CN205868851U - 一种钢球表面缺陷自动检测装置 - Google Patents

一种钢球表面缺陷自动检测装置 Download PDF

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李肖杰
陈观慈
王存珠
侯光辉
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Abstract

本实用新型涉及一种钢球表面缺陷自动检测装置,属于滚动体检测技术领域。本实用新型包括上料机构、展开机构、分选机构、机架;上料机构、展开机构、分选机构分别安装在机架上,上料机构包括进料管、电机Ⅰ、上料支架Ⅰ、上料支架Ⅱ、上料棘轮、支座、进料固定套筒;展开机构包括圆盘Ⅰ、圆盘Ⅱ、料筒Ⅰ、料筒Ⅱ、轴Ⅰ、圆盘套圈、偏心轴、轴Ⅱ;分选机构包括下料轮、料道Ⅰ、料道Ⅱ、分选机构支架Ⅱ、分选机构支架Ⅰ、料道管、固定支座、下料槽、下料孔、电机Ⅱ。本实用新型能降低误检和漏检率,使工作效率更高;结构简单易于控制,自动化程度高;可检测不同尺寸以及不同精度要求的钢球的表面缺陷类型。

Description

一种钢球表面缺陷自动检测装置
技术领域
本实用新型涉及一种钢球表面缺陷自动检测装置,属于滚动体检测技术领域。
背景技术
钢球是轴承的最重要配件,也是轴承行业使用最多的滚动体。钢球质量的好坏直接影响着轴承的精度、运动性能以及使用寿命。目前,国内各轴承企业以及钢球厂在进行钢球表面缺陷的检测时主要采用人工手检的方式。钢球表面缺陷检测中主要存在以下几个问题:1、采用传统的检测方法就要求众多的检测工人,通过肉眼或结合显微镜进行观测检验,容易受到工人的技术水平、情绪、责任心、劳累程度等不稳定因素的影响,由此引起的误检和漏检率很高,而且自动化程度低,给工厂增加了人工成本与管理成本,效率低;2、许多检测的工序不仅仅要求外观的检测,同时需要准确获取检测的统计资料,比如钢球表面缺陷类型、尺寸等等,这些工作很难依靠人眼快速完成,由于目测是在强光下进行的,这会对检测者的视力造成极大危害,一般检测者两年后就不能再从事此项工作。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种钢球表面缺陷自动检测装置,以解决人工检测引起的误检和漏检率高、自动化程度低、效率低的问题等问题。
本实用新型按以下技术方案实现:一种钢球表面缺陷自动检测装置,包括上料机构、展开机构、分选机构、机架7;上料机构、展开机构、分选机构分别安装在机架7上,上料机构包括进料管2、电机Ⅰ10、上料支架Ⅰ11、上料支架Ⅱ12、上料棘轮13、支座14、进料固定套筒15;上料支架Ⅱ12安装在机架7上,支座14安装在上料支架Ⅱ12上,进料管2通过进料固定套筒15安装在上料支架Ⅱ12上,上料支架Ⅰ11安装在上料支架Ⅱ12上,电机Ⅰ10安装在上料支架Ⅰ11上,上料棘轮13一端与电机Ⅰ10的输出轴连接,上料棘轮13另一端安装在支座14上,展开机构包括圆盘Ⅰ1、圆盘Ⅱ3、料筒Ⅰ8、料筒Ⅱ9、轴Ⅰ16、圆盘套圈17、偏心轴18、轴Ⅱ19;料筒Ⅰ8、料筒Ⅱ9分别安装在机架7上,轴Ⅰ16装在料筒Ⅰ8内,轴Ⅱ19装在料筒Ⅱ9内,偏心轴18偏心端开设有偏心轴键槽20,轴Ⅰ16一端内开设有轴键槽21,轴Ⅰ16通过轴键槽21、偏心轴键槽20安装在偏心轴18的偏心端,圆盘Ⅰ1安装在轴Ⅰ16上,圆盘Ⅱ3通过圆盘套圈17安装在轴Ⅱ19另一端,分选机构包括下料轮4、料道Ⅰ5、料道Ⅱ6、分选机构支架Ⅱ22、分选机构支架Ⅰ23、料道管24、固定支座25、下料槽26、下料孔27、电机Ⅱ28;分选机构支架Ⅱ22安装机架7上,分选机构支架Ⅰ23安装在分选机构支架Ⅱ22上,下料轮4安装在分选机构支架Ⅱ22上,料道Ⅱ6安装在分选机构支架Ⅰ23上,料道Ⅰ5安装在分选机构支架Ⅱ22上,料道管24安装在分选机构支架Ⅱ22下部与料道Ⅰ5连接,固定支座25安装在分选机构支架Ⅰ23上,下料轮4上开设有下料孔27,下料轮4周部开设有下料槽26,电机Ⅱ28安装在分选机构支架Ⅱ22下部与下料轮4连接。
一种钢球表面缺陷自动检测装置的工作原理:钢球从进料管2中进入,上料机构通过上料棘轮13的转动把钢球一个个送给圆盘Ⅱ3,当电机Ⅰ10收到供料信号,上料棘轮13就转一个角度,拨下一个钢球;圆盘Ⅱ3中有检测腔,装载待检测的钢球,一次装15个钢球,分为3组,当圆盘Ⅱ3将钢球供给给圆盘Ⅰ1后,偏心轴18会使圆盘Ⅰ1做偏心运动,达到左右移动及变角度的作用,钢球运动轨迹改变,待检测钢球表面展开;下料轮4由一个电机Ⅱ28驱动,当检测出来的钢球是好球,下料轮4向右运动,钢球从下料轮4中的下料孔27进入料道Ⅰ5,放到成品钢球箱中;当检测出来的钢球是带缺陷的钢球,下料轮4向左旋转,通过下料轮4中的下料槽26进入料道Ⅱ6与好球分开,进入废品钢球回收箱中,实现钢球的自动检测分检过程。
本实用新型具有以下有益效果:
1、能降低误检和漏检率,使工作效率更高;
2、实现钢球的自动检测分检过程,能够将好的钢球进入到成品钢球箱中,带缺陷的钢球进入废品钢球回收箱中,结构简单易于控制,自动化程度高;
3、可检测不同尺寸以及不同精度要求的钢球的表面缺陷类型。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型的上料机构结构示意图;
图3是本实用新型的展开机构结构示意图;
图4是本实用新型的偏心轴结构示意图;
图5是本实用新型的轴Ⅰ结构示意图
图6是本实用新型的分选机构结构示意图;
图7是本实用新型的分选机构轴侧结构示意图。
图中各标号为:1:圆盘Ⅰ、2:进料管、3:圆盘Ⅱ、4:下料轮、5:料道Ⅰ、6:料道Ⅱ、7:机架、8:料筒Ⅰ、9:料筒Ⅱ、10:电机Ⅰ、11:上料支架Ⅰ、12:上料支架Ⅱ、13:上料棘轮、14:支座、15:进料固定套筒、16:轴Ⅰ、17:圆盘套圈、18:偏心轴、19:轴Ⅱ、20:偏心轴键槽、21:轴键槽、22:分选机构支架Ⅱ、23:分选机构支架Ⅰ、24:料道管、25:固定支座、26:下料槽、27:下料孔、28:电机Ⅱ。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本实用新型作进一步说明,但本实用新型的内容并不限于所述范围。
实施例1:如图1-7所示,一种钢球表面缺陷自动检测装置,包括上料机构、展开机构、分选机构、机架7;上料机构、展开机构、分选机构分别安装在机架7上,上料机构包括进料管2、电机Ⅰ10、上料支架Ⅰ11、上料支架Ⅱ12、上料棘轮13、支座14、进料固定套筒15;上料支架Ⅱ12安装在机架7上,支座14安装在上料支架Ⅱ12上,进料管2通过进料固定套筒15安装在上料支架Ⅱ12上,上料支架Ⅰ11安装在上料支架Ⅱ12上,电机Ⅰ10安装在上料支架Ⅰ11上,上料棘轮13一端与电机Ⅰ10的输出轴连接,上料棘轮13另一端安装在支座14上,展开机构包括圆盘Ⅰ1、圆盘Ⅱ3、料筒Ⅰ8、料筒Ⅱ9、轴Ⅰ16、圆盘套圈17、偏心轴18、轴Ⅱ19;料筒Ⅰ8、料筒Ⅱ9分别安装在机架7上,轴Ⅰ16装在料筒Ⅰ8内,轴Ⅱ19装在料筒Ⅱ9内,偏心轴18偏心端开设有偏心轴键槽20,轴Ⅰ16一端内开设有轴键槽21,轴Ⅰ16通过轴键槽21、偏心轴键槽20安装在偏心轴18的偏心端,圆盘Ⅰ1安装在轴Ⅰ16上,圆盘Ⅱ3通过圆盘套圈17安装在轴Ⅱ19另一端,分选机构包括下料轮4、料道Ⅰ5、料道Ⅱ6、分选机构支架Ⅱ22、分选机构支架Ⅰ23、料道管24、固定支座25、下料槽26、下料孔27、电机Ⅱ28;分选机构支架Ⅱ22安装机架7上,分选机构支架Ⅰ23安装在分选机构支架Ⅱ22上,下料轮4安装在分选机构支架Ⅱ22上,料道Ⅱ6安装在分选机构支架Ⅰ23上,料道Ⅰ5安装在分选机构支架Ⅱ22上,料道管24安装在分选机构支架Ⅱ22下部与料道Ⅰ5连接,固定支座25安装在分选机构支架Ⅰ23上,下料轮4上开设有下料孔27,下料轮4周部开设有下料槽26,电机Ⅱ28安装在分选机构支架Ⅱ22下部与下料轮4连接。

Claims (1)

1.一种钢球表面缺陷自动检测装置,其特征在于:包括上料机构、展开机构、分选机构、机架(7);上料机构、展开机构、分选机构分别安装在机架(7)上,上料机构包括进料管(2)、电机Ⅰ(10)、上料支架Ⅰ(11)、上料支架Ⅱ(12)、上料棘轮(13)、支座(14)、进料固定套筒(15);上料支架Ⅱ(12)安装在机架(7)上,支座(14)安装在上料支架Ⅱ(12)上,进料管(2)通过进料固定套筒(15)安装在上料支架Ⅱ(12)上,上料支架Ⅰ(11)安装在上料支架Ⅱ(12)上,电机Ⅰ(10)安装在上料支架Ⅰ(11)上,上料棘轮(13)一端与电机Ⅰ(10)的输出轴连接,上料棘轮(13)另一端安装在支座(14)上,展开机构包括圆盘Ⅰ(1)、圆盘Ⅱ(3)、料筒Ⅰ(8)、料筒Ⅱ(9)、轴Ⅰ(16)、圆盘套圈(17)、偏心轴(18)、轴Ⅱ(19);料筒Ⅰ(8)、料筒Ⅱ(9)分别安装在机架(7)上,轴Ⅰ(16)装在料筒Ⅰ(8)内,轴Ⅱ(19)装在料筒Ⅱ(9)内,偏心轴(18)偏心端开设有偏心轴键槽(20),轴Ⅰ(16)一端内开设有轴键槽(21),轴Ⅰ(16)通过轴键槽(21)、偏心轴键槽(20)安装在偏心轴(18)的偏心端,圆盘Ⅰ(1)安装在轴Ⅰ(16)上,圆盘Ⅱ(3)通过圆盘套圈(17)安装在轴Ⅱ(19)另一端,分选机构包括下料轮(4)、料道Ⅰ(5)、料道Ⅱ(6)、分选机构支架Ⅱ(22)、分选机构支架Ⅰ(23)、料道管(24)、固定支座(25)、下料槽(26)、下料孔(27)、电机Ⅱ(28);分选机构支架Ⅱ(22)安装机架(7)上,分选机构支架Ⅰ(23)安装在分选机构支架Ⅱ(22)上,下料轮(4)安装在分选机构支架Ⅱ(22)上,料道Ⅱ(6)安装在分选机构支架Ⅰ(23)上,料道Ⅰ(5)安装在分选机构支架Ⅱ(22)上,料道管(24)安装在分选机构支架Ⅱ(22)下部与料道Ⅰ(5)连接,固定支座(25)安装在分选机构支架Ⅰ(23)上,下料轮(4)上开设有下料孔(27),下料轮(4)周部开设有下料槽(26),电机Ⅱ(28)安装在分选机构支架Ⅱ(22)下部与下料轮(4)连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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