CN205808332U - 一种光学膜片翘曲度检验装置 - Google Patents
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Abstract
一种光学膜片翘曲度检验装置，包括水平底座，还包括垂直固定在底座上的测量面，所述测量面上刻有网格刻度线；所述测量面的顶部开有与底座平行的滑轨，所述滑轨上设有始终与测量面垂直的滑杆，所述滑杆上设有滑块，滑块上装有可伸缩的刻度尺，所述刻度尺垂直于底座。使用本实用新型所述装置对光学膜片的翘曲度检验，可以最大化的减少人为因素影响，通过测量面以及移动滑块，也可以很方便的测量翘曲量。
Description
技术领域
本实用新型属于光学膜片检测领域，具体的说，涉及一种光学膜片翘曲度检验装置。
背景技术
在现有技术中，光学膜片的质检程序分为在线检和线下检，在线检主要通过一些在线光学检测设备对产品进行光学检测，而后对异常数据进行对比判定，并在产品上进行异常打印；线下检测包括目视检测、树脂黏着度测试、翘曲度测试、保护膜黏度测试、wet-out检验、保护膜入料检验、残胶瑕疵测试、光学量测、可靠度测试、收缩率等测试，其中，翘曲度测试是非常重要的测试项目之一。翘曲的原因有许多种，如温度及湿度的变化、冷热交替冲击、模切等，如果光学膜片发生翘曲，将会影响最终整个背光模组的质量。
在现实生产中，光学膜片的翘曲度检验基本都是以将光学膜片放置在水平的平台上而后通过目测的方式完成的，其检验结果受检验者的视线、角度等影响较大。
发明内容
本实用新型旨在提供一种专用于光学膜片翘曲度检验的装置，尽量减少人为误差，使得结果更准确。
具体方案如下：
一种光学膜片翘曲度检验装置，包括水平底座，还包括垂直固定在底座上的测量面，所述测量面上刻有网格刻度线；所述测量面的顶部开有与底座平行的滑轨，所述滑轨上设有滑杆，所述滑杆上设有滑块，滑块上装有可伸缩的刻度尺，所述刻度尺垂直于底座。
进一步地，所述测量面为两个，两个测量面彼此垂直且固定连接。
使用本实用新型所述装置对光学膜片的翘曲度检验，可以最大化的减少人为因素影响，通过测量面以及移动滑块，也可以很方便的测量翘曲量。
附图说明
图1为本实用新型所述装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型作进一步的说明。
如图1所示，两个测量面21、22彼此垂直且均垂直固定在底座1上，测量面21、22上刻有网格刻度线，测量面21、22的顶部开有与底座平行的滑轨3，滑轨3上设有滑杆4，滑杆4上设有滑块5，滑块5上装有可伸缩的刻度尺6，刻度尺6垂直于底座1。
在使用时，首先将待测光学膜片紧贴两个测量面21、22的直角顶点放置在底座1上，移动滑轨3上的滑杆4，使其处于其中一个测量面的中间位置；而后移动滑杆4上的滑块5，使其垂直投影在待测膜片的中心位置，调整刻度尺6的长度使其刚好接触到待测膜片，读取刻度尺6的读数；与此同时，透过测量面21、22对待测膜片进行观察，视线与待测膜片平行，观察有无翘曲，同时读取待测膜片上边缘在测量面21、22上的读数与刻度尺6上的读数做对比，二者结合判断有无翘曲的发生。若有翘曲，则应按保持翘曲方向向上的原则调整待测膜片的位置，而后再次读取上述读数。
在确定发生翘曲后，读取测量面21、22上待测膜片四边的上下边缘数据以及翘曲发生点的数据，通过移动刻度尺6的位置并读取刻度尺6上数据来对测得结果进行验证，最终计算得出翘曲量。
调整滑杆4及滑块5的位置，保持刻度尺6的伸出长度不变，检验待测膜片非边缘位置有无翘曲的发生，若待测膜片的内部发生了翘曲，则通过读取滑块5在测量面21、22上的位置以及刻度尺6上读数即可计算出翘曲发生的点和翘曲量。
Claims (2)
1.一种光学膜片翘曲度检验装置，包括水平底座，其特征在于：还包括垂直固定在底座上的测量面，所述测量面上刻有网格刻度线；所述测量面的顶部开有与底座平行的滑轨，所述滑轨上设有始终与测量面垂直的滑杆，所述滑杆上设有滑块，滑块上装有可伸缩的刻度尺，所述刻度尺垂直于底座。
2.如权利要求1所述的光学膜片翘曲度检验装置，其特征在于：所述测量面为两个，两个测量面彼此垂直且固定连接。
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2016
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