CN205353139U - 一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具 - Google Patents

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潘甲东
韩玉成
尚超红
刘剑林
王利凯
严勇
温占福
魏栩曼
孙鹏远
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Abstract

本实用新型公开了一种电容温度特性测试夹具,具体地说是一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,包括底座和安装在底座上的夹具,所述夹具包括设置在底座上方的绝缘板和连接在绝缘板上的支架,所述绝缘板与底座平行设置,所述支架的下端固定连接到底座上,所述底座与绝缘板之间竖直设置多根弹簧顶针,所述弹簧顶针的下端固定连接上电极,位于上电极下方的底座上端面设置凹槽,由于采用了上述技术方案,本实用新型所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,非破坏性测试,夹具可以重复应用,对产品金层及基体无损伤,简化了操作,测试精确度高。

Description

一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具
技术领域
本实用新型涉及一种电容温度特性测试夹具,具体地说是一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具。
背景技术
单层片式瓷介电容器在生产过程中需要对产品进行温度特性的测试,以保证产品的质量、环境适应性和可靠性。传统的夹具做法是将产品焊接到玻钎板上,然后进行试验,这种做法易对产品造成破坏、不能重复利用、测试精确度低等。
在电容器进行温度特性测试过程中,需要先将产品和夹具一起放入高低温箱,高低温(-55℃~125℃)的冲击对于夹具的可靠性产生极大影响,西安哟肚饿夹具容易导致测试不精确,容值测试精度只能达到±10%;且在高低温测试过程易发生测量失效,短路或断路现象常有发生,导致无法测试到容值。同时传统夹具不易安放电容且易损伤电容的金层电极,影响测试的可靠性及结果;且高低温测试过程中测试顶端与电容器容易发生接触不良,导致测量失效,从而无法准确测试其容值变化趋势。每次测试失效,需要重复进行,影响了测试效率。尤其是,无法有效测试小尺寸产品。所以,传统夹具存在极大的缺陷。
实用新型内容
为了弥补以上不足,本实用新型提供了一种测试效率高、检测准确度高、操作简便的用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,以解决上述背景技术中的问题。
本实用新型的技术方案是:
一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,包括底座和安装在底座上的夹具,所述夹具包括设置在底座上方的绝缘板和连接在绝缘板上的支架,所述绝缘板与底座平行设置,所述支架的下端固定连接到底座上,所述底座与绝缘板之间竖直设置多根弹簧顶针,所述弹簧顶针的下端固定连接上电极,位于上电极下方的底座上端面设置凹槽,凹槽的底部安装下电极,所述下电极上方的凹槽内安置电容,所述弹簧顶针包括竖直设置的顶轴和套装在顶轴外侧的弹簧,所述顶轴的外侧环绕设置凸缘,所述弹簧的下端固定连接在凸缘上,所述弹簧的上端固定在绝缘板的下端面,所述绝缘板上设置多个通孔,顶轴的上端穿过通孔延伸到绝缘板上方,所述顶轴上设有沿其轴线方向设置的通道,所述通道内插装电线,所述电线一端与上电极相连,电线的另一端延伸到顶轴外侧。
作为优选的技术方案,所述通道设置在顶轴的中部轴线处。
作为优选的技术方案,所述通道设置在顶轴的外部环状面上。
作为优选的技术方案,所述支架的上端为螺杆状,另有螺母螺接在支架的上端,所述螺母紧固在绝缘板的上方。
由于采用了上述技术方案,本实用新型所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,非破坏性测试,夹具可以重复应用,对产品金层及基体无损伤,简化了操作,测试精确度高;同时因减少了焊接步骤,提高了测试效率。下电极固定在凹槽内后形成凹字形结构,此凹字形结构起定位槽的作用,使产品放置进去后不易挪动。产品放入上电极和下电极之间后,承受到弹簧力而固定,产品测试完后还可以取出进行其他项目的测试,因此能够保证在检测过程中电容器具有良好的接触性,不仅大大提高了测试的准确性,而且操作也十分方便,提高了测试效率,可以一次性对多个产品进行测试,而且工位可以根据需求添加。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例的结构示意图;
图2是本实用新型的结构俯视图。
具体实施方式
实施例一:如图1所示,本实用新型所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,包括底座1和安装在底座1上的夹具,所述底座1为水平设置的平板,所述夹具包括设置在底座1上方的绝缘板2和连接在绝缘板上的支架3,所述的支架3竖直设置,所述绝缘板2与底座1平行设置,所述支架3的下端固定连接到底座1上,支架3的上端与绝缘板2可拆卸的连接在一起,所述支架3的上端为螺杆状,所述绝缘板2通过安装孔套装在支架3外侧,且绝缘板2位于支架3螺杆状端部的下方,另有螺母10螺接在支架3的上端,所述螺母10紧固在绝缘板2的上方,将支架3与绝缘板2紧固在一起。
所述底座1与绝缘板2之间竖直设置多根弹簧顶针,所述弹簧顶针的下端固定连接上电极5,位于上电极5下方的底座1上端面设置凹槽,所述凹槽的直径与上电极5的直径相匹配,上电极5的下端与凹槽对齐,凹槽的底部安装下电极6,所述下电极6的底部连接通电线,所述通电线一端延伸到凹槽外侧,所述下电极6上方的凹槽内安置电容7,所述电容7与凹槽的内径相匹配,所述弹簧顶针包括竖直设置的顶轴4和套装在顶轴4外侧的弹簧8,所述顶轴4为圆管状,所述顶轴4的外侧环绕设置凸缘,凸缘凸出顶轴4的外壁,所述弹簧8的下端固定连接在凸缘上,所述弹簧8的上端固定在绝缘板2的下端面,所述绝缘板2上设置多个通孔,顶轴4的上端穿过通孔延伸到绝缘板2上方,所述顶轴4上设有沿其轴线方向设置的通道,所述通道内插装电线9,所述电线9一端与上电极5相连,电线9的另一端延伸到顶轴4外侧,所述通道设置在顶轴4的中部轴线处或设置在顶轴4的外部环状面上,所述弹簧8上端连接到位于通孔外围的绝缘板2下端面上。
使用时,拉动顶轴4的上端,压缩弹簧8,顶轴4的下端上移,从、从而使上电极5离开凹槽,将电容7放置在凹槽内,松开顶轴4,在弹簧8的弹力作用下,上电极5的下端压紧在电容7的上端面上,通电后,将整个测试夹具放入高低温箱内,对电容7进行温度性能测试。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征及本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (4)

1.一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,包括底座(1)和安装在底座(1)上的夹具,其特征在于:所述夹具包括设置在底座(1)上方的绝缘板(2)和连接在绝缘板上的支架(3),所述绝缘板(2)与底座(1)平行设置,所述支架(3)的下端固定连接到底座(1)上,所述底座(1)与绝缘板(2)之间竖直设置多根弹簧顶针,所述弹簧顶针的下端固定连接上电极(5),位于上电极(5)下方的底座(1)上端面设置凹槽,凹槽的底部安装下电极(6),所述下电极(6)上方的凹槽内安置电容(7),所述弹簧顶针包括竖直设置的顶轴(4)和套装在顶轴(4)外侧的弹簧(8),所述顶轴(4)的外侧环绕设置凸缘,所述弹簧(8)的下端固定连接在凸缘上,所述弹簧(8)的上端固定在绝缘板(2)的下端面,所述绝缘板(2)上设置多个通孔,顶轴(4)的上端穿过通孔延伸到绝缘板(2)上方,所述顶轴(4)上设有沿其轴线方向设置的通道,所述通道内插装电线(9),所述电线(9)一端与上电极(5)相连,电线(9)的另一端延伸到顶轴(4)外侧。
2.如权利要求1所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,其特征在于:所述通道设置在顶轴(4)的中部轴线处。
3.如权利要求1所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,其特征在于:所述通道设置在顶轴(4)的外部环状面上。
4.如权利要求2或3所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具,其特征在于:所述支架(3)的上端为螺杆状,另有螺母(10)螺接在支架(3)的上端,所述螺母(10)紧固在绝缘板(2)的上方。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111769303A (zh) * 2020-07-30 2020-10-13 无锡威孚高科技集团股份有限公司 一种陶瓷片加热测试夹具

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