CN205808708U - 一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，其组成包括轴承托盘、套壳、关节轴承和压盖，所述的轴承托盘安装在机床主轴的一端，所述的套壳与所述的轴承托盘采用活动连接的方式固定，所述的套壳与所述的压盖采用活动连接的方式固定，所述的关节轴承固定在所述的轴承托盘上和所述的套壳内壁上。所述的轴承托盘安装在机床主轴的末端，所述的压盖上设有顶紧螺栓孔，所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布。所述的关节轴承可上下调整平面高度。本实用新型用于静压主轴回转误差测试，通过调节压盖上的螺钉，可减小装夹结构与主轴之间的装配误差，操作方便成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，属于机械夹具技术/超精密测量领域。
背景技术
主轴是机床的基本结构单元，机床主轴的回转误差直接反应机床动态性能的优劣。实现机床主轴回转误差准确有效的检测是研究机床动态特性以及提高机床加工精度的重要环节。因此，建立高精度高可靠性的主轴回转误差检测系统并在此基础上系统地开展主轴系统回转误差运动的检测与分析具有重要的工程应用价值与现实意义。
目前，主轴回转误差测试系统通常由高精度电容或电感位移传感器、标准球和计算机等组成，传感器的性能、标准球的加工精度决定了该种测试系统的测试精度，然而该种测量系统传感器易受环境的干扰，影响最终主轴回转误差测试结果。因此，提出了一种基于动态干涉仪的主轴回转误差测试系统，该种测试方法动态干涉仪作为测量传感器，平晶作为检测基准，通过干涉仪实时采集获取平晶表面三维形貌，通过分析平晶形貌信息获取主轴回转误差，平晶是高精密光学元件。因此，平晶的装夹方式影响着主轴回转测试的测量结果。
常用的平晶检测系统都是由激光动态干涉仪、平晶装夹结构、计算机以及图像处理软件等设备组成，由于平晶是高精密光学元件，稍有外力作用在平晶表面都会引起平晶表面三维结构的变化，甚至平晶自身的重力都会引起平晶表面三维形貌的变化，因此在装配待检测平晶时，尽量避免产生装夹结构与平晶产生装夹应力，以免在产生的应力破坏平晶表面的三维形貌；那么当平晶在处于回转过程时，将会引入新的干扰因素影响平晶表面三维形貌的测量。根据现有平晶的装夹结构，尚未发现能适用与在动态回转过程中检测平晶平面度的专用夹具。因此，本文设计一种用于回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，该装夹结构具有结构简单、操作方便以及装夹应力小等特点。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有装夹技术存在的不足，提供一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，通过调节关节轴承平面高度来间接调整平晶平面与回转轴线的垂直度。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，所述的平晶装夹调整结构包括轴承托盘、套壳、关节轴承和压盖，所述的轴承托盘安装在机床主轴的一端，所述的套壳与所述的轴承托盘采用活动连接的方式固定，所述的套壳与所述的压盖采用活动连接的方式固定，所述的关节轴承固定在所述的轴承托盘上和所说的套壳内壁上。
所述的轴承托盘安装在机床主轴的末端。
所述的压盖上设有顶紧螺栓孔，所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装，所述的压盘的外部分别设有均匀分布的调节螺钉。
所述的压盖具有凹形结构，便于加入硅胶类垫圈。
所述的压盖下面处放有环形垫圈。
所述的关节轴承可上下调整平面高度
所述的关节轴承固定在所述的轴承托盘和所述的的套壳内壁上。
有益效果：
1、本实用新型的轴承托盘安装在机床主轴的末端。通过顶紧螺栓孔安装顶紧螺钉进行固定。并在所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布安装配重块，能够有效防止装夹结构在回转过程中发生偏振。
2、本实用新型的压盘的外部分别设有均匀分布的调节螺钉，通过调节螺钉即可调节平晶平面与回转轴线的垂直度，省时便捷。
3、本实用新型的套壳壁上均匀分布3个螺栓孔，通过调节螺钉可装配不同口径的光学平晶，适用性强。
4、本实用新型的关节轴承上表面设有硅胶垫片，能够有效避免光学平晶与关节轴承刚性接触而破坏平晶表面结构，安全性高。
5、本实用新型的压盖具有凹形结构，便于加入硅胶类垫圈，在调节光学平晶工作平面与回转轴线的垂直度时，能够避免光学平晶与压盖发生刚性接触而破坏平晶表面结构。
6、本实用新型的压盖、套壳、轴承托盖采用活动连接，关节轴承从套壳顶部往下装入，实验完毕后从套壳底部取出，操作简单方便。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型压盖的结构示意图；
图3为本实用新型套壳的结构示意图；
图4为本实用新型轴承托盖的结构示意图；
图5为本实用新型关节轴承的结构示意图；
图6为本实用新型光学平晶的结构示意图；
图中：1-压盖、2-轴承托盘、3-套壳、4-关节轴承、5-顶紧螺栓孔、6-调节螺钉、7-凹形结构、8-环形垫圈、9-光学平晶、10-硅胶类垫圈。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。
一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，所述的平晶装夹结构包括压盖1、轴承托盖2、套壳3和关节轴承4。所述的轴承托盖2安装在机床主轴的一端，所述的套壳3与所述的轴承托盘2采用活动连接的方式固定，所述的套壳3与所述的压盖1采用活动连接的方式固定，所述的关节轴承4固定在所述的轴承托盘2上和所述的套壳3内壁上。
所述的轴承托盘2安装在机床主轴的末端。
所述的压盖上1设有顶紧螺栓孔5。
所述的压盖1的外部分别设有均匀分布的调节螺钉6。
所述的压盖1具有凹形结构7，便于加入硅胶类垫圈10。
所述的光学平晶9上下各放一个所述的硅胶类垫圈10，能够有效避免光学平晶与关节轴承和环形垫圈刚性接触而破坏平晶表面结构，安全性高。
上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下做出各种变化。
Claims (6)
1.一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，其特征在于，所述的平晶装夹调整结构包括轴承托盘、套壳、关节轴承和压盖，所述的轴承托盘安装在机床主轴的一端，所述的套壳与所述的轴承托盘采用活动连接的方式固定，所述的套壳与所述的压盖采用活动连接的方式固定，所述的关节轴承固定在所述的轴承托盘上和所述的套壳内壁上。
2.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，其特征在于：所述的轴承托盘安装在机床主轴的一端。
3.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，其特征在于：所述的压盖上设有顶紧螺栓孔，所述的顶紧螺栓孔周围均匀分布，所述的压盖的外部分别设有均匀分布的调节螺钉。
4.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，其特征在于：所述的压盖的下面处放有环形垫圈。
5.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，其特征在于：所述的关节轴承放在所述的轴承端盖上和所说的套壳内壁上，且关节轴承上表面设有硅胶类垫片。
6.根据权利要求1所述的一种用于主轴回转误差测试装置的平晶装夹调整结构，其特征在于：所述的压盖具有凹形结构，便于加入硅胶类垫圈。
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| CN106780562A (zh) * | 2017-01-16 | 2017-05-31 | 哈尔滨理工大学 | 一种基于像差图图像处理的主轴回转误差新算法 |
| CN110186873A (zh) * | 2019-06-25 | 2019-08-30 | 东北大学秦皇岛分校 | 一种磁动式光学相干层析成像的降噪装置 |
| CN113280896A (zh) * | 2021-06-22 | 2021-08-20 | 沈朋 | 一种水表密封性检测装置及方法 |
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2016
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