CN206347968U - 一种指纹传感器基板的几何参数检测系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种指纹传感器基板的几何参数检测系统，用于测试指纹传感器基板的几何参数，包括测量环、测量盘、测试基准平台、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、探头固定架和计算机，测量环水平设置在测试基准平台上且测量环的上端面设有支撑组件，测量盘通过支撑组件水平放置在测量环上，测量盘上开有用于放置指纹传感器基板的测量槽，所述探头固定架固定在测试基准平台上，探头固定架具有上支撑臂和下支撑臂，第一激光位移传感器设置在上支撑臂的延伸端，第二激光位移传感器设置在下支撑臂的延伸端，第一激光位移传感器和第二激光位移传感器的信号输出端与计算机的通讯接口连接，通过激光位移传感器采集相关参数，并由计算机计算几何参数。

Description

一种指纹传感器基板的几何参数检测系统

技术领域

本实用新型涉及几何参数检测技术，尤其涉及一种用于测试手机指纹传感器基板的几何参数的指纹传感器基板的几何参数检测系统。

背景技术

目前越来越多的智能手机都配有指纹传感器，指纹传感器的核心部件是指纹传感器基板，指纹传感器基板一般由蓝宝石或陶瓷薄片切割而成。因为切割后的传感器基板尺寸很小，很难用常规的无接触式测试设备对其几何参数进行测试，因此切割好后的指纹传感器基板的几何参数基本不测。但是在最终制造成手机指纹传感器后我们发现传感器基板几何参数中的厚度、总厚度偏差、翘曲度会影响指纹传感器的灵敏度，所以为控制产品最终良品率减少生产成本在切割成小块传感器基板后需要对这些基板进行几何参数的测量，目前一般是用千分表来测量这些切割好后小块基板的几何参数，其测量数据的准确性和重复性都比较差，测量效率也很低，因此目前市场上急需要有一种无接触处的高效准确的检测设备来填补这一市场空白。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：提供一种几何参数测试系统，以解决很难用常规的无接触式测试设备对手机指纹传感器基板的几何参数进行测试的问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供的技术方案是：一种指纹传感器基板的几何参数检测系统，用于测试指纹传感器基板的几何参数，包括测量环、测量盘、测试基准平台、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、探头固定架和计算机，所述测量环水平设置在测试基准平台上且测量环的上端面设有支撑组件，所述测量盘通过支撑组件水平放置在测量环上，所述测量盘上开有用于放置指纹传感器基板的测量槽，所述探头固定架固定在测试基准平台上，所述探头固定架具有上支撑臂和下支撑臂，所述第一激光位移传感器设置在上支撑臂的延伸端，所述第二激光位移传感器设置在下支撑臂的延伸端，所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器的信号输出端与计算机的通讯接口连接，在测量时，所述测量盘位于第一激光位移传感器和第二激光位移传感器之间，且第一激光位移传感器和第二激光位移传感器的激光器上下对准测量盘上的指纹传感器基板。

进一步地，所述测试基准平台开有让位槽孔，所述下支撑臂设置在让位槽孔中且第二激光位移传感器位于测试基准平台的基准面之下。

进一步地，所述支撑组件由三个支撑钉组成，所述三个支撑钉与测量环螺纹孔连接且沿着测量环上端面均匀分布。

进一步地，所述支撑钉由半球状头部和螺纹柱部组成。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过激光位移传感器采集相关参数，并由计算机计算几何参数，从而实现无接触式测量指纹传感器基板几何参数(厚度、厚度偏差、和翘曲度)，操作简单、测试效率高和高性价比等优势。

附图说明

图1本实用新型的结构示意图。

图中，1、测量环 2、测量盘 3、测试基准平台 4、第一激光位移传感器 5、让位槽孔6、探头固定架 7、支撑组件。

具体实施方式

结合附图，对本实用新型的具体实施方式进行说明，以使更充分的理解本实用新型的创造点所在。

如图1所示，一种指纹传感器基板的几何参数检测系统，用于测试指纹传感器基板的几何参数，包括测量环1、测量盘2、测试基准平台3、第一激光位移传感器4、第二激光位移传感器5、探头固定架6和计算机，所述测量环1水平设置在测试基准平台3上且测量环1的上端面设有支撑组件8，所述测量盘2通过支撑组件7水平放置在测量环1上，所述测量盘2上开有用于放置指纹传感器基板的测量槽，所述探头固定架6固定在测试基准平台3上，所述探头固定架6 具有上支撑臂和下支撑臂，所述第一激光位移传感器4设置在上支撑臂的延伸端，所述第二激光位移传感器设置在下支撑臂的延伸端，所述第一激光位移传感器4和第二激光位移传感器的信号输出端与计算机的通讯接口连接，在测量时，所述测量盘2位于第一激光位移传感器4和第二激光位移传感器之间，且第一激光位移传感器4和第二激光位移传感器的激光器上下对准测量盘上的指纹传感器基板，其中，激光位移传感器为现有技术，它由激光器、激光检测器和测量电路组成，可以直接输出数字信号给计算机。

优选地，所述支撑组件7由三个支撑钉组成，所述三个支撑钉与测量环螺纹孔连接且沿着测量环上端面均匀分布，优选地，所述支撑钉由半球状头部和螺纹柱部组成。

为了使得第二激光位移传感器设在在测量盘2之下，可采用如下结构：所述测试基准平台3有让位槽孔5，所述下支撑臂设置在让位槽孔5中且第二激光位移传感器位于测试基准平台3的基准面之下。或者测量环1通过支撑脚悬空设置在测试基准平台3上，以避让下支撑臂。

工作原理：测量时，把切割好的传感器基板放入配套的测量盘中间的测量槽中，测量槽形状及尺寸根据测量的传感器基板配套使用。由于待测传感器基板的尺寸很小(1cm左右)，检测系统中选用的位移传感器是激光位移传感器，激光位移传感器的激光器由激光发射器和激光接收器组成，所述激光发射器打出激光信号，碰到待测物体表面后激光发射回去，激光接收器接收到的发射信号不同，从而可以计算出第一激光位移传感器和第二激光位移传感器到待测物体表面的距离A和B，然后传输给计算机，计算机依据公式：传感器基板厚度H＝D-(A +B)来计算基板厚度，其中D为第一激光位移传感器和第二激光位移传感器的标准距离，依据公式：传感器基板总厚度偏差＝Hmax-Hmin来计算基板总厚度偏差；Hmax为传感器基板厚度的最大值，Hmin为传感器基板厚度的最小值；依据公式：传感器基板翘曲度＝1/2[|(A-B)|max-|(B-A)|min]来计算基板翘曲度,其中A 为基板上表面与第一激光位移传感器距离，B为基板下表面与第二激光位移传感器距离，并由计算机的显示器显示数据。

本实用新型中所述具体实施案例仅为本实用新型的较佳实施案例而已，并非用来限定本实用新型的实施范围。即凡依本实用新型申请专利范围的内容所作的等效变化与修饰，都应作为本实用新型的技术范畴。

Claims (4)

1.一种指纹传感器基板的几何参数检测系统，用于测试指纹传感器基板的几何参数，其特征在于，包括测量环、测量盘、测试基准平台、第一激光位移传感器、第二激光位移传感器、探头固定架和计算机，所述测量环水平设置在测试基准平台上且测量环的上端面设有支撑组件，所述测量盘通过支撑组件水平放置在测量环上，所述测量盘上开有用于放置指纹传感器基板的测量槽，所述探头固定架固定在测试基准平台上，所述探头固定架具有上支撑臂和下支撑臂，所述第一激光位移传感器设置在上支撑臂的延伸端，所述第二激光位移传感器设置在下支撑臂的延伸端，所述第一激光位移传感器和第二激光位移传感器的信号输出端与计算机的通讯接口连接，在测量时，所述测量盘位于第一激光位移传感器和第二激光位移传感器之间，且第一激光位移传感器和第二激光位移传感器的激光器上下对准测量盘上的指纹传感器基板。

2.如权利要求1所述的一种指纹传感器基板的几何参数检测系统，其特征在于，所述测试基准平台开有让位槽孔，所述下支撑臂设置在让位槽孔中且第二激光位移传感器位于测试基准平台的基准面之下。

3.如权利要求1所述一种指纹传感器基板的几何参数检测系统，其特征在于，所述支撑组件由三个支撑钉组成，所述三个支撑钉与测量环螺纹孔连接且沿着测量环上端面均匀分布。

4.如权利要求3所述的一种指纹传感器基板的几何参数检测系统，其特征在于，所述支撑钉由半球状头部和螺纹柱部组成。