或者，磁吸件5的下端面还可以位于底座1的下端面的上方，使磁吸件5的下端面与被测工件的上表面间隔开，而仅底座1的下端面与被测工件的上表面接触；或者，磁吸件5的下端面也可以位于底座1的下端面的下方，使底座1的下端面与被测工件的上表面间隔开，而磁吸件5的下端面与被测工件的上表面接触。

当然，本实用新型不限于此。底座1的底部还可以不设置磁吸件5，底座1可以通过夹具(图未示出)固定在被测量工件上，此时，被测量工件可以为铁磁性材料件或非铁磁性材料件等。

可选地，磁吸件5为磁铁。由于磁铁的成本较低，从而降低了测量仪100的成本，但不限于此。

在本实用新型的一个具体实施例中，底座1包括水平设置的底座本体11和分别连接在底座本体11底部两端的两个支撑座12，其中滑轨2设在底座本体11上。例如，如图1-图8所示，底座本体11可以为矩形框架结构，且底座本体11可以沿左右方向水平设置，两个支撑座12的下端置于被测量工件上，两个支撑座12的上端分别连接在底座本体11底部的左右两端以支撑底座本体11，滑轨2的左右两端可以分别与底座本体11的左右两端相连。由此，底座1可以大致形成为框架结构，这种结构简单、稳定，节省了底座1的用材量，且方便了测量人员观察测量机构3的接触探针31与测量位置的相对位置，从而方便了测量人员将接触探针31移动到测量位置。

而且，如图1、图2和图6-图9所示底座本体11的左右两端分别形成有一个配合槽，配合槽可以由底座本体11的上端面向下凹入形成，且左侧的配合槽可以贯穿底座本体11左端的内表面和外表面，右侧的配合槽可以贯穿底座本体11右端的内表面和外表面，滑轨2的左右两端适于分别放置在两个配合槽内。同时，滑轨2的左右两端分别设有压紧块6，压紧块6可以通过多个内六角头螺栓等连接结构连接在底座本体11上以将滑轨2的两端分别固定在两个配合槽内，由此，完成了滑轨2与底座本体11之间的定位。

可以理解的是，左侧的配合槽还可以只贯穿底座本体11左端的内表面，而右侧的配合槽只贯穿底座本体11右端的内表面(图未示出)，滑轨2的左右两端分别放置在两个配合槽内，使得滑轨2的左端止抵在左侧的配合槽的左壁面，滑轨2的右端止抵在右侧的配合槽的右壁面，同样可以保证滑轨2与底座本体11之间的定位。

在本实用新型的一个实施例中，底座本体11上形成有沿上下方向贯通的开口11a，滑轨2与开口11a相对，测量机构3穿过开口11a。例如，如图1、图9和图11所示，开口11a可以为矩形，且开口11a贯穿底座本体11的上端面和下端面，滑轨2与开口11a上下相对，且滑轨2可以设在开口11a的上部、中部或下部等，测量结构可以自上向下垂直穿过开口11a。由此，通过在底座本体11上设置开口11a，从而方便了测量机构3相对于滑轨2移动，且测量机构3可以在其移动范围内测量任意位置的尺寸。

如图1所示，当测量仪100的长宽高分别设为128mm、40mm、60mm时，两个支撑座12的相对的一侧之间的距离可以为92mm，且开口11a的左右方向的长度可以超过92mm，由此，测量机构3的移动范围较大，进一步避免了在测量过程中移动测量仪100，极大地方便了用户。

根据本实用新型实施例的测量仪100的其他构成以及操作对于本领域普通技术人员而言都是已知的，这里不再详细描述。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种测量仪，其特征在于，包括：

底座；

滑轨，所述滑轨设在所述底座上；

测量机构，所述测量机构设在所述滑轨上且相对于所述滑轨可移动，所述测量机构具有接触探针。

2.根据权利要求1所述的测量仪，其特征在于，所述测量机构通过安装装置可移动地设在所述滑轨上，所述安装装置包括：

滑块，所述滑块上形成有与所述滑轨配合的滑槽，所述滑块的背离所述滑轨的一侧形成有安装槽，其中所述测量机构设在所述安装槽内；

压板，所述压板设在所述滑块的背离所述滑轨的一侧以将所述测量机构压紧在所述安装槽内。

3.根据权利要求2所述的测量仪，其特征在于，所述滑槽由所述滑块的邻近所述滑轨的一侧表面向内凹入形成，

所述滑块的邻近所述滑轨的一侧表面上设有至少一个压件，所述压件用于将所述滑轨压紧在所述滑槽内。

4.根据权利要求3所述的测量仪，其特征在于，沿垂直于所述滑块的移动方向上的两侧分别设有一个压件，两个所述压件的彼此相对的一端分别朝向彼此的方向延伸至超出所述滑槽的对应侧壁。

5.根据权利要求3所述的测量仪，其特征在于，所述安装槽的横截面形状为多边形。

6.根据权利要求1所述的测量仪，其特征在于，所述接触探针的自由端为锥形结构。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的测量仪，其特征在于，所述底座的底部设有至少一个磁吸件。

8.根据权利要求7所述的测量仪，其特征在于，所述磁吸件为磁铁。

9.根据权利要求1所述的测量仪，其特征在于，所述底座包括水平设置的底座本体和分别连接在所述底座本体底部两端的两个支撑座，其中所述滑轨设在所述底座本体上。

10.根据权利要求9所述的测量仪，其特征在于，所述底座本体上形成有沿上下方向贯通的开口，所述滑轨与所述开口相对，所述测量机构穿过所述开口。