CN205539414U - Led灯具老化测试架 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种LED灯具老化测试架，解决了在需要对测试灯具进行反复多次的通断电测试时，需要人为手动断开或连通测试灯具的供电回路的问题。其技术方案要点是，本实用新型包括架子、电源控制箱，设置于架子上的若干分层、铺设于分层上的耐高温绝缘板，还包括设于分层上的测试装置，测试装置包括供电模块、振荡模块和间歇性驱动模块。供电模块耦接于电源控制箱并输出供电信号，振荡模块耦接于供电模块并接收供电信号以输出振荡信号，间歇性驱动模块耦接于振荡模块并响应于接收的振荡信号以控制负载的间歇性通断电状态的切换。本实用新型可实现对不同类型的LED灯具成品进行自动的多次不间隔断电冲击测试。

Description

LED 灯具老化测试架

技术领域

本实用新型涉及一种老化测试架，特别涉及一种LED灯具老化测试架。

背景技术

老化测试架是专用于老化测试时模拟产品在现实使用条件中设计的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程。LED灯具成品在出厂销售前，需要先对LED灯具成品进行老化测试。为进一步实验验证LED灯具的可靠性，市场对LED灯具成品的老化测试提出了新的需求，要求在对LED灯具老化测试的同时进行反复多次的通断电测试，以提高产品可靠性评估的准确性。

目前市场上普遍使用的老化测试架一般只能一直供电，且只能提供一种电压，申请号201520476236.2公开的LED老化测试架，其主要通过在架子上设置电源控制箱，与电源控制箱连接的可调节电压的调压器和铺设在架子的分层上与调压器连接的线排以及依次排列在线排上且与线排连接用于连接测试灯具的接线端子来实现对灯具在不同时间的电压或者不间隔的断电冲击情况下的测试，但该LED老化测试架需要通过人工手动操作电源控制箱或调压器来完成对测试灯具的供电回路的通断控制，这样一方面使得工作人员很难掌控不间隔断电的时间；另一方面，循环多次的间歇性通断电测试也需要耗费较大的人力成本。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种LED灯具老化测试架，以实现对不同类型的LED灯具成品进行自动的多次不间隔断电冲击测试。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种LED灯具老化测试架，包括用于提供电源信号的电源控制箱，还包括连接于电源控制箱的测试装置，所述测试装置包括供电模块、振荡模块和间歇性驱动模块，所述供电模块耦接于电源控制箱以接收电源信号并输出供电信号，所述振荡模块耦接于供电模块并接收供电信号以输出振荡信号，所述间歇性驱动模块耦接于振荡模块并响应于接收的振荡信号以对负载的导通与关断进行切换。

采用上述方案，通过设有的振荡模块来自动控制负载的间歇性的通断电状态切换，同时振荡模块可实现负载的循环多次的通断电状态切换。而且也使得原本负责手动控制灯具的通断电状态的工作人员从这部分工作内容中解脱出来，实现了自动化操作，同时通过自动控制灯具的通电时长和断电时长也提高了时间的精确性。

作为优选的，所述振荡模块包括通电时长调节单元，所述通电时长调节单元耦接于间歇性驱动模块以输出通电控制信号至间歇性驱动模块。

采用上述方案，根据待测试灯具的类型和功能特征的不同，可通过设有的通电时长调节单元对特定灯具的通电时长进行设定，使得老化架可适用于多种类型的灯具的老化测试，同时有针对性的设定通电时长也提高了对不同类型的灯具的测试的准确性。

作为优选的，所述振荡模块还包括断电时长调节单元，所述断电时长调节单元耦接于间歇性驱动模块以输出断电控制信号至间歇性驱动模块。

采用上述方案，根据待测试灯具的类型和功能特征的不同，可通过设有的断电时长调节单元对特定灯具的断电时长进行设定，使得LED灯具老化测试架具有单独的通电时长调节单元和断电时长调节单元，以实现对通电时长和断电时长的单独设定，使其满足不同类型或不同功能特征的灯具，同时也提高了对灯具的测试的准确性。

作为优选的，所述供电模块包括用于启闭供电模块的第一启动开关SB1。

作为优选的，还包括设有若干分层的架子，任意所述分层上均设有测试装置。

采用上述方案，在任意分层上均设有测试装置，以实现对置于每层上的待测试灯具进行单独控制；比如当只有第一层和第二层上有需要测试的灯具，而第三层及以上均没有需要测试的灯具时，工作人员通过操作第一启动开关SB1来启动第一层和第二层的测试装置，而第三层及以上则无需启动，同时也达到了省电的效果。

作为优选的，任意所述分层上均铺设有耐高温绝缘板。

采用上述方案，因灯具通电后会发热，尤其是在长时间的通电情况下，会达到较高的温度，为避免因灯具通电后发热而灼烧铺设在分层上的隔板，可选用耐高温绝缘板作为分层的隔板使用。

作为优选的，所述耐高温绝缘板与分层之间为可拆卸连接。

采用上述方案，方便对耐高温绝缘板的更换。

作为优选的，所述耐高温绝缘板上穿设有支撑杆。

作为优选的，所述支撑杆设有若干且沿着耐高温绝缘板的长度方向上依次排列。

采用上述方案，把需检测灯具依次置于相邻的支撑杆之间形成的置物行内，使得灯具有序排列，避免灯具与灯具之间相互叠压。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

1.通过设有的测试装置实现灯具的自动化、循环多次的通断电测试；

2.通过振荡模块中设有的通电时长调节单元和断电时长调节单元来实现对不同类型或不同功能特征的灯具进行通、断电时长的定制设定；

3.通过在每层上单独设置测试装置来实现对每一分层的工作回路的单独控制；

4.通过在每一分层上铺设耐高温绝缘板可避免因灯具通电后发热灼烧板面。

附图说明

图1为本实施例的结构示意图；

图2为本实施例的实现逻辑示意图；

图3为测试装置的电路示意图。

图中：1、架子；2、电源控制箱；3、分层；4、耐高温绝缘板；5、测试装置；6、供电模块；7、振荡模块；8、间歇性驱动模块；9、支撑杆；71、通电时长调节单元；72、断电时长调节单元。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。

本实施例公开了一种LED灯具的老化测试架，如图1至2所示，包括架子1，安装于架子上的电源控制箱2，设置于架子上的若干分层3，铺设于每个分层3上的耐高温绝缘板4和穿设于耐高温绝缘板4上的支撑杆9。分层3的外缘向分层3所形成的图形中心延伸有支撑面，耐高温绝缘板4直接搁置于支撑面上以实现耐高温绝缘板与分层的可拆卸连接，此处支撑面未在附图中表示。支撑杆9设有多个且沿着耐高温绝缘板4的长度方向依次排列，位于耐高温绝缘板4的长度方向上的两侧的支撑杆9一一对应。

还包括安装于每个分层上的测试装置5，测试装置5包括供电模块6、振荡模块7和间歇性驱动模块8。供电模块6耦接于电源控制箱2并输出供电信号，振荡模块7耦接于供电模块6并接收供电信号以输出振荡信号，间歇性驱动模块8耦接于振荡模块7并响应于接收的振荡信号以控制负载实现间歇性的通断电状态切换。振荡模块7包括通电时长调节单元71和断电时长调节单元72。

如图3所示，供电模块6包括第一启动开关SB1、降压电容器C1、滤波电容器C3，电阻R0、R1、R2和R3,整流桥堆UR和稳压二极管VS1、VS2。第一启动开关SB1的一端耦接于220伏交流电压，另一端耦接于电阻R0的一端，电阻R0的另一端耦接于整流桥堆UR的1脚，降压电容器C1的一端耦接于电阻RO的一端，降压电容器C1的另一端耦接于电阻RO的另一端，整流桥堆UR的3脚耦接于220伏交流电压，整流桥堆UR的4脚接地，整流桥堆的2脚耦接于电阻R1的一端，电阻R1的另一端耦接于电阻R2的一端，电阻R2的另一端耦接于稳压二极管VS1的阴极，稳压二极管VS1的阳极接地；电阻R3的一端耦接于整流桥堆UR的2脚，电阻R3的另一端耦接于稳压二极管VS2的阴极，稳压二极管VS2的阳极接地；滤波电容器C3的正极端耦接于整流桥堆UR的2脚，滤波电容器C3的负极端接地。滤波电容器C3并联于电阻R3和稳压二极管VS2以及并联于电阻R1、R2和稳压二极管VS1。

如图3所示，振荡模块7包括集成电路IC，电阻R4、R5、R6、R7、R8和R9，电位器Rp1和Rp2，三极管Q1、Q2和Q3，电容器C2，集成电路IC可选用CD4541或CC4541型定时器数字集成电路。

通电时长调节单元71包括电阻R5，三极管Q1，电位器Rp1和电阻R9。三极管Q1的集电极耦接于集成电路IC的1脚，三极管Q1的基极耦接于电阻R5的一端，电阻R5的另一端耦接于集成电路IC的8脚，三极管Q1的发射极耦接于电位器Rp1的一端，电位器Rp1的另一端耦接于电阻R9的一端，电阻R9的另一端耦接于电阻R7的一端。断电时长调节单元72包括电阻R6，三极管Q2，电位器Rp2和电阻R8。三极管Q2的集电极耦接于集成电路IC的1脚，三极管的基极耦接于电阻R6的一端，电阻R6的另一端耦接于集成电路IC的8脚，三极管Q2的发射极耦接于电位器Rp2的一端，电位器Rp2的另一端耦接于的电阻R8的一端，电阻R8的另一端耦接于电阻R7的一端。

电容器C2的正极端耦接于集成电路IC的2脚，电容器C2的负极端耦接于电阻R7的一端，电阻R7的另一端耦接于集成电路IC的3脚，集成电路IC的8脚耦接于电阻R4的一端，电阻R4的另一端耦接于三极管Q3的基极，三极管Q3的发射极接地，三极管Q3的集电极耦接于继电器KM1的线圈的另一端，集成电路IC的5脚、6脚、7脚、9脚和10脚接地。

如图3所示，间歇性驱动模块8包括续流二极管VD1和继电器KM1的线圈。继电器KM1的线圈的一端耦接于整流桥堆UR的2脚，继电器KM1的线圈的另一端耦接于三极管Q3的集电极；续流二极管VD1的阴极耦接于继电器KM1的线圈的一端，续流二极管VD1的阳极耦接于继电器KM1的线圈的另一端。

当需要对分层上的灯具进行老化测试时，首先按下第一启动开关SB1，使供电模块6的回路导通，220伏交流电压经降压电容器C1降压，整流桥堆UR整流和滤波电容器C3滤波后，分为2路，一路经电阻R1、R2限流和稳压二极管VS1稳压后为集成电路IC提供工作电压；另一路经电阻R5限流和稳压二极管VS2稳压后为继电器KM1的线圈提供工作电压。

集成电路IC通电后，因集成电路IC的选择输出端9脚接的为高电平，所以集成电路IC的8脚的初始输出为高电平，三极管Q2截止，三极管Q1、Q3导通，继电器KM1的线圈得电，吸合常开触点KM1，负载也就是需要进行老化测试的灯具进入通电状态；通过调节电位器Rp1的阻值可对通电时长进行设定。当通电时间结束后，集成电路IC的内电路翻转，集成电路的8脚输出低电平，三极管Q2导通，三极管Q1、Q3截止，继电器KM1的线圈失电，常开触点KM1断开，负载也就是需要进行老化测试的灯具进入断电状态；通过调节电位器Rp2的阻值可对断电时长进行设定。当断电时间结束后，因集成电路IC的单定时/循环输出方式选择端10脚接的为高电平，所以集成电路IC的8脚的输出电平按设定时间作周期性跳变，需测试灯具再次进入通电状态，循环重复上述过程以实现对LED灯具的间断性断电冲击测试。

Claims (9)

1.一种LED灯具老化测试架，包括用于提供电源信号的电源控制箱（2），其特征是：还包括连接于电源控制箱的测试装置（5），所述测试装置（5）包括供电模块（6）、振荡模块（7）和间歇性驱动模块（8），所述供电模块（6）耦接于电源控制箱（2）以接收电源信号并输出供电信号，所述振荡模块（7）耦接于供电模块（6）并接收供电信号以输出振荡信号，所述间歇性驱动模块（8）耦接于振荡模块（7）并响应于接收的振荡信号以对负载的导通与关断进行切换。

2.根据权利要求1所述的LED灯具老化测试架，其特征是：所述振荡模块（7）包括通电时长调节单元（71），所述通电时长调节单元（71）耦接于间歇性驱动模块（8）以输出通电控制信号至间歇性驱动模块（8）。

3.根据权利要求1所述的LED灯具老化测试架，其特征是：所述振荡模块（7）还包括断电时长调节单元（72），所述断电时长调节单元（72）耦接于间歇性驱动模块（8）以输出断电控制信号至间歇性驱动模块（8）。

4.根据权利要求1所述的LED灯具老化测试架，其特征是：所述供电模块（6）包括用于启闭供电模块（6）的第一启动开关SB1。

5.根据权利要求1所述的LED灯具老化测试架，其特征是：还包括设有若干分层（3）的架子（1），任意所述分层（3）上均设有测试装置（5）。

6.根据权利要求5所述的LED灯具老化测试架，其特征是：任意所述分层（3）上均铺设有耐高温绝缘板（4）。

7.根据权利要求6所述的LED灯具老化测试架，其特征是：所述耐高温绝缘板（4）与分层（3）之间为可拆卸连接。

8.根据权利要求6所述的LED灯具老化测试架，其特征是：所述耐高温绝缘板（4）上穿设有支撑杆（9）。

9.根据权利要求8所述的LED灯具老化测试架，其特征是：所述支撑杆（9）设有若干且沿着耐高温绝缘板（4）的长度方向上依次排列。