CN206321665U - 一种带加热功能自动直针测试插座 - Google Patents
一种带加热功能自动直针测试插座 Download PDFInfo
- Publication number
- CN206321665U CN206321665U CN201621345700.5U CN201621345700U CN206321665U CN 206321665 U CN206321665 U CN 206321665U CN 201621345700 U CN201621345700 U CN 201621345700U CN 206321665 U CN206321665 U CN 206321665U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test jack
- storage tank
- temperature
- hole
- heating function
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Fire Alarms (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种带加热功能自动直针测试插座，包括灯箱组件、上盖组件和底板组件，灯箱组件包括灯箱座主体、均光板和LED灯板，灯箱座上插设有第一加热棒；上盖组件包括上盖主体，上盖主体上插设有第一温度感应器；底板组件包括底板主体和探针组，底板主体的上、下端分别设有第一容置槽和第二容置槽，第一容置槽内设有压板、浮板和上保持板，第二容置槽内设有下保持板，探针组一端与下保持板固定连接，另一端依次从第一、第二容置槽以及上保持板、浮板和压板中穿出，底板主体上插设有第二加热棒和第二温度感应器；该测试插座包括至少一个工位，每个工位上的均光板和探针组的位置相对应。本实用新型体积小巧，能够提高测试效率，恒定测试温度。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片模组测试领域，具体涉及一种带加热功能自动直针测试插座。
背景技术
随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性。电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。
目前，国内外普遍采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可靠性。通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验。
高温老化的机理为：电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题有两类：第一类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求。一般由产品重新设计、改进和重新选用符合要求的元器件来解决。第二类是潜在的缺陷，不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露。如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下，运行一千个小时左右才能全部被激活（暴露）。显然，对每只元器件测试一千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露，也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。
高温老化的原理以及应用：老化后进行电气参数测量，筛选剔除失效或变值的元器件，尽可能把产品的早期失效消灭在正常使用之前。高温老化的原理就是为提高电子产品可靠度和延长产品使用寿命，对稳定性进行必要的考核，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潜在“个体”（元器件），确保整机优秀品质和期望寿命。
设备要求温度分布均匀，控制精度在正负2之内，系统的稳定性和动态响应性满足使用的要求。控制系统采用PID控制仪进行温度控制，当通过温度传感器采集的被老化的电子产品的温度偏离所希望的给定值时，PID控制仪根据反馈的偏差进行比例（P）、积分（I）、微分（D）运算，输出一个适当的控制信号给执行机构（加热器），促使测量值恢复到给定值，达到自动控制温度的目的。产品老化方案有许多种，常用的有：1、常温通电老化，常温（25℃）下，产品通电并加负载进行老化，根据产品特点确定老化时间，一般选用48~72小时，此方案经常用于功耗较大的产品；2、加热通电老化，将产品在一定的环境温度下，通电老化，根据产品特点确定老化时间，一般选用24~36小时，温度通常选用40℃~45℃，此方案常用于部分器件耐温较低（低于50℃）的产品中；3、加热通电老化（高温），将产品在一定的环境温度下，通电老化，根据产品特点确定老化时间，一般选用12小时，温度通常选用60℃~65℃，此方案在产品老化中采用较多，主要有以下优点：a、老化时间短，节约时间；b、老化工作温度较高，能充分暴露出产品中的一些不足，包括器件质量、焊接质量等；c、配合一些通电动态试验，能监控整个老化过程中的工作状态是否正常。
目前常采用的方案为高温通电老化，根据产品特点，部分产品采用通电动态老化，能更好的监控产品工作状态。
现有的老化系统设计比较简单，通过将器件插入老化板，再将老化板放入老化室，给老化板加上直流偏压（静态老化）并升高温度，168个小时之后将器件取出进行测试，如果经100%测试后仍然性能完好，就可以保证器件质量可靠并将其发送给用户。上述器件在老化时如果出现故障，则会被送去故障分析实验室进行分析，这可能会需要几周的时间，实验室提供的数据将用来对设计和生产制程进行细微调节，但这也表明对可能出现的严重故障采取补救措施之前生产已经进行了几个星期。
此外，还有采用测试插座整体外部加热测试方式，然而，该测试腔体占地空间大，结构复杂。
实用新型内容
本实用新型的发明目的是提供一种带加热功能自动直针测试插座。
为达到上述发明目的，本实用新型采用的技术方案是：一种带加热功能自动直针测试插座，包括灯箱组件、上盖组件以及底板组件，所述灯箱组件包括灯箱座主体、设于灯箱座上的均光板和盖设于均光板上的LED灯板，所述灯箱座上设有第一加热孔，所述第一加热孔内插设有第一加热棒；
所述上盖组件包括上盖主体，所述上盖主体上设有第一温度感应孔，所述第一温度感应孔内插设有第一温度感应器；
所述底板组件包括底板主体和探针组，所述底板主体的上、下端分别设有第一容置槽和第二容置槽，所述第一容置槽内设有压板、浮板和上保持板，所述第二容置槽内设有下保持板，所述探针组一端与下保持板固定连接，另一端依次从第一、第二容置槽以及上保持板、浮板和压板中穿出，所述底板主体上设有第二加热孔和第二温度感应孔，所述第二加热孔内插设有第二加热棒，所述第二温度感应孔内插设有第二温度感应器；
该测试插座包括至少一个工位，每个工位上的所述均光板和探针组的位置相对应。
上文中，所述工位是指芯片的测试工位，即该测试插座上可以设有多个工位，各工位之间互不干涉，独立测试，通过设置多个工位可以提高测试效率。
优选地，所述上盖主体与底板主体之间经导柱固定，所述导柱上套设有导套。
优选地，该测试插座包括四个呈矩阵分布的工位。
优选地，所述第一温度感应孔包括靠近上盖主体边缘的第一子孔和第二子孔。
优选地，所述第二温度感应孔设于底板主体中间位置。
优选地，所述第一温度感应器和第二温度感应器均为热电偶。
本实用新型的加热棒和热电偶均外接到加热棒控制机构，实现对芯片周围环境温度的控制。
由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：
1．本实用新型通过将热电偶分别连接在上盖主体两侧以及底板主体中间位置，间接测量实时温度，依据热力分布规律，通过调节加热装置功率维持芯片周围环境温度；
2．本实用新型将耗时的芯片功能测试转移到老化过程中，可以节约昂贵的高速测试仪器的时间,达到预期故障率的实际老化时间相对更短；
3．本实用新型的测试插座体积小巧，占地空间小，能耗低，适于推广使用。
附图说明
图1是本实用新型实施例一的结构示意图。
其中：1、灯箱座主体；2、均光板；3、LED灯板；4、第一加热棒；5、上盖主体；6、第一温度感应器；7、底板主体；8、探针组；9、压板；10、浮板；11、上保持板；12、下保持板；13、第二加热棒；14、第二温度感应器；15、导柱；16、导套。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：
实施例一：
参见图1所示，一种带加热功能自动直针测试插座，包括灯箱组件、上盖组件以及底板组件，所述灯箱组件包括灯箱座主体1、设于灯箱座上的均光板2和盖设于均光板上的LED灯板3，所述灯箱座上设有第一加热孔，所述第一加热孔内插设有第一加热棒4；
所述上盖组件包括上盖主体5，所述上盖主体上设有第一温度感应孔，所述第一温度感应孔内插设有第一温度感应器6；
所述底板组件包括底板主体7和探针组8，所述底板主体的上、下端分别设有第一容置槽和第二容置槽，所述第一容置槽内设有压板9、浮板10和上保持板11，所述第二容置槽内设有下保持板12，所述探针组一端与下保持板固定连接，另一端依次从第一、第二容置槽以及上保持板、浮板和压板中穿出，所述底板主体上设有第二加热孔和第二温度感应孔，所述第二加热孔内插设有第二加热棒13，所述第二温度感应孔内插设有第二温度感应器14；
该测试插座包括至少一个工位，每个工位上的所述均光板和探针组的位置相对应。
上文中，所述工位是指芯片的测试工位，即该测试插座上可以设有多个工位，各工位之间互不干涉，独立测试，通过设置多个工位可以提高测试效率。
本实施例中，所述上盖主体与底板主体之间经导柱15固定，所述导柱上套设有导套16。
该测试插座包括四个呈矩阵分布的工位。
所述第一温度感应孔包括靠近上盖主体边缘的第一子孔和第二子孔。
所述第二温度感应孔设于底板主体中间位置。
所述第一温度感应器和第二温度感应器均为热电偶。
本实用新型的加热棒和热电偶均外接到加热棒控制机构，实现对芯片周围环境温度的控制。
本实用新型在测试初期，需要将测温微探头放置在插座中芯片位置，同时打开第一加热棒和第二加热棒，微调加热功率，使微探头温度稳定在高温老化设定温度范围，此时，记录下对应的热电偶指示温度，作为未来测试时对应的标称温度范围。
Claims (6)
1.一种带加热功能自动直针测试插座，包括灯箱组件、上盖组件以及底板组件，其特征在于：所述灯箱组件包括灯箱座主体、设于灯箱座上的均光板和盖设于均光板上的LED灯板，所述灯箱座上设有第一加热孔，所述第一加热孔内插设有第一加热棒；
所述上盖组件包括上盖主体，所述上盖主体上设有第一温度感应孔，所述第一温度感应孔内插设有第一温度感应器；
所述底板组件包括底板主体和探针组，所述底板主体的上、下端分别设有第一容置槽和第二容置槽，所述第一容置槽内设有压板、浮板和上保持板，所述第二容置槽内设有下保持板，所述探针组一端与下保持板固定连接，另一端依次从第一、第二容置槽以及上保持板、浮板和压板中穿出，所述底板主体上设有第二加热孔和第二温度感应孔，所述第二加热孔内插设有第二加热棒，所述第二温度感应孔内插设有第二温度感应器；
该测试插座包括至少一个工位，每个工位上的所述均光板和探针组的位置相对应。
2.根据权利要求1所述的带加热功能自动直针测试插座，其特征在于：所述上盖主体与底板主体之间经导柱固定，所述导柱上套设有导套。
3.根据权利要求1所述的带加热功能自动直针测试插座，其特征在于：该测试插座包括四个呈矩阵分布的工位。
4.根据权利要求1所述的带加热功能自动直针测试插座，其特征在于：所述第一温度感应孔包括靠近上盖主体边缘的第一子孔和第二子孔。
5.根据权利要求1所述的带加热功能自动直针测试插座，其特征在于：所述第二温度感应孔设于底板主体中间位置。
6.根据权利要求1所述的带加热功能自动直针测试插座，其特征在于：所述第一温度感应器和第二温度感应器均为热电偶。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621345700.5U CN206321665U (zh) | 2016-12-09 | 2016-12-09 | 一种带加热功能自动直针测试插座 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621345700.5U CN206321665U (zh) | 2016-12-09 | 2016-12-09 | 一种带加热功能自动直针测试插座 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN206321665U true CN206321665U (zh) | 2017-07-11 |
Family
ID=59266591
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201621345700.5U Active CN206321665U (zh) | 2016-12-09 | 2016-12-09 | 一种带加热功能自动直针测试插座 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN206321665U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109459683A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-03-12 | 上海捷策创电子科技有限公司 | 一种芯片测试装置 |
-
2016
- 2016-12-09 CN CN201621345700.5U patent/CN206321665U/zh active Active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109459683A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-03-12 | 上海捷策创电子科技有限公司 | 一种芯片测试装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN202471764U (zh) | 带温度加热测试的自动芯片测试机测试座 | |
| CN113791297A (zh) | 一种具有热应力测试的多功能测试设备及其测试方法 | |
| TW201346293A (zh) | 電子元件壓接裝置、應用壓接裝置之測試設備及壓接控制方法 | |
| US10840528B2 (en) | Method and apparatus for detecting damage in fuel cell stacks, and adjusting operational characteristics in fuel cell systems | |
| US7675306B2 (en) | Prober apparatus and operating method therefor | |
| CN206321665U (zh) | 一种带加热功能自动直针测试插座 | |
| CN116540682A (zh) | 模拟单机测试方法、系统、装置、设备及介质 | |
| CN109037091B (zh) | 一种切片电池参考片及其标定方法 | |
| CN117192348B (zh) | 一种断路器自动检测系统 | |
| CN109727882A (zh) | 半导体功率器件的并行测试设备 | |
| CN113063829A (zh) | 一种柔性薄膜湿度传感器检测系统 | |
| CN109460099B (zh) | 电气设备表面温升电流跟踪调整检验装置及检验方法 | |
| CN207215008U (zh) | 一种可调电阻式铜厚测试治具 | |
| CN116381376A (zh) | 一种用于电子器件高低温全自动测试的系统及方法 | |
| CN214583739U (zh) | 一种柔性薄膜温度传感器检测系统 | |
| CN214011428U (zh) | 芯片温度测试系统 | |
| CN212321771U (zh) | GaN高温功能试验系统 | |
| CN209049392U (zh) | 一种高温高湿试验系统 | |
| CN113063527A (zh) | 一种柔性薄膜温度传感器检测系统 | |
| CN207964572U (zh) | 多任务多温度段同时进行汽车材料老化性测试装置 | |
| CN208026835U (zh) | 一种ic老化测试座 | |
| CN106323619A (zh) | 一种escl 终检测机 | |
| CN112871759A (zh) | 一种锂电池压降测评方法及系统 | |
| CN214795105U (zh) | 芯片产品ft测试装置 | |
| CN108051684A (zh) | 多任务多温度段同时进行汽车材料老化性测试设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |