CN206020543U - 三相缺相检测电路及电气设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种三相缺相检测电路及电气设备,其中该三相缺相检测电路包括缺相检测模块、光耦隔离模块及封波控制模块;缺相检测模块的第一检测端、第二检测端、及第三检测端分别连接至电源的三相,其中缺相检测模块为强电侧,封波控制模块为弱电侧,缺相检测模块,检测三相电源的工作状态,并将检测到的状态信号输出至光耦隔离模块;光耦隔离模块,将强电侧的状态信号耦合至弱电侧;封波控制模块,根据状态信号,在检测到三相缺相时输出缺相保护信号至控制器。本实用新型技术方案提高了三相缺相检测电路的抗干扰能力并降低硬件成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及缺相保护技术领域,特别涉及一种三相缺相检测电路及电气设备。
背景技术
现有的缺相保护电路通常采用分压方式进行检测,在实际运行时,电网电压波动、线路负载类型及连接方式等都会对三相缺相检测电路造成干扰,有时这些干扰会造成三相缺相检测电路误触发保护或者漏保护。而且现有的缺相保护电路使用的电子元器件较多,结构复杂,生产成本较高。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是提供一种三相缺相检测电路,旨在提高三相缺相检测电路的抗干扰能力并降低硬件成本。
为实现上述目的,本实用新型提出了一种三相缺相检测电路,包括缺相检测模块、光耦隔离模块及封波控制模块;所述缺相检测模块的第一检测端、第二检测端、及第三检测端分别连接至三相电源的三相,缺相检测模块的输出端与所述光耦隔离模块的输入端连接,所述光耦隔离模块的输出端与所述封波控制模块的输入端连接,封波控制模块的输出端与控制器连接,其中所述缺相检测模块为强电侧,所述封波控制模块为弱电侧,
所述缺相检测模块,检测三相电源的工作状态,并将检测到的状态信号输出至光耦隔离模块;
所述光耦隔离模块,将强电侧的状态信号耦合至弱电侧;
所述封波控制模块,根据状态信号,在检测到三相缺相时输出缺相保护信号至所述控制器。
优选地,所述光耦隔离模块包括第一光耦及第二光耦;所述第一光耦和所述第二光耦均包括控制输入端、控制输出端、执行输入端及执行输出端;其中,
所述第一光耦的控制输入端及控制输出端均与所述缺相检测模块连接,所述第一光耦的执行输出端及执行输入端均与封波控制模块连接;
所述第二光耦的控制输入端及控制输出端均与所述缺相检测模块连接,所述第二光耦的执行输出端及执行输入端均与封波控制模块连接。
优选地,所述缺相检测模块包括第一二极管、第二二极管、第一瞬态抑制二极管、第二瞬态抑制二极管、第三瞬态抑制二极管、及第四瞬态抑制二极管;其中,
所述第一二极管的阴极与三相电源的一相连接,所述第一二极管的阳极与所述第一光耦的控制输出端连接,所述第一光耦的控制输入端与所述第一瞬态抑制二极管的阳极连接,所述第一瞬态抑制二极管阴极与所述第二瞬态抑制二极管的阳极连接,所述第二瞬态抑制二极管的阴极与所述第三瞬态抑制二极管阳极连接,所述第三瞬态抑制二极管的阴极与所述第四瞬态抑制二极管的阳极连接,所述第四瞬态抑制二极管的阴极与所述第二光耦的控制输出端连接;所述第二瞬态抑制二极管的阴极和所述第三瞬态抑制二极管的阳极的公共端点与三相电源的另一相连接;所述第二光耦的控制输入端与所述第二二极管的阴极连接,所述第二二极管的阳极与三相电源的剩余一相连接。
优选地,所述缺相检测模块还包括第一电阻、第二电阻、第一电容、及第二电容;其中,
所述第一电阻的第一端与所述第一二极管的阳极连接,所述第一电阻的第二端与所述第一光耦的控制输出端连接;所述第二电阻的第一端与所述第二二极管的阴极连接,所述第二电阻的第二端与所述第二光耦的控制输入端连接;
所述缺相检测模块还包括第一电容及第二电容,所述第一电容并联于所述第一光耦的控制输入端和控制输出端之间;所述第二电容并联于所述第二光耦的控制输入端和控制输出端之间。
优选地,所述缺相检测模块还包括保险丝,所述保险丝的第一端与所述第二瞬态抑制二极管的阴极和所述第三瞬态抑制二极管的阳极的公共端点连接,所述保险丝的另一端与所述电源的一相连接。
优选地,所述封波控制模块包括第一电源、第二电源、第三二极管、第四二极管、第一三极管、第三电阻及第四电阻;其中,
所述第一电源与所述第三二极管的阳极连接,所述第三二极管的阴极与所述第一三极管的基极连接,所述第三二极管的阳极还与所述光耦隔离模块连接;
所述第二电源与所述第三电阻的第一端连接,所述第三电阻的第二端与所述第四电阻的第一端连接,所述第四电阻的第二端与所述控制器连接;
所述第一电源还与所述第四二极管的阳极连接,所述第四二极管的阴极与所述第一三极管的基极连接,所述第四二极管的阳极还与所述光耦隔离模块连接;所述第一三极管的发射极接地,所述第一三极管的集电极与所述第四电阻的第二端连接。
优选地,所述封波控制模块还包括第五电阻及第三电容;所述第五电阻的第一端与所述第一三极管的基极连接,所述第五电阻的第二端接地,所述第三电容的第一端与所述第一三极管的基极连接,所述第三电容的第二端接地。
优选地,所述封波控制模块还包括第四电容、第五电容、第六电阻及第七电阻;所述第六电阻的第一端与所述第一电源连接,所述第六电阻的第二端与所述第三二极管的阳极连接,所述第四电容的第一端与所述第三二极管的阳极连接,所述第四电容的第二端接地;所述第七电阻的第一端与所述第一电源连接,所述第七电阻的第二端与所述第四二极管的阳极连接,所述第五电容的第一端与所述第四二极管的阳极连接,所述第五电容的第二端接地。
优选地,所述封波控制模块还包括第五瞬态抑制二极管、第六瞬态抑制二极管及第一发光二极管;所述第五瞬态抑制二极管的阳极与所述第一三极管的基极连接,所述第五瞬态抑制二极管的阴极与所述第三二极管的阴极连接;所述第一发光二极管的阳极与所述第三电阻的第二端连接,所述第一发光二极管的阴极与所述第四电阻的第一端连接;所述第六瞬态抑制二极管的阴极与所述第四电阻的第二端连接,所述第六瞬态抑制二极管的阳极与所述控制器连接。
本实用新型还一种电气设备,所述电气设备包括如上所述的三相缺相检测电路,所述三相缺相检测电路包括缺相检测模块、光耦隔离模块及封波控制模块;所述缺相检测模块的第一检测端、第二检测端、及第三检测端分别连接至三相电源的三相,缺相检测模块的输出端与所述光耦隔离模块的输入端连接,所述光耦隔离模块的输出端与所述封波控制模块的输入端连接,封波控制模块的输出端与控制器连接,其中所述缺相检测模块为强电侧,所述封波控制模块为弱电侧;所述缺相检测模块,检测三相电源的工作状态,并将检测到的状态信号输出至光耦隔离模块;所述光耦隔离模块,将强电侧的状态信号耦合至弱电侧;所述封波控制模块,根据状态信号,在检测到三相缺相时输出缺相保护信号至所述控制器。
本实用新型技术方案通过设置缺相检测模块、光耦隔离模块及封波控制模块,形成了一种三相缺相检测电路。缺相检测模块的第一检测端、第二检测端及第三检测端直接与三相电源的三相连接,在三相电源的其中一相或两相出现故障时,缺相检测模块将对应状态信号输出至光耦隔离模块,通过光耦隔离模块耦合至封波控制模块,实现强电和弱电的隔离,提高了抗干扰能力;封波控制模块根据状态信号输出缺相保护信号至控制器,实现了对三相缺相的检测,本实用新型技术方案结构简单,成本较低,同时具有较好的抗干扰能力。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型三相缺相检测电路一实施例的功能模块图;
图2为本实用新型三相缺相检测电路一实施例的结构示意图。
附图标号说明:
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
需要说明,本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
本实用新型提出一种三相缺相检测电路。
参照图1,在本实用新型实施例中,该三相缺相检测电路包括缺相检测模块100、光耦隔离模块200及封波控制模块300;所述缺相检测模块100的第一检测端、第二检测端、及第三检测端分别连接至三相电源的三相,缺相检测模块100的输出端与所述光耦隔离模块200的输入端连接,所述光耦隔离模块200的输出端与所述封波控制模块300的输入端连接,封波控制模块300的输出端与控制器连接,其中所述缺相检测模块100为强电侧,所述封波控制模块300为弱电侧。
所述缺相检测模块100,检测三相电源的工作状态,并将检测到的状态信号输出至光耦隔离模块200;所述光耦隔离模块200,将强电侧的状态信号耦合至弱电侧;所述封波控制模块300,根据状态信号,在检测到三相缺相时输出缺相保护信号至所述控制器。
需要说明的是,本实施例中,该三相缺相检测电路应用于一种逆变焊机中。该逆变焊机中包括有上述的控制器,该控制器用于控制逆变焊机中主功率电路输出功率大小,具体是通过输出PWM波来控制。本实施例中该控制器采用芯片SG3525实现,在三相电源出现缺相故障时,封波控制模块300输出缺相保护信号到芯片的相关引脚,控制芯片停止输出PWM波,从而对逆变焊机进行保护。
本实用新型技术方案通过设置缺相检测模块100、光耦隔离模块200及封波控制模块300,形成了一种三相缺相检测电路。缺相检测模块100的第一检测端、第二检测端及第三检测端直接与三相电源的三相连接,在电源的其中一相或两相出现故障时,缺相检测模块100将对应状态信号输出至光耦隔离模块200,通过光耦隔离模块200耦合至封波控制模块300,实现强电和弱电的隔离,提高了抗干扰能力;封波控制模块300根据状态信号输出缺相保护信号至控制器,实现了对三相缺相的检测,本实用新型技术方案结构简单,成本较低,同时具有较好的抗干扰能力。
具体地,所述光耦隔离模块200包括第一光耦U1及第二光耦U2;所述第一光耦U1和所述第二光耦U2均包括控制输入端、控制输出端、执行输入端及执行输出端;其中,
所述第一光耦U1的控制输入端及控制输出端均与所述缺相检测模块100连接,所述第一光耦U1的执行输出端及执行输入端均与封波控制模块300连接;
所述第二光耦U2的控制输入端及控制输出端均与所述缺相检测模块100连接,所述第二光耦U2的执行输出端及执行输入端均与封波控制模块300连接。
其中,光耦具有发光二极管的一侧为控制侧,具有光敏半导体的一侧为执行侧。
具体地,所述缺相检测模块100包括第一二极管D1、第二二极管D2、第一瞬态抑制二极管TVS1、第二瞬态抑制二极管TVS2、第三瞬态抑制二极管TVS3、及第四瞬态抑制二极管TVS4;其中,所述第一二极管D1的阴极与三相电源的一相连接,所述第一二极管D1的阳极与所述第一光耦U1的控制输出端连接,所述第一光耦U1的控制输入端与所述第一瞬态抑制二极管TVS1的阳极连接,所述第一瞬态抑制二极管TVS1阴极与所述第二瞬态抑制二极管TVS2的阳极连接,所述第二瞬态抑制二极管TVS2的阴极与所述第三瞬态抑制二极管TVS3阳极连接,所述第三瞬态抑制二极管的阴极与所述第四瞬态抑制二极管TVS4的阳极连接,所述第四瞬态抑制二极管TVS4的阴极与所述第二光耦U2的控制输出端连接;所述第二瞬态抑制二极管TVS2的阴极和所述第三瞬态抑制二极管TVS3的阳极的公共端点与三相电源的另一相连接;所述第二光耦U2的控制输入端与所述第二二极管D2的阴极连接,所述第二二极管D2的阳极与三相电源的剩余一相连接。
需要说明的是,三相电L1、L2及L3正常的时候,第一瞬态抑制二极管TVS1、第二瞬态抑制二极管TVS2、第三瞬态抑制二极管TVS3、及第四瞬态抑制二极管TVS4均被击穿,第一光耦U1和第二光耦U2的的控制侧通过电流,第一光耦U1及第二光耦U2的执行侧导通发光。
进一步地,所述缺相检测模块100还包括第一电阻R1及第二电阻R2;所述第一电阻R1的第一端与所述第一二极管D1的阳极连接,所述第一电阻R1的第二端与所述第一光耦U1的控制输出端连接;所述第二电阻R2的第一端与所述第二二极管D2的阴极连接,所述第二电阻R2的第二端与所述第二光耦U2的控制输入端连接。其中第一电阻R1及第二电阻R2为限流电阻。
进一步地,所述缺相检测模块100还包括第一电容C1及第二电容C2,所述第一电容C1并联于所述第一光耦U1的控制输入端和控制输出端之间;所述第二电容C2并联于所述第二光耦U2的控制输入端和控制输出端之间。第一电容C1及第二电容C2用于滤波稳压,使得第一光耦U1和第二光耦U2控制侧流过的电流稳定。
进一步地,所述缺相检测模块100还包括保险丝FU,所述保险丝FU的第一端与所述第二瞬态抑制二极管TVS2的阴极和所述第三瞬态抑制二极管TVS3的阳极的公共端点连接,所述保险丝FU的另一端与三相电源的一相连接。在三相电源电流过大时,保险丝FU熔断,防止三相缺相检测电路因电流过大而烧坏。
进一步地,所述封波控制模块300包括第一电源VCC1、第二电源VCC2、第三二极管D3、第四二极管D4、第一三极管Q1、第三电阻R3及第四电阻R4;本实施例中,第一电源VCC1的电压为12V(伏特),第二电源VCC2的电压为24V,其中,
所述第一电源VCC1与所述第三二极管D3的阳极连接,所述第三二极管D3的阴极与所述第一三极管Q1的基极连接,所述第三二极管D3的阳极还与所述光耦隔离模块200连接;所述第二电源VCC2与所述第三电阻R3的第一端连接,所述第三电阻R3的第二端与所述第四电阻R4的第一端连接,所述第四电阻R4的第二端与所述控制器连接;所述第一电源VCC1还与所述第四二极管D4的阳极连接,所述第四二极管D4的阴极与所述第一三极管Q1的基极连接,所述第四二极管D4的阳极还与所述光耦隔离模块200连接;所述第一三极管Q1的发射极接地,所述第一三极管Q1的集电极与所述第四电阻R4的第二端连接。
需要说明的是,三相电源正常时,在第一光耦U1和第二光耦U2的控制侧均有电流流过时,第一光耦U1和第二光耦U2的执行侧也有电流流过,第一电源VCC1输出电压被拉低,此时第一三极管Q1不导通,控制器的相关引脚电平仍为高电平,控制器正常发出PWM波。
在三相电源缺相时,第一瞬态抑制二极管TVS1和第二瞬态抑制二极管TVS2未被击穿,和/或者第三瞬态抑制二极管TVS3和及第四瞬态抑制二极管TVS4未被击穿。第一光耦U1和第二光耦U2至少有一个停止工作,此时第一电源VCC1电压可以达到第一三极管Q1的基极,第一三极管Q1导通,第二电源VCC2输出电压被拉低,因此控制器的相关引脚电平被拉低,控制器停止发出PWM波,开启缺相保护。
进一步地,所述封波控制模块300还包括第五电阻R5及第三电容C3;所述第五电阻R5的第一端与所述第一三极管Q1的基极连接,所述第五电阻R5的第二端接地,所述第三电容C3的第一端与所述第一三极管Q1的基极连接,所述第三电容C3的第二端接地。第五电容和第三电容C3构成RC滤波电路,用于稳定第一三极管Q1的基极电压,防止第一三极管Q1受干扰误导通。
进一步地,所述封波控制模块300还包括第四电容C4、第五电容C5、第六电阻R6及第七电阻R7;所述第六电阻R6的第一端与所述第一电源VCC1连接,所述第六电阻R6的第二端与所述第三二极管D3的阳极连接,所述第四电容C4的第一端与所述第三二极管D3的阳极连接,所述第四电容C4的第二端接地;所述第七电阻R7的第一端与所述第一电源VCC1连接,所述第七电阻R7的第二端与所述第四二极管D4的阳极连接,所述第五电容C5的第一端与所述第四二极管D4的阳极连接,所述第五电容C5的第二端接地。第四电容C4及第五电容C5用于滤波稳压,第六电阻R6及第七电阻R7用于进行限流。
进一步地,所述封波控制模块300还包括第五瞬态抑制二极管TVS5、第六瞬态抑制二极管TVS6及第一发光二极管LED1;所述第五瞬态抑制二极管TVS5的阳极与所述第一三极管Q1的基极连接,所述第五瞬态抑制二极管TVS5的阴极与所述第三二极管D3的阴极连接;所述第一发光二极管LED1的阳极与所述第三电阻R3的第二端连接,所述第一发光二极管LED1的阴极与所述第四电阻R4的第一端连接;所述第六瞬态抑制二极管TVS6的阴极与所述第四电阻R4的第二端连接,所述第六瞬态抑制二极管TVS6的阳极与所述控制器连接。第五瞬态抑制二极管TVS5用于进一步防止外部干扰导致三极管误导通。第六瞬态抑制二极管TVS6用于第二电源VCC2开启时,当输出电压上升到第六瞬态抑制二极管TVS6的击穿电压时,才给控制器输出电压,防止低电压导致控制器误保护。第一发光二极管LED1则用于在控制器停止发出PWM波时发出警示信号,起到提醒的作用。
本实用新型技术方案采用瞬态抑制二极管判断电压高低来检测缺相,反应灵敏;采用光耦隔离强电和弱电回路,稳定可靠;通过控制控制器停止发出PWM波实现缺相保护功能,保护彻底。同时该电路结构简单,成本较低。
本实用新型还提出一种电气设备,该电气设备包括如上所述的三相缺相电路,该三相缺相电路的具体结构参照上述实施例,由于本电气设备采用了上述所有实施例的全部技术方案,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果,在此不再一一赘述。
该电气设备可以是逆变焊机、逆变切割设备等。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是在本实用新型的发明构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种三相缺相检测电路,其特征在于,所述三相缺相检测电路包括缺相检测模块、光耦隔离模块及封波控制模块;所述缺相检测模块的第一检测端、第二检测端、及第三检测端分别连接至三相电源的三相,缺相检测模块的输出端与所述光耦隔离模块的输入端连接,所述光耦隔离模块的输出端与所述封波控制模块的输入端连接,封波控制模块的输出端与控制器连接,其中所述缺相检测模块为强电侧,所述封波控制模块为弱电侧,
所述缺相检测模块,检测三相电源的工作状态,并将检测到的状态信号输出至光耦隔离模块;
所述光耦隔离模块,将强电侧的状态信号耦合至弱电侧;
所述封波控制模块,根据状态信号,在检测到三相缺相时输出缺相保护信号至所述控制器。
2.如权利要求1所述的三相缺相检测电路,其特征在于,所述光耦隔离模块包括第一光耦及第二光耦;所述第一光耦和所述第二光耦均包括控制输入端、控制输出端、执行输入端及执行输出端;其中,
所述第一光耦的控制输入端及控制输出端均与所述缺相检测模块连接,所述第一光耦的执行输出端及执行输入端均与封波控制模块连接;
所述第二光耦的控制输入端及控制输出端均与所述缺相检测模块连接,所述第二光耦的执行输出端及执行输入端均与封波控制模块连接。
3.如权利要求2所述的三相缺相检测电路,其特征在于,所述缺相检测模块包括第一二极管、第二二极管、第一瞬态抑制二极管、第二瞬态抑制二极管、第三瞬态抑制二极管、及第四瞬态抑制二极管;其中,
所述第一二极管的阴极与三相电源的一相连接,所述第一二极管的阳极与所述第一光耦的控制输出端连接,所述第一光耦的控制输入端与所述第一瞬态抑制二极管的阳极连接,所述第一瞬态抑制二极管阴极与所述第二瞬态抑制二极管的阳极连接,所述第二瞬态抑制二极管的阴极与所述第三瞬态抑制二极管阳极连接,所述第三瞬态抑制二极管的阴极与所述第四瞬态抑制二极管的阳极连接,所述第四瞬态抑制二极管的阴极与所述第二光耦的控制输出端连接;所述第二瞬态抑制二极管的阴极和所述第三瞬态抑制二极管的阳极的公共端点与三相电源的另一相连接;所述第二光耦的控制输入端与所述第二二极管的阴极连接,所述第二二极管的阳极与三相电源的剩余一相连接。
4.如权利要求3所述的三相缺相检测电路,其特征在于,所述缺相检测模块还包括第一电阻、第二电阻、第一电容、及第二电容;其中,
所述第一电阻的第一端与所述第一二极管的阳极连接,所述第一电阻的第二端与所述第一光耦的控制输出端连接;所述第二电阻的第一端与所述第二二极管的阴极连接,所述第二电阻的第二端与所述第二光耦的控制输入端连接;
所述第一电容并联于所述第一光耦的控制输入端和控制输出端之间;所述第二电容并联于所述第二光耦的控制输入端和控制输出端之间。
5.如权利要求3或4所述的三相缺相检测电路,其特征在于,所述缺相检测模块还包括保险丝,所述保险丝的第一端与所述第二瞬态抑制二极管的阴极和所述第三瞬态抑制二极管的阳极的公共端点连接,所述保险丝的另一端与所述三相电源的一相连接。
6.如权利要求1所述的三相缺相检测电路,其特征在于,所述封波控制模块包括第一电源、第二电源、第三二极管、第四二极管、第一三极管、第三电阻及第四电阻;其中,
所述第一电源与所述第三二极管的阳极连接,所述第三二极管的阴极与所述第一三极管的基极连接,所述第三二极管的阳极还与所述光耦隔离模块连接;
所述第二电源与所述第三电阻的第一端连接,所述第三电阻的第二端与所述第四电阻的第一端连接,所述第四电阻的第二端与所述控制器连接;
所述第一电源还与所述第四二极管的阳极连接,所述第四二极管的阴极与所述第一三极管的基极连接,所述第四二极管的阳极还与所述光耦隔离模块连接;所述第一三极管的发射极接地,所述第一三极管的集电极与所述第四电阻的第二端连接。
7.如权利要求6所述的三相缺相检测电路,其特征在于,所述封波控制模块还包括第五电阻及第三电容;所述第五电阻的第一端与所述第一三极管的基极连接,所述第五电阻的第二端接地,所述第三电容的第一端与所述第一三极管的基极连接,所述第三电容的第二端接地。
8.如权利要求6所述的三相缺相检测电路,其特征在于,所述封波控制模块还包括第四电容、第五电容、第六电阻及第七电阻;所述第六电阻的第一端与所述第一电源连接,所述第六电阻的第二端与所述第三二极管的阳极连接,所述第四电容的第一端与所述第三二极管的阳极连接,所述第四电容的第二端接地;所述第七电阻的第一端与所述第一电源连接,所述第七电阻的第二端与所述第四二极管的阳极连接,所述第五电容的第一端与所述第四二极管的阳极连接,所述第五电容的第二端接地。
9.如权利要求8所述的三相缺相检测电路,其特征在于,所述封波控制模块还包括第五瞬态抑制二极管、第六瞬态抑制二极管及第一发光二极管;所述第五瞬态抑制二极管的阳极与所述第一三极管的基极连接,所述第五瞬态抑制二极管的阴极与所述第三二极管的阴极连接;所述第一发光二极管的阳极与所述第三电阻的第二端连接,所述第一发光二极管的阴极与所述第四电阻的第一端连接;所述第六瞬态抑制二极管的阴极与所述第四电阻的第二端连接,所述第六瞬态抑制二极管的阳极与所述控制器连接。
10.一种电气设备,其特征在于,所述电气设备包括如权利要求1-9任意一项所述的三相缺相检测电路。
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