CN205833197U - 温度测试装置加热核心机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型是温度测试装置加热核心机构，其结构包括支架(1)，支架(1)底部连接底座(2)，底座(2)中心开有散热孔(3)，支架(1)的中心开有产品固定孔(4)，支架(1)上设4块PTC加热片(5)。本实用新型的优点：加热核心机构加装2组共4块PTC加热片，每块单独控制，加热核心机构装有上下两个温度传感器，通过温度变化，可在控制器中演算出测试产品的正确温度；提升了加热散热效率，减少了热量逸散，稳定了测试温度，局部加热散热效率提升100％，控制温度误差为±0.5℃。

Description

温度测试装置加热核心机构

技术领域

本实用新型涉及的是温度测试装置加热核心机构。

背景技术

现有的温度测试装置在对产品进行升降温测试时，升降温幅度不能满足测试需求，需要改进加热结构，现有的加热条件为四周分布加热器，对处于中心部的产品进行加热。这种加热方式由于加热器固定在四周，加热器方面的热能直接通过传导的方式逸散到壳体外部，导致加热效率低下。

发明内容

本实用新型提出的是温度测试装置加热核心机构，其目的旨在克服现有技术存在的上述不足，设计制作加热核心机构，将加热器放置与整个测试壳体的中心部，使升降温幅度做到精确控制，提高加热效率，减少热量逸散。

本实用新型的技术解决方案：温度测试装置加热核心机构，其结构包括支架，支架底部连接底座，底座中心开有散热孔，支架的中心开有产品固定孔，支架上设4块PTC加热片。

优选的，所述的支架与底座垂直连接。

优选的，所述的4块PTC加热片分2组，每组2块，2组PTC加热片分别设置在支架的两个面上。

优选的，所述的PTC加热片在支架的一个面上设置在两个对角上，另一个面上的2块PTC加热片与已设置的PTC加热片交错设置。

优选的，所述的支架的上部和下部分别设一个温度传感器。

优选的，所述的PTC加热片的数据端连接控制器的数据端。

优选的，所述的温度传感器的数据端连接控制器的数据端。

本实用新型的优点：加热核心机构加装2组共4块PTC加热片，每块单独控制，加热核心机构装有上下两个温度传感器，通过温度变化，可在控制器中演算出测试产品的正确温度；提升了加热散热效率，减少了热量逸散，稳定了测试温度，局部加热散热效率提升100％，控制温度误差为±0.5℃。

附图说明

图1是温度测试装置加热核心机构的结构示意图。

图中的1是支架、2是底座、3是散热孔、4是产品固定孔、5是PTC加热片。

具体实施方式

下面结合实施例和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

如图1所示，温度测试装置加热核心机构，其结构包括支架1，支架1底部连接底座2，底座2中心开有散热孔3，支架1的中心开有产品固定孔4，支架1上设4块PTC加热片5。

所述的支架1与底座2垂直连接。

所述的4块PTC加热片5分2组，每组2块，2组PTC加热片5分别设置在支架1的两个面上。

所述的PTC加热片5在支架1的一个面上设置在两个对角上，另一个面上的2块PTC加热片5与已设置的PTC加热片5交错设置。

所述的支架1的上部和下部分别设一个温度传感器(未图示)。

所述的PTC加热片5的数据端连接控制器的数据端。

所述的温度传感器的数据端连接控制器的数据端。

以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.温度测试装置加热核心机构，其特征包括支架(1)，支架(1)底部连接底座(2)，底座(2)中心开有散热孔(3)，支架(1)的中心开有产品固定孔(4)，支架(1)上设4块PTC加热片(5)。

2.如权利要求1所述的温度测试装置加热核心机构，其特征是所述的支架(1)与底座(2)垂直连接。

3.如权利要求1所述的温度测试装置加热核心机构，其特征是所述的4块PTC加热片(5)分2组，每组2块，2组PTC加热片(5)分别设置在支架(1)的两个面上。

4.如权利要求3所述的温度测试装置加热核心机构，其特征是所述的PTC加热片(5)在支架(1)的一个面上设置在两个对角上，另一个面上的2块PTC加热片(5)与已设置的PTC加热片(5)交错设置。

5.如权利要求1、2、3或4所述的温度测试装置加热核心机构，其特征是所述的支架(1)的上部和下部分别设一个温度传感器。

6.如权利要求1、3或4所述的温度测试装置加热核心机构，其特征是所述的PTC加热片(5)的数据端连接控制器的数据端。

7.如权利要求5所述的温度测试装置加热核心机构，其特征是所述的温度传感器的数据端连接控制器的数据端。