CN205538635U - 太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架 - Google Patents

Abstract

本实用新型为一种太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，包括一竖直放置的长方体结构，长方体结构的下部开设有贯通相对两个侧壁的方形透孔，方形透孔的底面上设置有向下凹设的样品池放置槽，方形透孔的两端开口均设置有能开合的透明观察门，样品池放置槽与方形透孔的侧壁之间设置有循环水导片，循环水导片上固定有温度控制器，温度控制器与位于长方体结构外部的温控显示屏电连接。该样品架克服了现有技术中存在的温度不能实时调控保持恒定的问题，该样品架结构简单，操作方便，能够实现样品的温度恒定，保证了测量数据的客观真实性。

Description

太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架

技术领域

本实用新型涉及太赫兹光谱测量技术，尤其涉及一种太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架。

背景技术

太赫兹时域光谱技术是最新的电磁波谱技术，作为近年来颇受关注的一个技术领域,太赫兹技术在很多基础研究领域、工业应用领域、医学领域、军事领域及生物领域中有重要的应用前景。太赫兹光谱技术是一种非接触测量技术,它能够对半导体、电介质薄膜及物体材料的物理信息进行快速准确的测量。在某些情况下，实验者需要模拟物体的环境温度，则需要高温或低温的实验环境，或者需要观察温度因素对样品的影响，现有技术中通常是事先对样品进行温度处理，再转移到太赫兹光谱系统中进行测试，转移过程中无法避免环境因素的影响，导致温度不能实时调控保持恒定，进而影响测量数据的客观真实性。

由此，本发明人凭借多年从事相关行业的经验与实践，提出一种太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，以克服现有技术的缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，克服了现有技术中存在的温度不能实时调控保持恒定的问题，该样品架结构简单，操作方便，能够实现样品的温度恒定，保证了测量数据的客观真实性。

本实用新型的目的是这样实现的，一种太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，所述样品架包括一竖直放置的长方体结构，所述长方体结构的下部开设有贯通相对两个侧壁的方形透孔，所述方形透孔的底面上设置有向下凹设的样品池放置槽，所述方形透孔的两端开口均设置有能开合的透明观察门，所述样品池放置槽与所述方形透孔的侧壁之间设置有循环水导片，所述循环水导片上固定有温度控制器，所述温度控制器与位于所述长方体结构外部的温控显示屏电连接。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述长方体结构的顶部向下开设贯通于所述方形透孔的温控器通道，所述温控器通道位于所述方形透孔的侧壁的上方。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述循环水导片、所述温度控制器的数量为两个，所述温控器通道的数量为两个，两个所述温控器通道对称设置、且分别位于所述方形透孔的两个侧壁的上方。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述温控器通道的截面形状为长方形。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述循环水导片的顶部设置有两个贯通所述循环水导片内外空间的连接管，所述连接管上密封连接有循环水管，所述循环水管通过所述温控器通道向外延伸设置。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述循环水管为软管。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述透明观察门与所述长方体结构的侧壁之间设置有卡扣结构。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述卡扣结构包括设置于所述透明观察门上的卡扣凸起结构，所述卡扣结构还包括设置于所述长方体结构的侧壁上的能与所述卡扣凸起结构扣接的卡扣槽。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述长方体结构的另外两个侧壁上、与所述方形透孔对应的位置设置有圆形透孔。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述长方体结构的材质为石英。

由上所述，本实用新型的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，利用温度控制器实现样品温度实时调控并保持恒定，能够保证测量数据的客观真实性；该样品架内部设有样品池放置槽，侧壁上与样品池相对应的位置设有透明观察门，能够直接放置在太赫兹光谱测量系统中进行测量实验；该样品架的结构简单，操作方便，温度控制器能够实现自动控制，并且可以根据实验需求设置不同的温度，适用温度范围广。

附图说明

以下附图仅旨在于对本实用新型做示意性说明和解释，并不限定本实用新型的范围。其中：

图1：为本实用新型的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架结构示意图。

图2：为图1中Ⅰ处放大图。

图3：为图1中Ⅱ处放大图。

图中：100、太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架；1、长方体结构；11、方形透孔；12、样品池放置槽；13、温控器通道；14、圆形透孔；2、透明观察门；21、卡扣结构；211、卡扣凸起结构；212、卡扣槽；22、圆柱结构；3、循环水导片；31、连接管；32、循环水管；33、透孔；4、温度控制器；5温控显示屏。

具体实施方式

为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本实用新型的具体实施方式。

如图1所示，本实用新型的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架100，包括一竖直放置的长方体结构1，长方体结构1的尺寸与实验室太赫兹光谱测量系统的玻璃箱(现有技术，图中未示出)开口尺寸相匹配，并且长方体结构1的高度略高于玻璃箱的高度，方便长方体结构1自玻璃箱的上方取放；长方体结构1的下部开设有贯通相对两个侧壁的方形透孔11，方形透孔11的底面上设置有向下凹设的样品池放置槽12，盛放样品的样品池(现有技术，图中未示出)放置于样品池放置槽12中，避免样品架100移动过程中样品池滑落；在本实施方式中，样品池放置槽12的侧壁与方形透孔11的底面边缘之间的距离为10～20mm；方形透孔11的两端开口均设置有能开合的透明观察门2，样品池放置槽12与方形透孔11的侧壁之间设置有循环水导片3，循环水导片3上固定有温度控制器4，为了实现实时快速并均匀调控样品温度，温度控制器4固定在循环水导片3靠近样品池放置槽12的一侧。温度控制器4与位于长方体结构1外部的温控显示屏5电连接。长方体结构1上设置的透明观察门使得盛放样品的样品架能够直接放置在太赫兹光谱测量系统中进行测量实验，温度控制器4能够使样品(样品置于样品池中，现有技术，图中未示出)保持在设定温度，在本实施方式中，温度控制器4能够使样品在-55～120℃之间调控温度；与温度控制器4电连接的温控显示屏能够实时显示样品环境温度，与温度控制器4连接的温度探头(温度控制器4的温度感知结构，现有技术，图中未示出)放置于不影响光路且靠近样品的位置，便于控制调整温度控制器4。

进一步，如图1所示，长方体结构1的顶部向下开设贯通于方形透孔11的温控器通道13，温控器通道13位于方形透孔11的侧壁的上方，循环水导片3和温度控制器4设置于方形透孔11的侧壁与样品池放置槽12之间的位置。为了使样品温度均匀，在本实施方式中，循环水导片3、温度控制器4的数量为两个，温控器通道13的数量为两个，两个温控器通道13对称设置、且分别位于方形透孔11的两个侧壁的上方。在本实施方式中，温控器通道13的截面形状为长方形，也可以是长圆形等其他方便循环水导片3和温度控制器4自长方体结构1的顶部下放进入方形透孔11中的形状。为了给样品提供相对密封的环境，利于样品温度恒定，温控器通道13不宜过大，允许循环水导片3和温度控制器4下放即可。

进一步，如图1所示，循环水导片3的顶部设置有两个贯通循环水导片内外空间的连接管31，循环水导片3的顶部设置有透孔33，连接管31密封穿设于透孔33中，循环水导片3内部设有空腔，两个连接管31底部均与空腔连通；连接管31上密封连接有循环水管32，循环水管32通过温控器通道13向外延伸设置。在本实施方式中，循环水管32为软管。

进一步，如图1、图2、图3所示，为了避免方形透孔11两侧开口的透明观察门2自动打开影响样品温度，透明观察门2与长方体结构1的侧壁之间设置有卡扣结构21。卡扣结构21包括设置于透明观察门2上的卡扣凸起结构211，卡扣结构21还包括设置于长方体结构1的侧壁上的能与卡扣凸起结构211扣接的卡扣槽212。

如图1所示，为了便于透明观察门2开关，透明观察门2上设有圆柱结构22，圆柱结构22能够作为手柄使用。

进一步，如图1所示，长方体结构1的另外两个侧壁上、与方形透孔11对应的位置设置有圆形透孔14，通过圆形透孔14向长方体结构1内部通氮气，实验前和实验过程中要不断通入氮气，保证实验过程中样品周边环境中的水蒸气排出长方体结构1，使得样品保持干燥。

进一步，长方体结构1的材质为石英。

在本实用新型的一具体实施例中，长方体结构1的长、宽、高分别为65mm、45mm、230mm，方形透孔11的开口位于长方体结构1的长边一侧，开口的长宽分别为60mm、50mm，样品池放置槽12的长、宽、深度分别为30mm、15mm、2mm；循环水导片3截面为边长40mm的正方形、厚度为11mm，温度控制器4为边长5mm的正方形薄片，透孔33直径为10mm，循环水管32的外径为10mm内径为7mm。

本实用新型的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架100使用过程中，实验者首先从太赫兹光谱测量系统的玻璃箱中拿出样品架100，打开透明观察门2；在长方体结构1外部在循环水导片3上连接好循环水管32，并将连接好导线的温度控制器4粘在循环水导片3的一侧；然后将循环水导片3和温度控制器4自温控器通道13下放入方形透孔11中，使得温度控制器4面向样品池放置槽12，并将循环水导片3和温度控制器4固定于方形透孔11的侧壁与样品池放置槽12之间的位置，同时将与温度控制器4连接的温度探头放置到不影响光路且能靠近样品的位置。然后，将配置好的液态或固态样品放置到样品池中，将样品池放到样品池放置槽12中，关上透明观察门2，将样品架100放回太赫兹光谱测量系统的玻璃箱中，此时向玻璃箱中通入氮气，氮气通过圆形透孔14进入样品架100内部，待玻璃箱及样品架100中的湿度为零时(通过湿度计测量显示，现有技术，图中未示出)，设定好需要的实验温度，待温度稳定后，打开太赫兹光路进行检测。

由上所述，本实用新型的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，利用温度控制器实现样品温度实时调控并保持恒定，能够保证测量数据的客观真实性；该样品架内部设有样品池放置槽，侧壁上与样品池相对应的位置设有透明观察门，能够直接放置在太赫兹光谱测量系统中进行测量实验；该样品架的结构简单，操作方便，温度控制器能够实现自动控制，并且可以根据实验需求设置不同的温度，适用温度范围广。

以上所述仅为本实用新型示意性的具体实施方式，并非用以限定本实用新型的范围。任何本领域的技术人员，在不脱离本实用新型的构思和原则的前提下所作出的等同变化与修改，均应属于本实用新型保护的范围。

Claims (10)

1.一种太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述样品架包括一竖直放置的长方体结构，所述长方体结构的下部开设有贯通相对两个侧壁的方形透孔，所述方形透孔的底面上设置有向下凹设的样品池放置槽，所述方形透孔的两端开口均设置有能开合的透明观察门，所述样品池放置槽与所述方形透孔的侧壁之间设置有循环水导片，所述循环水导片上固定有温度控制器，所述温度控制器与位于所述长方体结构外部的温控显示屏电连接。

2.如权利要求1所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述长方体结构的顶部向下开设贯通于所述方形透孔的温控器通道，所述温控器通道位于所述方形透孔的侧壁的上方。

3.如权利要求2所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述循环水导片、所述温度控制器的数量为两个，所述温控器通道的数量为两个，两个所述温控器通道对称设置、且分别位于所述方形透孔的两个侧壁的上方。

4.如权利要求2所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述温控器通道的截面形状为长方形。

5.如权利要求2所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述循环水导片的顶部设置有两个贯通所述循环水导片内外空间的连接管，所述连接管上密封连接有循环水管，所述循环水管通过所述温控器通道向外延伸设置。

6.如权利要求5所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述循环水管为软管。

7.如权利要求1所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述透明观察门与所述长方体结构的侧壁之间设置有卡扣结构。

8.如权利要求7所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述卡扣结构包括设置于所述透明观察门上的卡扣凸起结构，所述卡扣结构还包括设置于所述长方体结构的侧壁上的能与所述卡扣凸起结构扣接的卡扣槽。

9.如权利要求1所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述长方体结构的另外两个侧壁上、与所述方形透孔对应的位置设置有圆形透孔。

10.如权利要求1所述的太赫兹光谱测量中保持样品恒温的样品架，其特征在于：所述长方体结构的材质为石英。