CN205595362U - 一种砷化镓基高电压黄绿光发光二极管芯片 - Google Patents

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林鸿亮
张双翔
杨凯
何胜
李洪雨
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Abstract

一种砷化镓基高电压黄绿光发光二极管芯片,属于光电子技术领域,特点是在p型载流子限制层和GaP窗口层之间还设置了GaP电阻层。本实用新型制作工艺简单、合理,制成的产品优质、稳定。在不牺牲产品可靠性的同时将串联电阻集成在LED芯片中,在 20 mA工作电流条件下,7 mil ×7 mil尺寸LED芯片的工作电压可达2.35 V以上,可以直接使用与GaP基二元系高电压黄绿光LED兼容的驱动电路。

Description

一种砷化镓基高电压黄绿光发光二极管芯片
技术领域
本实用新型属于光电子技术领域,具体涉及AlGaInP四元系发光二极管(LED)技术领域。
背景技术
图1展示了传统的正装AlGaInP四元系黄光LED的结构,即在GaAs基板101上,自下而上依次生长为缓冲层102、Bragg反射镜层103、n型限制层104、多量子阱有源区层105、p型限制层106和GaP窗口层107,并将第一电极108制作于GaP窗口层107上。其GaP窗口层107的主要作用是提供横向电流扩展,提升LED芯片发光亮度。
在AlGaInP四元系LED得到大面积推广前,GaP基黄绿光LED 是使用最为广泛使用的LED芯片。其特点是亮度需求不高,同时有大量的成熟的、针对其光电参数的驱动电路及全套使用方案。相较三元系LED,如今的GaAs基AlGaInP四元系黄绿光LED芯片可靠性更好,生产规模大、边际成本更小。然而,由于使用了不同的半导体材料 、禁带宽度不同,传统的四元系黄光LED的工作电压通常在1.9 V到2.2 V,低于GaP基二元系LED的2.3 V至3.0 V。虽然传统AlGaInP四元系LED芯片可以通过串联分立电阻的方式匹配原有为GaP基二元系LED设计的驱动电路,但这种方案会提升封装难度、增加封装成本。因此, 传统的GaAs基AlGaInP四元系LED无法直接替代低亮度的GaP基二元系LED芯片。
实用新型内容
本实用新型旨在不改变LED芯片外观尺寸、不增加分立电阻、不牺牲器件可靠性的前提下,提供一种使用MOCVD制造砷化镓基AlGaInP四元系、集成串联电阻的、20 mA工作电压超过2.3 V的高电压黄绿光LED芯片方案,从而扩宽AlGaInP四元系LED芯片的应用范围。
本实用新型包括依次设置在n型GaAs基片一侧的n型GaAs缓冲层、n型Bragg反射镜层、n型载流子限制层、多量子阱有源区层、p型载流子限制层、GaP电阻层和GaP窗口层,在GaP窗口层上设置第一电极,在n型GaAs基片的另一侧设置第二电极.
本实用新型的特点是:在p型载流子限制层和GaP窗口层之间还设置了GaP电阻层。
本实用新型通过使用低载流子浓度n型GaAs基板,在芯片负极一侧增加串联电阻,该层紧贴封装底座、散热良好,串联电阻产生的热量不会对有源区产生影响;同时,通过补偿掺杂的GaP层增加正极的串联电阻,该层材料紧贴封装材料散热较好,同时GaP材料结合能比AlGaInP、禁带较宽、其光电特性和老化特性对温升不敏感。因此,本设计在不牺牲产品可靠性的同时将串联电阻集成在LED芯片中,在 20 mA工作电流条件下,7 mil ×7 mil尺寸LED芯片的工作电压可达2.35 V以上 ,可以直接使用与GaP基二元系高电压黄绿光LED兼容的驱动电路。
附图说明
图1为传统GaAs基AlGaInP四元系黄光LED芯片结构剖视图。
图2为本实用新型的GaAs基AlGaInP四元系高电压黄绿光芯片剖视图。
具体实施方式
一、外延片及芯片生产工艺步骤:
1、将室温下载流子浓度低于4×1017 cm-3的低载流子浓度n型GaAs基片置于MOCVD系统中的反应腔体中,加热至600℃~700℃,去除基片表面的钝化层,并在n型GaAs基片的一侧生长一定厚度的、掺有硅元素的n型GaAs缓冲层。
2、在GaAs 缓冲层上生长Bragg反射镜层。
3、在减反射层上沉积 n型载流子限制层。
4、在n型载流子限制层上沉积多量子阱有源区层。
5、在多量子阱有源区层上沉积 p型载流子限制层。
6、在p型载流子限制层上生长一定厚度的GaP电阻层,同时添加Mg作为p型掺杂剂、Si作为n型掺杂剂, 并呈现特定的深度分布,增加GaP层材料电阻率。
7、在GaP电阻层上沉积GaP窗口层。
8、在n型GaAs基片的另一侧制作第二电极。
以上使用金属有机化合物气相沉积设备(MOCVD)将GaAs基片制备成具有高电压黄绿光LED外延结构的高电压黄绿光LED外延片。
8、通过金属蒸镀、退火、光刻、湿法腐蚀、研磨、刀片切割等标准AlGaInP四元系LED芯片生产工艺将以上GaP基四元系AlGaInP外延片加工成独立的高电压黄绿光LED芯片。
二、芯片结构分析:
如图2所示为采用以上工艺制成的低亮度LED芯片,其中 GaAs基板201包括第一表面和第二表面,从基板201的第一表面自下而上为缓冲层202、Bragg反射镜层203、n型载流子限制层204、多量子阱有源区层205、p型限制层206、GaP电阻层207和GaP窗口层208。第一电极209形成于GaP窗口层208之上,第二电极209形成于GaAs基板201的第二表面之上。
三、评价尺寸为7.0×7.0 mil2四元系高电压黄绿光LED器件的光电特性列于下表:
 样品编号 VF (V, @20mA) LOP (mcd, @20mA) WLD(nm, @20mA)
#1 2.39 45.3 569.8
#2 2.40 45.2 569.9
#3 2.38 45.4 569.9
#4 2.40 45.3 569.6
平均值 2.39 45.3 569.8
由上表可见:在第一电极和第二电极通电后流过电流的结果,发射出了主波长平均值为569.8 nm的黄绿光,正向流过20 mA电流时的正向电压平均值为2.39 V,法向光强均值为45.3 mcd。

Claims (1)

1.一种砷化镓基高电压黄绿光发光二极管芯片,其特征在于:包括依次设置在n型GaAs基片一侧的n型GaAs缓冲层、n型Bragg反射镜层、n型载流子限制层、多量子阱有源区层、p型载流子限制层、GaP电阻层和GaP窗口层,在GaP窗口层上设,在GaP窗口层下方设置GaP电阻层。
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