CN205958669U - Zif连接器下针测试结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种结构简单、测试效率高、成本低且能满足产品测试自动化要求的ZIF连接器下针测试结构。本实用新型包括PCB板（1）、针块（2）、针盖（3）、至少两根弹簧（4）和针块固定座（5），在针块（2）上固定设置有若干探针（6），在针盖上设置有供探针穿过且与探针的数目一致的针孔（31），弹簧的下端固定在针块上，上端顶在针盖的下侧面上，针盖上还设置有凸台（32），在针块固定座上设置有与凸台（32）相顶紧配合的卡台（51），PCB板和针块均与针块固定座固定连接，在针块上，若干探针错位设置，探针的设置位置与待测的ZIF连接器上的PIN脚的波峰处相对应。本实用新型可应用于测试设备领域。

Description

ZIF连接器下针测试结构

技术领域

本实用新型涉及测试设备领域，尤其涉及一种ZIF连接器下针测试结构。

背景技术

目前ZIF连接器由于PIN脚的宽度很小，通常宽度只有0.08mm，且PIN脚与PIN脚之间的距离也很小，通常为0.175mm，所以采用下针测试的方式存在很大的困难。现有的夹具测试ZIF连接器的主要方法是采用人工插排线方式进行测试，但插排线的测试方式存在以下几个缺点：

1、排线的损耗率非常高，需要经常更换排线，造成成本增加；

2、工作效率极低：由于插排线由人工进行，耗时耗力，且排线插不到位会影响测试合格率；

3、不能满足产线自动化测试要求。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种结构简单、测试效率高、成本低且能满足产品测试自动化要求的ZIF连接器下针测试结构。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括PCB板、针块、针盖、至少两根弹簧和针块固定座，在所述针块上固定设置有若干探针，在所述针盖上设置有供所述探针穿过且与所述探针的数目一致的针孔，所述弹簧的下端固定在所述针块上，上端顶在所述针盖的下侧面上，所述针盖上还设置有凸台，在所述针块固定座上设置有与所述凸台相顶紧配合的卡台，所述PCB板和所述针块均与所述针块固定座固定连接，在所述针块上，若干所述探针错位设置，所述探针的设置位置与待测的ZIF连接器上的PIN脚的波峰处相对应。

上述方案可见，本实用新型将探针在针块上错位设置，且其设置位置与待测的ZIF连接器上的PIN脚的波峰处相对应，而ZIF连接器上的任意相邻的两个PIN脚的波峰处的距离为最远，且相互错开，从而使得探针下针时不会与相邻的PIN脚接触，避免了造成PIN脚与PIN脚之间短路，保证测试的有效性和高效性。另外，采用本实用新型的结构进行ZIF连接器测试，其可用于自动化设备上进行自动测试，能满足产品测试自动化的要求，与现有采用人工插排线的方式相比，其极大地降低了人工的投入，其人工成本大大地降低了。在针块与针盖之间设置弹簧使两者相互排斥，而在针盖上设置的凸台和在针块固定座上设置的卡台又相互顶紧，在未进行ZIF连接器测试时，针盖上的凸台在弹簧力的作用下顶紧在针块固定座的卡台上，在而此时探针的上端隐藏于针盖中，不会露出在针盖之上，从而对探针进行很好的保护；当进行ZIF连接器测试时，ZIF连接器压在针盖上，针盖被下压，直至探针露出在针盖之上并顶紧在待测ZIF连接器的PIN脚的波峰处，从而稳定地对ZIF连接器进行测试，保证了测试合格率和测试效率。

进一步地，在所述针盖的上端面上设置有与待测的ZIF连接器相适配的测试槽，所述针孔露出在所述测试槽上，在所述测试槽的四周边缘处设置有倒角面。

上述方案可见，测试槽和测试槽四周边缘处设置的倒角面能够使得待测的ZIF连接器在进行测试时能够很好地对位和导入，保证了测试连接的准确性和测试的高效性。

再进一步地，所述探针的下端与所述PCB板固定连接，所述探针的上端面垂直交叉设置有倒三角槽，在相邻的两个三角槽的连接处形成触点。

上述方案可见，将探针的测试接触一端设置成具有多个触点的结构，保证了连接的可靠性，从而保证了测试的顺利进行。

再更进一步地，在所述针块固定座上还设置有定位孔，所述定位孔与等高螺丝相配合。

上述方案可见，通过等高螺丝来与定位孔相配合，在进行安装时，整个针块模组是浮动的，在进行产品测试时，每个产品上可能存在有若干个不同的连接器，不同的连接器的贴片存在一定的高度公差，采用本实用新型浮动的针块模组结构，能够很好地满足对各种连接器的测试。

又再更进一步地，所述弹簧的数目设置为四根，四根所述弹簧在所述针块的四周均匀分布。

上述方案可见，采用四根弹簧且在针块的四周均匀分布设置，这保证了针盖的受力均匀，针盖不会发生偏移，进而保证了探针的使用寿命和测试的顺利进行。

附图说明

图1是所述本实用新型正视角度的简易结构示意图；

图2是本实用新型第一视角的爆炸结构简易示意图；

图3是本实用新型第二视角的爆炸结构简易示意图；

图4是本实用新型的剖视结构简易示意图；

图5是所述探针的简易结构示意图；

图6是所述ZIF连接器的PIN脚部分的简易结构示意图；

图7是从所述针盖内的针孔向ZIF连接器投影的简易结构示意图。

具体实施方式

如图1至图7所示，本实用新型包括PCB板1、针块2、针盖3、至少两根弹簧4和针块固定座5。在所述针块2的下侧面上设置有定位销11，定位销11的设置是便于PCB板安装时能够快速地定位。在所述针块2上固定设置有若干探针6，在所述针盖3上设置有供所述探针6穿过且与所述探针6的数目一致的针孔31。对于不同的待测ZIF连接器8，针块的探针数目和针盖上的针孔数目设置成与待测ZIF连接器8的PIN脚数目相一致。故针对不同批次的ZIF连接器，只要更换针块和与其相应的针盖即可。所述弹簧4的下端固定在所述针块2上，上端顶在所述针盖3的下侧面上。所述弹簧4的数目设置为四根，四根所述弹簧4在所述针块2的四周均匀分布。所述针盖3上还设置有凸台32，在所述针块固定座5上设置有与所述凸台32相顶紧配合的卡台51。所述PCB板1和所述针块2均与所述针块固定座5固定连接。在所述针块2上，所述探针6错位设置，所述探针6的设置位置与待测的ZIF连接器上的PIN脚的波峰处7相对应。

在所述针盖3的上端面上设置有与待测的ZIF连接器相适配的测试槽33，所述针孔31露出在所述测试槽33上，在所述测试槽33的四周边缘处设置有倒角面34。倒角面34的设置使得待测的ZIF连接器在进行测试时能够很好地对位和导入，保证了测试连接的准确性和测试的高效性。所述探针6的下端与所述PCB板1固定连接，所述探针6的上端面垂直交叉设置有倒三角槽61，在相邻的两个三角槽61的连接处形成触点62。由于ZIF连接器的PIN脚比较小，采用具有多个触点的花针结构能很好地确保探针与PIN脚的连接是有效的。在所述针块固定座5上还设置有定位孔52，所述定位孔52与等高螺丝相配合。通过等高螺丝来与定位孔相配合，在进行安装时，整个针块模组是浮动的；在进行产品测试时，每个产品上可能存在有若干个不同的连接器，不同的连接器的贴片存在一定的高度公差，采用本实用新型浮动的针块模组结构，能够很好地满足对各种连接器的测试。另外，采用等高螺丝的目的是保证针块模组具有一定的活动性，从而保证针块模组与连接器自动对位。

本实用新型使用了直接在ZIF连接器上下针的方式，解决了以往采用人工插排线的测试方式，这大大地降低了人工成本，使整个针块模组适用于产线自动化要求，提高了工作效率，其测试稳定，测试精度高，测试通过率高；且结构紧凑、简单，装配维护保养操作方便。

本实用新型可应用于测试设备领域。

Claims (5)

1.一种ZIF连接器下针测试结构，其特征在于：所述测试结构包括PCB板（1）、针块（2）、针盖（3）、至少两根弹簧（4）和针块固定座（5），在所述针块（2）上固定设置有若干探针（6），在所述针盖（3）上设置有供所述探针（6）穿过且与所述探针（6）的数目一致的针孔（31），所述弹簧（4）的下端固定在所述针块（2）上，上端顶在所述针盖（3）的下侧面上，所述针盖（3）上还设置有凸台（32），在所述针块固定座（5）上设置有与所述凸台（32）相顶紧配合的卡台（51），所述PCB板（1）和所述针块（2）均与所述针块固定座（5）固定连接，在所述针块（2）上，若干所述探针（6）错位设置，所述探针（6）的设置位置与待测的ZIF连接器上的PIN脚的波峰处相对应。

2.根据权利要求1所述的ZIF连接器下针测试结构，其特征在于：在所述针盖（3）的上端面上设置有与待测的ZIF连接器相适配的测试槽（33），所述针孔（31）露出在所述测试槽（33）上，在所述测试槽（33）的四周边缘处设置有倒角面（34）。

3.根据权利要求1所述的ZIF连接器下针测试结构，其特征在于：所述探针（6）的下端与所述PCB板（1）固定连接，所述探针（6）的上端面垂直交叉设置有倒三角槽（61），在相邻的两个三角槽（61）的连接处形成触点（62）。

4.根据权利要求1所述的ZIF连接器下针测试结构，其特征在于：在所述针块固定座（5）上还设置有定位孔（52），所述定位孔（52）与等高螺丝相配合。

5.根据权利要求1至4任一项所述的ZIF连接器下针测试结构，其特征在于：所述弹簧（4）的数目设置为四根，四根所述弹簧（4）在所述针块（2）的四周均匀分布。