CN205679207U - 用于检测led芯片与透镜之间同心度的影像采集装置 - Google Patents
用于检测led芯片与透镜之间同心度的影像采集装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置。本实用新型的技术方案是:包括能够上下左右运动的基座,所述基座位于LED芯片模组上方,所述基座上设置有安装块和影像获取机构,所述安装块上可拆卸设置有辅助支架,所述辅助支架包括腔体,所述辅助支架上开设有位于影像获取机构正下方的透光孔,所述腔体内设置有UV照明装置,所述辅助支架位于LED芯片模组的正上方。本实用新型提供的装置填补了透镜式发光模组检测领域的技术空白,对于生产透镜式发光模组的生产活动能够大大降低其生产成本,产品良率得到了提升,同时也提高了生产效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置。
背景技术
在显示器中用到的发光模组的一般结构通常包括在PCB上采用SMT方式安装的LED芯片,然后在每个LED芯片上加装透镜组成LED芯片模组。如果LED芯片与透镜之间同心度较大,那么后续生产出的发光模组在工作时就会产生LED芯片之间发光(色度、辉度)不均一的情况,甚至透镜与其它待组装的部件之间产生干涉的情况发生,这样就会降低产品良率。现有技术中暂时没有针对LED芯片与透镜之间同心度的检测方案,所以如何在生产中能够及时快速检测出LED芯片与透镜之间的同心度,从而能够快速排出不合格产品以提高产品合格率和降低成本,这正是本发明人所要解决的问题。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型的主要目的在于提供一种能够快速检测LED芯片和透镜之间同心度信息的影像获取机构。
为实现上述目的,本实用新型提供了如下技术方案:一种用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置,包括能够上下左右运动的基座,所述基座位于LED芯片模组上方,所述基座上设置有安装块和影像获取机构,所述安装块上可拆卸设置有辅助支架,所述辅助支架包括腔体,所述辅助支架上开设有位于影像获取机构正下方的透光孔,所述腔体内设置有UV照明装置,所述辅助支架位于LED芯片模组的正上方。
优选的,所述UV照明装置包括设置在腔体中的灯板,所述灯板上设置有若干呈圆周排列的蓝光LED形成的外圈以及若干呈圆周排列的白光LED形成的内圈,所述外圈和内圈同心设置,所述灯板上设置有通孔,所述通孔与透光孔同心设置。
优选的,所述外圈和内圈的数量均为2个。
优选的,所述UV照明装置下方设置有环状扩散板, 所述扩散板设置在腔体下部,所述扩散板上与透光孔同心设置。
优选的,所述安装块上设置有安置座,所述安置座上设置有若干第一螺纹孔,所述辅助支架包括安装部,所述安装部上设置有与所述若干第一螺纹孔配合的第二螺纹孔。
本实用新型相对于现有技术具有如下优点,UV照明装置能够通电发光并通过透光孔照射位于其正下方的LED芯片模组,同时影像获取机构及时对每个LED芯片模组的影像进行采集,每一对LED芯片的中心点以及透镜的中心点的位置都可以采集到,通过后台处理系统的运算来判断该组LED芯片和透镜的同心度是否符合要求。这样的检测方式十分高效和精确,本装置填补了该领域的技术空白,对于生产透镜式发光模组的生产活动能够大大降低生产成本,产品良率得到了提升,同时也提高了生产效率。
附图说明
图1为本实用新型的用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置的结构示意图;
图2为本实用新型的辅助支架的结构示意图;
图3为图2的分解图;
图4为获取LED芯片以及透镜的中心点时的示意图。
图中:1、基座;2、LED芯片模组;3、影像获取机构;4、安装块;5、辅助支架;6、透光孔;7、腔体;8、UV照明装置;9、灯板;10、外圈;11、内圈;12、通孔;13、扩散板;14、安置座;15、安装部;16、LED芯片;17、透镜。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步说明。
如图1所示,一种用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置,包括能够上下左右运动的基座1,基座1位于LED芯片模组2上方,基座1上设置有安装块4和影像获取机构3,安装块4上可拆卸设置有辅助支架5,辅助支架5包括腔体7,辅助支架5上开设有位于影像获取机构3正下方的透光孔6,腔体7内设置有UV照明装置8,辅助支架5位于LED芯片模组2的正上方。
本实用新型的装置的工作原理是,基座1能够沿着待检测灯条上的LED芯片模组2移动(基座1的结构为本领域技术人员公知常识,本实施例不做赘述),其中UV照明装置8能够通电发光并通过透光孔6照射位于其正下方的LED芯片模组2,同时影像获取机构3及时对每个LED芯片模组2的影像进行采集,参照图4每一对LED芯片16的中心点以及透镜17的中心点的位置都可以采集到,通过后台处理系统的运算来判断该组LED芯片16和透镜17的同心度是否符合要求。这样的检测方式十分高效和精确,本装置填补了该领域的技术空白,对于生产透镜式发光模组的生产活动能够大大降低生产成本,产品良率得到了提升,同时也提高了生产效率。
优选的, UV照明装置8包括设置在腔体7中的灯板9,灯板9上设置有若干呈圆周排列的蓝光LED形成的外圈10以及若干呈圆周排列的白光LED形成的内圈11,外圈10和内圈11同心设置,灯板9上设置有通孔12,通孔12与透光孔6同心设置。蓝光LED和白光LED组成UV照明装置8,配合影像获取机构3能够对LED芯片16和透镜17的中心点位置进行抓取。本实施例中的影像获取机构3为UV相机。
进一步的,外圈10和内圈11的数量均为2个。这样设置的好处是能够保证UV照明装置8的光照强度,保证UV相机能够准确快速捕捉到LED芯片16和透镜17的中心点位置。
改进的, UV照明装置8下方设置有环状扩散板13,扩散板13设置在腔体7下部,扩散板13上与透光孔6同心设置。环状扩散板13的作用是使得UV照明装置8发出的光线能够均匀的照射到下方的LED芯片16和透镜17上,同样是为了保证UV相机能够准确快速捕捉到LED芯片16和透镜17的中心点位置。
优选的,安装块4上设置有安置座14,安置座14上设置有若干第一螺纹孔,辅助支架5包括安装部15,安装部15上设置有与所述若干第一螺纹孔配合的第二螺纹孔。本实施例中辅助支架5和安装块4的连接方式采用螺栓连接,这样设置的好处是连接稳定并且拆装方便。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,本实用新型的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理前提下的若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1.一种用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置,其特征在于:包括能够上下左右运动的基座,所述基座位于LED芯片模组上方,所述基座上设置有安装块和影像获取机构,所述安装块上可拆卸设置有辅助支架,所述辅助支架包括腔体,所述辅助支架上开设有位于影像获取机构正下方的透光孔,所述腔体内设置有UV照明装置,所述辅助支架位于LED芯片模组的正上方。
2.根据权利要求1所述的用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置,其特征在于:所述UV照明装置包括设置在腔体中的灯板,所述灯板上设置有若干呈圆周排列的蓝光LED形成的外圈以及若干呈圆周排列的白光LED形成的内圈,所述外圈和内圈同心设置,所述灯板上设置有通孔,所述通孔与透光孔同心设置。
3.根据权利要求2所述的用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置,其特征在于:所述外圈和内圈的数量均为2个。
4.根据权利要求3所述的用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置,其特征在于:所述UV照明装置下方设置有环状扩散板,所述扩散板设置在腔体下部,所述扩散板上与透光孔同心设置。
5.根据权利要求1所述的用于检测LED芯片与透镜之间同心度的影像采集装置,其特征在于:所述安装块上设置有安置座,所述安置座上设置有若干第一螺纹孔,所述辅助支架包括安装部,所述安装部上设置有与所述若干第一螺纹孔配合的第二螺纹孔。
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