CN205595322U - 一种半导体桥的封装结构 - Google Patents

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张文彬
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Abstract

本实用新型涉及半导体封装领域,尤其涉及到一种火工品半导体桥体的封装结构。一种半导体桥的封装结构,包括陶瓷塞5,陶瓷塞5上设置有电极引线1和芯片4,所述的电极引线1穿过陶瓷塞5设置,所述的芯片4固定设置在陶瓷塞5上,电极引线1从陶瓷塞5上伸出的部分与芯片4之间设置有金属化导带3,电极引线1通过金属化导带3与芯片4连接,金属化导带3与电极引线1和芯片4的连接部位均设置有导电连接体2。本实用新型的封装结构通过在陶瓷塞制作金属化导带,金属化导带与电极引线和芯片的连接部位均设置有导电连接体,导电连接体能够避免因装药压力导致的电极引线断裂、失效。

Description

一种半导体桥的封装结构
【技术领域】
本实用新型涉及半导体封装领域,尤其涉及到一种火工品半导体桥体的封装结构。
【背景技术】
半导体桥(Semiconductor Bridge,SCB)是利用半导体膜或金属-半导体复合膜作为发火元件,相较于金属桥丝发火品,以其具有发光能量低、响应速度快、使用安全等优点,已被广泛应用。
SCB具有不同于一般金属桥丝火工品的点火特性,这是由桥体本身决定的。桥体材料为重掺杂硅,在受电激励下,由于加热作用,桥体材料从常温、融化、汽化到形成等离子状态,与超爆药直接加压接触可引爆起爆药,达到点火目的。
半导体桥的核心为半导体桥芯片,其结构由高阻硅片或蓝宝石基片上制作“H”形重掺杂多晶硅作为桥体,桥体两端通过蒸发金属Al或Ni引出焊盘,焊盘与陶瓷塞电极通过Al丝键合实现电连接。再直接在半导体桥体表面进行压装起爆点火药,压力一般为90Mpa,就形成了半导体桥起爆器。由于半导体桥实现点火功能要与起爆药直接紧密接触,压装压力一般为90Mpa,两端的Al引线会受力发生塌落并承受很大的压力,导致Al受损断线,发生开路失效。
【实用新型内容】
为解决现有技术中存在的问题,本实用新型的目的在于提供一种半导体桥的封装结构,该结构可避免装药压力导致的引线断裂、失效。
一种半导体桥的封装结构,包括陶瓷塞5,陶瓷塞5上设置有电极引线1和芯片4,所述的电极引线1穿过陶瓷塞5设置,所述的芯片4固定设置在陶瓷塞5上,电极引线1从陶瓷塞5上伸出的部分与芯片4之间设置有金属化导带3,电极引线1通过金属化导带3与芯片4连 接,金属化导带3与电极引线1和芯片4的连接部位均设置有导电连接体2。
所述的导电连接体2涂覆在金属化导带3与电极引线1和芯片4的连接部位。
所述的导电连接体2为导电银浆料。
所述的金属化导带3为钼锰浆料。
所述的电极引线1和芯片4在陶瓷塞5的表面上对称设置。
所述的芯片4设置在陶瓷塞5的中心位置。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
本实用新型的封装结构通过在陶瓷塞制作金属化导带,金属化导带与电极引线和芯片的连接部位均设置有导电连接体,导电连接体能够避免因装药压力导致的电极引线断裂、失效。
【附图说明】
图1是本实用新型的结构示意图,其中图1(a)为俯视图,图1(b)为主视图。
图中,1-电极引线,2-导电连接体,3-金属化导带,4-芯片,5-陶瓷塞。
【具体实施方式】
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型或实用新型进行详细说明。
如图1所示,本实用新型的一种半导体桥的封装结构,包括陶瓷塞5,陶瓷塞5上设置有电极引线1和芯片4,所述的电极引线1穿过陶瓷塞5设置,所述的芯片4固定设置在陶瓷塞5上,电极引线1从陶瓷塞5上伸出的部分与芯片4之间设置有金属化导带3,电极引线1通过金属化导带3与芯片4连接,金属化导带3与电极引线1和芯片4的连接部位均设置有导电连接体2。
在陶瓷塞5的上表面,芯片4与电极引线1之间采用丝网印刷方式,用导电浆料(钼锰浆料)印制金属化导带3,通过高温合金与陶瓷塞5形成结合紧密的导带。在陶瓷塞5上安装芯片4后,在芯片4的金属化区和金属化导带3之间的连接部位,以及金属化导带3和电极引线 1之间的连接部位均涂覆导电银浆料,在150℃充氮环境下固化1小时,实现芯片5与外电极之间的导电连接。
本实用新型的封装结构通过在陶瓷塞制作金属化导带,金属化导带与电极引线和芯片的连接部位均设置有导电连接体,导电连接体能够避免因装药压力导致的电极引线断裂、失效。

Claims (6)

1.一种半导体桥的封装结构,其特征在于,包括陶瓷塞(5),陶瓷塞(5)上设置有电极引线(1)和芯片(4),所述的电极引线(1)穿过陶瓷塞(5)设置,所述的芯片(4)固定设置在陶瓷塞(5)上,电极引线(1)从陶瓷塞(5)上伸出的部分与芯片(4)之间设置有金属化导带(3),电极引线(1)通过金属化导带(3)与芯片(4)连接,金属化导带(3)与电极引线(1)和芯片(4)的连接部位均设置有导电连接体(2)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体桥的封装结构,其特征在于,所述的导电连接体(2)涂覆在金属化导带(3)与电极引线(1)和芯片(4)的连接部位。
3.根据权利要求1所述的一种半导体桥的封装结构,其特征在于,所述的导电连接体(2)为导电银浆料。
4.根据权利要求1所述的一种半导体桥的封装结构,其特征在于,所述的金属化导带(3)为钼锰浆料。
5.根据权利要求1所述的一种半导体桥的封装结构,其特征在于,所述的电极引线(1)和芯片(4)在陶瓷塞(5)的表面上对称设置。
6.根据权利要求1所述的一种半导体桥的封装结构,其特征在于,所述的芯片(4)设置在陶瓷塞(5)的中心位置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106765308A (zh) * 2016-11-28 2017-05-31 中国电子科技集团公司第四十八研究所 一种直插式薄膜桥点火器及其制备方法

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