CN205982554U - 一种dsp芯片批量检测装置 - Google Patents

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吴小君
安达
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Abstract

本实用新型公开了一种DSP芯片批量检测装置,涉及DSP芯片检测技术领域。该DSP芯片批量检测装置,包括用于进行检测的内存检测模块、JTAG接口和电压传感器,所述内存检测模块、JTAG接口和电压传感器的第一输出端均与中央控制器的输入端连接,并且内存检测模块的第二输出端与第一数据比较器的输入端连接,所述JTAG接口的第二输出端与第二数据比较器的输入端连接。该DSP芯片批量检测装置,解决了现在的DSP芯片检测设备使用都需要专业的技术人员进行操作的情况,普通的工人也可以进行检测处理,降低了经济成本,更好的适合工厂使用,更好的方便了使用者的使用,可以快速的知晓DSP芯片是否合格,更加准确的得知DSP芯片的情况。

Description

一种DSP芯片批量检测装置
技术领域
本实用新型涉及DSP芯片检测技术领域,具体为一种DSP芯片批量检测装置。
背景技术
DSP即数字信号处理技术,DSP芯片即指能够实现数字信号处理技术的芯片,DSP芯片的内部采用程序和数据分开的哈佛结构,具有专门的硬件乘法器,广泛采用流水线操作,提供特殊的DSP指令,可以用来快速的实现各种数字信号处理算法。
DSP是一门涉及许多学科而又广泛应用于许多领域的新兴学科。20世纪60年代以来,随着计算机和信息技术的飞速发展,数字信号处理技术应运而生并得到迅速的发展。在过去的二十多年时间里,数字信号处理已经在通信等领域得到极为广泛DSP技术图解的应用。数字信号处理是利用计算机或专用处理设备,以数字形式对信号进行采集、变换、滤波、估值、增强、压缩、识别等处理,以得到符合人们需要的信号形式。
目前市场上很少有专门检测DSP芯片的设备,一般检测设备都伴有程序烧录的功能,价格贵,不适合工厂使用,并且现在的DSP芯片检测设备使用都需要专业的技术人员进行操作,普通的工人则无法进行检测处理。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种DSP芯片批量检测装置,解决了现在的DSP芯片检测设备使用都需要专业的技术人员进行操作,普通的工人则无法进行检测处理的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:一种DSP芯片批量检测装置,包括用于进行检测的内存检测模块、JTAG接口和电压传感器,所述内存检测模块、JTAG接口和电压传感器的第一输出端均与中央控制器的输入端连接,并且内存检测模块的第二输出端与第一数据比较器的输入端连接,所述JTAG接口的第二输出端与第二数据比较器的输入端连接,并且电压传感器的第二输出端与第三数据比较器的输入端连接,所述第一数据比较器的第一输出端通过第一反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第一数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,所述第二数据比较器的第一输出端通过第二反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第二数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,所述第三数据比较器的第一输出端通过第三反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第三数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,所述微处理器的输出端分别与指示灯和蜂鸣器的输入端连接。
优选的,所述中央控制器分别与存储模块和显示器实现双向连接,并且存储模块为SD数据存储卡,所述显示器为液晶式触摸显示器。
优选的,所述中央控制器的输入端与电源模块的输出端电性连接。
优选的,所述指示灯包括红色指示灯、黄色指示灯和绿色指示灯,并且红色指示灯、黄色指示灯和绿色指示灯的输入端均与微处理器的输出端连接。
(三)有益效果
本实用新型提供了一种DSP芯片批量检测装置。具备以下有益效果:
(1)、该DSP芯片批量检测装置,通过内存检测模块、JTAG接口、电压传感器、中央控制器、第一数据比较器、第二数据比较器和第三数据比较器的配合设置,解决了现在的DSP芯片检测设备使用都需要专业的技术人员进行操作的情况,普通的工人也可以进行检测处理,避免了DSP芯片检测设备都伴有程序烧录功能,降低了经济成本,更好的适合工厂使用。
(2)、该DSP芯片批量检测装置,通过第一数据比较器、第二数据比较器和第三数据比较器的输出端与微处理器的输入端连接,以及微处理器、蜂鸣器和指示灯的配合,更好的方便了使用者的使用,可以快速的知晓DSP芯片是否合格,更加准确的得知DSP芯片的情况。
附图说明
图1为本实用新型系统原理示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型实施例提供一种DSP芯片批量检测装置,如图1所示,包括用于进行检测的内存检测模块、JTAG接口和电压传感器,内存检测模块、JTAG接口和电压传感器的第一输出端均与中央控制器的输入端连接,并且内存检测模块的第二输出端与第一数据比较器的输入端连接,JTAG接口的第二输出端与第二数据比较器的输入端连接,并且电压传感器的第二输出端与第三数据比较器的输入端连接,第一数据比较器的第一输出端通过第一反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第一数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,第二数据比较器的第一输出端通过第二反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第二数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,第三数据比较器的第一输出端通过第三反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第三数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,微处理器的输出端分别与指示灯和蜂鸣器的输入端连接。
本实用新型中,中央控制器分别与存储模块和显示器实现双向连接,并且存储模块为SD数据存储卡,存储模块可以对DSP芯片质量的数据进行储存,保留完整的流量信息,方便后期对DSP芯片数据的比对分析等,显示器为液晶式触摸显示器,方便使用者进行观察DSP芯片是否合格,使用者还可以输入最高报警阈值和底报警阈值。
本实用新型中,中央控制器的输入端与电源模块的输出端电性连接,电源模块为DSP芯片检测的用电设备进行供电,保证用电设备的正常运行。
本实用新型中,指示灯包括红色指示灯、黄色指示灯和绿色指示灯,并且红色指示灯、黄色指示灯和绿色指示灯的输入端均与微处理器的输出端连接。
工作原理:使用者在使用前,根据DSP芯片符合生产要求的内存、电压和JTAG检测数据,判定需要输入的合格的内存、JTAG检测数据值和电压,合格内存的最大值为内存报警阈值,合格JTAG检测数据的最大值为JTAG检测数据报警阈值,合格电压的最大值为电压报警阈值,并分别将内存报警阈值、JTAG检测数据报警阈值和电压报警阈值通过显示器分别输入至中央控制器中,中央控制器将内存报警阈值发送至第一数据比较器中,中央控制器将JTAG检测数据报警阈值发送至第二数据比较器中,中央控制器将电压报警阈值发送至三数据比较器中,作为数据比对值。
使用者在使用时,设置有的内存检测模块对DSP芯片的内存进行采集,并且将内存检测模块采集的数据传输到中央控制器,中央控制器再将采集的数据传输到显示器,显示器对数据进行显示。
在第一数据比较器中,将内存检测模块实时采集的DSP芯片内存与第一数据比较器中输入的内存报警阈值进行比较,若比对结果为实时接收的内存数据信息高于内存报警阈值,表明DSP芯片内存不符合生产规格,第一数据比较器通过第一反馈模块将DSP芯片的内存报警信号传输到微处理器中,微处理器控制蜂鸣器和红色指示灯。
使用者在使用时,设置有的JTAG接口对DSP芯片的JTAG检测数据进行采集,并且将JTAG接口采集的数据传输到中央控制器,中央控制器再将采集的数据传输到显示器,显示器对数据进行显示。
在第二数据比较器中,将JTAG接口实时采集的DSP芯片JTAG检测数据与第二数据比较器中输入的JTAG检测数据报警阈值进行比较,若比对结果为实时接收的JTAG检测数据信息高于JTAG检测数据报警阈值,表明DSP芯片内存不符合生产规格,第二数据比较器通过第二反馈模块将DSP芯片的JTAG检测数据报警信号传输到微处理器中,微处理器控制蜂鸣器和黄色指示灯。
使用者在使用时,设置有的电压传感器对DSP芯片的电压进行采集,并且将电压传感器采集的数据传输到中央控制器,中央控制器再将采集的数据传输到显示器,显示器对数据进行显示。
在第三数据比较器中,将电压传感器实时采集的DSP芯片电压与第三数据比较器中输入的电压报警阈值进行比较,若比对结果为实时接收的电压数据信息高于电压报警阈值,表明DSP芯片内存不符合生产规格,第三数据比较器通过第三反馈模块将DSP芯片的电压报警信号传输到微处理器中,微处理器控制蜂鸣器和绿色指示灯。
综上所述,该DSP芯片批量检测装置,通过内存检测模块、JTAG接口、电压传感器、中央控制器、第一数据比较器、第二数据比较器和第三数据比较器的配合设置,解决了现在的DSP芯片检测设备使用都需要专业的技术人员进行操作的情况,普通的工人也可以进行检测处理,避免了DSP芯片检测设备都伴有程序烧录功能,降低了经济成本,更好的适合工厂使用。
并且,过第一数据比较器、第二数据比较器和第三数据比较器的输出端与微处理器的输入端连接,以及微处理器、蜂鸣器和指示灯的配合,更好的方便了使用者的使用,可以快速的知晓DSP芯片是否合格,更加准确的得知DSP芯片的情况。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种DSP芯片批量检测装置,包括用于进行检测的内存检测模块、JTAG接口和电压传感器,其特征在于:所述内存检测模块、JTAG接口和电压传感器的第一输出端均与中央控制器的输入端连接,并且内存检测模块的第二输出端与第一数据比较器的输入端连接,所述JTAG接口的第二输出端与第二数据比较器的输入端连接,并且电压传感器的第二输出端与第三数据比较器的输入端连接,所述第一数据比较器的第一输出端通过第一反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第一数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,所述第二数据比较器的第一输出端通过第二反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第二数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,所述第三数据比较器的第一输出端通过第三反馈模块与微处理器的输入端连接,并且第三数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接,所述微处理器的输出端分别与指示灯和蜂鸣器的输入端连接。
2.根据权利要求1所述的一种DSP芯片批量检测装置,其特征在于:所述中央控制器分别与存储模块和显示器实现双向连接,并且存储模块为SD数据存储卡,所述显示器为液晶式触摸显示器。
3.根据权利要求1所述的一种DSP芯片批量检测装置,其特征在于:所述中央控制器的输入端与电源模块的输出端电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种DSP芯片批量检测装置,其特征在于:所述指示灯包括红色指示灯、黄色指示灯和绿色指示灯,并且红色指示灯、黄色指示灯和绿色指示灯的输入端均与微处理器的输出端连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113744426A (zh) * 2021-09-09 2021-12-03 深圳市芯中芯科技有限公司 一种无源巡检系统及方法

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